軟件測(cè)試總結(jié)報(bào)告軟件測(cè)試總結(jié)報(bào)告示例

【--個(gè)人簡(jiǎn)歷范文】校園聘請(qǐng)系統(tǒng)測(cè)試總結(jié)報(bào)告校園聘請(qǐng)系統(tǒng)測(cè)試總結(jié)報(bào)告校園聘請(qǐng)系統(tǒng)測(cè)試總結(jié)報(bào)告測(cè)試概述 31.11.21.3編寫目的..........................................................................................................3圍..........................................................................................................3料..........................................................................................................4測(cè)試打算執(zhí)行情況 4測(cè)試類型................................................................................................................4進(jìn)度偏差................................................................................................................5測(cè)試環(huán)境與配置.....................................................................................................62.4和人員........................................................72.5測(cè)試問(wèn)題總結(jié)........................................................................................................7測(cè)試總結(jié) 73.13.23.3測(cè)試用例執(zhí)行結(jié)果..........................................................................................7決..................................................................................................9析................................................................................................103.3.13.3.2掩蓋分析....................................................................................................10析....................................................................................................104.綜合評(píng)價(jià).............................................124.1力..............................................................................................................12建議......................................................................................................................12測(cè)試概述編寫目的對(duì)MicroMOe的成功閱歷與缺乏，以便今后更好的開展測(cè)試工作。本系統(tǒng)測(cè)試總結(jié)報(bào)告的預(yù)期讀者是：SQA員；?SCM以及B測(cè)試范圍MicroMOe括：前臺(tái)個(gè)人求職功能注冊(cè)用戶掃瞄公告信息掃瞄申請(qǐng)記錄聘請(qǐng)企業(yè)治理后臺(tái)登錄系統(tǒng)修改注冊(cè)信息修改密碼掃瞄通知信息申請(qǐng)表詳情系統(tǒng)供給商治理后臺(tái)治理員登錄系統(tǒng)查詢簡(jiǎn)歷簡(jiǎn)歷詳情公布公告信息參考資料測(cè)試打算執(zhí)行狀況測(cè)試類型進(jìn)度偏差測(cè)試環(huán)境與配置測(cè)試機(jī)構(gòu)和人員測(cè)試問(wèn)題總結(jié)在整個(gè)系統(tǒng)測(cè)試執(zhí)行期間，工程組開發(fā)人員高效地準(zhǔn)時(shí)解決測(cè)試表現(xiàn)在：測(cè)試執(zhí)行時(shí)間相對(duì)較少，測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)要求較低；開發(fā)人員相關(guān)培訓(xùn)未做到位，編碼風(fēng)格各異，細(xì)節(jié)性錯(cuò)誤較多，返工現(xiàn)象存在較多；3．測(cè)試執(zhí)行人員對(duì)治理平臺(tái)不夠生疏，使用時(shí)效率偏低；4導(dǎo)致提交無(wú)效缺陷；測(cè)試總結(jié)測(cè)試用例執(zhí)行結(jié)果測(cè)試問(wèn)題解決?3.33.3.1測(cè)試掩蓋分析測(cè)試掩蓋率＝41/46100％=89.13％需求掩蓋分析MicroMOe校園聘請(qǐng)系統(tǒng)MicroMOe〕，本次測(cè)試對(duì)系統(tǒng)需求的掩蓋狀況為：需求掩蓋率＝Y(jié)〔P〕項(xiàng)/100％＝83.33％注：PN/A3.3.2缺陷分析本次測(cè)試中覺(jué)察Bug113從上圖可以看出，大局部缺陷級(jí)別集中在B、C缺陷相對(duì)較多。按缺陷在各功能點(diǎn)的分布狀況分：1113頁(yè)缺陷分布圖例：從上圖可以看出：缺陷大局部集中在修改簡(jiǎn)歷信息、注冊(cè)用戶以及登錄系統(tǒng)局部，其余分布較為分散。綜合評(píng)價(jià)軟件力量經(jīng)過(guò)工程組開發(fā)人員、測(cè)試組人員以及相關(guān)人員的協(xié)力合作，MicroMOe系統(tǒng)CampusTalentSearch1.0能，即能夠根本滿足個(gè)人求職者在前臺(tái)進(jìn)展用戶注冊(cè)，登錄，申請(qǐng)職查看，面試筆試的安排，各類郵件的發(fā)送等功能。缺陷和限制該系統(tǒng)除根本滿足功能需求外，在性能方面還存在缺乏，有系統(tǒng)連續(xù)優(yōu)化的空間。另外，局部功能在設(shè)計(jì)上仍存在缺乏之處。如個(gè)人語(yǔ)時(shí)，無(wú)法自行添加該技能；另外，企業(yè)聘請(qǐng)者無(wú)法查看所注冊(cè)的全部簡(jiǎn)歷信息，這對(duì)企業(yè)自主尋求人才資源有了肯定的限制。建議需求提出方可以在使