MSOP(測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范)測(cè)量SOP_第1頁
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1MSOP(測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范)MeasurementStandardOperatingProcedure文件編號(hào)FILENO.版本Rev.01發(fā)行日期Date供方名稱Nameofsupplier供方簽名Supplier'ssign順絡(luò)回簽SunlordSignback批準(zhǔn)Approved審核

Checked作成Prepared研發(fā)R&D:品質(zhì)QA:填寫文件編號(hào)fillinthefileNO.變更履歷Revisionhistory2版本Rev.日期Date變更內(nèi)容Contentsrevised承認(rèn)Approved確認(rèn)Checked作成Prepared012023/2/28A05MSOP首版作成適應(yīng)產(chǎn)品清單Applicableproductlist3序號(hào)NO.供應(yīng)商料號(hào)SupplierP/N順絡(luò)物料編碼SunlordP/N順絡(luò)MA碼SunlordMACode物料名稱MaterialName順絡(luò)技術(shù)要求編號(hào)SunlordtechnicalrequirementNO.123456789101112物料圖紙Materialblueprint4檢驗(yàn)項(xiàng)目及儀器MeasurementitemsandMeasuring

devic5序號(hào)NO.檢驗(yàn)項(xiàng)目Measurementitems測(cè)試儀器

Measuring

devic儀器精度范圍Devicprecision儀器規(guī)格/型號(hào)Measuring

devicNO.儀器廠家Devicmaker1寬度二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器2R半徑二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器3半徑二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器4內(nèi)孔二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器5孔與孔中心間距二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器6平整度二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器7長(zhǎng)度二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器8材料厚度二次元0.001mmVMS-2010G萬濠精密儀器9可焊性10X顯微鏡10X/30XDC-A002Nikon10外觀目視///11121314測(cè)量方法Measuringmethod6序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1寬度二次元圖示(1)圖示(2)投影儀測(cè)量法:圖示(1)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,取X值歸零。圖示(2)以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,并使用投影儀測(cè)量A、B點(diǎn)的寬度,

在X方向上的測(cè)定值為6.79-6.82以內(nèi)。測(cè)量方法Measuringmethod7序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1R半徑二次元圖示(3)投影儀測(cè)量法:圖示(3)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A、B、直線為基準(zhǔn)測(cè)定C半徑,使用投影儀測(cè)量C點(diǎn)半徑,在待測(cè)半徑位置采點(diǎn)(至少三點(diǎn)),單擊右鍵確定測(cè)量,

取半徑值的測(cè)定值為0.65-0.85測(cè)量方法Measuringmethod8投影儀測(cè)量法:圖示(4)圖示(5)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C半徑,使用投影儀測(cè)量C點(diǎn)半徑,在待測(cè)半徑位置采點(diǎn)(采四點(diǎn)),單擊右鍵確定測(cè)量,

取半徑值的測(cè)定值為110-120o序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1半徑二次元圖示(4)圖示(5)測(cè)量方法Measuringmethod9序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1內(nèi)孔二次元圖示(6)圖示(7)投影儀測(cè)量法:圖示(6)圖示(7)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A為基準(zhǔn)測(cè)定內(nèi)孔,使用投影儀測(cè)量B點(diǎn)內(nèi)孔,在待測(cè)內(nèi)孔位置采點(diǎn)(采四點(diǎn)),單擊右鍵確定測(cè)量,

取內(nèi)孔值的測(cè)定值為1.90-2.10測(cè)量方法Measuringmethod10序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器3孔與孔中心間距二次元圖示(8)圖示(10)圖示(9)投影儀測(cè)量法:圖示(8)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),使用投影儀測(cè)量A點(diǎn)內(nèi)孔,在待測(cè)內(nèi)孔位置采點(diǎn)(采四點(diǎn)),單擊右鍵確定測(cè)量取孔中心值,

圖示(9)使用投影儀測(cè)量B點(diǎn)內(nèi)孔,在待測(cè)內(nèi)孔位置采點(diǎn)(采四點(diǎn)),單擊右鍵確定測(cè)量取孔中心值,以A、B、孔中心值為基準(zhǔn)測(cè)定C距離。圖示(10)取A、B孔中心值的距離測(cè)定值為27.90-28.10以內(nèi)。測(cè)量方法Measuringmethod11序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1平整度二次元圖示(11)圖示(12)投影儀測(cè)量法:圖示(11)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A平面為最低基準(zhǔn),X值歸零。圖示(12)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A平面為最低基準(zhǔn),以B平面為最高基準(zhǔn),測(cè)定C高低的距離,

X測(cè)定值為0.00-0.05測(cè)量方法Measuringmethod12序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1長(zhǎng)度二次元圖示(13)圖示(14)投影儀測(cè)量法:圖示(13)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,取X值歸零。圖示(14)以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,并使用投影儀測(cè)量A、B點(diǎn)的長(zhǎng)度,

在X方向上的測(cè)定值為13.55-13.95以內(nèi)。測(cè)量方法Measuringmethod13序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1厚度二次元圖示(15)圖示(16)投影儀測(cè)量法:圖示(15)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,取X值歸零。圖示(16)以A、B、為基準(zhǔn)測(cè)定C,并使用投影儀測(cè)量A、B點(diǎn)的厚度,

在X方向上的測(cè)定值為0.18-0.22以內(nèi)。測(cè)量方法Measuringmethod14序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1可焊性10X顯微鏡圖示(17)檢驗(yàn)條件:圖示(17)圖示(18)將產(chǎn)品放置測(cè)試臺(tái),放大倍率:10倍顯微鏡下檢驗(yàn),有爭(zhēng)議時(shí)用20倍顯微鏡。檢驗(yàn)時(shí)間:時(shí)間為3-5秒:照明:60W日光燈下,光照強(qiáng)度4501ux以上。視力:1.0以上(含矯正視力)圖示(18)測(cè)量方法Measuringmethod15檢驗(yàn)條件:圖示(19)

、

圖示(20)

光源:距離檢驗(yàn)品450-500mm,80-120w冷白銀光燈(照度達(dá)500-550Lux);

距離:距離與檢驗(yàn)員的正常視距為30mm;

時(shí)間:每面檢驗(yàn)的時(shí)間為2S-5S;

位置:檢驗(yàn)員面與水平面成45度角,被檢驗(yàn)物品上下左右轉(zhuǎn)動(dòng)15度角。

視力:1.0以上(含矯正視力)序號(hào)圖紙標(biāo)注測(cè)試儀器1外觀目視圖示(19)圖示(20)MSOP作成說明Preparedexplain161.同一類型物料選擇檢驗(yàn)項(xiàng)目最多的來作成MSOP;SelectthemostinspectionitemsforthesametypeofmaterialtoMSOP;2.同一類型同一檢驗(yàn)項(xiàng)目不同測(cè)量方法,需要另外作成MSOP;Forthesametype,thesameinspectionitemand

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