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低溫實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)名稱：低溫實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)時(shí)間：2021年6月1日實(shí)驗(yàn)地點(diǎn)：實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?.掌握低溫實(shí)驗(yàn)操作方法；2.研究物質(zhì)在低溫下的性質(zhì)變化規(guī)律。實(shí)驗(yàn)器材：1.低溫箱；2.芯片溫度傳感器；3.電子數(shù)顯萬用表；4.恒流電源。實(shí)驗(yàn)步驟：1.將芯片溫度傳感器接入電子數(shù)顯萬用表；2.將芯片溫度傳感器放入低溫箱中，待溫度穩(wěn)定后讀取溫度值；3.依次調(diào)整溫度為-80℃，-100℃，-150℃，-200℃，讀取溫度值；4.將恒流電源輸出電壓設(shè)置為5V，電流設(shè)置為0.5A；5.將恒流電源輸出端子連接至半導(dǎo)體材料，記錄電阻值；6.依次將低溫溫度設(shè)置為-80℃，-100℃，-150℃，-200℃，記錄電阻值。實(shí)驗(yàn)結(jié)果：1.溫度和電阻值的關(guān)系如下表所示：|溫度（℃）|電阻值（Ω）||---------|-----------||-80|300||-100|350||-150|500||-200|800|2.實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)，隨著溫度的降低，電阻值會(huì)逐漸增加。實(shí)驗(yàn)結(jié)論：1.隨著溫度的降低，物質(zhì)的電阻值會(huì)逐漸增大；2.低溫環(huán)境對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻值影響顯著。實(shí)驗(yàn)中存在的問題和改進(jìn)方案：1.實(shí)驗(yàn)中由于設(shè)備本身的誤差和環(huán)境的影響，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)存在一定誤差，可以通過多次實(shí)驗(yàn)取平均值來提高實(shí)驗(yàn)精度；2.實(shí)驗(yàn)中數(shù)據(jù)記錄不夠準(zhǔn)確，可以采用更為精確的儀器來記錄數(shù)據(jù)。參考文獻(xiàn)：[1]化學(xué)實(shí)驗(yàn)

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