GB/T 33714-2017納米技術(shù)納米顆粒尺寸測(cè)量原子力顯微術(shù)

ICS19020

N04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T33714—2017

納米技術(shù)納米顆粒尺寸測(cè)量

原子力顯微術(shù)

Nanotechnology—Testmethodforsizeofnanoparticles—Atomicforcemicroscopy

2017-05-12發(fā)布2017-12-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T33714—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

基本原理和模式

4…………………………1

儀器

5………………………2

測(cè)量樣品的預(yù)處理

6………………………2

測(cè)量方法

7…………………3

測(cè)量結(jié)果

8…………………5

不確定度評(píng)定

9……………5

測(cè)量報(bào)告

10…………………5

附錄資料性附錄納米顆粒的沉積方法

A()……………7

附錄資料性附錄納米顆粒高度測(cè)量實(shí)例

B()…………10

附錄資料性附錄不確定度評(píng)定

C()……………………13

附錄資料性附錄推薦的測(cè)量報(bào)告格式

D()……………15

參考文獻(xiàn)

……………………16

Ⅰ

GB/T33714—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC279)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位國(guó)家納米科學(xué)中心納米技術(shù)及應(yīng)用國(guó)家工程研究中心北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)

:、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人朱曉陽(yáng)楊延蓮高潔何丹農(nóng)朱君周素紅張迎

:、、、、、、。

Ⅲ

GB/T33714—2017

納米技術(shù)納米顆粒尺寸測(cè)量

原子力顯微術(shù)

警告本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問(wèn)題在應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)之前使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩?/p>

:,,

健康措施并保證符合國(guó)家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件

,。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)簡(jiǎn)稱測(cè)量納米顆粒高度來(lái)表征納

(Atomicforcemicroscopy,AFM)

米顆粒尺寸的方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測(cè)量

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

利用晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

GB/T27760Si(111)

納米科技術(shù)語(yǔ)第部分核心術(shù)語(yǔ)

GB/T30544.1—20141:

表面化學(xué)分析術(shù)語(yǔ)第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)

ISO18115-22(Surfacechemical

analysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy)

3術(shù)語(yǔ)和定義

和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T27760、GB/T30544.1ISO18115-2。

31

.

團(tuán)聚體agglomerate

弱束縛顆粒的堆積體聚集體或二者的混合體其外表面積與其單個(gè)顆粒的表面積的總和相近

、,。

注1支撐團(tuán)聚體的作用力都是弱力如范德華力或簡(jiǎn)單的物理纏結(jié)

:,。

注2團(tuán)聚體也被稱為次級(jí)顆粒而源顆粒則被稱為初級(jí)顆粒

:,。

注3利用成像技術(shù)如一般很難區(qū)分樣品在沉積過(guò)程中形成的團(tuán)聚即假象或事先存在的團(tuán)聚體

:,AFM,()。

32

.

聚集體aggregate

強(qiáng)束縛或融合在一起的顆粒構(gòu)成的新顆粒其外表面積可能小于其單個(gè)顆粒表面積的總和

,