2022塑料 試樣線性尺寸的測(cè)定

塑料試樣線性尺寸的測(cè)定II目 次前言 11范圍 12規(guī)范性用文件 13術(shù)語(yǔ)和義 14測(cè)量設(shè)備 24.1通則 24.2千分尺 24.3游標(biāo)尺 2恒重分指示和電子顯指示表 2非接設(shè)備和他替代備 25步驟 25.1通則 15.2精確要求 15.3測(cè)量的數(shù)量位置 15.4裝置校準(zhǔn) 1用千尺測(cè)量 2用游卡尺測(cè)量 2用恒千分指表和電數(shù)顯指表測(cè)量 2用非觸設(shè)備量 26試驗(yàn)報(bào)告 2附錄A（資性）重千分示表可的接觸類型 2附錄B（資性）塑試樣測(cè)量 3參考文獻(xiàn) 411塑料試樣線性尺寸的測(cè)定范圍GB/T37426（h）（0.4mm≤h≤6.4mm）（70MPa≤E≤700GB/T2941-20067A0.001mmGB/T1216外徑千分尺GB/T2918（ISO291:2008，MOD）GB/T6093（GPS）（ISO3650:1998，MOD）GB/T18761電子數(shù)顯指示表GB/T21389游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺GB/T37426塑料試樣（ISO20753:2018，MOD）GB/T39543杠桿指示表的設(shè)計(jì)和計(jì)量特性（ISO9493:2010，IDT）GB/T39547機(jī)械指示表的設(shè)計(jì)和計(jì)量特性（ISO463:2006，IDT）下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1線性尺寸lineardimension塑料試樣上選定的任意兩點(diǎn)間的最短距離，使用第4章中規(guī)定的設(shè)備進(jìn)行測(cè)量。3.2厚度thickness垂直于條狀試樣縱向（理想）矩形橫截面的較短尺寸。3.3寬度width垂直于條狀試樣縱向（理想）矩形橫截面的較長(zhǎng)尺寸。3.4長(zhǎng)度length垂直于條狀試樣縱向的兩個(gè)平行橫截面間的尺寸。22測(cè)量設(shè)備通則尺寸測(cè)量設(shè)備應(yīng)根據(jù)試樣性質(zhì)和精度要求進(jìn)行選擇。）應(yīng)注意確保使用的測(cè)量設(shè)備不會(huì)在測(cè)量表面留下任何可能影響測(cè)量結(jié)果的痕跡、劃痕或裂紋。千分尺千分尺應(yīng)符合GB/T1216的要求。配備了測(cè)量過程預(yù)設(shè)載荷施加保持系統(tǒng)的千分尺，應(yīng)在測(cè)量面施加一個(gè)5N至15N的力。游標(biāo)卡尺應(yīng)符合GB/T21389的要求。如果數(shù)顯卡尺符合標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求，則可以使用數(shù)顯卡尺。GB/T39547GB/T39543（）GB/T18761（5m±10μm15N2.5μm恒重和電子數(shù)顯指示表的接觸面可能類型參見附錄A。4.4.10.15NN注：4.4.1中恒重千分指示表引用的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求在相關(guān)技術(shù)文件中給出測(cè)量力范圍?？墒褂梅墙佑|式測(cè)量設(shè)備（光學(xué)和激光）和其他替代設(shè)備，前提是該設(shè)備滿足替代適用機(jī)械設(shè)備的誤差測(cè)量要求。注：非接觸式設(shè)備傾向于測(cè)量試樣的最大可能尺寸，并且可能與接觸式設(shè)備測(cè)量的尺寸有所不同，這是由于注塑塑料試樣的典型凹痕和拔模角造成的影響。步驟44通則本文件適用但不限于對(duì)GB/T37426規(guī)定的試樣進(jìn)行測(cè)量。試樣應(yīng)清潔，無可能對(duì)測(cè)量產(chǎn)生不利影響的缺陷。除非另有規(guī)定，否則所有測(cè)量應(yīng)在試樣于GB/T2918規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中調(diào)節(jié)后進(jìn)行。首選條件為2級(jí)23/50。從表1中選擇合適的儀器。表1儀器適用性指南試樣制備儀器厚度寬度長(zhǎng)度注塑和壓塑游標(biāo)卡尺--√千分尺√√-恒重千分指示表和電子數(shù)顯指示表√√-非接觸設(shè)備（√）（√）√機(jī)加工游標(biāo)卡尺√√√千分尺√√-恒重千分指示表和電子數(shù)顯指示表√√-非接觸設(shè)備√√√注：括號(hào)（…）是指對(duì)于有拔模角的試樣，這些方法應(yīng)用不理想。如果參考標(biāo)準(zhǔn)中未另行規(guī)定，尺寸測(cè)量的精度要求應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2精度要求單位：毫米尺寸范圍精度要求＜10±0.02≥10±0.1 （3 （B （見圖B1、1和在適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)條件下，按照適用于被測(cè)特定材料的試驗(yàn)方法校準(zhǔn)千分尺和卡尺。量塊應(yīng)具有可追溯性，并符合GB/T6093的要求。的±10%2±0.2通過繪制校準(zhǔn)-校正曲線來對(duì)試樣尺寸的測(cè)量值進(jìn)行校正。校正曲線由量塊的真實(shí)尺寸對(duì)測(cè)量值作22圖得到。至少每年執(zhí)行一次校準(zhǔn)程序。對(duì)于頻繁使用或在惡劣環(huán)境下使用的設(shè)備，建議的校準(zhǔn)間隔為每30天一次。選擇合適的測(cè)量頭。測(cè)量注塑試樣時(shí)，使用直徑為1.5mm≤?≤6.4mm、接觸面為平面的圓柱頭。觀察如圖B.1所示的測(cè)量范圍。測(cè)量每個(gè)試樣之前，檢查儀器是否清潔，如有必要，清除所有污染物。如適用，在測(cè)量每個(gè)試樣前設(shè)定和/或檢查儀器的零點(diǎn)。在靠近測(cè)量點(diǎn)的區(qū)域閉合千分尺。觀察讀數(shù)，然后打開千分尺約100μm并且移動(dòng)試樣，使得千分尺位于第一個(gè)測(cè)量點(diǎn)上方。使用棘輪或摩擦頂針，用可輕松跟蹤刻度盤或數(shù)顯讀數(shù)變化的速度閉合千分尺。繼續(xù)閉合動(dòng)作直至測(cè)量每個(gè)試樣之前，檢查儀器是否清潔，如有必要，清除所有污染物。如適用，在測(cè)量每個(gè)試樣前設(shè)定和/或檢查儀器的零點(diǎn)。逐漸將卡鉗的滑動(dòng)鉗口閉合到試樣上，直到卡尺的接觸面在不壓縮或破壞試樣的情況下與試樣表面移動(dòng)卡尺到另一個(gè)測(cè)量位置，重復(fù)上述步驟。測(cè)量完每個(gè)試樣后重新檢查儀器的零點(diǎn)設(shè)置。（。圓柱頭的直徑或矩形頭和刃頭的寬度應(yīng)在1.5mm≤?≤6.4mm之間。觀察如圖B.1所示的測(cè)量范圍。將恒重千分指示表放在堅(jiān)固、水平、干凈、不會(huì)在測(cè)量過程中過度振動(dòng)的桌子或工作臺(tái)上，并確認(rèn)砧面與壓腳的清潔，調(diào)零儀器。輕輕抬起壓腳。移動(dòng)試樣使得指示表位于第一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，然后放下壓腳，至刻度盤讀數(shù)略大于期望讀數(shù)0.5mm的位置。將壓腳自由落下至試樣表面。該步驟盡可能地減小了由緩慢放下壓腳至試樣表面帶來的細(xì)微誤差。記錄刻度盤讀數(shù)。移動(dòng)試樣至另一個(gè)測(cè)量位置，并重復(fù)上述步驟。測(cè)量完每個(gè)試樣后重新檢查儀器的零點(diǎn)設(shè)置。任何零點(diǎn)設(shè)置的改變通常是由于壓腳和砧面的接觸面從試樣上沾染了污染物顆粒造成的。發(fā)生這種情況時(shí)要求必須清潔這些表面。根據(jù)制造商的說明校準(zhǔn)裝置。按5.3中規(guī)定的位置測(cè)量試樣的尺寸。試驗(yàn)報(bào)告如果參考標(biāo)準(zhǔn)中未另行規(guī)定，試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含以下信息：PAGEPAGE5c)f) —— ——g)附錄A（資料性）恒重千分指示表可能的接觸面類型單位：毫米圖A.1平面接觸面圖A.2球形接觸面

單位：毫米單位：毫米圖A.3刃頭（碳化物）附錄B（資料性）注塑試樣不存在完美的矩形，特別是由半晶質(zhì)材料制成的試樣，可能也會(huì)存在凹痕。（球標(biāo)引序號(hào)說明：1——寬度的測(cè)量范圍為半高±0.5mm；2——厚度的測(cè)量范圍為試樣中心±3.25mm；3最小厚度hmin；4最大厚度hmax圖B.1有凹痕和拔模角（放大圖）的矩形試樣橫截面及推薦測(cè)量范圍的說明（1，2）測(cè)量注