其次部分中級(jí)工

本文格式為Word版，下載可任意編輯——其次部分中級(jí)工其次部分中級(jí)工一、中級(jí)鋼軌探傷工知識(shí)要求部分練習(xí)題

（一）填空題（將正確答案填在橫線空白處）

在超聲波探傷中，產(chǎn)生遲到信號(hào)的原因一是由于波的傳播方向該變使聲程增加，二是由于而使聲速變慢。答案：波形轉(zhuǎn)換

超聲波探傷，為減少近場(chǎng)長(zhǎng)度應(yīng)選用低頻率或晶片直徑＿的探頭。答案：較小’在常用的五種探傷方法中，＿探傷只能檢查鐵磁性材料。答案：磁粉探頭發(fā)出的超聲波頻率主要是由晶片的決定的。答案：厚度

超聲波在材料中傳播的速度取決于材料介質(zhì)的密度和答案：彈性模量

在電阻電路中，電流的大小與電阻兩端電壓的高低成正比，而與電阻的阻值大小成反比，稱為答案：歐姆定律

試塊是對(duì)超聲波探傷儀進(jìn)行＿的工具答案：計(jì)量

雙晶片聯(lián)合探頭，由于盲區(qū)參小，因此有利—缺陷的探測(cè)。答案：近表面某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為P，它的材料是＿。答案：鋯欽酸鉛陶瓷

超聲波斜探頭，入射點(diǎn)到探頭前端的水平距離稱為斜探頭答案：前沿長(zhǎng)度1、超聲波探傷，若儀器的重復(fù)頻率過(guò)、，示波屏上將產(chǎn)生（幻象信號(hào)），易造成錯(cuò)判。

2.超聲波探傷中，產(chǎn)生遲到信號(hào)的原因一是由于波的傳播方向改變使聲程增加，二是由于（波形轉(zhuǎn)換）而使聲速變慢。3．鐵工務(wù)（1995）144號(hào)文件規(guī)定，連續(xù)兩個(gè)探傷周期內(nèi)都發(fā)現(xiàn)疲乏傷損（如核傷、魚(yú)鱗傷、螺孔裂紋、水平裂紋等）的不良地段應(yīng)增加（儀器）的檢查遍數(shù)。

4．鐵工務(wù)（1995）144號(hào)文件規(guī)定，年通過(guò)總重為5000一8000萬(wàn)t．km/krn的60kg/m鋼軌．檢查周期為（35）d5.TB/T2340-93標(biāo)準(zhǔn)：適用于（新制）多通道A型顯示鋼軌超聲波探傷儀。6.TB/T2340-93標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：鋼軌超聲波探傷的動(dòng)態(tài)范圍，抑制最大時(shí)為(4一6)dB。7.TB/T2340-93標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：鋼軌超聲波探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍，抑制最小時(shí)不低于（16）dB。8.單位時(shí)間內(nèi)，通過(guò)超聲波傳播方向垂直截面單位面積上的聲能量，稱為（聲強(qiáng)）。9.在傳播超聲波的介質(zhì)內(nèi),某一點(diǎn)作用有交變的附加壓強(qiáng)，這種瞬變的壓強(qiáng)叫做（聲壓）。10．超聲波探傷，為減少近場(chǎng)長(zhǎng)度應(yīng)選用低頻率或晶片直直徑（較小）的探頭。

11．超聲波中，當(dāng)X≥3N時(shí)，橫通孔的反射與長(zhǎng)橫孔直徑的（平方根）正比，與距離的3/2次方成反比。12．超聲波對(duì)界面斜人射時(shí)，聲波人射方向與界面法線的夾角稱為（入射角）。13．超聲波對(duì)界面斜人射時(shí)，折射波方向與界面法線的夾角稱（折射角）14．在常用的五種探傷方法中，（滲透）探傷只能檢查工件表面開(kāi)口缺陷?！?5．在常用的五種探傷方法中，（磁粉）探傷只能檢查鐵磁性材料。16．在常用的五種探傷方法中，（渦流）探傷是利用電磁感應(yīng)原理。

17．在常用的五種探傷方法中，射線法探傷和（超聲波）法探傷，主要是用來(lái)檢查內(nèi)部缺陷。

18．為有效的發(fā)現(xiàn)工件內(nèi)部的片狀缺陷，在射線探傷法和超聲波探傷法二者之間，選用（超聲波）法最適合。19．超聲波探傷儀的水平線性與確定缺陷的（位置）有關(guān)。20，超聲波探傷儀的垂直線性與確定缺陷的（大?。┯嘘P(guān)。

21．對(duì)某一些物體施加壓力時(shí)，在其表面將出現(xiàn)電荷，這一效應(yīng)稱為（壓電效應(yīng)）22．把某些物體放在電場(chǎng)中，它將產(chǎn)生形變，這一現(xiàn)象稱為（逆壓電效應(yīng)）23．超聲波在介質(zhì)中傳播形成衰減的主要原因有：聲場(chǎng)擴(kuò)散、材質(zhì)散射和（吸收）、24．超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，任一點(diǎn)聲壓與該點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱為（聲阻抗）25.超聲波探傷，探頭頻率越高衰減越（嚴(yán)重）。

26..超聲波斜人射，當(dāng)折射縱波大于第一臨界角時(shí)，在工件中沒(méi)有折射縱波，這種現(xiàn)象稱為（縱波全反射）27..超聲波發(fā)出的聲波頻率主要是由晶片的（厚度）口決定。28.超聲波探傷，從各個(gè)方向都能探測(cè)到的缺陷是（點(diǎn)狀）缺陷。

29.A型顯示超聲波探傷儀，加大抑制量，將使儀器的（垂直線性）變差，不利于當(dāng)量計(jì)算。30.探頭晶片面積一致，高頻率探頭的聲束擴(kuò)散角要比低頻率探頭的聲束擴(kuò)散角（?。?。31．超聲波在材料中傳播的速度取決于材料介質(zhì)的密度和（彈性模量）。32.A型顯示超聲波探傷儀各單元電路的工作是由（同步電路）協(xié)調(diào)的。

33.A型顯示超聲波探傷儀，產(chǎn)生高頻電脈沖激發(fā)探頭發(fā)出超聲波的電路稱（發(fā)射電路）。34．某標(biāo)稱為2．5P20Z的直探頭，探測(cè)鋼時(shí)近場(chǎng)長(zhǎng)度為（42.3）。（鋼L＝5900m/s）

35．厚度為40mm的鋼板，用折射角為45°的斜探頭。某缺陷聲程為130mm，距探測(cè)面的深度是（11.9）36．超聲波探傷反射法中沒(méi)有探測(cè)盲區(qū)的探傷方法是（底面屢屢回波法）。

37.在聲程大于3N時(shí)，垂直人射到平底孔的超聲波，當(dāng)平底孔的直徑增加一倍時(shí)，反射．聲壓增加（12）dB.38．A型顯示超聲波探傷設(shè)備（包括儀器和探頭）的靈敏度余量尋常用（CS—1—5）試塊測(cè)量。39．A型顯示超聲波探傷設(shè)備（包括儀器和探頭）的距離分辯力尋常用（CSK—1A）試塊測(cè)量。40．超聲波在曲面上透射時(shí)，透射波是發(fā)散或聚焦與兩種介質(zhì)的（聲速）有關(guān)。41．鋼中縱波聲速約為5900m/s，聲速通過(guò)47.2mm鋼的時(shí)間是（8μs）。

42.晶體管放大電路，已知直流放大倍數(shù)為β、基極靜態(tài)電流為1b，發(fā)射極電流1e是(（1+β）×Ib)

43.GB249-74標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，半導(dǎo)體器件型號(hào)命名及符號(hào)意義有五部分組成，第一部分用數(shù)字表示器件的（電極數(shù)目）。44．超聲波垂直人射到兩種介質(zhì)的界面上，假使兩種介質(zhì)的聲阻抗很接近，聲壓的反射率將（很?。?5．超聲波垂直人射到兩種介質(zhì)的界面上，假使兩種介質(zhì)的聲阻抗很接近，聲壓的透過(guò)率將（很大）46.當(dāng)頻率和材料一定時(shí)，尋常橫波對(duì)于小缺陷的檢測(cè)靈敏度將（高于）縱波。

47.TB/T2340-93標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：A型顯示鋼軌超聲波探傷儀普通型的環(huán)境溫度為（-20?C—50?C）。

48.鋼軌探傷，為保證發(fā)現(xiàn)60kg/m鋼軌軌底的橫向裂紋37o探頭對(duì)應(yīng)的通道報(bào)警門(mén)后沿最少應(yīng)為（220.1）mm聲程。（軌高176mm）．

49．某超聲波探傷儀，0o探頭滿刻度聲程為250mm，探測(cè)60kg/m鋼軌時(shí)正常螺孔波的波峰應(yīng)顯示在刻度（32.6）mm處。（孔中心至軌面距離為97mm）。

50，在TBT2172-90中，鐵路鋼軌傷損代碼的規(guī)定由五層內(nèi)容組成，第一層的數(shù)字表示（傷損種類）。51．在晶體管放大電路中，假使反饋信號(hào)與輸入信號(hào)在輸人回路中以電壓形式相加減，稱為（串聯(lián)反饋）。

52.在晶體管放大電路中，假使反饋信號(hào)與輸入信號(hào)電路中以電流形式相加減，則稱為（并聯(lián)反饋）。53.在晶體管放大電路中，常用的反饋方式有，電壓串聯(lián)式，電流串聯(lián)式，電壓并聯(lián)式和（電流并聯(lián)式）

54.在晶體管放大電路中，常用的反饋方式有，電壓串聯(lián)式，電流串聯(lián)式，電流并聯(lián)式和（點(diǎn)驗(yàn)并聯(lián)式）55．在晶體管放大電路中，常用的反饋方式有，電流并聯(lián)式，電壓并聯(lián)式，電壓串聯(lián)式和（電流串聯(lián)式）。56.在晶體管放大電路中，常用的反饋方式有，電流并聯(lián)式，電壓并聯(lián)式，電流串聯(lián)和（電壓串聯(lián)式）57．為使晶體管放大電路各項(xiàng)性能得到改善，一般來(lái)講是靠降低（放大倍數(shù)）來(lái)?yè)Q取的。58．考慮晶體管振蕩電路起振條件時(shí)，首先是（相位）的平衡條件，其次是幅度平衡條件。59.晶體管差動(dòng)放大電路，可有效抑制（零點(diǎn)漂移）。

60．理想的差動(dòng)放大電路應(yīng)當(dāng)是輸入有區(qū)別，輸出就變動(dòng)；輸入無(wú)區(qū)別（輸出就無(wú)變動(dòng)）。

61．在電子電路中，將正負(fù)交替的正弦交流電壓整流成為單方向的脈動(dòng)電壓的電路，稱為（整流器）。

62.在電子電路中，將單向脈動(dòng)電壓中的脈動(dòng)成分濾掉，使輸出電壓成為比較平滑的直流電壓的電路稱（濾波器）。63.在電阻電路中，電流的大小與電阻兩端電壓的高低成正比，而與電阻的阻值大小成反比。稱為（歐姆定律）。64.假使用符號(hào)U表示電壓、I表示電流，R表示電阻，請(qǐng)寫(xiě)出歐姆定律的表達(dá)式：（I=U／R）。65．流人節(jié)點(diǎn)的電流等于從該節(jié)點(diǎn)流出的電流。這一定律稱為：基爾霍夫（第一定律）。

66．從回路任意一點(diǎn)出發(fā)，沿回路循行一周，電位升的和應(yīng)等于電位降的和。這一定律稱為基爾霍夫（其次定律）。67.假使把幾個(gè)電阻首尾相接，在這幾個(gè)電阻中通過(guò)的是同一大小的電流，這種連接方式稱（串聯(lián)電路）。68．線圈中感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的方向總是企圖使它所產(chǎn)生的感應(yīng)電流抵擋原有磁通的變化。這個(gè)規(guī)律叫做（楞次）定律。69．串聯(lián)電容器的等效電容量的倒數(shù)等于各個(gè)電容器的電容量的（倒數(shù)之和）。70．并聯(lián)電容器的總電容量是各個(gè)單獨(dú)容量（之和）。

71．在交流電路中，電流、電壓和電動(dòng)勢(shì)的大小方向都是隨時(shí)間（不斷）變化的。

72.GB249-74標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定半導(dǎo)體器件的命名方法由五部分組成，第四部分用數(shù)字表示器件的（序號(hào)）

73.GB249—74標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定半導(dǎo)體器件的命名方法由五部分組成，其次部分用漢語(yǔ)拼音字母表示器件的材料和（極性）。74..安全優(yōu)質(zhì)探傷工區(qū)基本條件是（無(wú)漏檢）、無(wú)責(zé)任斷軌。

75．冬季，橋梁上、隧道內(nèi)、小半徑曲線、大坡道及鋼軌狀態(tài)不良地段應(yīng)（縮短探傷周期）。

76..鋼軌探傷儀檢修工作分日常保養(yǎng)、月測(cè)試、季度檢修（季檢）、年度綜合檢修（年檢）和（故障檢修）五部分。77.鋼軌探傷儀檢修工作分日常保養(yǎng)、月測(cè)試、季度檢修（季檢）、（年度綜合檢修）和故障檢修五部分78.鋼軌探傷儀檢修工作分日常保養(yǎng)、月測(cè)試、（季度檢修）、年度檢修（年檢）和故障檢修五部分。79.鋼軌探傷儀檢修工作分日常保養(yǎng)、（月測(cè)試）、季度檢修（季檢）、年度檢修（年檢）和故章檢修五80.鋼軌探傷儀檢修工作分（日常保養(yǎng)）、月測(cè)試、季度檢修（季檢）、年度檢修（年檢）和故障檢修五部分。81．《鐵路線路維修規(guī)則》規(guī)定鋼軌傷損分為輕傷、重傷和（折斷）。82：《鐵路維修線路規(guī)則》規(guī)定鋼軌傷損為（輕傷）重傷和折斷。83．《鐵路維修線路規(guī)則》規(guī)定鋼軌傷損分為輕傷（重傷）和折斷。

84．A型顯示超聲波探傷儀，把從探頭接收的信號(hào)進(jìn)行放大并送往顯示由路顯示的由路（接收電路）。85.A型顯示超聲波探傷儀，使熒光屏產(chǎn)生掃描線的電路為（掃描）電路。86．鋼軌探傷中，為了使70o探頭減少漏檢，應(yīng)將把靈敏度盡量（提高）87．鋼軌探傷中，為了提高雙35o探頭的探傷靈敏度應(yīng)盡量（降低）增益。88..試塊是對(duì)超聲波探傷儀進(jìn)行（計(jì)量）的工具。89．鋼軌探傷中，WGT型試塊稱為（專用對(duì)比）試塊。90．鋼軌探傷中，GTS型試塊稱為（實(shí)物對(duì)比）試塊。

,91.WGT-1試塊，R40mm的圓弧面，可用于測(cè)定斜探頭的人射點(diǎn)和（前沿長(zhǎng)度）。92.WGT-1試塊，R15mm的1/4圓孔，可作（模擬螺孔）使用。

93.WGT-1試塊模擬螺孔與B面呈36o的3mm裂紋，當(dāng)從B面用二次波探測(cè)時(shí)，缺陷的探測(cè)深度相當(dāng)于（71mm）94.WGT-1試塊模擬螺孔上的3mm裂紋，從B面用二次波探傷時(shí)，可模擬43和50kg/m鋼軌螺孔（上裂紋）深度。95.WGT-1試塊模擬螺孔上的3mm，從B面三次波探傷時(shí)，可模擬43和50kg/m鋼軌螺孔（下裂紋）的深度。96.WGT-1試塊模擬螺孔上的3mm裂紋，從B面三次波探測(cè)時(shí)，可模擬60kg/m鋼軌螺孔（上裂紋）的深度。97.WGT-1試塊模擬螺孔上的3mm裂紋，從A面用三次波探測(cè)時(shí)，可模擬60kg/m鋼軌螺孔（下裂紋）的深度。98.WGT-1試塊，模擬螺孔上的3mm裂紋，從A面用三次波探測(cè)時(shí)，可模擬75kg/m鋼軌螺孔（上裂紋）的深度。99.WGT-1試塊上φ3mm橫通孔主要用作模擬鋼軌（核傷）。

100.WGT-1試塊上φ3mm橫通孔可模擬鋼軌核傷，校正探傷儀的靈敏度和測(cè)量靈敏度余量，也可用于探頭（折射角）的測(cè)量。

101.用橫通孔模擬鋼軌核傷，可減弱甚至避免因探頭角度不同引起的反射波幅度的（差異）。

102.WGT-2試塊上三個(gè)φ3mm橫通孔，當(dāng)從A面和B面用一次或二次波探測(cè)時(shí)，可獲得（12）個(gè)不同的探測(cè)深度。103.WGT-2試塊上三個(gè)φ3mm橫通孔當(dāng)從A面B面用一次波和二次波分別探測(cè)時(shí)，可得到斜探頭（距離—幅度特性）的曲線。

104..利用WGT-2試上的棱角，橫孔和刻度，可測(cè)量斜探頭的入射點(diǎn)，K值和（校正測(cè)距）。105.利用WGT-2試塊上的棱角、橫孔和刻度、可測(cè)量斜探頭的（入射點(diǎn)）,K值和校正測(cè)距。106.利用WGT-2試塊上的棱角、橫孔和刻度，可測(cè)量斜探頭的人射點(diǎn)（K值）和校正測(cè)距。

107.GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊，φ4×20mm平底孔，鉆孔位置距軌端為32mm，主要目的是使孔波與端面波（易于分別）108．GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊，分別加工有螺孔、（水平）15o、37o和25o裂紋。109．GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊，分別加工有螺孔水平、15o、37o和（25o）裂紋。110.GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊，分別加工有螺孔水平、15o、25o和（37o）裂紋。111.GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊，分別加工有螺孔水平、25o、37o和（15o）裂紋。

112.使用37o探頭探測(cè)鋼軌實(shí)物試塊螺孔37o上裂紋時(shí)，在螺孔反報(bào)警門(mén)內(nèi)應(yīng)有螺孔反射波和（螺孔裂紋波）。113．使用37o探頭，探測(cè)鋼軌實(shí)物試塊上螺孔37o下裂紋時(shí)，裂紋波應(yīng)在螺孔反射波（之后）出現(xiàn)。114．鋼軌探傷中為有效的發(fā)現(xiàn)15o左右的螺孔裂紋、最好采用（小角度）探頭。

115．使用0o探頭，探測(cè)鋼軌螺孔中心部位水平裂紋時(shí)，螺孔反射波，應(yīng)在螺孔水平裂紋波（之前）出現(xiàn)。

116．使用0o探頭探測(cè)鋼軌時(shí)，靈敏度正常，儀器常報(bào)警，但無(wú)回波，應(yīng)考慮是鋼軌內(nèi)部有縱向（裂紋）。117.使用70o探頭探測(cè)軌頭核傷，若只有一次反射波說(shuō)明核傷的傾斜方向與聲波的入射方向相（垂直）118.使用70o探頭，探測(cè)軌頭核傷，若兩側(cè)的反射波位移量相等，說(shuō)明核傷與軌面（垂直）

119·使用70o探頭，探測(cè)軌頭核傷，若只有二次反射波，說(shuō)明核傷的傾斜方向和探頭聲波入射方向（相平行）。120．鋼軌探傷中，為了提高檢出靈敏度減少雜波干擾，因此接收電路都把（抑制）做成很大。121．鋼軌探傷中，為了提高檢出能力，減少雜波干擾，因此接收電路的動(dòng)態(tài)范圍都做成（很?。?22．超聲波直探頭主要組成部分有：接頭、殼體、阻尼塊、保護(hù)膜和（晶片）。123．超聲波直探頭主要組成部分有：接頭、殼體、保護(hù)膜、晶片和（阻尼塊）。124．超聲波直探頭主要組成部分有：接頭·殼體、阻尼塊、晶片和（保護(hù)膜）。125．超聲波斜探頭，除和直探頭一致的幾部分外，在晶片前方還裝有（楔塊）。126．超聲波斜探頭，楔塊的主要作用是使射入工件的波形發(fā)生（轉(zhuǎn)換）。

127.為了使進(jìn)入工件的波型轉(zhuǎn)換為橫波，除選擇適當(dāng)?shù)娜肷浣峭猓▔K的縱波聲速還要比工件的橫波聲速（?。?。128．橫波探傷時(shí)，超聲波探頭的入射角應(yīng)大于第一臨界角（小于）其次臨界角。129橫波探傷時(shí)，超聲波探頭的入射角應(yīng)（大于）第一臨界角小于其次臨界角。130.雙晶片聯(lián)合探頭，由于盲區(qū)較小，因此有利于（近表面）缺陷的探測(cè)131.超聲波探傷常用的探頭有：直探頭，斜探頭、液浸探頭和（聚焦探頭）等。132.超聲波探傷常用的探頭有：斜探頭、液浸探頭、聚焦探頭和（直探頭）等。133..超聲波探傷常用的探頭有：直探頭、液浸探頭、聚焦探頭和（斜探頭）等。134.超聲波探傷常用的探頭有：直探頭、斜探頭、聚焦探頭和（液浸探頭）等。135.某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為P，它的材料是（鋯鈦酸鉛陶瓷）。136．某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為B，它的材料是（鈦酸鋇陶瓷）。137．某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為T(mén)，它的材料是（鈦酸鉛陶瓷）。138．某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為L(zhǎng)，它的材料是（鈮酸鋰單晶）。139.某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為I，它的材料是（碘酸鋰單晶）。140．某探頭晶片材料標(biāo)識(shí)為Q，它的材料是（石英單晶）。

142．某探頭的種類標(biāo)識(shí)為K，它的種類是用K值表示的（斜探頭）。143．某探頭的種類標(biāo)識(shí)為X，它的種類是用折射角表示的（斜探頭）。144．某探頭的種類標(biāo)識(shí)為FG，它表示為（分割探頭）。1145．某探頭種類標(biāo)識(shí)為Si，它表示為（水浸探頭）。146．某探頭種類標(biāo)識(shí)為BM，它表示為（表面波探頭）。147．某探頭種類標(biāo)識(shí)為KB，它表示為（可變角探頭）。

148．超聲波斜探頭，入射點(diǎn)到探頭前端的水平距離稱為，斜探頭（前沿長(zhǎng)度）。

149．用以表示超聲波探頭輻射波束中心軸線與晶片表面不垂直度的術(shù)語(yǔ)是：波束中心軸線（偏向角）。150.用以表示超聲波探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向或深度方向相距最返的兩個(gè)相鄰缺陷的能力的術(shù)語(yǔ)是（分辯力）。（二）選擇題（選擇正確答案的填人括號(hào)內(nèi)）

同一固體材料中，在給定頻率下產(chǎn)生波長(zhǎng)最短的波動(dòng)形式是（D）。A）縱波（B）壓縮波（C）橫波（D）表面波缺陷所反射的聲能大小取決于（D）。

(A)缺陷大?。˙）缺陷取向（C）缺陷類型（D）上述三種都包括橫波探傷最常用于（A）。

（A）焊縫、管材探傷（B）測(cè)定金屬制品的彈性特性(C)探測(cè)厚板的分層缺陷（D）薄板測(cè)厚假使探測(cè)面毛糙，應(yīng)當(dāng)采用（A）。

(A)不太高頻率探頭’（B）較高頻率的探頭（C）硬保護(hù)膜探頭（D）上述三種均無(wú)需考慮

［例5］無(wú)論放大電路輸出端采用電壓反饋，還是電流反饋只要輸入端采用并聯(lián)負(fù)反饋留方式，輸入電阻都要（A）。(A）減小（B）不變、（C）放大（D）增加（1+AF）倍

1．超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)人另一介質(zhì)后其聲束與界面法線所成的夾角稱為（B）。(A)人射角．（B）折射角(C)擴(kuò)散角；（D）反射角2．用標(biāo)準(zhǔn)來(lái)校正儀器或裝置的過(guò)程稱為（D）。

(A)角度調(diào)查（B）掃描(C)距離—振幅變化修正（D）標(biāo)定

3．利用陰極發(fā)射的電子束在熒光屏上顯示圖像的電子管叫做（C）。(A)放大管(B)脈沖管(C)陰極射線管(D)掃描管．4．因表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生的漫射叫做（B）。(A)角度調(diào)整(B)散射(C)折射（D）擴(kuò)散5．一致波型的超聲波反射角（A）。．

(A)等于人射角(B)與使用的藕合劑有關(guān)(C)與使用的頻率有關(guān)‘（D）等于折射角6．聲束與缺陷主反射面所成的角度叫做（C）。(A)人射角、(B)折射角(C)缺陷取向（D）反射角7．持續(xù)時(shí)間很短的沖擊電能叫做（D）。

(A)連續(xù)波(B)直流峰值電壓(C)超聲波（D）電脈沖或脈沖8．超聲檢驗(yàn)中，脈沖的持續(xù)時(shí)間叫做（A）。(A)脈沖寬度(B)脈沖振幅(C)脈沖形狀（D）脈沖波幅

9.超聲波人射到界面上，在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做（D）。(A)發(fā)射（B）擴(kuò)散(C)角度調(diào)整（D）反射

10.超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)人另一種不同介質(zhì)而改變傳播方向的現(xiàn)象叫做（A）。(A)折射(B)擴(kuò)散(C)角度調(diào)整（D）反射