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文檔簡介
X射線(Xian)與物質(zhì)的相互作用第一頁,共五十五頁。1.概(Gai)述X射線與物質(zhì)相互作用的宏觀效應 (波)相干散射、衍射,界面的反射、折射,衰減 (粒子)不相干散射,光電吸收及其二次效應(熒光,俄歇) 電子對的產(chǎn)生(Ex>1.022MeV)
物質(zhì)的變化:熱效應改性輻射損傷(結(jié)構變化)微觀本質(zhì):X射線與物質(zhì)中電子的相互作用理論處理方法:經(jīng)典電磁理論,量子力學第二頁,共五十五頁。2.X射線的相干(Gan)散射相干散射(λ不變,遠場光學)
彈性散射(Ex不變)
Ryleigh散射不相干散射(λ改變)非彈性散射(Ex改變)
Compton散射Raman散射第三頁,共五十五頁。1)自由電子的相干散射電子在入射X射線的交變電場(Chang)作用下作受迫振動,成為具有交變電矩的電偶極子。電偶極子輻射出次級輻射,即是散射X射線。電子受迫振動的頻率與入射波的振動頻率一致(不考慮阻尼),故散射波的頻率與入射波一致,也即散射波的波長與入射波相同。即相干散射,對入射X射線(原級)來說,這種散射只是改變方向而波長不變的一種次級輻射。第四頁,共五十五頁。由電動力學,一個電子作加速運動時,電磁輻射(She)為式中為輻射方向,R為觀察點與電子之間的距離,第五頁,共五十五頁。(1)入射(She)X射線為線偏振光令電場為,則,設α為與的夾角,則
e第六頁,共五十五頁。式中負號(Hao)表示在入射波前進方向上,散射波與入射波位相差180度,散射波的強度為為電子經(jīng)典半徑,第七頁,共五十五頁。圖6單個電子的X射(She)線相干散射(She)Op(2)入射波為非偏振情況第八頁,共五十五頁。(2)入射波為非偏振情況令入射方向為,P為觀察點,散射方向與確定的平面為散射面,令散射方向與入射方向夾角為θ???Ke)將任一偏振方向的的入射波,分解為、第九頁,共五十五頁。分別計算它們的散射波電場、,然后(Hou)矢量相加求出散射波總的電場及散射強度。計算可得散射波強度為
(2.4)e第十頁,共五十五頁。如入射X射線為完全非偏振光(例X射線管發(fā)射的X射線),則對求平均,得
(2.5)式中是偏振因子
由入射波(Bo)的偏振情況確定。偏振情況不同時,偏振因子相應變化。ee第十一頁,共五十五頁。 2)單個原子的X射線相干散射原子對X射線的散射,主要由電子貢獻,原子核的作用一般情況下是微不足道的,因為散射波強度與帶電粒子的質(zhì)量平方成反比。設原子半徑為a,電子分布在(Zai)這球體中,入射X射線波長為λ,原子散射波強度為。第十二頁,共五十五頁。⑴長波原(Yuan)子內(nèi)不同處的電子的散射波到達遠處的觀察點P時沒有顯著的位相差。
第十三頁,共五十五頁。 ⑵短波λ~這時原子內(nèi)各處電子發(fā)出的散射波有很大的位相差,
散射波的強度由相互間干涉來決定。結(jié)構分析中常用(Yong)的X射線波長λ~à,正是這種情況定義原子結(jié)構因子(原子散射因子)
一個原子相干散射波的振幅(電場強度)一個電子相干散射波的振幅(電場強度)第十四頁,共五十五頁。
計算可得出式中為原(Yuan)子中徑向電子密度分布函數(shù),為電子波函數(shù)。,散射角為2θf與Z,,有關
各元素原子、離子的結(jié)構因子可查
InternationalTablesforX-raycrystallography第十五頁,共五十五頁。fSinf與Z,,關(Guan)系
第十六頁,共五十五頁。
3)凝聚態(tài)物質(zhì)的相干散射 所有原子相干散射的疊加
晶體、準晶體、液晶——X射線衍射
非晶體、液體——相干散射圖形(Xing)→干涉函數(shù)→相關函數(shù)第十七頁,共五十五頁。4)介質(zhì)的X射線光學特性 界面的反射、折射、全反射 原子→電偶極子→ 可以得出折射率n為
式中N為單位體積內(nèi)的電子數(shù),ω為X射線頻率,在X射線頻率的范圍內(nèi)δ的數(shù)值為。 由光學在界面上的折射、反射的菲涅耳公式,在掠入射角為大角度時(Shi),X射線在界面的反射率是很小的,可以忽略不計,折射引起的角度變化也很小,一般情況可以不考慮。第十八頁,共五十五頁。圖7X射線的折射與反射i2i1i1θ1θ2θ1空(Kong)氣介質(zhì)掠入射第十九頁,共五十五頁。
但當X射線從真空(空氣)以小角度掠入射至介質(zhì),當掠入射角小于臨界角將發(fā)生全反(Fan)射。由折射定律,
第二十頁,共五十五頁。當1
0時,2更快地趨近于0。當時,即折射光束消失,發(fā)生全反射。此(Ci)時的掠入射角為全反射臨界角
對X射線,的數(shù)值為mrad量級,它隨X射線波長(頻率)與介質(zhì)的電子密度變化。第二十一頁,共五十五頁。X射線全反射的重要應用X射線反射鏡用于改變X射線方向、聚焦、濾去高(Gao)能X射線X射線“透鏡”毛細管束X射線透鏡---用于聚焦
第二十二頁,共五十五頁。X射線毛(Mao)細管透鏡1931年提出原理,80年代有實用報道Tu6-23X光在毛細管內(nèi)反射的情形第二十三頁,共五十五頁。單毛細管X射線聚焦/準(Zhun)直Cornell毛細管束X射線聚焦/準直Kumakhov差異:長度、焦點大小/位置第二十四頁,共五十五頁。毛細管束(Shu)X射線透鏡第二十五頁,共五十五頁。3.X射(She)線的不相干散射(She)Compton散射,1923
實驗:靶(各種不同材料) 入射光子能量,波長λ
散射光子,波長反沖電子(動量、能量)
第二十六頁,共五十五頁。第二十七頁,共五十五頁。圖3.散射光(Guang)波長與散射角的關系第二十八頁,共五十五頁。第二十九頁,共五十五頁。 Compton散射證實X射線的粒子性,它是奠定(Ding)量子力學理論的重要實驗基礎之一。
Compton散射可用于研究固體中電子的能量、動量關系。
(Compton輪廓)第三十頁,共五十五頁。2)Raman散射 本質(zhì)上(Shang)與可見光的Raman散射一樣,
為原子從基態(tài)到一激發(fā)態(tài)躍遷所需方程第三十一頁,共五十五頁。3)Plasmon散射
X射線在金屬薄膜中激發(fā)等離子體振蕩產(chǎn)生的不相干散射。p為某等離子體振蕩效(Xiao)率。第三十二頁,共五十五頁。(a)(b)C對CuK的散(San)射Be對CuK的散射第三十三頁,共五十五頁。4.光電吸收及(Ji)其二次效應 1)光電效應的實驗規(guī)律
X射線波長為λ:對某一元素Z,當λ下降,達到時,產(chǎn)生光電吸收。 最大
λ下降減少 光電子數(shù)(光電流)∝入射X射線強度 光電子速度:與光強無關,與λ,電子在原子中的結(jié)合能有關。
P為界面逸出能。 光電子的方向性,光電流的強度,為光電子發(fā)射方向與X射線入射方向的夾角。第三十四頁,共五十五頁。
采用偶極躍遷近似,原子吸收X射(She)線光子的幾率為
初態(tài),X射線的光電吸收中,一般為1S,2S,2P態(tài), 終態(tài),自由電子的連續(xù)態(tài), 終態(tài)處的未占有的能態(tài)密度,
2)光電效應的量子力學的解釋第三十五頁,共五十五頁。
以X射線波矢為軸(Zhou),計算得出的結(jié)果為: 當時,光電子能量為 光電子波矢為 動量,方向原子的微分吸收截面(即吸收光子后在方向上發(fā)射光電子的幾率)
與實驗規(guī)律完全一致。如入射X射線為單色平面波,,初態(tài)為K層電子,終態(tài)為平面波(,方向),第三十六頁,共五十五頁。3)光電子吸收的二次效應:熒光與俄歇(Xie)電子光電吸收——光電子發(fā)射,原子處于激發(fā)態(tài)(內(nèi)殼層,例K層,出現(xiàn)空位)原子退激發(fā)過程——二次效應:熒光與俄歇電子Auger第三十七頁,共五十五頁。 ⑴熒光:由光子激發(fā)的光輻射稱為熒光輻射,因而熒光譜也稱為次級光譜。 熒光輻射的本質(zhì)及(Ji)其產(chǎn)生的機制,與原級(由高速電子來激發(fā))特征光譜是完全一樣的: 發(fā)射機制:原子內(nèi)電子能級躍遷 方向:各向同性 波長:由原子能級確定,與特征譜波長相同。 強度: 入射X射線強度,物質(zhì)對X射線的吸收系數(shù),為q系熒光產(chǎn)額。
q能級受原級X射線激發(fā)的原子數(shù) 發(fā)生q級次級光輻射的原子數(shù)第三十八頁,共五十五頁。
熒光產(chǎn)額由物質(zhì)的原子能級決定。隨著原子序數(shù)Z和不同譜線的變化,輕重元素及不同譜線的熒光產(chǎn)額相差是很大的。對K系譜線,另,,,對(時,),隨Z呈指數(shù)下降,例Mg,Al僅為0.01。
X射線熒光元素成分分析:可檢測濃度很小的元素含(Han)量第三十九頁,共五十五頁。第四十頁,共五十五頁。 (2)俄歇(Auger)效應
X射線激發(fā)的原子存在著另外一種退激發(fā)過程,當次外層的一個電子躍入內(nèi)層填空(Kong)時所釋放的能量在該原子內(nèi)部被吸收而逐出次外層的另一個電子,這個被迸出的次外層電子稱為俄歇電子。這種效應也稱為次級光電效應,內(nèi)轉(zhuǎn)換或無輻射躍遷。在這種過程中,次級光電子(俄歇電子)的發(fā)射代替了熒光輻射。第四十一頁,共五十五頁。圖10俄歇電子的產(chǎn)生(Sheng)機制第四十二頁,共五十五頁。
俄歇電子的能量由原子的能級結(jié)構(Gou)決定,是元素的特征表征,與入射光子能量無關。俄歇電子能譜是表面元素分析的重要手段。在X射線是光電子吸收的二次效應中,熒光輻射與俄歇電子相互競爭,
為俄歇電子產(chǎn)額,對K層來說, 時,俄歇電子發(fā)射占優(yōu)勢。第四十三頁,共五十五頁。5.X射線的衰減(Jian)和吸收,吸收系數(shù) 1)X射線強度的線性衰減定律 一束X射線通過均勻介質(zhì)時,其強度衰減服從線性衰減定律:
稱為線性衰減系數(shù)。第四十四頁,共五十五頁。第四十五頁,共五十五頁。 X射線的衰減由吸收、散射,電子對的產(chǎn)生三種原因造成。一般情況下,主要由光電吸收造成,散射可以忽略,電子對 則在時才產(chǎn)生。
τ為吸收系數(shù),σ為散射系數(shù)。因σ相對于τ而言,一般很小,可忽略。因而實際(Ji)工作中,常將μ、τ視為相同的,因而μ也稱為吸收系數(shù)。第四十六頁,共五十五頁。2)單質(zhì)的吸收系數(shù)質(zhì)量吸收系數(shù),原子吸收系數(shù)
X射線通過由單質(zhì)組成的均勻介質(zhì)時
稱為線性吸收(衰減)系數(shù)。顯然,它與介質(zhì)的密度(Du)ρ有關。第四十七頁,共五十五頁。
實際工作中,常用另外二種表達形式,
稱為質(zhì)量吸收系數(shù),它描述了(單位面積上)單位質(zhì)量介質(zhì)時的吸收。 ,,它與物質(zhì)的密度無關只與元素(Z)和波長有關。 ,,,
n為單位體積內(nèi)(Nei)的原子數(shù)目。 稱為原子吸收系數(shù)與一樣,它是Z,λ的函數(shù)。 ,的具體數(shù)值可從InternationalTablesforX-raycrystallogaphy查找。第四十八頁,共五十五頁。 3)吸收系數(shù)與Z、λ的關系,吸收邊 單質(zhì)的吸收系數(shù)由Z、λ確定 對一給定元素,例Pt(Z=78), 與λ的關系如(Ru)圖所示
,隨增大,至發(fā)生吸收陡變。 ,隨增大,直至出現(xiàn)新陡變。 隨著λ的增大,在圖中還有LII,LIII…等吸收陡變。第四十九頁,共五十五頁。Ex第五十頁,共五十五頁。
吸收曲線的這些陡變,對應著原子各殼層或支殼層的吸收限(激發(fā)限)的波長,在吸收線發(fā)生的吸收陡變,是由強烈的光電吸收造成的,這種吸收陡變,常稱為吸收邊,圖中的各吸收邊,相應地稱為K吸收邊、LI吸收邊,…
在二吸收邊之間, 考慮到散射,在實際工作中常用Victoreen半經(jīng)驗公式
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