物理光學(xué)：第二章第六節(jié)2-6平行平板得多光束干涉及應(yīng)用1-

平行平板的多光束干涉及其應(yīng)用一、平行平板的多光束干涉L'P'1、干涉場的強(qiáng)度分布（1）光程差與位相差（相鄰光束之間）（3）反射光的合振幅與光強(qiáng)分布（4）透射光的光強(qiáng)分布L'P'1、干涉場的強(qiáng)度分布（1）光程差與位相差（相鄰光束之間）（3）透射光振幅與光強(qiáng)分布（4）反射光的光強(qiáng)分布可知上式表明反射光和透射光的強(qiáng)度互補(bǔ),意指對某一反射光,其干涉條紋為亮紋時(shí),相應(yīng)的透射光的干涉條紋為暗紋（1）給定不同的ρ值，得到不同的曲線（2）反射光強(qiáng)與透射光強(qiáng)互補(bǔ),IT+IR=I0

（3）干涉極大值位置由決定與ρ無關(guān),

干涉條紋的細(xì)銳程度由R決定.※一般觀察透射光的干涉圖樣。

干涉條紋的形狀：干涉圖樣為等傾條紋反射光干涉圖樣:

寬的亮背景上呈現(xiàn)很細(xì)的暗紋。

透射光干涉圖樣:

寬的暗背景上呈現(xiàn)很細(xì)的亮

二法布里—珀羅干涉儀擴(kuò)展源準(zhǔn)直透鏡會聚透鏡接收屏分束板，內(nèi)側(cè)鍍膜G1,G2間,間距h可調(diào)—法布里-珀羅干涉儀G1,G2間,間距h固定—法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具多光束相干光在L2焦平面上形成等傾圓環(huán)條紋二．多光束干涉雙光束干涉的光強(qiáng)：

I～變化緩慢，條紋不細(xì)銳，分辨率低欲使I～急劇變化，條紋細(xì)銳，分辨率高，便于測量，裝置：膜兩表面鍍R=90%的高反射膜多光束干涉要求膜足夠長，i不太大（二）用作光譜線超精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究1、測量原理設(shè)光源中含有兩條譜線：l1和l2，l2=l1+Dl則：標(biāo)準(zhǔn)具在中心附近(θ1~0)對應(yīng)的干涉級為m1和m2。對應(yīng)于條紋的位移De于是有：e為同組條紋的間距h是標(biāo)準(zhǔn)具間隔2.自由光譜的范圍（能測量的最大波長差）l2的(m-1)級條紋l1的m級條紋自由光譜范圍標(biāo)志了測量譜線寬度的最大量程！瑞利判據(jù)：兩個(gè)波長的亮條紋只有當(dāng)它們合強(qiáng)度中央的極小值低于兩邊的極大值的0.81時(shí)，兩個(gè)條紋才能被分開。3.分辨極限和分辨本領(lǐng)（Resolvanceoftheinterferometer）G1點(diǎn)epdpd-==mm2

,221在dd+++FIFIIii)2(sin1)2(sin12212＝任意點(diǎn)的光強(qiáng)分布12G2G10.81IMGd1d2Dd

∴F-P干涉儀是高分辨率的光譜儀器，常用來研究光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)與超精細(xì)結(jié)構(gòu)

∵F-P干涉儀的亮條紋比邁克爾孫干涉儀的等傾圓環(huán)細(xì)銳明亮。

F-P干涉儀在近代光學(xué)中非常重要（1）是一種分辨率極高的光譜儀。（2）可做激光器的諧振腔。（3）光通信中可做波分復(fù)用元件。（4）比較法，測量光波波長。光學(xué)薄膜與干涉濾光片n0nnG111122薄膜上反射光的復(fù)振幅為薄膜上透射光的復(fù)振幅為薄膜上振幅反射系數(shù)為薄膜上振幅透射系數(shù)為相繼兩光束由光程差引起的相位差為膜的反射比和透射比正入射時(shí)：等效折射率：