GB/T 39865-2021單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法

ICS17180

Q65.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T39865—2021

單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法

Methodformeasuringrefractiveindexofuniaxialopticalcrystals

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T39865—2021

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國建筑材料聯(lián)合會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國人工晶體標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC461)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位山東大學(xué)中國工程物理研究院化工材料研究所中國建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有

:、、

限公司中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王善朋陶緒堂孫洵尹文龍呂奎霖喬杰李春龍鄭國宗

:、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T39865—2021

單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法的環(huán)境要求測量原理與方法檢測儀器要求待測

、、、

量樣品準(zhǔn)備測量步驟數(shù)據(jù)處理和不確定度評(píng)定

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于單軸晶光學(xué)晶體的折射率測量其他光學(xué)晶體的折射率測量可參照?qǐng)?zhí)行

,。

2測量環(huán)境要求

測量環(huán)境要求如下

:

溫度測量過程中溫度變化不大于

a):21℃±3℃,0.5℃;

相對(duì)濕度不大于

b):30%;

振動(dòng)滿足設(shè)備對(duì)環(huán)境的振動(dòng)要求

c):。

3測量原理

垂直入射法測量單軸晶光學(xué)晶體折射率的測量原理如圖所示通過測量入射光經(jīng)過待測晶體的

1。

折射角和入射角由折射定律計(jì)算獲得待測晶體的折射率被測晶體加工成直角棱鏡樣品晶體光軸位

,。,

于入射直角面內(nèi)當(dāng)特定波長的非偏振平行光垂直入射到直角面時(shí)由于光和光的折射率不同經(jīng)

,,oe,

過晶體后在出射面發(fā)生不同角度折射通過自準(zhǔn)直儀分別測量光的折射角i和光的折射角i及入

,ooee

射角θ由公式和公式計(jì)算可得樣品的折射率n和n

,(1)(2)oe。

i

n=sino

oθ…………(1)

sin

i

n=sine

eθ…………(2)

sin

式中

:

n光折射率

o———o;

n光折射率

e———e