JJF 1351-2012掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1351—2012

掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationforScanningProbeMicroscopes

2012-06-18發(fā)布2012-09-18實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1351—2012

掃描探針顯微鏡

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校準(zhǔn)規(guī)范??

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ScanningProbeMicroscopes

歸口單位全國(guó)幾何量長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

:

主要起草單位中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

:

上海計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

貴州計(jì)量測(cè)試院

參加起草單位中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

:

本規(guī)范委托全國(guó)幾何量長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

JJF1351—2012

本規(guī)范主要起草人

:

朱振宇中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研

(

究所

)

任冬梅中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研

(

究所

)

傅云霞上海計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

()

李源上海計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

()

呂小潔貴州計(jì)量測(cè)試院

()

參加起草人

:

盧明臻中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

()

李華豐中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研

(

究所

)

JJF1351—2012

目錄

引言………………………

(Ⅱ)

范圍……………………

1(1)

引用文件………………

2(1)

術(shù)語(yǔ)和定義……………

3(1)

掃描探針顯微鏡……………………

3.1(1)

掃描探針顯微鏡Z向漂移………

3.2(1)

概述……………………

4(1)

計(jì)量特性………………

5(2)

掃描探針顯微鏡Z向漂移………

5.1(2)

XY軸位移測(cè)量誤差……………

5.2、(2)

Z軸位移測(cè)量誤差…………………

5.3(2)

掃描探針顯微鏡測(cè)量重復(fù)性………

5.4(2)

XY坐標(biāo)正交性誤差……………

5.5、(2)

校準(zhǔn)條件………………

6(2)

環(huán)境條件……………

6.1(2)

標(biāo)準(zhǔn)器………………

6.2(2)

校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法…………………

7(3)

掃描探針顯微鏡向漂移………

7.1Z(3)

XY軸位移測(cè)量誤差……………

7.2、(4)

Z軸位移測(cè)量誤差…………………

7.3(5)

掃描探針顯微鏡測(cè)量重復(fù)性………

7.4(6)

XY軸測(cè)量重復(fù)性……………

7.4.1、(6)

軸測(cè)量重復(fù)性…………………

7.4.2Z(6)

XY坐標(biāo)正交性誤差……………

7.5、(6)

校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)…………

8(7)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

9(7)

附錄掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)結(jié)果的測(cè)量不確定度評(píng)定……………

A(8)

Ⅰ

JJF1351—2012

引言

本規(guī)范為初次發(fā)布制定本規(guī)范的目的主要是解決工業(yè)中掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)問(wèn)

。

題規(guī)范編制中參考了國(guó)際上納米計(jì)量領(lǐng)域的一些理論性研究成果并以實(shí)際納米計(jì)量

。,

工作中的一些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)制定了本規(guī)范

。

Ⅱ

JJF1351—2012

掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于以幾何表面形貌為測(cè)量對(duì)象的掃描探針顯微鏡的校準(zhǔn)

。

掃描探針顯微鏡根據(jù)其設(shè)計(jì)原理不同校準(zhǔn)時(shí)需要根據(jù)實(shí)際情況選擇相關(guān)的計(jì)量特

,

性對(duì)有特殊要求的測(cè)量任務(wù)如對(duì)溯源要求較高的測(cè)量不在本校準(zhǔn)規(guī)范的適用范圍

。,,。

2引用文件

本規(guī)范引用下列文件

:

通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義

JJF1001—2011

產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法測(cè)量標(biāo)

GB/T19067.1—2003(GPS)

準(zhǔn)第部分實(shí)物測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1:

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3術(shù)語(yǔ)和定義

掃描探針顯微鏡

3.1scanningprobemicroscope(SPM)

具有掃描測(cè)量功能的探針顯微鏡的統(tǒng)稱主要包含原子力顯微鏡掃描隧

。(AFM)、

道顯微鏡等

(STM)。

掃描探針顯微鏡Z向漂移

3.2SPMZ-direc