表面光潔標(biāo)準(zhǔn)演示文稿

表面光潔度標(biāo)準(zhǔn)演示文稿本文檔共31頁；當(dāng)前第1頁；編輯于星期二\21點54分表面光潔度標(biāo)準(zhǔn)本文檔共31頁；當(dāng)前第2頁；編輯于星期二\21點54分3一.定義：表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點大小。道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。斑點、坑點、點子都稱為麻點。規(guī)定長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于4：1的為麻點。點子劃痕本文檔共31頁；當(dāng)前第3頁；編輯于星期二\21點54分4當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣時，等效直徑的計算以區(qū)域進(jìn)行：表面質(zhì)量要求高的內(nèi)區(qū)域其等效直徑以內(nèi)區(qū)域為準(zhǔn)（如有效孔徑的區(qū)域），表面質(zhì)量要求低的外區(qū)域計算的是整體元件的等效直徑。劃痕點子A區(qū)20-10B區(qū)80-50如左圖元件表面質(zhì)量要求不同，則在判定A區(qū)是否符合要求時，應(yīng)取內(nèi)圓直徑進(jìn)行計算。而B區(qū)則取整個元件的圓直徑本文檔共31頁；當(dāng)前第4頁；編輯于星期二\21點54分5三角的面積為（低×高）/2=(a×b)/2三角等效直徑D長方形面積=長×寬=a×b長方形的等效直徑DD面積=π(D/2)2ab美軍標(biāo)規(guī)定對于非圓形元件其直徑取相等面積圓的直徑。ahA區(qū)：20-10B區(qū)：80-503mm1mm4mm2mm對于長方形元件（當(dāng)長與寬的比<5：1時）可以用簡單公式：等效直徑=（長+寬）/2來計算。如左圖元件A區(qū)等效直徑為（1+3）/2=2mmB區(qū)等效直徑為（2+4）/2=3mm對于長與寬比≥5：1的產(chǎn)品不能用簡單公式計算等效直徑本文檔共31頁；當(dāng)前第5頁；編輯于星期二\21點54分6劃痕：以美國軍用標(biāo)準(zhǔn)《MIL-O-13830》的表面質(zhì)量劃痕樣板作為各級數(shù)劃痕的比對標(biāo)準(zhǔn)。（注意：美軍標(biāo)未指明劃痕的計量單位也即未確定劃痕的寬度和深度，只能以實際觀察樣版為標(biāo)準(zhǔn)。）這里的劃痕級數(shù)就是通常的劃痕號數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)樣版有10#、20#、40#、60#、80#5個級。SC-QA027表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)共有7條劃痕判定標(biāo)準(zhǔn)，前5條是美軍標(biāo)的規(guī)定，后兩條是公司內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)。以下逐條講解：1.當(dāng)元件的劃痕級數(shù)超過表面質(zhì)量要求的劃痕級數(shù)時，元件不合格。例如：元件的表面質(zhì)量要求為60—40，則代表元件的劃痕必須≤60#，如果元件有＞60#的劃痕，則元件不合格。

本文檔共31頁；當(dāng)前第6頁；編輯于星期二\21點54分72.當(dāng)元件的劃痕級數(shù)未超過表面質(zhì)量要求的級數(shù)，但元件存在最大劃痕時，所有最大劃痕的長度之和應(yīng)不超過元件直徑的1/4。例如：有一長30mm寬10mm的元件，元件的表面質(zhì)量要求為60—40，有2條60#長為3mm劃痕。它的等效直徑為20mm

1/4D為1/4×20=5mm

最大劃痕的長度和為：

3mm+3mm=6mm6mm>5mm元件最大劃痕的長度和超過元件直徑的1/4。所以元件不合格。60#劃痕長3mm60#劃痕長3mm左圖是大家看的編號2的樣品（圖片是放大的不是實際尺寸）圖中的劃痕為20#，且長度>1/4D。對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。但本次樣品未提出表面質(zhì)量要求，而是要大家自已決定光潔度等級。因此該產(chǎn)品劃痕可判為40#。本文檔共31頁；當(dāng)前第7頁；編輯于星期二\21點54分83.當(dāng)元件存在最大劃痕，而最大劃痕的長度之和未超過1/4D，要求所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和，不得超過最大劃痕級數(shù)的一半。例：有一長30mm寬10mm的元件，元件的表面質(zhì)量要求為60—40，元件上有2條2mm的60#劃痕，3條4mm的40#劃痕。

它的等效直徑為20mm

1/4D為1/4×20=5mm

最大劃痕的長度和為：

2mm+2mm=4mm

4mm<5mm。符合2條。但所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：1．60#劃痕長度為（2+2）；40#劃痕長度為（4+4+4+4）2．60#劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比為60×（2+2）/20；

40#劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比為40×（4+4+4+4）/203．所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：

[60×（2+2）/20]+[40×（4+4+4+4）/20=36

元件最大劃痕級數(shù)為60；60的一半為60/2=30）36>30；因此，元件不合格。60#劃痕長2mm40#劃痕長4mm本文檔共31頁；當(dāng)前第8頁；編輯于星期二\21點54分9如左圖所示的產(chǎn)品則20#劃痕長度0.7mm。10#劃痕長度2mm對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品最大劃痕長度1mm<1/5。所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：20×0.7/5+10×2/5=2.8+2=4.8<10，該元件劃痕可判為20#20#10#本文檔共31頁；當(dāng)前第9頁；編輯于星期二\21點54分104.當(dāng)元件的劃痕級數(shù)未超過表面質(zhì)量要求的級數(shù)，且元件不存在最大劃痕時，所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和，不得超過最大劃痕級數(shù)。例①：元件為10，表面質(zhì)量指標(biāo)60—40，有2條50#劃痕2mm，1條40#劃痕3mm，另2條40#劃痕2mm，2條20#劃痕2mm,10#劃痕長度合計10mm。所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：[50×（2+2）/10]+[40×(3+2+2)/10]+[20×(2+2)/10]+[10×10/10]=66元件最大劃痕為60#66>60；因此，元件不合格。左圖是大家看的編號3的樣品。（圖片是放大的不是實際尺寸）圖中有20#劃痕長度2.2mm。10#劃痕長度7mm對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級數(shù)乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：20×2.2/5+10×7/5=8.8+17=25.825.8<40。元件符合40-20本文檔共31頁；當(dāng)前第10頁；編輯于星期二\21點54分115.當(dāng)元件質(zhì)量指標(biāo)要求劃痕等級為20或優(yōu)于此等級時，元件表面不準(zhǔn)有密集劃痕即在元件中任何一個6.35mm面積的區(qū)域，不允許有4條或4條以上的大等于10#劃痕。20mm左圖是大家看的編號3的樣品。（圖片是放大的不是實際尺寸）圖中有5條劃痕，該元件直徑為6mm；對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級數(shù)乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：20×2.2/5+10×7/5=8.8+17=25.825.8<40。元件符合40-20例：表面質(zhì)量指標(biāo)為20-10，20mm，在如圖（1）所示的區(qū)或有2條長1mm和2條長0.5mm的10#劃痕。它符合5.1.1;5.1.4（無需考慮）但它不符合條。元件不合格。本文檔共31頁；當(dāng)前第11頁；編輯于星期二\21點54分126.對于圓形元件不允許有20#級數(shù)以上與直徑相等的劃痕。對于方形元件不允許有20#級數(shù)以上貫穿元件的劃痕。7.當(dāng)兩條或多條劃痕之間間隔小于0.1mm時，劃痕合并為1條計算，合并后的劃痕長度從劃痕開始到劃痕結(jié)束。寬度取劃痕的外邊劃痕合并后寬度劃痕合并后長度劃痕間隔小于0.1mm右圖是放大50倍的間隔小于0.1mm的三條劃痕。本文檔共31頁；當(dāng)前第12頁；編輯于星期二\21點54分13編號15的樣品編號4的樣品請判定光潔度？本文檔共31頁；當(dāng)前第13頁；編輯于星期二\21點54分14麻點：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B麻點的級數(shù)取允許缺陷的實際直徑，規(guī)定以1/100mm作為計量單位。如果麻點形狀不規(guī)則。則應(yīng)取最大長度和最大寬度的平均值作為直徑。（注意：美軍標(biāo)的麻點與劃痕不同，麻點是可計量的也即麻點的大小是確定的，50#麻點也即直徑D=0.5mm的麻點）

點子直徑：不規(guī)則點子0.255mm0.125mm(0.125+0.255)/2=0.19mm本文檔共31頁；當(dāng)前第14頁；編輯于星期二\21點54分151.當(dāng)元件存在超過表面質(zhì)量要求的麻點級數(shù)時，元件不合格。例：元件為20mm，質(zhì)量指標(biāo)要求為60—40，元件有1個直徑0.5mm的麻點50>40元件不合格。《SC-QA027表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》麻點的判定標(biāo)準(zhǔn)有6條。其它5條是美軍標(biāo)規(guī)定的。公司內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)一條。2.每20mm直徑上只允許有1個最大麻點。例：元件為20mm，質(zhì)量指標(biāo)要求為60—40，元件有2個直徑0.4mm的麻點元件不合格0.4mm的點子元件20mm內(nèi)有二個直徑0.4mm的點子,元件不合格.元件20mm內(nèi)只有一個直徑0.4mm的點子,符合本條本文檔共31頁；當(dāng)前第15頁；編輯于星期二\21點54分163.每20mm直徑上所有麻點直徑的總和不得超過最大麻點的2倍例：40mm×40mm的元件，質(zhì)量指標(biāo)要求為60-40，其中一個20mm的區(qū)域有40#點子一個，20#點子一個，10#點子一個，同時在另一個20mm區(qū)域中，20#點子2個，10#點子4個，5#點子1個。A區(qū)的麻點直徑的和:=40+20+10=70<40×2=80B區(qū)的麻點直徑的和:=20×2+10×4+5×1=85>80，

B區(qū)不合格。因此元件不合格。B區(qū)A區(qū)C區(qū)0.2mm左圖元件表面質(zhì)量要求60-40：A區(qū)麻點直徑和為10+10+20=40<80.B區(qū)麻點直徑和為10×3+20×3=90>80.C區(qū)麻點直徑和為20×2+10=50<80.B區(qū)不合格該元件不合格。本文檔共31頁；當(dāng)前第16頁；編輯于星期二\21點54分17左圖是本次樣品的第11號。（圖片是放大的不是實際尺寸）有1個5#點子，1個3#點子。（但然這些點子有可能擦掉就看不到了這里只是作為例子來說明）。這產(chǎn)品如果不考慮兩點間距可以判定點子為級數(shù)5。為什么？因為產(chǎn)品只有1個最大點子5#，而所有的點子之和為0.05+0.03=0.08<0.1(5#點子的兩倍），所有點子可判定為級數(shù)5#。本文檔共31頁；當(dāng)前第17頁；編輯于星期二\21點54分184.當(dāng)麻點質(zhì)量要求為10或更優(yōu)等級時，任何兩個麻點的間距必須大于1mm。例:元件40mm×40mm的元件，質(zhì)量指標(biāo)要求為20-10,有兩個5#的點子，點子之間的距離為0.8mm.0.8mm<1mm元件不合格0.05mm的點子距離0.8mm左圖是本次樣品的第11號。（圖片是放大的不是實際尺寸）有1個5#點子，1個3#點子。是上面的例子，剛才將它判定為5#，但對于5#級數(shù)兩點間距必須大于1mm，因此元件不符合要求，所有本元件的點子只能判為20#。本文檔共31頁；當(dāng)前第18頁；編輯于星期二\21點54分195.小于2.5um的麻點略去不計。圖為放大50倍顯微鏡觀察到2.5um的麻點(相當(dāng)于0.12mm比正常10#麻點大一些)此麻點可略去不計！6.當(dāng)出現(xiàn)如圖所示密集麻點時以麻點聚集的外圍圈徑為麻點大小。以圖中外圓為麻點大小，如果超過表面質(zhì)量要求則該元件不合格。光潔度寫成兩位數(shù)據(jù)形式時必須按標(biāo)準(zhǔn)寫，如產(chǎn)品點子判為0#，但劃痕判為40#，則產(chǎn)品光潔度為40-20而不是40-0。如果產(chǎn)品點子判為20#而劃痕判為0#，則產(chǎn)品光潔度為40-20而不是0-20。本文檔共31頁；當(dāng)前第19頁；編輯于星期二\21點54分20編號13樣品光潔度？本文檔共31頁；當(dāng)前第20頁；編輯于星期二\21點54分21氣泡和包絡(luò)：包絡(luò)當(dāng)作氣泡考慮。依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B氣泡的級數(shù)與麻點一樣，單位也相同。不規(guī)則氣泡直也是取最大寬度和長度的平均值。氣泡的允許值與麻點相同。但氣泡和包絡(luò)必須與麻點區(qū)分開來，單獨評價。有灰斑的元件為不合格元件。本文檔共31頁；當(dāng)前第21頁；編輯于星期二\21點54分22資料給出的參數(shù)符合GB/T3505-2000《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法表面結(jié)構(gòu)的述語、定義及參數(shù)》、符合GB/T6062-2002《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu)輪廓法接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱特性》。

圖一：放大n倍后的工件截面/表面粗糙度及輪廓：本文檔共31頁；當(dāng)前第22頁；編輯于星期二\21點54分23圖二：各種加工方法能得到的表面光度本文檔共31頁；當(dāng)前第23頁；編輯于星期二\21點54分24圖三：常見的表面粗糙度儀的工件測量本文檔共31頁；當(dāng)前第24頁；編輯于星期二\21點54分25表面粗糙度關(guān)鍵技術(shù)術(shù)語：

(1)表面粗糙度：取樣長度L

取樣長度是用于判斷和測量表面粗糙度時所規(guī)定的一段基準(zhǔn)線長度，它在輪廓總的走向上取樣。

(2)表面粗糙度：評定長度Ln

由于加工表面有著不同程度的不均勻性，為了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，規(guī)定在評定時所必須的一段表面長度，它包括一個或數(shù)個取樣長度，稱為評定長度Ln。

(3)表面粗糙度：輪廓中線（也有叫曲線平均線）M本文檔共31頁；當(dāng)前第25頁；編輯于星期二\21點54分26輪廓中線M是評定表面粗糙度數(shù)值的基準(zhǔn)線。本文檔共31頁；當(dāng)前第2