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文檔簡介
關(guān)于電法勘探基本理論電阻率法第1頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法第二節(jié)充電法和自然電場(chǎng)法第三節(jié)激發(fā)極化法第四節(jié)電磁法第三章電法勘探第五節(jié)瞬變電磁法
第六節(jié)甚低頻法第七節(jié)可控源音頻大地電磁法第八節(jié)探地雷達(dá)√√√√√第2頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三
電法勘探
以巖、礦石的電學(xué)性質(zhì)(如導(dǎo)電性)差異為基礎(chǔ),通過觀測(cè)和研究與這些電性差異有關(guān)的(天然或人工)電場(chǎng)或電磁場(chǎng)分布規(guī)律來查明地下地質(zhì)構(gòu)造及有用礦產(chǎn)的一種物探方法,簡稱“電法”。第二部分電法勘探第3頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三電法勘探的特點(diǎn):
①可利用的物性參性多導(dǎo)電性(電阻率ρ或電導(dǎo)率σ[σ=1/ρ]
)電化學(xué)活動(dòng)性(η)介電性(ε)導(dǎo)磁性(μ)②利用場(chǎng)源多人工場(chǎng)源天然場(chǎng)源直流電(穩(wěn)定場(chǎng))交流電(交變場(chǎng))第二部分電法勘探第4頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三傳導(dǎo)類電法勘探(直流電法)研究穩(wěn)定電流場(chǎng)感應(yīng)類電法勘探(交流電法)研究交變電流場(chǎng)電阻率法充電法自然電場(chǎng)法激發(fā)極化法低頻電磁法頻率測(cè)深法甚低頻法電磁波法大地電磁法③方法種類多第二部分電法勘探第5頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法電阻率法的理論基礎(chǔ)1電阻率法的儀器和裝備2345電剖面法電測(cè)深法高密度電阻率法第6頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法電阻率法是傳導(dǎo)類電法勘探方法之一。建立在地殼中各種巖礦石具有各種導(dǎo)電性差異的基礎(chǔ)上,通過觀測(cè)和研究與這些差異有關(guān)的天然電場(chǎng)或人工電場(chǎng)的分布規(guī)律,從而達(dá)到查明地下構(gòu)造或者尋找有用礦產(chǎn)的目的。第7頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三電阻R(Ω)長度(m)截面積(m2)電阻率ρ(
Ω·m)S一、電阻率法的理論基礎(chǔ)(一)巖、礦石的電阻率1.電阻率基本公式2.電阻率單位SI制中第一節(jié)電阻率法第8頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三3.主要巖礦石電阻率及其變化范圍ρ沉<ρ變<ρ火沉積巖:10~102Ω·m火成巖:102
~
105Ω·m變質(zhì)巖:介于兩者之間第一節(jié)電阻率法第9頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三4.影響巖石電阻率的主要因素⑴礦物成分、含量及結(jié)構(gòu)
金屬礦物含量↑,電阻率↓結(jié)構(gòu):侵染狀>細(xì)脈狀⑵巖礦石的孔隙度、濕度
孔隙度↑,含水量↑,電阻率↓風(fēng)化帶、破碎帶,含水量↑,電阻率↓⑶水溶液礦化度
礦化度↑,電阻率↓第一節(jié)電阻率法第10頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三⑷溫度溫度T↑,溶解度↑,離子活性↑,電阻率↓
結(jié)冰時(shí),電阻率↑⑸壓力壓力↑,孔隙度↓,電阻率↑超過壓力極限,巖石破碎,電阻率↓⑹構(gòu)造層這種層狀構(gòu)造巖石的電阻率,則具有各向異性,即沿層理方向的電阻率小于垂直層理方向的電阻率。第一節(jié)電阻率法第11頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三地下水及其他天然水的電阻率均較低,通常小于100Ω.m,并且含鹽分越多,電阻率值越低。巖、礦石中所含水分的多少(或濕度大小)對(duì)其電阻率值有較大影響。一般含水量大的巖石電阻率較低,而含水量小或干燥巖石的電阻率較高。巖石含水量的大小,主要決定于巖石本身的孔隙度及當(dāng)?shù)氐乃牡刭|(zhì)條件。在潛水面以下,巖石孔隙通常被地下水所充滿,此時(shí),巖石的濕度便等于其孔隙度。第一節(jié)電阻率法巖(礦)石的電阻率與所含水分的關(guān)系第12頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(二)、均勻各向同性半空間點(diǎn)電源的電場(chǎng)為了研究地下電流場(chǎng)地分布規(guī)律,設(shè)大地是水平的,與不導(dǎo)電的空氣接觸,介質(zhì)充滿整個(gè)地下半空間,且電阻率在介質(zhì)中處處相等,稱這樣的介質(zhì)模型為均勻各向同性半空間。即第一節(jié)電阻率法地面第13頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三為了建立地下電場(chǎng),總是用兩個(gè)電極(例如A、B)向地下供電。這兩個(gè)接地的電極(A、B)稱為“供電電極”。
第一節(jié)電阻率法任意四裝極置示意圖第14頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三兩個(gè)異性點(diǎn)電源的電場(chǎng)第一節(jié)電阻率法在任意的M處的,可按場(chǎng)的疊加原理知:AB地面ρ空氣ρρρAMBMM第15頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(三)、電阻率公式及視電阻率
1.(均勻大地)電阻率公式第一節(jié)電阻率法MNAB地面ρ空氣ρρρ第16頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法則→均勻大地電阻率公式裝置系數(shù)第17頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法上面所討論的情況是在地形水平、地下僅有單一的均勻各向同性介質(zhì)。然而實(shí)際中,地下巖石的導(dǎo)電性往往是不均勻的、且地形亦不是水平的,因此有必要進(jìn)一步討論非均勻條件下地中電流場(chǎng)分布的情況。2.非均勻介質(zhì)中的地下電流場(chǎng)及視電阻率(1)非均勻介質(zhì)中的地下電流場(chǎng)(a)均勻巖石;(b)圍巖中賦存良導(dǎo)礦體;(c)圍巖中賦存高阻巖體第18頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(2)視電阻率當(dāng)?shù)乇聿凰交蛘叩叵码娮杪史植疾痪鶆驎r(shí)(存在兩種或者兩種以上介質(zhì)),仍然采用前述均勻介質(zhì)中的供電方式及測(cè)量方式,仍由前述的公式計(jì)算“電阻率值”,不過這時(shí)計(jì)算出的“電阻率值”,既不是ρ1,也不是ρ2和ρ3,而是三者都有關(guān)的一個(gè)量,稱為“視電阻率”,用符號(hào)ρs表示,即※視電阻率——在電場(chǎng)有效作用范圍內(nèi)各種地質(zhì)體電阻率的綜合影響值。第一節(jié)電阻率法第19頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法A(+I)B(-I)X(a)(b)地電斷面??電阻率不均勻時(shí)地下電流分布示意圖地電斷面的概念MNV在自然界中,地下地質(zhì)情況是復(fù)雜的,各種不同巖(礦)石分布是不均勻的。在電法勘探中,常把按電阻率劃分的地質(zhì)斷面稱為地電斷面。第20頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三由視電阻率的計(jì)算公式可知,其儀器功能就是測(cè)量出供電電流I及測(cè)量電極M、N間的電位差△UMN即可。除儀器外,其它裝備還有:供電電極——鐵棒或銅棒測(cè)量電極——銅棒、導(dǎo)線及供電電源。第一節(jié)電阻率法(四)、電阻率法的儀器和裝備第21頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三重慶地質(zhì)儀器廠第22頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三在電法勘查中,為了解決不同的地質(zhì)問題,常采用不同的裝置。目前,我國采用的電阻率裝置類型有電剖面法、中間梯度法和電測(cè)深法。電阻率剖面法簡稱電剖面法。它包括許多分支裝置:二級(jí)裝置、三級(jí)裝置、聯(lián)合剖面裝置、對(duì)稱四級(jí)裝置和偶極裝置等。第一節(jié)電阻率法(五)、電阻率法的常用電極裝置類型第23頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法二級(jí)裝置(AM)三級(jí)裝置(AMN)聯(lián)合三級(jí)裝置(AMN∞MNB)對(duì)稱四級(jí)裝置(AMNB)偶極裝置(ABMN)中間梯度裝置(AMNB)第24頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三思考題什么是電法勘探?電法勘探的類型?影響巖石電阻率的因素有哪些?解釋下列名詞:均勻各向同性半空間;裝置系數(shù);地電斷面;視電阻率;掌握均勻大地電阻率公式。第25頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法二、電剖面法方法特點(diǎn):研究地電斷面橫向變化的一類方法——采用固定的電極距,沿剖面移動(dòng)電極裝置,觀測(cè)一定深度范圍內(nèi)視電阻率沿剖面的變化。解決主要地質(zhì)問題:探測(cè)產(chǎn)狀陡立的高、低阻體,如劃分不同巖性接觸帶、追索斷層及構(gòu)造破碎帶。第26頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法裝置特點(diǎn):各電極間距離保持不變,使整個(gè)或部分裝置沿著測(cè)線移動(dòng),逐個(gè)測(cè)量視電阻率的值,探測(cè)深度保持在同一范圍內(nèi)。所得到的ρs曲線是反映測(cè)線下某一深度范圍內(nèi)不同電性物質(zhì)沿水平方向的分布情況。分類:電阻率法聯(lián)合剖面法中間梯度法對(duì)稱剖面法偶極剖面法第27頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三1.裝置特點(diǎn)及ρs公式AO=BOMO=NOOC>5AO(AMN∞)(∞MNB
)(一)聯(lián)合剖面法在測(cè)量時(shí),C極固定不動(dòng),AMNB間保持距離不變,四個(gè)極沿測(cè)線同時(shí)移動(dòng),逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)點(diǎn)為M、N的中點(diǎn)O。每個(gè)點(diǎn)測(cè)量兩次,得到兩個(gè)ρs值由于C極為無窮遠(yuǎn)極,它在M、N處產(chǎn)生的電位很小,故可忽略不計(jì),因此,聯(lián)合剖面法的電場(chǎng)可視為一個(gè)“點(diǎn)電源”的電場(chǎng)。第一節(jié)電阻率法C第28頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三2.聯(lián)合剖面法ρs曲線特征分析直立良導(dǎo)薄脈上的聯(lián)合剖面曲線的分析1—正交點(diǎn);2—良導(dǎo)薄脈;3—A電極的電流線(示意圖)直立低阻薄脈上聯(lián)合剖面法ρs曲線特征第29頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三由圖可見:①在直立良導(dǎo)薄脈頂部上方,與相交,且(圍巖)②交點(diǎn)左側(cè)交點(diǎn)右側(cè),此交點(diǎn)稱為聯(lián)合剖面法的“正交點(diǎn)”(或低阻交點(diǎn));③與曲線對(duì)稱,交點(diǎn)兩側(cè),兩條曲線明顯張開。第一節(jié)電阻率法第30頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三當(dāng)薄脈為直立高阻脈時(shí):聯(lián)合剖面法曲線ρs曲線右圖。兩條曲線也有一交點(diǎn),但交點(diǎn)左側(cè),交點(diǎn)右側(cè),此交點(diǎn)稱為聯(lián)合剖面法的“反交點(diǎn)”;且反交點(diǎn)不明顯,而且兩條曲線近于重合。第一節(jié)電阻率法第31頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三當(dāng)薄脈傾斜時(shí):
曲線不對(duì)稱,交點(diǎn)兩側(cè)兩條曲線所圍的面積不相等。薄脈向兩條曲線所圍面積較大的一側(cè)傾斜。第一節(jié)電阻率法第32頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三
在實(shí)際工作中,常采用不同極距的聯(lián)合剖面曲線交點(diǎn)的位移來判斷脈狀體的傾向。第一節(jié)電阻率法第33頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(二)中間梯度法采用四極AMNB裝置,A、B供電,M、N兩電極測(cè)量,供電電極距AB很大,工作時(shí),A、B固定不動(dòng),M、N在AB中部(1/2~1/3)AB范圍內(nèi)同時(shí)移動(dòng),逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)點(diǎn)為
MN的中點(diǎn)。也可以在AB連線兩側(cè)1/6AB范圍內(nèi)的測(cè)線上布置MN進(jìn)行測(cè)量。“一線布極,多線測(cè)量”AB=(70~80)HH浮土厚MN=(1/30~1/50)AB1.裝置特點(diǎn)及ρs公式:第34頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三K不是恒定的,而是逐點(diǎn)變化的第一節(jié)電阻率法ρs第35頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法由圖可見:中間梯度法主要用來尋找陡傾的高阻薄脈(如石英脈、偉晶巖脈等);原因:在均勻場(chǎng)中,高阻體的屏蔽作用比較明顯,排斥電流使其匯聚于地表附近,使jMN急劇增加,致使ρs曲線上升,形成突出的高峰。而低阻薄脈易于讓電流垂直通過,只使jMN發(fā)生很小的變化,故ρs異常不明顯
。第36頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三A、B、M、N四個(gè)電極排列在一條直線上,并且相對(duì)于MN的中點(diǎn)O對(duì)稱分布,AO=BO,NO=MO,AMNB又稱為“對(duì)稱四極剖面法”
(三)對(duì)稱剖面法第一節(jié)電阻率法1.裝置形式及ρs公式第37頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三對(duì)稱剖面法與中間梯度法都屬于兩個(gè)異性點(diǎn)電源的場(chǎng),測(cè)量電極都位于剖面的中部,屬均勻場(chǎng),ρs異常曲線的特點(diǎn)與中間梯度法類似,但ρs曲線比中間梯度的ρs曲線復(fù)雜、生產(chǎn)效率低些?!虼?,一般能用中間梯度法解決的問題,就不用對(duì)稱四級(jí)剖面法。根據(jù)場(chǎng)的疊加原理,易證明對(duì)稱剖面法的ρSAB
為聯(lián)合剖面法兩個(gè)視電阻率(ρSA
和ρSB
)值的平均值,即:第一節(jié)電阻率法第38頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三由圖可見:顯然低阻薄脈上的對(duì)稱剖面法ρs異常不如聯(lián)合剖面法的異常反應(yīng)明顯。因此,一般不用對(duì)稱四極剖面法尋找低阻的薄脈狀地質(zhì)體。第一節(jié)電阻率法AB過大AB過小ρ0<ρ1<ρ2第39頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法例1:用對(duì)稱四極剖面法尋找地下古河道。某古河道兩側(cè)以及下部巖石由砂粘土組成,電阻率較低。而古河床中充填的沙卵石則為高阻。應(yīng)用實(shí)例1第40頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三1.電測(cè)深法概念
電測(cè)深法是在同一點(diǎn)上逐次擴(kuò)大供電電極距,使探測(cè)深度逐漸增大,以此來得到觀測(cè)點(diǎn)處沿垂直方向上由淺到深的ρs變化情況。第一節(jié)電阻率法三、電測(cè)深法電測(cè)深法主要用于探測(cè)水平產(chǎn)狀(或傾角不超過20°)的不同電性層的分布(如斷裂帶,含水破碎帶等)第41頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三2.裝置形式及視電阻率公式有四極、三級(jí)、偶極等形式,通常采用對(duì)稱四級(jí)裝置AO=BO;MO=NOk-隨電極距地逐次擴(kuò)大而改變。第一節(jié)電阻率法第42頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三3.電測(cè)深曲線視電阻率ρs隨著供電極距(AB/2)變化的曲線,稱之為電測(cè)深曲線。電測(cè)深曲線的特點(diǎn):(1)每個(gè)電測(cè)深點(diǎn)均可以得到一條電測(cè)深曲線(2)該曲線通常以AB/2為橫坐標(biāo),以ρs為縱坐標(biāo),繪制在模數(shù)為6.25cm的雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)紙上。第一節(jié)電阻率法第43頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法電測(cè)深曲線第44頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三電測(cè)深曲線類型AB/2AB/2AB/2AB/2AB/2AB/2AB/2G型D型H型K型A型Q型HA型KH型AA型QQ型HK型KQ型AK型QH型二層曲線三層曲線四層曲線第一節(jié)電阻率法第45頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三電測(cè)深法主要圖件:視電阻率斷面圖(剖面和平面等值線圖)電測(cè)深曲線類型圖(分為剖面上和平面上)注意曲線類型的變化,一般反應(yīng)了電性層的變化,如構(gòu)造接觸帶、地層尖滅、基底起伏等。第一節(jié)電阻率法第46頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(一)高密度電法概述(二)高密度電阻率法常用裝置(三)三電位電極系視參數(shù)及特點(diǎn)四、高密度電阻率法第一節(jié)電阻率法(四)高密度電阻率法的實(shí)際應(yīng)用第47頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三電剖面法測(cè)量示意圖電測(cè)深法測(cè)量示意圖AMNBAMNB(一)高密度電阻率法概況第48頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三高密度電阻率法電測(cè)剖面法電測(cè)深法第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第49頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三高密度電阻率法測(cè)量儀器1.主機(jī)2.轉(zhuǎn)換開關(guān)3.電池4.電極5.電纜線第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第50頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第51頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三實(shí)踐證明,高密度電阻率法是一種多快好省的勘探方法,目前在地基勘查、壩基選址、水庫或堤壩查漏、地裂縫探測(cè)、巖溶塌陷及煤礦采空區(qū)調(diào)查等方面得到了廣泛的應(yīng)用,解決了諸多實(shí)際問題。第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第52頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三1).高密度電阻率法的裝置形式
采用三電位電極系。第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法三電位電極系是將溫納四極、偶極及微分裝置按一定方式組合后所構(gòu)成的一種統(tǒng)一測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在實(shí)際測(cè)量時(shí),只須利用電極轉(zhuǎn)換開關(guān),便可將每四個(gè)相鄰電極進(jìn)行一次組合。從而在一個(gè)測(cè)點(diǎn)便可獲得多種電極排列的測(cè)量參數(shù)。第53頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三施工過程為:先以固定間距x沿測(cè)線布置若干根電極,這些電極在整個(gè)測(cè)量過程中固定在原處不動(dòng);取a=nx(n=1,2,3,...),對(duì)每一個(gè)取定的活動(dòng)電極間距a,將兩兩相距為a的四根電極經(jīng)電極轉(zhuǎn)換開關(guān)連接到儀器上,一次完成各種裝置形式的電阻率測(cè)量(各裝置形式的記錄點(diǎn)均選在電極排列的中點(diǎn));一個(gè)測(cè)點(diǎn)的全部測(cè)量完成后,將整個(gè)電極排列向前移動(dòng)一個(gè)x距離,然后進(jìn)行下一測(cè)點(diǎn)的觀測(cè),這種過程重復(fù)進(jìn)行,直到活動(dòng)電極間距為a的整條剖面全部測(cè)完為止。2).高密度電阻率法的測(cè)量過程第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第54頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三由于一條剖面地表測(cè)點(diǎn)總數(shù)是固定的,因此,當(dāng)極距擴(kuò)大時(shí),反映不同勘探深度的測(cè)點(diǎn)數(shù)將依次減少。把三電位電極系的測(cè)量結(jié)果置于測(cè)點(diǎn)下方深度為a的點(diǎn)位上。于是,整條剖面的測(cè)量結(jié)果便可以表示成一種倒三角形的二維斷面的電性分布。第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第55頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三高密度電阻率法測(cè)點(diǎn)分布示意圖第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第56頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三①點(diǎn)距x的選擇主要依據(jù)勘探的詳細(xì)程度(1~10米)。②最大電極距的大小,取決于預(yù)期勘探深度;隔離系數(shù)n一般1~15或更大;③無窮遠(yuǎn)極C要求CO>(3~5)AO。說明:第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第57頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三(二)高密度電阻率法常用裝置第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第58頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第59頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三【特點(diǎn)】測(cè)量斷面為倒梯形?!久枋觥繙y(cè)量時(shí),AB=BM=MN=a為一個(gè)電極間距,A、B、M、N逐點(diǎn)同時(shí)向右移動(dòng),得到第一條剖面線;接著AB、BM、MN增大一個(gè)電極間距,A、B、M、N逐點(diǎn)同時(shí)向右移動(dòng),得到另一條剖面線;這樣不斷掃描測(cè)量下去,得到倒梯形斷面。
偶極裝置排列示意圖第60頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三第一節(jié)電阻率法高密度電阻率法第61頁,講稿共72頁,2023年5月2日,星期三γ(微分)裝置排列示意圖【特點(diǎn)】測(cè)量斷面為倒梯形?!久枋觥繙y(cè)量時(shí),A
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