安防視頻存儲應(yīng)用的固態(tài)硬盤技術(shù)規(guī)范

1信息技術(shù)安防視頻存儲應(yīng)用的固態(tài)硬盤技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了安防視頻存儲應(yīng)用固態(tài)硬盤的一般要求、功能要求、性能要求、可靠性要求、安全性要求、測試方法、包裝及運輸要求。本文件適用于安防視頻存儲應(yīng)用領(lǐng)域固態(tài)硬盤的設(shè)計、開發(fā)、集成與應(yīng)用。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2423.34環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗GB/T4857.5包裝運輸包裝件跌落試驗方法GB9254—2008信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法GB/T17618—2015信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測量方法GB/T17625.1—2012電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）GB/T36355—2018信息技術(shù)固態(tài)盤測試方法GA/T367—2001視頻安防監(jiān)控系統(tǒng)技術(shù)要求YD/T3520—2019視頻監(jiān)控系統(tǒng)的視頻體驗質(zhì)量指標及評測方法SJ/T11654—2016固態(tài)盤通用規(guī)范3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1安防視頻監(jiān)控videosurveillanceforsecurity利用視頻探測、采集手段對目標進行監(jiān)視、控制和信息記錄。[來源:GA/T367—2001,3.3,有修改]3.2固態(tài)硬盤solidstatedisk一種以閃存或其他半導體存儲介質(zhì)為存儲單元的數(shù)據(jù)存儲設(shè)備，主要由控制器和存儲單元構(gòu)成，通常采用傳統(tǒng)硬盤驅(qū)動器接口進行數(shù)據(jù)的讀寫和存儲。[來源:GB/T36355—2018,2.1.1,有修改]3.3標稱容量nominalcapacity固態(tài)硬盤所注明的容量，按照十進制計算，用GB或者TB表示，其中1GB=109字節(jié)，1TB=1012字節(jié)。[來源:GB/T36355—2018,2.1.2,有修改]3.4標稱壽命nominallifespan固態(tài)硬盤所注明的生命周期內(nèi)的數(shù)據(jù)寫入量。3.5準備時間powerontoreadytime2從設(shè)備上電到數(shù)據(jù)可讀出所需的時間。4一般要求4.1外觀要求固態(tài)硬盤外表面不應(yīng)有明顯的劃痕、裂縫、形變等，外表面涂層不應(yīng)氣泡、龜裂和脫落，非金屬部件不應(yīng)有變形和破損，金屬部件不應(yīng)有銹蝕及其他機械損傷。4.2結(jié)構(gòu)要求固態(tài)硬盤主要包括2.5”，也可根據(jù)用戶需求定制其他尺寸的固態(tài)硬盤。5功能要求5.1自診斷功能固態(tài)硬盤應(yīng)具有故障自診斷功能，并符合下列要求：a)在設(shè)備制造期間完成自診斷需要的各項參數(shù)、屬性的設(shè)定，見附錄A；b)在特定系統(tǒng)平臺下，能夠正常使用自診斷功能；c)允許用戶自由開啟和關(guān)閉自診斷功能；d)在用戶使用過程中，能提供自診斷的各項有效信息，確定設(shè)備的工作狀態(tài)，并能發(fā)出相應(yīng)的修正指令或警告。5.2數(shù)據(jù)接口要求5.2.1SATA接口要求固態(tài)硬盤接口應(yīng)符合SATA3.0協(xié)議接口要求，端口速率6G/s，同時支持向下兼容3G/s和1.5Gb/s。5.3運維管理要求固態(tài)硬盤運維管理應(yīng)符合下列要求：a)具備基本的硬盤維護管理功能，具體包括全盤數(shù)據(jù)清除功能、在線升級功能便于用戶進行設(shè)備維護；b)具備資產(chǎn)管理功能，提供序列號、固件版本號、容量等信息，方便用戶進行資產(chǎn)管理；c)具備自診斷功能，用戶可以查詢設(shè)備的健康狀態(tài)、壽命、讀寫數(shù)據(jù)量、溫度等信息；d)具備日志查詢功能，運維人員用來進行設(shè)備故障問題分析。6性能要求6.1存儲容量固態(tài)硬盤的標簽應(yīng)標明固態(tài)硬盤的標稱容量，使用說明書中應(yīng)給出固態(tài)硬盤的可用容量，且可用容量不應(yīng)小于標稱容量。固態(tài)硬盤的實際存儲容量不應(yīng)小于使用說明書中給出的可用容量。6.2使用壽命3固態(tài)硬盤應(yīng)標明使用壽命（標稱使用壽命），標稱使用壽命包含“每日整盤寫入次數(shù)（DWPD）”和“使用年限”兩個參數(shù)指標。標準格式為：XDWPD/Y年。用于視頻存儲的固態(tài)硬盤的使用壽命應(yīng)符合下列要求：a)整盤寫滿一次的周期≤7天，即DWPD≥0.143b)可連續(xù)使用年限≥5年。6.3功耗及能效固態(tài)硬盤的功耗及能效指標應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1固態(tài)硬盤功耗及能效要求6.4穩(wěn)態(tài)性能在基于視頻監(jiān)控工作負載寫入場景下，視頻模擬寫入最低穩(wěn)態(tài)性不低于廠家標稱的穩(wěn)態(tài)性能。6.5最大響應(yīng)時間固態(tài)硬盤應(yīng)給出最大響應(yīng)時間，在基于視頻監(jiān)控工作負載寫入場景下，固態(tài)硬盤的I/O最大響應(yīng)時間應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2最大響應(yīng)時間要求6.6掉電數(shù)據(jù)保護固態(tài)硬盤應(yīng)標明是否支持掉電保護功能，“支持掉電保護”的固態(tài)硬盤和“不支持掉電保護”的固態(tài)硬盤，應(yīng)符合表3“異常掉電”及表4“正常掉電”工況的要求。表3正常掉電的數(shù)據(jù)保護要求表4異常掉電的數(shù)據(jù)保護要求47可靠性要求7.1出錯率UBER用于邊緣側(cè)NVR網(wǎng)絡(luò)硬盤錄像機的固態(tài)硬盤UBER工作范圍不應(yīng)大于10E-15，用于中心側(cè)視頻存儲平臺的固態(tài)硬盤UBER工作范圍不應(yīng)大于10E-17。7.2數(shù)據(jù)保存時間在正常工況下，用于邊緣側(cè)NVR網(wǎng)絡(luò)硬盤錄像機的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保持時間不應(yīng)小于1年（30℃)。在正常工況下，用于中心側(cè)視頻存儲平臺的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保持時間不應(yīng)小于3月（40℃)。7.3無故障運行時間用于視頻存儲的固態(tài)硬盤MTBF工作范圍不應(yīng)小于100萬小時。8安全性要求8.1概述視頻存儲的固態(tài)硬盤可支持安全相關(guān)功能，并滿足以下要求。若無安全相關(guān)功能要求，此章節(jié)可選。測試方法見9.4節(jié)。8.2數(shù)據(jù)安全固態(tài)硬盤的數(shù)據(jù)安全包括數(shù)據(jù)完整性、數(shù)據(jù)保密和數(shù)據(jù)使用者身份驗證三個方面。其中，數(shù)據(jù)完整性主要指掉電安全；數(shù)據(jù)保密包括固件安全、啟動安全、加密要求；數(shù)據(jù)使用者身份驗證主要通過固態(tài)硬盤和主機之間的數(shù)字簽名來實現(xiàn)。8.2.1數(shù)據(jù)完整性固態(tài)硬盤應(yīng)提供在異常掉電情況下的數(shù)據(jù)保護機制，硬盤能夠滿足寫入盤的數(shù)據(jù)不丟失。8.2.2固件安全固態(tài)硬盤固件安全應(yīng)滿足以下要求：a)不包含未公開接口。所有向客戶公開的命令、接口應(yīng)在公開文檔中說明；b)固件對管理通道及管理接口上傳輸?shù)拿钸M行合法性校驗（包括但不限于命令字、數(shù)據(jù)長度等），對于非法的命令需要進行識別并進行錯誤處理；c)固件應(yīng)提供對管理通道及管理接口配置管理操作記錄日志的能力；d)固件不提供日志刪除接口；e)可使用數(shù)字簽名對固件進行完整性保護，待升級固件需驗簽通過后方允許執(zhí)行升級操作。8.2.3啟動安全固態(tài)硬盤啟動安全應(yīng)提供的完整性保護能力，在系統(tǒng)啟動時對固態(tài)硬盤的Bootloader、固件等代5碼做完整性保護檢查。8.2.4加密要求涉及密碼算法的固態(tài)硬盤產(chǎn)品，該算法須符合國家密碼管理要求，固態(tài)硬盤控制器或者固態(tài)硬盤成品盤須獲得國家密碼管理局《商用密碼產(chǎn)品型號證書》，并在產(chǎn)品相關(guān)文檔中進行說明。8.2.5身份驗證可支持身份驗證功能，驗證通過后固態(tài)硬盤才允許使用者訪問盤內(nèi)數(shù)據(jù)。8.3電磁兼容性8.3.1無線電騷擾限值固態(tài)硬盤的無線電騷擾限值應(yīng)符合GB/T9254—2008中第5、6章規(guī)定的要求，應(yīng)在產(chǎn)品文檔中給出是A級或B級。8.3.2抗擾度限值固態(tài)硬盤的抗擾度限值應(yīng)符合GB/T17618—2015中附錄B規(guī)定的要求。8.3.3諧波電流限值固態(tài)硬盤的諧波電流限值應(yīng)符合GB/T17625.1—2012中第6章及附錄C.10規(guī)定的要求。8.4環(huán)境適應(yīng)性固態(tài)硬盤應(yīng)在下列工況可以正常工作：a)運行狀態(tài)：0℃~70℃;b)存儲狀態(tài)：-40℃~85℃;c)相對濕度：25%～95%。9測試方法9.1測試環(huán)境要求固態(tài)硬盤所有測試在未加特殊說明時，下述測試均應(yīng)符合下列要求：a)溫度：15℃~35℃;b)相對濕度：25%～75%；c)大氣壓：86kPa～106kPa。9.2性能測試9.2.1存儲容量測試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測試系統(tǒng)進行容量測試，被測對象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預置條件1)被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)連接，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；62)被測固態(tài)硬盤需在標簽中標明“標稱容量”及在說明書中標明“可用容量”，否則視為不通過。b)測試步驟1)使用測試系統(tǒng)讀出被測固態(tài)硬盤的最大扇區(qū)數(shù)(x)；2)校驗讀出的扇區(qū)數(shù)(x)，需要滿足(x)≥可用容量≥硬盤標稱容量（轉(zhuǎn)化為GB）*1,953,125。如不滿足，測試結(jié)束，測試結(jié)果為不通過；3)擦除被測固態(tài)硬盤中的已有數(shù)據(jù)；4)使用測試工具向被測固態(tài)硬盤的指定空間寫入隨機數(shù)據(jù)，直至寫滿；5)關(guān)閉被測固態(tài)硬盤電源；6)將被測固態(tài)硬盤上電，并識別成功；7)使用測試工具讀被寫入指定空間數(shù)據(jù)并校驗，如果對比結(jié)果一致則測試通過，否則測試不通過，結(jié)束本項測試。9.2.2功耗和能效測試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測試系統(tǒng)進行功耗和能效測試，被測對象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預置條件1)被測固態(tài)硬盤應(yīng)在說明書中給出“工作功耗”、“啟動功耗”、“平均能效”，否則視為測試不通過；2)固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)連接，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；3)使用測試系統(tǒng)對被測固態(tài)硬盤的功耗情況進行實時測試；4)將被測固態(tài)硬盤，按照工作負載整盤寫滿一圈。b)測試步驟1)根據(jù)被測固態(tài)硬盤標稱的錄像帶寬，對被測盤進行全盤寫入數(shù)據(jù)操作，并記錄；2)記錄步驟1）操作期間的平均功耗A和總能耗a；3)按照數(shù)據(jù)負載，進行錄像全盤數(shù)據(jù)讀出操作；4)記錄步驟3）操作期間的平均功耗B和總能耗b；5)取功耗A與功耗B的最大值為被測固態(tài)硬盤的“工作功耗”，即工作功耗w=max(A,B)；6)取能耗a與能耗b的最大值為總能耗，計算出平均能效j=max(a，b)/全盤實際容量（換算為GB）；7)執(zhí)行步驟1）的操作，在寫入過程中對被測試固態(tài)硬盤掉電；8)對被測試盤上電；9)記錄被測試盤從供電到識別成功后1分鐘期間的最大瞬時功耗s1；10)重復步驟7)到步驟9)的操作5次，記錄最大瞬時功耗s1～s5；11)被測固態(tài)硬盤的最大啟動功耗為步驟10得到的5組瞬時功耗的最大值，即最大啟動功耗s=max(s1,s2,s3,s4,s5)。9.2.3穩(wěn)態(tài)性能測試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測試系統(tǒng)進行穩(wěn)定性能測試，被測對象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預置條件1)固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)連接，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)被測固態(tài)硬盤作為數(shù)據(jù)盤，數(shù)據(jù)被全盤擦除73)需注明支持的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，否則視為不通過。b)測試步驟1)按照被測試固態(tài)硬盤標稱的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，配置寫測試工作負載；2)測試全盤容量10倍的數(shù)據(jù)寫入；3)得到指定錄像分區(qū)全部寫入指令的最小寫入性能YMB/s；4)Y滿足6.4的要求，則測試通過，否則測試不通過。9.2.4最大響應(yīng)時間測試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測試系統(tǒng)進行最大響應(yīng)時間測試，被測對象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預置條件：固態(tài)硬盤應(yīng)在相關(guān)文檔中給出“最大讀響應(yīng)時間”和“最大寫響應(yīng)時間”，否則視為不通過；b)最大寫響應(yīng)時間測試方法1)使用預置條件中的測試結(jié)果，在指定區(qū)域中讀最大寫響應(yīng)時間的數(shù)據(jù)；2)讀取數(shù)據(jù)應(yīng)滿足6.5的要求，則測試通過，否則測試不通過；c)最大讀響應(yīng)時間測試方法3)使用預置條件中的測試結(jié)果，在指定區(qū)域中讀最大讀響應(yīng)時間的數(shù)據(jù)；4)按照被測試固態(tài)硬盤標稱的最大錄像數(shù)據(jù)帶寬，配置讀測試工作負載；5)測試全盤容量2倍的數(shù)據(jù)讀??；6)得到指定區(qū)域所有I/O的最大讀響應(yīng)時間的數(shù)據(jù)y；7)y滿足6.5的要求，則測試通過，否則測試不通過。9.2.5掉電數(shù)據(jù)保護測試應(yīng)采用支持固態(tài)硬盤接口的測試系統(tǒng)進行最大響應(yīng)時間測試，被測對象作為數(shù)據(jù)盤應(yīng)處于未格式化狀態(tài)，并符合下列要求。a)預置條件1)被測固態(tài)硬盤的說明文檔應(yīng)標明是否支持掉電保護，如不標注，默認以不支持掉電保護的方式測試。2)固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)連接。b)正常掉電測試步驟1)按照被測固態(tài)硬盤分成相同大小的兩個分區(qū)：固定區(qū)域A和測試區(qū)域B；2)使用指定文件系統(tǒng)對固定區(qū)域A和測試區(qū)域B進行格式化；3)向固定區(qū)域A寫入測試文件，測試文件包括大文件和小文件，直至固定區(qū)域A寫滿；4)向被測固態(tài)硬盤發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對被測盤掉電；5)被測盤上電，認盤成功后，對固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)進行全部讀校驗，保證固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)沒有錯誤；6)向測試區(qū)域B寫入隨機個數(shù)的測試文件。寫入結(jié)束后，發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對被測盤掉電，1秒后再次上電，被測盤認盤成功，記錄認盤時間；7)校驗測試步驟6)寫入成功的測試文件，校驗成功；8)重復執(zhí)行測試步驟6)和測試步驟7)，每執(zhí)行1000次，校驗1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；9)測試通過的判斷依據(jù)：完成要求的測試輪數(shù)，所有寫入操作正常、standby指令操作成功、認盤正常、認盤時間滿足需求、所有校驗數(shù)據(jù)無錯誤。c)異常掉電測試步驟81)將被測固態(tài)硬盤內(nèi)的數(shù)據(jù)全盤擦除；2)將被測盤的物理地址區(qū)間分成相同大小的兩個分區(qū)：固定區(qū)域A和測試區(qū)域B；3)向固定區(qū)域A寫入測試數(shù)據(jù)，直至固定區(qū)域A寫滿；4)向被測固態(tài)硬盤發(fā)送standby指令，指令發(fā)送成功后對被測盤掉電；5)被測盤上電，認盤成功后，對固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)進行全部讀校驗，保證固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)沒有錯誤；6)向測試區(qū)域B內(nèi)的隨機地址寫入隨機長度的數(shù)據(jù)。在寫入過程中，500ms～2s隨機延遲對被測盤掉電，記錄寫入成功的地址區(qū)間，1秒后再次上電，被測盤認盤成功，記錄認盤時間；7)支持掉電保護的被測盤：校驗測試步驟6)寫入成功的地址區(qū)間的數(shù)據(jù)，校驗成功。重復執(zhí)行測試步驟6)和測試步驟7)，每執(zhí)行1000次，校驗1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；8)不支持掉電保護的被測盤，不做測試區(qū)域B的數(shù)據(jù)校驗操作,重復執(zhí)行測試步驟6)，每執(zhí)行1000次，校驗1次固定區(qū)域A的數(shù)據(jù)；9)測試通過的判斷依據(jù)：完成要求的測試輪數(shù)，所有寫入操作正常、認盤正常、認盤時間滿足需求，所有校驗數(shù)據(jù)無錯誤。9.3可靠性測試9.3.1使用壽命測試9.3.1.1概述用于視頻存儲的固態(tài)硬盤的使用壽命可選擇性使用如下測試方案。a)直接測試法：直接在產(chǎn)品中進行抽樣測試，抽測樣本的測試指標（容量、壽命）與產(chǎn)品定義一致；b)推導測試法：鑒于該測試在部分容量產(chǎn)品上的測試時間過長，為提縮短測試時長，可以使用推導測試。9.3.1.2測試環(huán)境測試環(huán)境應(yīng)滿足以下要求：a)物理環(huán)境：1)溫度：70℃,由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境；2)相對濕度：關(guān)閉濕度控制，由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境；3)大氣壓：無需設(shè)定，由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境。b)硬件環(huán)境：1)測試系統(tǒng)應(yīng)能提供連接測試盤的硬件接口，該接口需要處于恒溫恒濕試驗箱中；2)電源：測試盤的電源輸入可以由測試系統(tǒng)提供，也可以由其他外置電源提供；3)恒溫恒濕試驗箱：為測試盤提供溫度、濕度測試環(huán)境。c)軟件環(huán)境：測試系統(tǒng)應(yīng)可以提供被測樣品所需的仿真環(huán)境以及工作負載。9.3.1.3測試方法固態(tài)硬盤使用壽命應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：9a)預置條件：1)連接測試盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)2臺恒溫恒濕試驗箱，分別設(shè)定溫度為0℃和70℃;3)固態(tài)硬盤使用壽命可采用推導測試法進行測試4)測試樣品應(yīng)分為不少于三組，每組樣品不少于21件（套）進行測試。b)測試步驟：1)當?shù)?臺恒溫恒濕試驗箱溫度達到0℃且保持穩(wěn)定的情況下，將第一組測試樣品置于恒溫恒濕試驗箱中，并與測試系統(tǒng)接通；2)當?shù)?臺恒溫恒濕試驗箱溫度達到70℃且保持穩(wěn)定的情況下，將第二組和第三組測試樣品都置于恒溫恒濕試驗箱中，并與測試系統(tǒng)接通；3)確認所有測試盤正常認盤，開始進行測試并計時；4)使用工作負載進行讀寫業(yè)務(wù)并進行數(shù)據(jù)一致性校驗，直至達到測試盤的標稱壽命；5)當?shù)谝唤M測試樣品的標稱壽命消耗完畢，將該組測試樣品取出，進行全盤數(shù)據(jù)填充并對填充數(shù)據(jù)進行校驗，記錄測試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯次數(shù)。6)當?shù)诙M測試樣品的標稱壽命消耗完畢，將該組測試盤取出，進行全盤數(shù)據(jù)填充并對填充數(shù)據(jù)進行校驗。移除該組測試盤的電源輸入，放置于高溫85℃環(huán)境下，儲存96小時。重新接通該組測試盤電源，再次對填充數(shù)據(jù)進行校驗，記錄測試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯次數(shù)；7)當?shù)谌M測試盤的標稱壽命消耗完畢，記錄測試盤的寫入數(shù)據(jù)總量、讀取數(shù)據(jù)總量和數(shù)據(jù)出錯次數(shù)。9.3.2出錯率測試固態(tài)硬盤讀寫出錯率（UBER）測試應(yīng)符合9.3.2的規(guī)定。固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)出錯次數(shù)N是在整個壽命測試中檢測到的數(shù)據(jù)錯誤總數(shù)，數(shù)據(jù)讀取總量D是在壽命測試中的讀取數(shù)據(jù)總量，單位是Bit。但在如下條件中，包含損壞數(shù)據(jù)的多個扇區(qū)也可被視為單個數(shù)據(jù)錯誤：a)在耐久性驗證測試的同一時間點發(fā)生；b)損壞數(shù)據(jù)的數(shù)量小于等于64KB；c)一個數(shù)據(jù)錯誤在固態(tài)硬盤讀寫出錯率中只能被計算一次，即使它被多次讀取并且每次都不能返回正確的數(shù)據(jù)。固態(tài)硬盤讀寫出錯率應(yīng)滿足以下規(guī)定。--12式中：FFR——產(chǎn)品可接受的故障率，F(xiàn)FR=Warranty*365*24/MTBF；UBER——產(chǎn)品可接受的出錯率；data_errors——壽命測試和數(shù)據(jù)保持測試中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)錯誤個數(shù)；min(TBW,TBR)——TBW和TBR的最小值；TBW——以TB為單位的寫入數(shù)據(jù)量；TBR——以TB為單位的讀取數(shù)據(jù)量；SS——被測試驅(qū)動器樣本的數(shù)量；UCL——定義的置信上限函數(shù)（詳細信息見JESD47）9.3.3數(shù)據(jù)保存時間測試9.3.3.1概述該測試主要用來衡量測試盤閃存的數(shù)據(jù)保持能力，進而評價測試盤的閃存元件的品質(zhì)。閃存中存儲的數(shù)據(jù)對溫度比較敏感，因此該測試采用高溫85℃做為加速因素，縮短數(shù)據(jù)保持能力的測試時間。9.3.3.2測試環(huán)境測試環(huán)境應(yīng)滿足以下要求：a)物理環(huán)境：1)溫度：85℃,由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境；2)相對濕度：關(guān)閉濕度控制，由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境；3)大氣壓：默認設(shè)定，由恒溫恒濕試驗箱控制測試環(huán)境。b)硬件環(huán)境：1)測試系統(tǒng)應(yīng)能提供連接測試樣品的硬件接口，該接口需要處于恒溫恒濕試驗箱中；2)電源：測試樣品的電源輸入可以由測試系統(tǒng)提供，也可以由其他外置電源提供；3)恒溫恒濕試驗箱：為測試盤提供溫度、濕度測試環(huán)境。c)軟件環(huán)境：在常溫下，測試系統(tǒng)可給測試樣品全盤數(shù)據(jù)預填充，并完成數(shù)據(jù)一致性校驗。9.3.3.3測試方法固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)保存時間應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為85℃;3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對被測固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預填充，且校驗一次通過。b)測試步驟：1)當恒溫恒濕試驗箱溫度達到85℃,且保持穩(wěn)定的情況下，將測試樣品放入試驗箱中并開始計時；2)計時12h，將測試盤取出，使測試盤恢復常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進行數(shù)據(jù)一致性校驗。9.4安全性測試9.4.1固件安全測試為了保證客戶的數(shù)據(jù)安全，客戶使用的固件必須是經(jīng)廠家正式發(fā)布的簽名固件（合法簽名），固態(tài)硬盤固件安全測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)被測固態(tài)硬盤與測試主機連接，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)將測試工具安裝在測試主機上，確認測試工具能識別到被測固態(tài)硬盤。b)測試步驟：1)使用升級工具選擇廠商發(fā)布固件（合法簽名）對被測固態(tài)硬盤進行升級；2)使用升級工具選擇無簽名固件對被測固態(tài)硬盤進行升級；3)使用升級工具選擇非法簽名固件對被測固態(tài)硬盤進行升級。c)判斷條件：1)使用升級工具選擇廠商發(fā)布固件（合法簽名）對被測固態(tài)硬盤進行升級，提示成功；2)使用升級工具選擇無簽名固件對被測固態(tài)硬盤進行升級，提示失??；3)使用升級工具選擇非法簽名固件對被測固態(tài)硬盤進行升級，提示失敗。9.4.2啟動安全測試固態(tài)硬盤啟動安全測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)將被測固態(tài)硬盤與測試主機連接，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)測試工具軟件安裝在測試主機上，確認測試工具軟件能識別到被測固態(tài)硬盤。b)測試步驟：1)將灌裝了合法固件的被測固態(tài)硬盤接入系統(tǒng)，盤片能正確被系統(tǒng)識別到；2)利用測試工具軟件修改被測固態(tài)硬盤的固件信息，隨后將盤片重新接入系統(tǒng)；3)檢查步驟2）中的被測固態(tài)硬盤重新接入系統(tǒng)后是否被正確識別，被測固態(tài)硬盤的固件信息被測試工具軟件篡改后，再次接入測試系統(tǒng)，無法被正確識別，則測試通過。9.5環(huán)境適應(yīng)性測試9.5.1運行溫度上限測試固態(tài)硬盤運行溫度上限測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為70℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；b)測試步驟：1)將測試盤放入恒溫恒濕試驗箱，當溫度達到70℃,且保持穩(wěn)定的情況下，接通測試盤電源；2)確認測試盤正常認盤；3)使用工作負載進行讀寫業(yè)務(wù)并進行數(shù)據(jù)一致性校驗，持續(xù)時間96h，測試過程中，測試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗錯誤則測試通過。9.5.2運行溫度下限測試固態(tài)硬盤運行溫度下限測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為0℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；b)測試步驟：1)將測試盤放入恒溫恒濕試驗箱，當溫度達到0℃,且保持穩(wěn)定的情況下，接通測試盤電源；2)確認測試盤正常認盤；使用工作負載進行讀寫業(yè)務(wù)并進行數(shù)據(jù)一致性校驗，持續(xù)時間96h，測試過程中，測試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗錯誤則測試通過。9.5.3高低溫溫度循環(huán)讀寫測試固態(tài)硬盤高低溫溫度循環(huán)讀寫測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為0～55℃循環(huán)變化，高溫和低溫階段保持3h，變化斜率不小于每分鐘1攝氏度；b)測試步驟：1)將測試盤放入恒溫恒濕箱中，當開始運行后，接通測試盤電源；2)確認測試盤正常認盤；3)使用工作負載進行讀寫業(yè)務(wù)并進行數(shù)據(jù)一致性校驗，運行10個循環(huán)，測試過程中，測試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗錯誤則測試通過。9.5.4存儲溫度上限測試固態(tài)硬盤存儲溫度上限測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為85℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對被測固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預填充，且校驗一次通過。b)測試步驟：1)將測試盤放入恒溫恒時試驗箱中，當溫度達到85℃時，且保持穩(wěn)定的情況下開始計時；2)計時48h，將測試盤取出，使測試盤恢復常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進行數(shù)據(jù)一致性校驗，測試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗錯誤則測試通過。9.5.5存儲溫度下限測試固態(tài)硬盤存儲溫度下限測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為-40℃,溫度變化速率不超過每分鐘1攝氏度；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件對被測固態(tài)硬盤全盤數(shù)據(jù)預填充，且校驗一次通過。b)測試步驟：1)將測試盤放入恒溫恒濕試驗箱中，當溫度達到-40℃,且保持穩(wěn)定的情況下開始計時；2)計時48h，將測試盤取出，使測試盤恢復常溫溫度狀態(tài)；3)使用數(shù)據(jù)填充軟件進行數(shù)據(jù)一致性校驗，測試盤讀寫正常且無數(shù)據(jù)一致性校驗錯誤則測試通過。9.5.6運行濕度上限測試固態(tài)硬盤運行濕度上限測試應(yīng)按以下預置條件和測試步驟執(zhí)行：a)預置條件：1)連接被測固態(tài)硬盤與測試系統(tǒng)，確認被測固態(tài)硬盤能正常工作；2)恒溫恒濕試驗箱設(shè)定溫度為55℃,相對濕度95%。b)測試步驟：1)設(shè)定恒溫恒濕試驗箱溫度達到55℃,相對濕度達到95%，且保持穩(wěn)定；2)使用工作負載進行讀寫業(yè)務(wù)并進行數(shù)據(jù)一致