GB/T 5225-1985金屬材料定量相分析X射線衍射K值法

UDC669:620.186中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB5225-85金屬材料定量相分析——X射線衍射K值法Metalmaterials-Qwantitativephaseanalysis-aValueK"methodofX-rayditsracsion1985-07-18發(fā)布1986-07-01施家標(biāo)準(zhǔn)局國批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬材料定量相分析-X射線衍射K值法GB5225-85中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471986年2月第一版20%5年1月電子版制作書號：15169·1-3518版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010）68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)UDCC669:620.186金屬材料定量相分析GB5225-85-X射線衍射K值法Metalmaterials-Quantitativephaseanalysis-ValueK'methodofX-raydiffraction本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量金屬材料多晶粉末中的物相含量。也可供其他材料的多晶粉末試樣定量相分析參照使用。1原理一種物相的X射線行射花樣是該物相的晶體結(jié)構(gòu)特性表征。用K值法對多相試樣進(jìn)行X射線行射定量分析時(shí)，某相的行射線累積強(qiáng)度與該相在試樣中的含城有公式（1)、（2）的關(guān)系（推導(dǎo)見附錄A)：1aChikili）X-（1）1Chikil）K-·2)TAiY）式中：-4相在待測粉末中的重量含量：-比例常數(shù)。對同-輻射，該常數(shù)與待測相及參考物質(zhì)有關(guān)：1aChiii-待測粉末加入?yún)⒖嘉镔|(zhì)后，a相（h.k.li）晶面的衍射線累積強(qiáng)度;IhikilD-待測粉末加人參考物質(zhì)后，參考物質(zhì)（hki）晶面的衍射線累積強(qiáng)度lChilkili)-參考試樣中a相(hikil:）晶面的衍射線累積強(qiáng)度；IChkilD-參考試樣中參考物質(zhì)（hibil）晶面的衍射線累積強(qiáng)度；待測粉末加人參考物質(zhì)后，參場物質(zhì)的重量：待待測粉末加人參務(wù)物質(zhì)時(shí)，所取待測粉未的重量；參考試樣中參考物質(zhì)的重量；一參考試樣中待測相粉末的重量。本方法特點(diǎn)是通過先求K，值最后測定X。。注：參考試樣指求人，值時(shí)所配制的試樣。2試樣的要求和制備2.1配樣2.1.1稱重配樣稱重時(shí)，重量的相對偏離最不得大}0.1%。2.1.2參考物質(zhì)與參考試樣參考物質(zhì)的選拌選擇參考物質(zhì)的原則是