電離輻射環(huán)境監(jiān)測規(guī)范

電離輻射環(huán)境監(jiān)測規(guī)范第1頁/共72頁監(jiān)測監(jiān)管范圍使用IV、V類放射源使用III類射線裝置非密封源工作場所第2頁/共72頁IV、V類放射源Ⅳ類放射源為低危險源?；静粫θ嗽斐捎谰眯該p傷，但對長時間、近距離接觸這些放射源的人可能造成可恢復(fù)的臨時性損傷。主要用于料位、密度測量、測厚等。Ⅴ類放射源為極低危險源。不會對人造成永久性損傷。主要有校準(zhǔn)源、ECD、靜電消除器、敷貼器等。I-125籽源歸市監(jiān)管。第3頁/共72頁III類射線裝置醫(yī)用射線裝置非醫(yī)用射線裝置醫(yī)用X射線CT機(jī)X射線行李包檢查裝置放射診斷用普通X射線機(jī)X射線衍射儀X射線攝影裝置獸醫(yī)用X射線機(jī)牙科X射線機(jī)乳腺X射線機(jī)放射治療模擬定位機(jī)其它高于豁免水平的X射線機(jī)第4頁/共72頁非密封源工作場所級

別日等效最大操作量(Bq)甲級＞4×109乙級2×107~4×109丙級豁免活度值以上~2×107第5頁/共72頁監(jiān)測項(xiàng)目X、γ輻射劑量率α、β表面污染

第6頁/共72頁監(jiān)測流程監(jiān)測方案的制定查看資料(環(huán)評、環(huán)評批復(fù)、監(jiān)測對象基本信息、工作參數(shù)等)現(xiàn)場踏勘(確定監(jiān)測對象及其周圍環(huán)境等)編制監(jiān)測方案(監(jiān)測項(xiàng)目、監(jiān)測儀器、監(jiān)測布點(diǎn)、監(jiān)測時間)第7頁/共72頁監(jiān)測流程現(xiàn)場監(jiān)測記錄監(jiān)測條件(監(jiān)測日期、監(jiān)測儀器、被檢對象工況、環(huán)境條件等)繪制監(jiān)測示意圖監(jiān)測點(diǎn)位描述記錄監(jiān)測數(shù)據(jù)第8頁/共72頁監(jiān)測流程報告編制監(jiān)測對象基本情況描述，尤其是工況監(jiān)測結(jié)果監(jiān)測結(jié)論第9頁/共72頁電離輻射評價標(biāo)準(zhǔn)電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB18871-2002X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ115–2002含密封源儀表的放射衛(wèi)生防護(hù)要求GBZ125–2009X射線行李包檢查系統(tǒng)衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ127–2002生產(chǎn)和使用放射免疫分析試劑(盒)衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ136–2002醫(yī)用X射線診斷機(jī)房衛(wèi)生防護(hù)與檢測評價規(guī)范DB31/462-2009第10頁/共72頁電離輻射監(jiān)測標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境地表輻射劑量率測定規(guī)范GB/T14583–1993輻射環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范HJ/T61-2001表面污染測定第1部分β發(fā)射體(Eβmax＞0.15MeV)和α發(fā)射體GB/T14056.1–2008表面污染測定第2部分氚表面污染GB/T14056.2-2011第11頁/共72頁X、γ輻射劑量率監(jiān)測規(guī)范環(huán)?！傮w對屏蔽墻外的X、γ輻射劑量率進(jìn)行監(jiān)測。環(huán)境地表γ輻射劑量率測量高度通常為距地1m。記錄內(nèi)容測量日期(年、月、日、時、分)測量人測量儀器的名稱、型號和編號測點(diǎn)編號、名稱及描述環(huán)境參數(shù)衛(wèi)生——具體第12頁/共72頁X、γ輻射劑量率評價依據(jù)環(huán)?！傮wGB18871-2002衛(wèi)生——具體不同監(jiān)測對象不同評價依據(jù)第13頁/共72頁《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》

GB18871–2002第14頁/共72頁《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》

GB18871–2002第15頁/共72頁X射線機(jī)房監(jiān)測規(guī)范

DB31/462-2009第16頁/共72頁X射線機(jī)房單開門第17頁/共72頁X射線機(jī)房雙開門第18頁/共72頁X射線機(jī)房監(jiān)測規(guī)范

DB31/462-2009第19頁/共72頁X射線機(jī)房觀察窗及操作臺第20頁/共72頁X射線機(jī)房觀察窗第21頁/共72頁X射線機(jī)房監(jiān)測規(guī)范

DB31/462-2009第22頁/共72頁X射線機(jī)房監(jiān)測規(guī)范

DB31/462-2009第23頁/共72頁X射線機(jī)房監(jiān)測規(guī)范

DB31/462-2009其他可能發(fā)生泄漏的地方：通風(fēng)管道口穿墻管線洞口傳片口在額定管電壓、額定管電流或裝置可以達(dá)到的最高曝光條件下檢測。檢測中采用水箱體膜。第24頁/共72頁X射線機(jī)房結(jié)果評價

DB31/462-2009屏蔽滿足GB18871-2002中的劑量限值要求。職業(yè)工作人員與公眾限值要求不同，根據(jù)環(huán)評確定監(jiān)測區(qū)域相應(yīng)限值。對于放射工作人員劑量不大于0.1mSv/周，對于周圍公眾劑量不大于0.01mSv/周。在距機(jī)房屏蔽墻外表面0.3m處周圍劑量當(dāng)量率不大于2.5Sv/h。第25頁/共72頁自屏蔽X射線機(jī)X射線衍射儀X射線熒光光譜儀第26頁/共72頁自屏蔽X射線機(jī)X射線鍍層厚度測量儀第27頁/共72頁自屏蔽X射線機(jī)X射線焊點(diǎn)檢查機(jī)第28頁/共72頁自屏蔽X射線機(jī)監(jiān)測規(guī)范第29頁/共72頁自屏蔽X射線機(jī)結(jié)果評價

GBZ115-2002人體可能到達(dá)的儀器外表面5cm位置處的空氣比釋動能率不得超過2.5Gy/h。第30頁/共72頁X射線行李包檢查系統(tǒng)第31頁/共72頁X射線行李包檢查系統(tǒng)監(jiān)測規(guī)范第32頁/共72頁X射線行李包檢查系統(tǒng)監(jiān)測規(guī)范第33頁/共72頁X射線行李包檢查系統(tǒng)監(jiān)測規(guī)范第34頁/共72頁X射線行李包檢查系統(tǒng)結(jié)果評價

GBZ127-2002系統(tǒng)產(chǎn)生輻射時，距其外表面5cm任意一點(diǎn)的空氣比釋動能率不得超過5Gy/h。第35頁/共72頁含密封源儀表——密度計密度計多內(nèi)含Co-60或Cs-137放射源。用于挖泥船、化工廠測量液體密度。第36頁/共72頁含密封源儀表——密度計第37頁/共72頁密度計監(jiān)測規(guī)范密度計源容器外圍的劑量當(dāng)量率測量區(qū)示意圖

第38頁/共72頁含密封源儀表——料位計料位計多含Cs-137或Co-60放射源。用于測量液面高度。第39頁/共72頁含密封源儀表——料位計第40頁/共72頁料位計監(jiān)測規(guī)范料位計源容器外圍的劑量當(dāng)量率測量區(qū)示意圖

第41頁/共72頁料位計監(jiān)測規(guī)范第42頁/共72頁含密封源儀表——測厚儀測厚儀多內(nèi)含Am-241、Sr-90

、Kr-85、Tl-204、Pm-147等放射源。多用于測量鋼板、薄膜、紙張厚度。第43頁/共72頁含密封源儀表——測厚儀第44頁/共72頁含密封源儀表——測厚儀第45頁/共72頁測厚儀監(jiān)測規(guī)范第46頁/共72頁測厚儀監(jiān)測規(guī)范第47頁/共72頁含密封源儀表——核子秤核子秤多內(nèi)含Cs-137放射源。用于稱量散裝物料。第48頁/共72頁含密封源儀表監(jiān)測規(guī)范β、γ反散射式測量儀表外圍的劑量當(dāng)量率測量區(qū)示意圖第49頁/共72頁含密封源儀表——水分計水分計多內(nèi)含Cs-137、Am-Be中子源。用于測量含水量。第50頁/共72頁水分計監(jiān)測規(guī)范表面反散射式測量儀表外圍的劑量當(dāng)量率測量區(qū)示意圖第51頁/共72頁含密封源儀表——骨密度儀骨密度儀多內(nèi)含Am-241放射源。用于骨密度測量。第52頁/共72頁骨密度儀監(jiān)測規(guī)范第53頁/共72頁含密封源儀表——靜電消除器靜電消除器多含Po-210放射源。用于去除電子元器件靜電。第54頁/共72頁靜電消除器監(jiān)測規(guī)范第55頁/共72頁含密封源儀表結(jié)果評價對于發(fā)射α、低能β低能X射線的密封源，距邊界外5cm處的劑量當(dāng)量率應(yīng)小于2.5Sv/h。除上述檢測儀表外，在不同場所使用時，距所示邊界外5cm和100cm處的劑量當(dāng)量率應(yīng)滿足下表的要求。

第56頁/共72頁含密封源儀表結(jié)果評價檢測儀表的使用場所距邊界外下列距離處的劑量當(dāng)量率H控制值(Sv/h)5cm100cm對人員的活動范圍不限制H<2.5H<0.25在距源容器的1m區(qū)域內(nèi)很少有人停留2.5≤H<250.25≤H<2.5在距源容器外表面3m的區(qū)域內(nèi)不可能有人進(jìn)人，或放射工作場所劃出了監(jiān)督區(qū)和非限制區(qū)

25≤H<2502.5≤H<25只能在特定的放射工作場所使用，并按控制區(qū)、監(jiān)督區(qū)、非限制區(qū)分區(qū)管理

250≤H<100025≤H<100第57頁/共72頁敷貼源監(jiān)測規(guī)范第58頁/共72頁儀器校準(zhǔn)源監(jiān)測規(guī)范#1第59頁/共72頁非密封源工作場所監(jiān)測規(guī)范第60頁/共72頁X、γ輻射劑量率檢定證書(相關(guān)頁)第61頁/共72頁X、γ輻射劑量率校準(zhǔn)因子第62頁/共72頁X、γ輻射劑量率結(jié)果的計算檢定獲得儀器的校準(zhǔn)因子Cf劑量率測定值（周圍劑量當(dāng)量率H*（10））的計算公式注：以上測量值中未扣除儀器對宇宙射線、陸地γ輻射、儀器本底噪聲的響應(yīng)。如果有要求，應(yīng)予以扣除。儀器對不同能量射線的響應(yīng)（Cf）是不一樣的。一般儀器檢定的Cf值是以137Cs（Eγ=662keV）為標(biāo)準(zhǔn)的。如果認(rèn)為有必要，應(yīng)取得相應(yīng)放射性核素的校準(zhǔn)因子。使用檢定證書算得的是周圍計量當(dāng)量率H*(10)的值。如需要其他的劑量率數(shù)值，應(yīng)作相應(yīng)的變換。第63頁/共72頁α、β表面污染監(jiān)測規(guī)范

（GB/T14056.1-2008）直接測量儀器本底計數(shù)率測量期間的幾何條件與儀器校準(zhǔn)時盡量一致。α測量時，探測器距被測表面5mm。β測量時，探測器距被測表面10mm。第64頁/共72頁α、β表面污染監(jiān)測規(guī)范

（GB/T14056.1-2008）間接測定盡可能擦拭100cm2的被測面積。盡可能用圓形濾紙作為擦拭材料。平滑表面用濾紙擦拭，粗糙表面用棉紡織品擦拭，擦拭樣品的總面積應(yīng)小于或等于探頭的靈敏面積。第65頁/共72頁α、β表面污染監(jiān)測規(guī)范

（GB18871-2002）第66頁/共72頁α、β表面污染監(jiān)測規(guī)范第67頁/共72頁α、β表面污染結(jié)果評價

（GB18871-2002）第68頁/共72頁α、β表面污染檢定證書第69頁/共72頁α、β表面污染結(jié)果計算檢定獲得儀器的表面活度響應(yīng)(R)實(shí)測時計算表面污染測量值的公式注：表面污染儀對γ等會有響應(yīng)，應(yīng)當(dāng)予以扣除。儀器對不同能量射線的表面活度響應(yīng)(R)是不一樣的。根據(jù)《α、β