鍛件和鑄件超聲波探傷詳細(xì)教程附實(shí)例解析講解

第六章鍛件與鑄件超聲波探傷第六章

鍛件與鑄件超聲波探傷

鍛件和鑄件是多個(gè)機(jī)械設(shè)備及鍋爐壓力容器的重要毛坯件。它們?cè)谏a(chǎn)加工過(guò)程中常會(huì)產(chǎn)生某些缺點(diǎn)，影響設(shè)備的安全使用。某些原則規(guī)定對(duì)某些鍛件和鑄件必須進(jìn)行超聲波探傷。由于鑄件晶粒粗大、透聲性差，信噪比低，探傷困難大，因此本章重點(diǎn)計(jì)論鍛件探傷問(wèn)題，對(duì)鑄件探傷只做簡(jiǎn)樸介紹。

第一節(jié)

鍛件超聲波探傷

一、鍛件加工及常見(jiàn)缺點(diǎn)

鍛件是由熱態(tài)鋼錠經(jīng)鍛壓變形而成。鍛壓過(guò)程涉及加熱、形變和冷卻。鍛件的方式大致分為鐓粗、拔長(zhǎng)和滾壓。鐓粗是鍛壓力施加于坯料的兩端，形變發(fā)生在橫截面上。拔長(zhǎng)是鍛壓力施加于坯料的外圓，形變發(fā)生在長(zhǎng)度方向。滾壓是先鐓粗坯料，然后沖孔再插入芯棒并在外圓施加鍛壓力。滾壓現(xiàn)有縱向形變，又有橫向形變。其中鐓粗重要用于餅類鍛件。拔長(zhǎng)重要用于軸類鍛件，而簡(jiǎn)類鍛件普通先鐓粗，后沖孔，再鐓壓。

為了改善鍛件的紹織性能，鍛后還要進(jìn)行正火、退火或調(diào)質(zhì)等熱解決。

鍛件缺點(diǎn)可分為鍛造缺點(diǎn)、鍛造缺點(diǎn)和熱解決缺點(diǎn)。鍛造缺點(diǎn)重要有：縮孔殘存、疏松、夾雜、裂紋等。鍛造缺點(diǎn)重要有：折疊、白點(diǎn)、裂紋等。熱解決缺點(diǎn)重要有：裂紋等。

縮孔殘存是鑄錠中的縮孔在鍛造時(shí)切頭量局限性殘留下來(lái)的，多見(jiàn)于鍛件的端部。

疏松是鋼錠在凝固收縮時(shí)形成的不致密和孔穴，鍛造時(shí)因鍛造比局限性而末全焊合，重要存在于鋼錠中心及頭部。

夾雜有內(nèi)在夾雜、外來(lái)菲金屬夾雜栩金屬夾雜。內(nèi)在夾雜重要集中于鋼錠中心及頭部。

裂紋有鍛造裂紋、鍛造裂紋和熱解決裂紋等。奧氏體鋼軸心晶間裂紋就是鍛造引發(fā)的裂紋。鍛造和熱解決不當(dāng)，會(huì)在鍛件表面或心部形成裂紋。

白點(diǎn)是鍛件含氫最較高，鍛后冷卻過(guò)快，鋼中溶解的氫來(lái)不及逸出，造成應(yīng)力過(guò)大引發(fā)的開(kāi)裂，白點(diǎn)重要集中于鍛件大截面中心。合金總量超出3.5～4.0%和Cr、Ni、Mn的合金鋼大型鍛件容易產(chǎn)生白點(diǎn)。白點(diǎn)在鋼中總是成群出現(xiàn)。

二、探傷辦法概述

按探傷時(shí)間分類，鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過(guò)程中的探傷，產(chǎn)品檢查及在役檢查。原材料探傷和制造過(guò)程中探傷的目的是及早發(fā)現(xiàn)缺點(diǎn)，方便及時(shí)采用方法避免缺點(diǎn)發(fā)展擴(kuò)大造成報(bào)廢。產(chǎn)品檢查的目的是確保產(chǎn)品質(zhì)量。在役檢查的目的是監(jiān)督運(yùn)行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺點(diǎn)，重要是疲勞裂紋。

1.軸類鍛件的探傷

軸類鍛件的鍛造工藝重要以撥長(zhǎng)為主，因而大部分缺點(diǎn)的取向與軸線平行。這類缺點(diǎn)的探測(cè)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳?？紤]到缺陪會(huì)有其它的分布及取向，因此輔類鍛件探傷，還應(yīng)輔以直探頭軸向探測(cè)和斜探頭周向探測(cè)及袖向探測(cè)。

(1)直探頭徑向和軸向探測(cè)：如圖6.1所示，直探作徑向探測(cè)時(shí)將探頭置于軸的外緣，沿外緣作全方面掃查，以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中常見(jiàn)的縱向缺點(diǎn)。

直探頭作軸向探測(cè)時(shí)，探頭置于軸的端頭，并在軸端作全方面掃查，以檢出與軸線相垂直的橫向缺點(diǎn)。但當(dāng)軸的長(zhǎng)度太長(zhǎng)或軸有多個(gè)直徑不等的軸段時(shí)，會(huì)有聲束掃查不到的死區(qū)，因而此辦法有一定的局限性。

(2)斜探頭周向及軸向探測(cè)：鍛件中若在片狀軸向及徑同缺點(diǎn)或軸上有幾個(gè)不同直徑的軸段，用直探頭徑向或軸向探測(cè)都難以檢出的，則必須使用斜探頭在軸的外圓作周向及軸向探測(cè)?？紤]到缺點(diǎn)的取向，探測(cè)時(shí)探頭應(yīng)作正、反兩個(gè)方向的全方面掃查，如圖6.2所示。

2.餅類、碗類鍛件的探傷餅類和碗類鍛件的鍛造工藝重要以鐓粗為主，缺點(diǎn)的分布重要平行于端面，因此用直探頭在端面探測(cè)是檢出缺點(diǎn)的最佳辦法。

對(duì)于上些重要的餅類、碗類鍛件，要從兩個(gè)端面進(jìn)行探傷，另外有時(shí)還要從側(cè)面進(jìn)行徑向探傷，如圖6.3所示。

從兩端面探測(cè)時(shí)，探頭置于鍛件端面進(jìn)行全方面探測(cè)，以探出與端面平行的缺點(diǎn)。從鍛件側(cè)面進(jìn)行徑向探測(cè)時(shí)，探頭在鍛件側(cè)面掃查，以發(fā)現(xiàn)某些軸向缺點(diǎn)。

3.筒類鍛件的探傷

筒類鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺點(diǎn)的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺點(diǎn)的取向復(fù)雜。但由于鑄錠中質(zhì)量最差的中心部分已被沖孔時(shí)去除，因而筒類鍛件的質(zhì)量普通較好。其缺點(diǎn)的重要取向仍與簡(jiǎn)體的外圓表面平行，因此筒類鍛件的探傷仍以直探頭外圓面探測(cè)為主，但對(duì)于壁較厚的筒類鍛件，須加用斜探頭探測(cè)。

(1)直探頭探測(cè)：如圖6.4所示，用直探頭從筒體外圓面或端面進(jìn)行探測(cè)。外圓探測(cè)的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺點(diǎn)。端面探測(cè)的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺點(diǎn)。

(2)雙晶探頭探測(cè)：如圖6.4所示，為了探測(cè)筒體近表面缺點(diǎn)，需要采用雙品探頭從外圓面或端面探測(cè)。

(3)斜探頭探測(cè)：對(duì)于某些重要的筒形鍛件還要用斜探頭從外圓進(jìn)行軸向和周向探測(cè)，如圖6.5所示。軸向探測(cè)為了發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺點(diǎn)。周向探測(cè)是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺點(diǎn)。周向探測(cè)時(shí)，缺點(diǎn)定位計(jì)算參見(jiàn)第四章第五節(jié)。

三、探測(cè)條件的選擇

1.探頭的選擇

鍛件超聲波探傷時(shí)，重要使用縱渡直探頭，晶片尺寸為φ14～φ28mm，慣用φ20mm。對(duì)于較小的鍛件，考慮近場(chǎng)區(qū)和耦合損耗因素，普通采用小晶片探頭。有時(shí)為了探測(cè)與探測(cè)面成一定傾角的缺點(diǎn)，也可采用一定K值的斜探頭進(jìn)行探測(cè)。對(duì)于近距離缺點(diǎn)，由于直探頭的盲區(qū)相近場(chǎng)區(qū)的影響。常采用雙晶直探頭攆測(cè)。

鍛件的晶粒普通比較細(xì)小，因此可選用較高的探傷頻率，慣用2.5～5.0MHz。對(duì)于少數(shù)本才質(zhì)晶粒粗大衰減嚴(yán)重的鍛件，為了避免出現(xiàn)“林狀回波”，提高信噪比，應(yīng)選用較低的頻率，普通為1.0～2.5MHz。

2.耦合選擇

在鍛件探傷時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)較好的聲耦合，普通規(guī)定探測(cè)面的表面粗糙糙R，不高于6.3um，表面平整均勻，無(wú)劃傷、油垢、污物、氧化皮、油漆等。

當(dāng)在試塊上調(diào)節(jié)探傷敏捷度時(shí)，要注意賠償塊與工件之間因曲率半徑和表面粗糙度不同引發(fā)的耦合損失。鍛件探傷時(shí)，慣用機(jī)油、漿糊、甘油等作耦合劑。當(dāng)鍛件表面較粗糙時(shí)也可選用水玻璃作耦合劑。

3.掃查辦法的選擇

鍛件探傷時(shí)，原則上應(yīng)在探測(cè)面上從兩個(gè)互相垂直的方向進(jìn)行全方面掃查。掃查覆蓋面應(yīng)為探頭直徑的15%，探頭移動(dòng)速度不不不大于150mm/s。擋查過(guò)程中要注意觀察缺點(diǎn)波的狀況和底波的變化狀況。

4.材質(zhì)衰減系統(tǒng)的測(cè)定

當(dāng)鍛件尺寸較大時(shí)，材質(zhì)的衰減對(duì)缺點(diǎn)定量百一定的影響。特別是材質(zhì)衰減嚴(yán)重時(shí)，影響更明顯。因此，在鍛件探傷中有時(shí)要測(cè)定材質(zhì)的衰減系數(shù)a。衰減系數(shù)可運(yùn)用下式來(lái)計(jì)算：

(6.1)式中：[B]1一[B]2——無(wú)缺點(diǎn)處第一、二次底波高的分貝差：

X——底波聲程(單程)。

值得注意的是：測(cè)定衰減系數(shù)時(shí)，探頭所對(duì)鍛件底面應(yīng)光潔干凈，底面形狀為大平底或圓柱面，χ≥3N，測(cè)試處無(wú)缺點(diǎn)。普通選用三處進(jìn)行測(cè)試，最后取平均值。

5.試塊選擇

鍛件探傷中，要根據(jù)探頭和探測(cè)面的狀況選擇試塊。

采用縱波直探頭探傷時(shí)，常選用CS—1和CS一2試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷敏捷和對(duì)缺點(diǎn)定量。采用縱波雙晶直探頭傷時(shí)常選用圖6.6所示的試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷敏捷度和對(duì)缺點(diǎn)定量。該試塊的人工缺點(diǎn)為平底孔，孔徑有有φ2、φ3、φ4、φ6等四種，距離L分別為5、10、15、20、25、30、35、40、45mm

當(dāng)探測(cè)面為曲面時(shí)，應(yīng)采用曲面對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同引發(fā)的耦合損失。對(duì)比試塊如圖6.7所示

6.探傷時(shí)機(jī)

鍛件超聲波探傷應(yīng)在熱解決后進(jìn)行，由于熱解決能夠細(xì)化晶粒，減少衰減。另外，還能夠發(fā)現(xiàn)熱解決過(guò)程中產(chǎn)生的缺點(diǎn)。對(duì)于帶孔、槽和臺(tái)階的鍛件，超聲波探傷應(yīng)在孔、槽、臺(tái)階加工邁進(jìn)行。由于孔、槽、臺(tái)階對(duì)探傷不利，容易產(chǎn)生多個(gè)非缺點(diǎn)回波。

當(dāng)熱解決后材質(zhì)衰減仍較大且對(duì)于探測(cè)成果有較大影響時(shí)，應(yīng)重新進(jìn)行熱解決。

四、掃描速度和敏捷度的調(diào)節(jié)

(一)掃描速度的調(diào)節(jié)

鍛件探傷前，普通根據(jù)鍛件規(guī)定的探測(cè)范疇來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度，方便發(fā)現(xiàn)缺點(diǎn)，并對(duì)缺點(diǎn)定位。

掃描速度的調(diào)節(jié)可在試塊上進(jìn)行，也可在鍛件上尺寸已知的部位上進(jìn)行，在試塊上調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，試塊上的聲速應(yīng)盡量與工件相似或相近。

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，普通規(guī)定第一次底波前沿位置不超出水平刻度極限的80%，以利觀察一次底波之后的某些信號(hào)狀況。

(二)探傷敏捷度的調(diào)節(jié)

鍛件探傷敏捷度是由鍛件技術(shù)規(guī)定或有關(guān)標(biāo)精擬定的。普通不低于φ2平底孔當(dāng)量直徑。

調(diào)節(jié)鍛件探傷敏捷度的辦法有兩種，一種是運(yùn)用鍛件底波來(lái)調(diào)節(jié)，另一種是運(yùn)用試塊來(lái)調(diào)節(jié)。

1.底波調(diào)節(jié)法

當(dāng)鍛件被探部位厚度χ≥3N，且鍛件含有平行底面或圓柱曲底面時(shí)，慣用底波來(lái)調(diào)節(jié)探傷敏捷度。

底波調(diào)節(jié)法，首先要計(jì)算或查AVG曲線求得底面回波與某平底孔回波的分貝差，然后再調(diào)節(jié)。

(1)計(jì)算：對(duì)于平底面或?qū)嵭膱A柱體底面，同距離處平底波與平底孔回波的分貝差為：

(6.2)式中

λ——波長(zhǎng)；

X——被探部泣的厚度；

Df——平底孔直徑。

對(duì)于空心圓柱體，同距離處圓柱曲底面與平底孔回波分貝差為：

(6.3)式中

d——空心圓柱體內(nèi)徑；

D——空心圓柱體外徑；

“+“——外圓徑向探測(cè)，內(nèi)孔凸柱面反射；

“－”——內(nèi)孔徑向探測(cè)，外圓凹柱面反射。

(2)調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)的底面。衰減(△+5～10)dB，調(diào)“增益”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)高，然后用“衰減器”增益△dB，這時(shí)敏捷度就調(diào)好了。為了便于發(fā)現(xiàn)缺點(diǎn)可再增益5～10dB作為搜索敏捷度，即掃查敏捷度。

例1，用2.5P20Z探頭徑向探傷φ500mm的實(shí)心圓柱鍛件，CL=5900m/S，問(wèn)如何運(yùn)用底波調(diào)節(jié)500/φ2敏捷度？

解：由題意得:

①計(jì)算：50Gmm處底波與φ2平底孔回波分貝差為：

②調(diào)節(jié)；探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)圓柱底面，衰減55dB，調(diào)“增益”使底波B1最高達(dá)基準(zhǔn)60%高，然后用“衰減器”增益46dB，即去掉46dB，保存9dB，這時(shí)φ2敏捷度就調(diào)好了。必要時(shí)再增益6dB作為掃查敏捷度。

例2，用2.5P20Z探頭徑向探傷外徑為φ1000mm，內(nèi)徑為φ100mm的空心圓柱體鍛件，CL=5900m/s，問(wèn)如何運(yùn)用內(nèi)孔回波調(diào)節(jié)450/φ2敏捷度?

解：由題意得:

①計(jì)算：450mm處內(nèi)孔回波與φ2回波的分貝差為：

②調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)的內(nèi)孔，衰減45dB，調(diào)“增益”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)60%高。然后用“衰減器”增益35dB作為探傷敏捷度，再增益6dB作為掃查敏捷度。

2.實(shí)驗(yàn)塊調(diào)節(jié)法

(1)單直探頭探傷：當(dāng)鍛件的厚度χ<3N或出于幾何形狀所限或底面粗糙時(shí)，應(yīng)運(yùn)用品有人工缺點(diǎn)的試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷敏捷度，如CS一1和CS一2試塊。調(diào)節(jié)時(shí)將探頭對(duì)準(zhǔn)所需試塊的平底孔，調(diào)“增益”使平底孔回波達(dá)基準(zhǔn)離即可。

值得注意是，當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時(shí)，要進(jìn)行耦合賠償。當(dāng)試塊與工件的材質(zhì)衰減相差較大時(shí)，還要考慮介質(zhì)衰減賠償。

例1，用2.5P20Z探頭探傷厚度為50mm的小鍛件，采用CS—1試塊調(diào)節(jié)50/φ2敏捷度，試塊與鍛件表面耦合差3dB，問(wèn)如何調(diào)節(jié)敏捷度?

解：運(yùn)用CS—1試塊調(diào)節(jié)敏捷度的辦法以下：

將探頭對(duì)準(zhǔn)CS—1試塊中l(wèi)號(hào)試塊的φ2平底孔距離為50mm，衰減10dB，調(diào)“增益”使φ52回波達(dá)60%高，然后再用“衰減器”增益3dB，這時(shí)50/φ2敏捷度就調(diào)好了。

例2，用2.5P14Z探頭探測(cè)底面粗糙厚為400mm的鍛件，問(wèn)如何運(yùn)用100/φ4平底孔試塊調(diào)節(jié)400/φ2敏捷度?試塊與工件表面耦合差6dB。

解：①計(jì)算：100/φ4與400/φ2回波分貝差：

②調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)100/φ4平底孔試塊的平底孔、衰減50dB，調(diào)“增益”使φ4平底孔回波達(dá)基準(zhǔn)高，然后用“衰減器”增益42dB，這時(shí)400/φ2敏捷度就調(diào)好了。這時(shí)工件上400φ2平底孔缺點(diǎn)回波正好達(dá)基準(zhǔn)高。

(2)雙晶直探頭探傷：采用雙晶直探頭探傷時(shí)，要運(yùn)用圖6.6所示的雙晶探頭平底孔試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷敏捷度。先根據(jù)需要選擇榴應(yīng)的平底孔實(shí)驗(yàn)塊，并測(cè)實(shí)驗(yàn)一組距離不同直徑相似的平底孔的回波，使其中最高回波達(dá)滿刻度的80%，在此敏捷條件下測(cè)出其它平底孔的回波最高點(diǎn)，并標(biāo)在示波屏上，然后連接這些回波最高點(diǎn)，從而得到一條平底孔距離——波幅曲線，并以此作為探傷敏捷度。

五、缺點(diǎn)位置和大小的測(cè)定

(一)缺點(diǎn)位置的測(cè)定在鍛件探傷中，重要采用縱波直探頭探傷，因此可根據(jù)示波屏上缺點(diǎn)波前沿所對(duì)的水平刻度值τf和掃描速度1:n來(lái)擬定缺點(diǎn)在鍛件中的位置。缺點(diǎn)至探頭的距離χf為：

χf＝nτf

(6.4)

(二)缺點(diǎn)大小的測(cè)定

在鍛件探傷中，對(duì)于尺寸不大于聲束截面的缺點(diǎn)普通用量法定量。若缺點(diǎn)位于χ>3N區(qū)域內(nèi)時(shí)，慣用當(dāng)量計(jì)算法和當(dāng)量AVG曲線法定量：若缺點(diǎn)位于x<3N區(qū)域內(nèi)，慣用試塊比較法定量。對(duì)于尺寸不不大于聲束截面的缺點(diǎn)普通采用測(cè)長(zhǎng)法，慣用的測(cè)長(zhǎng)法有6dB法和端點(diǎn)6dB法。必要時(shí)還可采用底波高度法來(lái)擬定缺點(diǎn)的相對(duì)大小。下面重點(diǎn)分紹當(dāng)量訂算法和6dB法在鍛件探傷中的應(yīng)用。

1.當(dāng)量計(jì)算法

當(dāng)量計(jì)算法運(yùn)用多個(gè)規(guī)則反射體的回波聲壓公式和實(shí)際探傷中測(cè)得的成果(缺點(diǎn)的位置和波高)來(lái)計(jì)算缺點(diǎn)的當(dāng)量大小。當(dāng)量計(jì)算法當(dāng)是現(xiàn)在鍛件探傷中應(yīng)用最廣的一種定量辦法。用當(dāng)量計(jì)算法定量時(shí)，要考慮調(diào)節(jié)探傷敏捷度的基準(zhǔn)。

當(dāng)用平底面和實(shí)心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)敏捷度時(shí)，當(dāng)量計(jì)算公式為：

(6.5)式中

χf——平底孔缺點(diǎn)至探測(cè)面的距離；

χB——鍛件底面至探測(cè)面的距離；

α——材質(zhì)衰減系數(shù)；

λ——波長(zhǎng)；

Df——平面孔缺點(diǎn)的當(dāng)量直徑；

△Bf——底波與平底孔缺點(diǎn)的回波分貝差。

當(dāng)用空心圓柱體內(nèi)孔或外圓曲底面調(diào)節(jié)敏捷度時(shí)，當(dāng)量計(jì)算分式為：

(6.6)式中

d——空心圓柱體內(nèi)徑；

D——空心圓柱體外徑；

“+”——外圓徑向探測(cè)，內(nèi)孔凸柱面反射；

“－”——內(nèi)孔徑向探測(cè)，外圓凹柱面反射；

△Bf——圓柱曲底面與平底孔缺點(diǎn)的回波分貝差。

例1.用2.5P20Z探頭探傷φ600的實(shí)心圓柱體鍛件，CL=5900m/s，a=0.005dB/mm，運(yùn)用鍛件底波調(diào)節(jié)600/φ2敏捷度，底波達(dá)基準(zhǔn)高時(shí)衰減讀數(shù)為50dB，探傷中在400mm處發(fā)現(xiàn)一缺點(diǎn)，缺點(diǎn)波達(dá)基準(zhǔn)高時(shí)衰減器讀數(shù)為30dB，求此缺點(diǎn)的當(dāng)量平底孔直徑為多少?

解：由已知得：

答：此缺點(diǎn)的當(dāng)量平底孔直徑為φ5.6mm。

例2，用2.5P20Z探頭探傷外徑為1000mm的空心圓柱體鍛件，CL=5900mm/s，a=0.005dB/mm，探傷中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺點(diǎn)，其回波比內(nèi)孔回波低12dB，求此缺點(diǎn)的當(dāng)量大小?

解：由已知得：

答：此缺點(diǎn)的當(dāng)量平底孔直徑為φ2.8mm。

另外，鍛件探傷中，還可運(yùn)用當(dāng)量AVG曲線法來(lái)定量，具體辦法見(jiàn)第四章第六節(jié)。

2.6dB測(cè)長(zhǎng)法

在平面探傷中，用6dB法測(cè)定缺點(diǎn)的長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)距離就是缺點(diǎn)的批示長(zhǎng)度，如圖6.8所示。然而在對(duì)圓柱形鍛件進(jìn)行周向探傷時(shí)，探頭的移動(dòng)不再是缺點(diǎn)的批示長(zhǎng)度了，這時(shí)要按幾何關(guān)系來(lái)擬定缺點(diǎn)的批示長(zhǎng)度，如圖6.9所示。

外圓周向探傷測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺點(diǎn)的批示長(zhǎng)度Lf為：

(6.7)式中

L——探頭移動(dòng)的外圓弧長(zhǎng)；

R——圓柱體外半徑；

χf——缺點(diǎn)的聲程。

內(nèi)孔周向探傷測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺點(diǎn)的批示長(zhǎng)度Lf為：

(6.8)式中

L——探頭移動(dòng)的內(nèi)圓弧長(zhǎng)；

r——圓柱體內(nèi)半徑；

χf——缺點(diǎn)的聲程。

六、缺點(diǎn)回波的鑒別

在鍛件探傷中，不同性質(zhì)的缺點(diǎn)回波是不同的，實(shí)際探傷時(shí)，可根據(jù)示波屏上的缺點(diǎn)回波狀況來(lái)分析缺點(diǎn)的性質(zhì)和類型

1.單個(gè)缺點(diǎn)回波

鍛件探傷中，示波屏上單獨(dú)出現(xiàn)的缺點(diǎn)回波稱為單個(gè)缺點(diǎn)回波。普通單個(gè)缺點(diǎn)是指與鄰近缺點(diǎn)間距不不大于50mm、回波高不不大于φ2mm的缺點(diǎn)。如鍛件中單個(gè)的夾層、裂紋等。探傷中碰到單個(gè)缺點(diǎn)時(shí)，要測(cè)定缺點(diǎn)的位置和大小。當(dāng)缺點(diǎn)較小時(shí)，用當(dāng)量法定量，當(dāng)缺點(diǎn)較大時(shí)，用6dB法測(cè)定其面積范疇。

2.分散缺點(diǎn)回波

鍛件探傷時(shí)，工件中的缺點(diǎn)較多且較分散，缺點(diǎn)彼此間距較大．這種缺點(diǎn)回波稱為分散缺點(diǎn)回波。普通在邊長(zhǎng)為50rnm的立方體內(nèi)少于5個(gè)，不不大于φ2mm。如分散性的夾層。分散缺點(diǎn)普通不太大，因此慣用當(dāng)量法定量，同時(shí)還要測(cè)定分散缺點(diǎn)的位置。

3.密集缺點(diǎn)回波鍛件探傷中，示波屏上同時(shí)顯示的缺點(diǎn)回波甚多，波與波之間的間隔距離甚小，有時(shí)波的下沿連成一片，這種缺點(diǎn)回波稱為密集缺點(diǎn)回波。

密集缺點(diǎn)的劃分，根據(jù)不同的驗(yàn)收原則有不完全相似的定義。

(1)以缺點(diǎn)的聞距劃分，規(guī)定相鄰缺點(diǎn)間的間距不大于某一值時(shí)為密集缺點(diǎn)。

(2)以單位長(zhǎng)度時(shí)基線內(nèi)顯示的缺點(diǎn)回波數(shù)量劃分，規(guī)定在相稱于工件厚度值的基線內(nèi)，當(dāng)探頭不動(dòng)或稍作移動(dòng)時(shí)，一定數(shù)量的缺點(diǎn)回波持續(xù)或斷續(xù)出現(xiàn)時(shí)為密集缺點(diǎn)。

(3)以單位面積中的缺點(diǎn)回波劃分，規(guī)定在一定探淵面積下，探出的缺點(diǎn)回波數(shù)量超出某一值時(shí)定為密集缺點(diǎn)。

(4)以單位體積內(nèi)缺點(diǎn)回波數(shù)量劃分，規(guī)定在一定體積內(nèi)缺點(diǎn)回波數(shù)量多于規(guī)定值時(shí)定為密集缺點(diǎn)。

實(shí)際探傷中，以單位體積內(nèi)缺點(diǎn)回波數(shù)量劃分較多。普通規(guī)定在邊長(zhǎng)50mm的立方體內(nèi)。數(shù)量不少于5個(gè)。當(dāng)量直徑不不大于φ2mm的缺點(diǎn)為密集缺點(diǎn)。

密集缺點(diǎn)可能是疏松、非金屬夾雜物、白點(diǎn)或成群的裂紋等。鍛件內(nèi)不允許有自點(diǎn)缺點(diǎn)存在，這種缺點(diǎn)的危險(xiǎn)性很大。普通自點(diǎn)的分布范疇較大，且基本集中于鍛件的中心部位，它的回波清晰、鋒利，成群的白點(diǎn)有時(shí)會(huì)使底波嚴(yán)重下降或完全消失。這些特點(diǎn)是判斷鍛件中白點(diǎn)的重要根據(jù)，如圖6.10。

4.游動(dòng)回波

在圓柱形軸類鍛件探傷過(guò)程中，當(dāng)探頭沿著軸的外圓移動(dòng)時(shí)，示波屏上的缺點(diǎn)波會(huì)隨著該缺點(diǎn)探測(cè)聲程的變化而游動(dòng)，這種游動(dòng)的動(dòng)態(tài)波形稱為游動(dòng)回波。

游動(dòng)回波的產(chǎn)生是由于不同波柬射至缺點(diǎn)產(chǎn)生反射引發(fā)的。波束軸線射至缺點(diǎn)時(shí)，缺點(diǎn)聲程小，回波高。左右移動(dòng)探頭，擴(kuò)散波束射至缺點(diǎn)時(shí)，缺點(diǎn)聲程大回波低。這樣同一缺點(diǎn)回波的位置和高度隨探頭移動(dòng)發(fā)生游動(dòng)，如圖6.11。

不同的探測(cè)敏捷度，同一缺點(diǎn)圓波的游動(dòng)狀況不同。普通可根據(jù)探測(cè)敏捷度和回波的游動(dòng)距離來(lái)鑒別游動(dòng)回波。普通規(guī)定游動(dòng)范疇達(dá)25mm時(shí)，才算游動(dòng)回波。

根據(jù)缺點(diǎn)游動(dòng)回波包絡(luò)線的形狀，可粗略地鑒別缺點(diǎn)的形狀。

5.底面回波

在鍛件探傷中，有時(shí)還可根據(jù)底波變化狀況來(lái)鑒別鍛件中的缺點(diǎn)狀況。

當(dāng)缺點(diǎn)回波很高，并有多次重復(fù)回波，而底波嚴(yán)重下降甚至消失時(shí)，闡明鍛件中存在平行于探測(cè)面的大面積缺點(diǎn)。

當(dāng)缺點(diǎn)回波和底波都很低甚至消失時(shí)，闡明鍛件中存在大面積但傾斜的缺點(diǎn)或在探測(cè)面附近有大缺點(diǎn)。

當(dāng)示波屏上出現(xiàn)密集的互相彼連的缺點(diǎn)四波，底波明顯下降或消失時(shí)，闡明明鍛件中存在密集性缺點(diǎn)。

六、非缺點(diǎn)回波分析

鍛件探傷中還會(huì)出現(xiàn)一非缺點(diǎn)回波影響對(duì)缺點(diǎn)波的鑒別。常見(jiàn)的非缺點(diǎn)畫(huà)波有下列幾個(gè)。

1.三角反射波

周向探測(cè)圓柱形鍛件時(shí)，由于探頭與圓柱面耦合不好，波束嚴(yán)重?cái)U(kuò)散，在示波屏上出現(xiàn)兩個(gè)三角反射波，這兩個(gè)三角反射波的聲程分別為1.3d和1.67d(d為圓柱直徑)，據(jù)此能夠鑒別三角反射波。由于三角反射波總是位于底波B1之后，而缺點(diǎn)波普通位于底波B1之前，因此三角反射波不會(huì)干擾對(duì)缺點(diǎn)的鑒別。

2.遲到波

軸向探測(cè)細(xì)長(zhǎng)軸類鍛件時(shí)，由于波型轉(zhuǎn)抉，在示波屏上出現(xiàn)遲到波：遲到波的聲程是特定的，并且可能出現(xiàn)多次。第一次遲到波位予底波B1之后0.76d處(d為輔類鍛件的直徑)，后來(lái)各次遲到波間距均為0.76d。由于遲到波總在B1之后，而缺點(diǎn)波普通在B1之前，因此遲到波也不會(huì)影響對(duì)缺點(diǎn)波的鑒別。

另外從扁平方向探測(cè)扁平鍛件時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)遲到波，探傷中應(yīng)注意鑒別。

3.61°反射波

當(dāng)鍛件中存在與探測(cè)面成61°傾角的缺點(diǎn)時(shí)，示波屏上會(huì)出現(xiàn)61°反射波。61°反射波是變型橫波垂直入射到側(cè)面引發(fā)的，如圖6.12所示。圖中F為缺點(diǎn)直接波，M為61°反射波。

61°反射波的聲程也是特定的，總是等于61°角所對(duì)直角邊的邊長(zhǎng)。產(chǎn)生61°反射時(shí)缺點(diǎn)直接反射回波較低，而61°反射波較高。

另外在探測(cè)如圖6.13所示的鍛件時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)61°反射波，同時(shí)還會(huì)產(chǎn)生45°反射波。探傷時(shí)可根據(jù)反射波的聲程通過(guò)計(jì)算來(lái)鑒別。

4.輪廓回波

鍛件探傷中，鍛件的臺(tái)階、凹槽等外形輪廓也會(huì)引發(fā)某些非缺點(diǎn)回波，探傷中要注意鑒別。另外在鍛件探傷中還可能產(chǎn)生某些其它的非缺點(diǎn)回波，這時(shí)應(yīng)根據(jù)鍛件的構(gòu)造形狀、材質(zhì)和鍛造工藝應(yīng)用超聲波反射、折射和波型轉(zhuǎn)換理論進(jìn)和分析鑒別。

七、鍛件質(zhì)量級(jí)別的評(píng)頂(見(jiàn)JB4730一94原則)

鍛件探傷中常見(jiàn)缺點(diǎn)有單個(gè)缺點(diǎn)和密集缺點(diǎn)兩大類，實(shí)際探傷中根據(jù)鍛件中單個(gè)缺點(diǎn)的當(dāng)量尺寸，底波的減少狀況和密集缺點(diǎn)面積占探傷面積的比例不同將鍛件質(zhì)量分為I、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ等五種，其中I級(jí)最高，V級(jí)最低。單個(gè)缺點(diǎn)等級(jí)見(jiàn)表6—1，底波減少等級(jí)見(jiàn)表6—2，密集性缺點(diǎn)等級(jí)見(jiàn)表6—3。

注：①表6—2中[B]c/[B]F表達(dá)無(wú)缺點(diǎn)處底波與缺點(diǎn)處底波分貝差。

②以上三表的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。

如果某缺點(diǎn)被檢測(cè)人員判為危害性缺點(diǎn)，那么能夠不受上述條件的限制，一律評(píng)為最低檔，不合格。

下面舉例闡明鍛件的評(píng)級(jí)辦法。

例1用2.5P20Z探頭探測(cè)400mm厚的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s，衰減系數(shù)a=0.005dB/mm，探傷敏捷度為400mm處φ4為0dB。探傷中在250mm處發(fā)現(xiàn)一缺點(diǎn)，其波高比基準(zhǔn)波高20dB，試根據(jù)JB4730—94原則評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。

解：(1)條件鑒別

∴符合當(dāng)量計(jì)算的條件。

(2)求250mm處φ4當(dāng)量的dB值

(3)求該缺點(diǎn)的當(dāng)量并評(píng)級(jí)

缺點(diǎn)當(dāng)量：φ4+20一9.5=φ4+10.5dB

缺點(diǎn)評(píng)級(jí)：該鍛件評(píng)為Ⅲ級(jí)。

例2用2.5P20Z探頭探測(cè)面積為400cm2的鍛件，探傷中發(fā)現(xiàn)一密集缺點(diǎn)，其面積為24cm2，缺點(diǎn)處底波為30dB，無(wú)缺點(diǎn)處底波為44dB。試根據(jù)JB4730—94原則評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。

解：(1)據(jù)密集性缺點(diǎn)評(píng)級(jí)

∵24÷400×100%=6%>5%

∴評(píng)為Ⅲ級(jí)。

(2)據(jù)底波減少量評(píng)級(jí)

∵[B]G一[B]F=44一30=14dB

∴評(píng)為Ⅱ級(jí)。

第二節(jié)

鑄件超聲波探傷

一、鑄件中常見(jiàn)缺點(diǎn)

鑄件是金屬液注入鑄模中冷卻凝固而成的，鑄件中常見(jiàn)缺點(diǎn)有氣孔、縮孔、夾雜和裂紋等。

1.氣

孔

氣孔是由于金屬液臺(tái)氣量過(guò)多，模型潮濕及透氣性不佳而形成的空洞。鑄件中的氣孔分為單個(gè)分散氣孔和密集氣孔。

2.縮

孔

縮孔是由于金屬液冷卻凝固時(shí)體積收縮得不到補(bǔ)縮而形成的缺點(diǎn)?？s孔多位于澆冒口附近和截面最大部位或截面突變處。

3.夾

雜

夾雜分為非金屬夾雜和金屬夾雜兩類。非金屬夾雜是冶煉時(shí)金屬與氣體發(fā)生化學(xué)反映形成的產(chǎn)物或澆注時(shí)耐火材料、型砂等混入鋼液形成的夾雜物。金屬夾雜是異種金屬偶然落入鋼液中未能溶化麗形成的夾雜物。

4.裂

紋

裂紋是指鋼液冷卻過(guò)程中由于內(nèi)應(yīng)力(熱應(yīng)力和組織應(yīng)力)過(guò)大使鑄件局部裂開(kāi)而形成的缺點(diǎn)。鑄件截面尺寸突變處，應(yīng)力集中嚴(yán)重處，容易出現(xiàn)裂紋。裂紋是最危險(xiǎn)的缺點(diǎn)。

二、鑄件探傷的特點(diǎn)

1.透聲性差

鑄件重要特點(diǎn)是組織不致密、不均勻和晶粒粗大，透聲性差。

鑄件不均勻是由于鑄件各部分冷卻速度不同引發(fā)的。模壁冷卻快，且常有大量固態(tài)生核微粒，因此模壁晶粒細(xì)。當(dāng)模壁濕度升高后，冷卻速度減饅，于是在垂直模壁方向上形成柱狀晶區(qū)。當(dāng)模壁溫度進(jìn)一步升高，金屬液溫度下降。溫差減少，冷卻速度緩慢，結(jié)晶方向性消失，形成等軸晶區(qū)。這種鑄件截面上不同取向的晶粒構(gòu)成了鑄件的不均勻性。另外鑄件中以片狀、球狀或其它形態(tài)存在的石墨也可視為一種組織不均勻性。

鑄件的致密性是由于樹(shù)枝結(jié)晶方式引發(fā)的。鑄件結(jié)晶時(shí)，先形成主干，然后在垂直于主干方向長(zhǎng)出支于。再在支干的垂直方向長(zhǎng)出分支，也像樹(shù)枝同樣生長(zhǎng)。各支干間最后結(jié)晶凝固，冷卻收縮形成的空隙難以充滿金屬，從而使鑄件的致密性變差。鑄件晶粒粗大是由于島溫冷卻凝固過(guò)程緩慢，生核、長(zhǎng)核時(shí)間長(zhǎng)、使晶粒變粗。

鑄件的不致密性、不均勻性和晶粒粗大，使超聲波散射衰減和吸取衰減明顯增加、透聲性減少。

2.聲耦合差

鑄件表面粗糙，聲耦合差。探傷敏捷度低，波束指向不好。且探頭磨損嚴(yán)重。鑄件探傷中常采用高粘度耦合劑改善這種不良的耦合條件。

3.干擾雜波多

鑄件探傷干擾雜波多。一是由于粗晶和組織不均勻性引發(fā)的散亂反射，形成草狀回波，使信噪比下降。特別是頻率較高時(shí)尤為嚴(yán)重。二是鑄件形狀復(fù)雜，某些輪廓回波和遲到變型波引發(fā)的非缺點(diǎn)信號(hào)多。另外鑄件粗糙表面也會(huì)產(chǎn)生某些反射回波．干擾對(duì)缺點(diǎn)波的對(duì)的鑒定。

以上所述正是鑄件探傷的困難所在，致使鑄件探傷的應(yīng)用和發(fā)展受到一定的限制。但另首先由于鑄件質(zhì)量規(guī)定較低，允許存在單個(gè)缺點(diǎn)尺寸較大。數(shù)量較多．同時(shí)鑄件缺點(diǎn)出現(xiàn)的部位規(guī)律性強(qiáng)，因此鑄件探傷還是含有一定的價(jià)值，現(xiàn)在國(guó)內(nèi)外不少人正在研究鑄件探傷中存在的問(wèn)題。

鑄件分為鑄鋼與鑄鐵，兩者缺點(diǎn)狀況和材質(zhì)及表面特點(diǎn)基本相似，因此其探傷辦法也大致相似。下面以鑄鋼件為例闡明鑄件的普通探傷辦法與質(zhì)量級(jí)別的評(píng)定。

三、鑄鋼件探測(cè)條件的選擇

1.探

頭

鑄鋼件探傷，普通以縱波直探頭為主，輔以橫波斜探頭和縱波雙晶探頭。

鑄鋼件晶粒比較粗大，衰減嚴(yán)重，宜選用較低的頻率，普通為0.5～2.5MHz。對(duì)于厚度不大又通過(guò)熱解決的鑄鋼件?？蛇x用2.O～2.5MHz。對(duì)于厚度較大和末熱解決的鑄鋼件，宜選用0.5～2.0MHz?？v波直探頭的直徑普通為φ10～φ30mm，橫波斜探頭的折射角常為45°、60°、70°等。

2.試

塊

鑄鋼件探傷慣用圖6.14所示的ZGZ系列平底孔對(duì)比試塊。試塊材質(zhì)與被探鑄鋼件相似，不允許存在φ2平底孔缺點(diǎn)。試塊平底孔直徑d分別為φ3、φ4、φ6等三種。平底孔聲程l為25、51、75、100、150、200等六種。該試塊用于測(cè)試距離——波幅曲線和調(diào)節(jié)探傷敏捷度(縱波直探頭)。

3.探測(cè)表面與耦合劑

鑄鋼件表面粗糙，耦合條件差，探傷前應(yīng)對(duì)其表面進(jìn)行打磨清理，粗糙度Ra不不不大于12.5μm。鑄鋼件探傷時(shí)，慣用粘度較大的耦合劑，如漿糊、黃油、甘油、水玻璃等。

4.透聲性測(cè)試

鑄鋼件晶粒較粗，組織不致密，對(duì)聲波吸取和散射嚴(yán)重，透聲性差，對(duì)探傷成果影響較大。普通探傷前要測(cè)試其透聲性。鑄鋼件透聲性可用縱波直探頭來(lái)測(cè)試。將探頭對(duì)準(zhǔn)工件底面，用[衰減器]測(cè)出底波B1與B2的dB差即可。為了憾少測(cè)試誤差，普通測(cè)三點(diǎn)取平均值。測(cè)得的dB差愈大，闡明透聲性愈差。

5.鑄鋼件內(nèi)外層劃分鑄鋼件中缺點(diǎn)至表面的距離不同，其危害不同，普通外層比內(nèi)層大。為此按鑄鋼件厚度劃分為外層、內(nèi)層外層等三層。當(dāng)其厚度<90mm時(shí)，每層各占1/3，當(dāng)其厚度≥90mm時(shí)，兩外層厚度各為30mm，其它為內(nèi)層。

四、距離——波幅曲線的測(cè)試與敏捷度調(diào)節(jié)

根據(jù)探測(cè)規(guī)定選定一組平底孔對(duì)比試塊(平底孔直徑相似聲徑不同)測(cè)出工件與對(duì)比試塊的透聲性和耦合損失差△dB，衰減量≥(△十10)dB。將探頭置于厚度與工件相近的試塊上，對(duì)準(zhǔn)平褒孔，調(diào)節(jié)儀器使平底孔最高回波達(dá)10%～20%。然后固定備旋鈕，將探頭分別對(duì)準(zhǔn)不同聲程的平底孔，標(biāo)記各平底孔回波的最高點(diǎn)，連成曲線，從而得到該平底孔的距離—一波幅曲線(即面板曲線)。用[衰減器]增益△dB，這時(shí)敏捷度就調(diào)好了。為了便于發(fā)現(xiàn)缺點(diǎn)，有時(shí)再增益6dB作為掃查敏捷度。

五、缺點(diǎn)的鑒別與測(cè)定

探頭按選定的方式進(jìn)行掃查，相鄰兩次掃查重疊15%，探頭移動(dòng)速度≤l50mm/s。掃查中根據(jù)缺點(diǎn)波高與底波減少狀況來(lái)鑒別工件內(nèi)部與否存在缺點(diǎn)。下列幾個(gè)狀況作為缺點(diǎn)統(tǒng)計(jì)。

(1)缺點(diǎn)回波幅度達(dá)成距離——波幅曲線者。

(2)底面回波幅度減少量≥12dB者。

(3)不管缺點(diǎn)回波高低，認(rèn)為是線狀或片狀缺點(diǎn)者。

發(fā)現(xiàn)缺點(diǎn)后來(lái)，要測(cè)定缺點(diǎn)的位置與大小。

缺點(diǎn)的位置由示波屏上缺點(diǎn)波前沿對(duì)應(yīng)的水平刻度值來(lái)擬定。

缺點(diǎn)的面積大小用下述辦法測(cè)定：當(dāng)運(yùn)用缺點(diǎn)反射法鑒別缺點(diǎn)時(shí)，用缺點(diǎn)6dB法測(cè)定缺點(diǎn)面積大小。當(dāng)采用底波減少12dB法鑒別缺點(diǎn)時(shí)，用底波減少12dB作為缺點(diǎn)邊界來(lái)測(cè)定缺點(diǎn)面積。

六、鑄鋼件質(zhì)量級(jí)別的評(píng)定

鑄鋼件超聲波探傷辦法及質(zhì)量評(píng)級(jí)辦法GB7233—87規(guī)定鑄鋼件質(zhì)量等級(jí)，根據(jù)平面型缺點(diǎn)和非平面型缺點(diǎn)的尺寸，將其分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ等五級(jí)，其中I級(jí)最高，V級(jí)最低。

評(píng)定時(shí)，評(píng)定區(qū)面積為105mm2(317×317或面積相似矩形)，盡量使最嚴(yán)重的缺蹈位于評(píng)定區(qū)內(nèi)。位于評(píng)定區(qū)邊界限上的缺點(diǎn)，只計(jì)入缺點(diǎn)位于評(píng)定區(qū)內(nèi)的那部分面積。位于內(nèi)外層界面上的非平面型缺點(diǎn)，若大部分在外層，則計(jì)入外層，反之計(jì)入內(nèi)層。若探測(cè)面積局限性105mm2，則按比例折算允許的缺點(diǎn)面積。

平面型缺點(diǎn)分級(jí)見(jiàn)表6一4，非平面型缺點(diǎn)分級(jí)見(jiàn)表6—5。

注：

①單個(gè)缺點(diǎn)尺寸不不大于320mm者為V級(jí)。

②單個(gè)缺點(diǎn)面積為缺點(diǎn)最大尺寸和與其垂直方向最大尺寸之積。

③位于外層間距不大于25mm的兩個(gè)或多個(gè)缺點(diǎn)可視為一種缺點(diǎn)，其面積為各缺點(diǎn)面積之和。

④凡檢測(cè)區(qū)存在裂紋的鑄鋼件，評(píng)為V級(jí)。

⑤某鑄鋼件的質(zhì)量級(jí)別，系指平面型缺點(diǎn)和非平面型缺點(diǎn)均滿足該級(jí)別的規(guī)定。即兩者中級(jí)別較低的級(jí)別為該鑄鋼件的級(jí)別。

鑄鋼件超聲波探傷詳見(jiàn)GB7233—87原則。

復(fù)

習(xí)

題

一、鍛件探傷

1.鍛件中常見(jiàn)缺點(diǎn)有哪幾個(gè)?各是如何形成的?

2.鍛件普通分哪幾類?各采用什么辦法探傷?

3.在鍛件超聲波探傷中，調(diào)接敏捷度的慣用辦法有哪幾個(gè)?各合用于什么狀況?

4.運(yùn)用鍛件底波調(diào)敏捷度有何好處?調(diào)節(jié)時(shí)應(yīng)注意什么?

5.鍛件探傷中，慣用哪幾個(gè)辦法對(duì)缺點(diǎn)定量?各合用于什么狀況?

6.鍛件探傷中，常見(jiàn)的非缺點(diǎn)回波有哪幾個(gè)?各是如何形成的?如何鑒別?

7.什么憩游動(dòng)圓波?游動(dòng)回波是怎祥產(chǎn)生的?如何鑒別游動(dòng)回波?

8.鍛件探傷中，慣用什么辦法測(cè)定材質(zhì)的衰減系數(shù)?影響測(cè)試成果精度的重要因素是什么?

9.試制訂φ500×400餅形鍛件超專用波探傷工藝過(guò)程。

10.用2.5P20Z探頭探傷厚為400mm的餅形鋼鍛件，CL=5900m/s。問(wèn)如何運(yùn)用底波調(diào)節(jié)400/φ2敏捷度?(△=44dB)。

11.用2.5P20Z探頭探傷外徑D=800mm的實(shí)心圓柱體鍛件，CL=5900m/s。衰減系數(shù)a=0.005dB/mm，問(wèn)如何運(yùn)用底波來(lái)調(diào)節(jié)800/φ2和400/φ2敏捷度?(△1=50dB，△2=33.5dB)

12.用2.5P14Z探頭探傷外徑D=1000mm，內(nèi)徑d=200mm空心圓柱體鋼鍛件，CL=5900m/s。

(1)外圓探傷時(shí)，如何運(yùn)用內(nèi)孔回波調(diào)節(jié)400/φ2靈數(shù)度?(△=37dB)

(2)內(nèi)孔探傷時(shí)，如何運(yùn)用外圓回波調(diào)節(jié)400φ2敏捷度?(△=51dB)

13.用2.5P14Z探頭探傷厚為400mm的鍛俘，CL=5900m/s鍛件與試塊同材質(zhì)a=0.01dB/mm。

(1)如何運(yùn)用200/φ4的試塊(CS—1)不調(diào)節(jié)400/φ2敏捷度?(A=28dB)

(2)如何運(yùn)用厚為100mm大平底試塊來(lái)調(diào)節(jié)400/φ2敏捷度?(△=61.5dB)

14.用2.5P14Z探頭探傷厚為400mm的鍛件，CL=5900m/s，鍛件與試塊同材質(zhì)，a=0.005dB/mm，鍛件與試塊表面耦合損失差為5dB．問(wèn)如何運(yùn)用100/φ4試塊(CS一1)來(lái)調(diào)節(jié)00/φ2敏捷度?(△=44Db)

15.用2.5P20Z探頭探傷厚為500mm的餅形鋼鍛件，CL=5900m/s，運(yùn)用底波調(diào)敏捷度，底波高50dB，探傷中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺點(diǎn)波高26dB，求此缺點(diǎn)的當(dāng)量大小?(