標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJG 28-2019 平晶》相較于《JJG 28-2000 平晶》,在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新與調(diào)整,具體變化體現(xiàn)在以下幾個方面:

一、標(biāo)準(zhǔn)名稱及適用范圍有所擴展。新版本中,不僅涵蓋了原有的平晶檢定要求,還增加了對平晶使用條件和維護保養(yǎng)的具體指導(dǎo),使得該標(biāo)準(zhǔn)更加全面地服務(wù)于實際應(yīng)用。

二、術(shù)語定義部分得到完善?!禞JG 28-2019》對“平晶”及相關(guān)概念給出了更為準(zhǔn)確的定義,有助于統(tǒng)一行業(yè)內(nèi)對于這些術(shù)語的理解,減少因理解差異導(dǎo)致的操作偏差。

三、技術(shù)指標(biāo)細(xì)化且嚴(yán)格化。新標(biāo)準(zhǔn)提高了平晶表面質(zhì)量的要求,比如平面度誤差限值等關(guān)鍵參數(shù)設(shè)定得更加嚴(yán)格,并新增了關(guān)于外觀缺陷的最大允許尺寸的規(guī)定,確保產(chǎn)品質(zhì)量符合更高標(biāo)準(zhǔn)。

四、檢定方法與程序更加規(guī)范?!禞JG 28-2019》詳細(xì)描述了不同類型的平晶(如光學(xué)平晶、電子平晶)所需采用的具體檢測手段和技術(shù)路線,同時明確了各項測試的操作步驟、數(shù)據(jù)處理方式以及結(jié)果判定準(zhǔn)則,增強了可操作性和一致性。

五、增加了環(huán)境條件要求。新版標(biāo)準(zhǔn)特別強調(diào)了進(jìn)行平晶檢定時所需的溫濕度控制及其他環(huán)境因素的影響,以保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性。


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....

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  • 2019-09-27 頒布
  • 2020-03-27 實施
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JJG 28-2019平晶_第1頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

JJG28—2019

平晶

OpticalFlats

2019-09-27發(fā)布2020-03-27實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

JJG28—2019

??

???????????????

平晶檢定規(guī)程?JJG28—2019?

??

?????????????

?代替JJG28—2000?

VerificationRegulationofOpticalFlats??

歸口單位全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會

:

主要起草單位湖南省計量檢測研究院

:

中國計量科學(xué)研究院

參加起草單位蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司

:

中國兵器工業(yè)第研究所

205

本規(guī)程委托全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋

JJG28—2019

本規(guī)程主要起草人

:

陳勇湖南省計量檢測研究院

()

張恒中國計量科學(xué)研究院

()

曾琰湖南省計量檢測研究院

()

劉麗娟湖南省計量檢測研究院

()

參加起草人

:

韓森蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司

()

柏文琦湖南省計量檢測研究院

()

王生云中國兵器工業(yè)第研究所

(205)

JJG28—2019

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

概述

3……………………(1)

計量性能要求

4…………(3)

平行度

4.1………………(3)

工作面平面度

4.2………………………(3)

非工作面的平面度

4.3…………………(4)

穩(wěn)定性

4.4………………(4)

通用技術(shù)要求

5…………(5)

外觀及表面質(zhì)量

5.1……………………(5)

外形尺寸

5.2……………(5)

長平晶十字刻線位置

5.3………………(6)

兩端面夾角

5.4………………………(6)

工作面與圓柱母線的垂直度

5.5………(7)

計量器具控制

6…………(7)

檢定項目和主要檢定設(shè)備

6.1…………(7)

檢定條件

6.2……………(7)

檢定方法

6.3……………(9)

檢定結(jié)果處理

6.4………………………(12)

檢定周期

6.5……………(12)

附錄平晶表面疵病的尺寸及數(shù)量

A…………………(13)

附錄相移式激光等厚干涉測量法

B…………………(15)

附錄等厚干涉測量法

C………………(18)

附錄等傾干涉測量法

D………………(20)

附錄四面互檢法檢定長平晶數(shù)據(jù)處理示例

E………(22)

附錄長平晶自重變形量

F……………(25)

附錄檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁格式

G………(27)

JJG28—2019

引言

通用計量術(shù)語及定義國家計量檢定規(guī)程編寫

JJF1001—2011《》、JJF1002—2010《

規(guī)則測量不確定度評定與表示共同構(gòu)成本規(guī)程修訂工作的基

》、JJF1059.1—2012《》

礎(chǔ)性系列技術(shù)法規(guī)

本規(guī)程與平晶相比除編輯性修改外主要技術(shù)變化如下

JJG28—2000《》,,:

更正了平晶的印刷錯誤

———JJG28—2000《》:

中式u5u更正為u5u見現(xiàn)版

JJG28—20006.3.8.2b)(6):2=1,:b=a[

1212

(5)];

附錄中表的表頭第列EiLiLnKn更正為Ei

JJG28—2000CC.18:=(/),:=

LiLnKn見現(xiàn)版表

(/)Δ(E.1);

?d2??d?2

附錄中式F?÷F更正為F?÷F

JJG28—2000D(D.2):Δ=è?×96,:Δ=è?×96

9696

見現(xiàn)版式

[(C.2)]。

長平晶兩次周期檢定平面度之差從放寬為見

———310mm0.020μm0.030μm(

4.4)。

依據(jù)量塊取消了等量塊改用等量塊見

———JJG146—2011《》,6,5(6.3.2)。

取消了平行平晶平行度在激光平面等厚干涉儀上檢定的方法

———。

增加相移式等厚測量裝置的結(jié)構(gòu)概述測量方法見附錄等相關(guān)內(nèi)容

———、(B)。

增加標(biāo)準(zhǔn)平晶F范圍內(nèi)的平面度計算方法見附錄

———96(C)

本規(guī)程的歷次版本發(fā)布情況

:

———JJG28—2000;

———JJG28—1991;

———JJG28—1980。

JJG28—2019

平晶檢定規(guī)程

1范圍

本規(guī)程適用于平晶包括平面平晶平行平晶和長平晶的首次檢定后續(xù)檢定和

(、)、

使用中檢查

2引用文件

本規(guī)程引用下列文件

:

無色光學(xué)玻璃

GB/T903—2019

平面平晶

JB/T7401—1994

平行平晶

JB/T7402—1994

光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的干涉儀測量第

ISO14999-4:2015(E)4

部分在中所明確規(guī)定的公差說明和評價

:ISO10110(Opticsandphotonics—Interfero-

metricmeasurementofopticalelementsa

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