相移干涉微表面形貌檢測(cè)儀的數(shù)據(jù)處理與實(shí)驗(yàn)研究的任務(wù)書(shū)_第1頁(yè)
相移干涉微表面形貌檢測(cè)儀的數(shù)據(jù)處理與實(shí)驗(yàn)研究的任務(wù)書(shū)_第2頁(yè)
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相移干涉微表面形貌檢測(cè)儀的數(shù)據(jù)處理與實(shí)驗(yàn)研究的任務(wù)書(shū)任務(wù)書(shū):一、研究背景隨著微納加工、半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展,微細(xì)表面的形貌檢測(cè)成為了工業(yè)界和學(xué)術(shù)界的熱點(diǎn)問(wèn)題。其中,相移干涉法是一種非常有效的測(cè)量方法。通過(guò)相移干涉技術(shù)測(cè)量,可以獲得高精度的表面形貌信息,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、光學(xué)制造、微機(jī)電系統(tǒng)等領(lǐng)域。二、研究目的本文旨在實(shí)現(xiàn)相移干涉法的數(shù)據(jù)處理,完成微表面形貌的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)研究。具體研究?jī)?nèi)容如下:1.相移干涉法的原理和方法研究,包括相移量的確定、相位提取等技術(shù)的研究。2.基于LabVIEW平臺(tái)開(kāi)發(fā)數(shù)據(jù)處理程序,進(jìn)行相位提取、三維重建等數(shù)據(jù)處理。3.搭建相移干涉檢測(cè)系統(tǒng),通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證數(shù)據(jù)處理程序的有效性和可靠性,完成微表面形貌的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。4.研究不同表面狀態(tài)下相移干涉檢測(cè)的性能及局限性。三、研究方法及步驟1.了解相移干涉法的理論和方法,包括光路設(shè)計(jì)、干涉圖像獲取等。2.學(xué)習(xí)LabVIEW相關(guān)編程技術(shù),開(kāi)發(fā)相位提取、三維重建等數(shù)據(jù)處理程序,在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理。3.搭建相移干涉檢測(cè)系統(tǒng),獲取干涉圖像,并通過(guò)數(shù)據(jù)處理程序提取相位信息,重建三維形貌。4.根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果,進(jìn)一步分析不同表面狀態(tài)下相移干涉檢測(cè)的性能及局限性,推進(jìn)技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用。四、預(yù)期成果1.設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)相移干涉法的數(shù)據(jù)處理程序,實(shí)現(xiàn)相位提取、三維重建等功能。2.基于相移干涉法檢測(cè)微表面形貌,獲得高精度的表面形貌信息,掌握相移干涉法的實(shí)用技術(shù)。3.分析不同表面狀態(tài)下相移干涉檢測(cè)的性能及局限性,深入挖掘并推進(jìn)技術(shù)的發(fā)展應(yīng)用。五、進(jìn)度安排任務(wù)完成時(shí)間學(xué)習(xí)相移干涉法的理論和方法,并分析文獻(xiàn)資料第1~2周學(xué)習(xí)LabVIEW相關(guān)編程技術(shù),設(shè)計(jì)相位提取、三維重建等程序第3~4周搭建相移干涉檢測(cè)系統(tǒng),進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究第5~6周數(shù)據(jù)處理程序開(kāi)發(fā)及實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理第7~8周分析不同表面狀態(tài)下相移干涉檢測(cè)的性能及局限性第9~10周論文撰寫(xiě)及修改第11~12周六、參考文獻(xiàn)1.王靖,等.相移法測(cè)量微細(xì)表面形貌的研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)[J].光學(xué)精密工程,2012,20(1):12.2.田慧玲,等.不同相移步數(shù)下光柵相位測(cè)量相位噪聲分析[J].中國(guó)光學(xué),2010,3(3):333-338.3.董慧娟,等.基于LabVIEW的相移干涉法實(shí)時(shí)相位提取技術(shù)[J].東北大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2013,34(10):1400-1404.4.胡平,等.基于相移技術(shù)的考古文化遺址測(cè)量研究[J].中國(guó)測(cè)繪,2012,27(6

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