基于幾何不變對照表的三維模型數(shù)字水印技術(shù)的開題報告

基于幾何不變對照表的三維模型數(shù)字水印技術(shù)的開題報告一、研究背景和意義數(shù)字水印技術(shù)是一種可以在數(shù)字內(nèi)容中嵌入特定信息的技術(shù)，并且這些信息可以在不影響原始數(shù)據(jù)的情況下被提取出來。數(shù)字水印技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛，例如版權(quán)保護、身份認(rèn)證、信息隱藏等。在三維模型領(lǐng)域，數(shù)字水印技術(shù)也得到了廣泛的應(yīng)用。然而，目前大多數(shù)的三維模型數(shù)字水印技術(shù)都是基于傳統(tǒng)的加密技術(shù)或者頻域方法，在一定程度上存在的問題是不夠穩(wěn)定、不夠魯棒或者容易被攻擊、篡改和刪除。因此，本文提出一種基于幾何不變對照表的三維模型數(shù)字水印技術(shù)，能夠有效地解決這些問題。二、研究內(nèi)容和方法本文提出的基于幾何不變對照表的三維模型數(shù)字水印技術(shù)，主要基于以下幾點內(nèi)容：1.幾何不變對照表的構(gòu)建：通過對三維模型進行一系列的幾何變換，利用幾何不變性來構(gòu)建一個不變對照表。具體來說，我們選取一些旋轉(zhuǎn)、縮放和平移變換，使得在三維坐標(biāo)系中，這些變換對應(yīng)的變換矩陣都是可逆的。然后，對于每一個三維模型，我們都可以使用這些變換矩陣來生成一個幾何不變對照表。2.水印信息的嵌入：在構(gòu)建好幾何不變對照表之后，我們就可以將水印信息嵌入到三維模型中。具體來說，在這個過程中，我們可以將水印信息編碼成一系列的二進制比特流，并且利用一些差錯控制編碼技術(shù)來提高水印的魯棒性。然后，我們可以根據(jù)幾何不變對照表的信息，將這些二進制比特流嵌入到三維模型的頂點坐標(biāo)中。3.水印信息的提?。寒?dāng)我們想要提取三維模型中的水印信息時，我們可以首先利用保存在幾何不變對照表中的變換矩陣，將三維模型變換成一個與原始模型幾何相同的模型。然后，我們可以根據(jù)這個新的模型與原始模型之間的點坐標(biāo)差異來計算出嵌入水印的二進制比特流序列，并且使用差錯控制的反編碼算法來恢復(fù)原始的水印信息。三、預(yù)期結(jié)果通過實驗驗證，我們可以得到以下幾個預(yù)期結(jié)果：1.基于幾何不變對照表的數(shù)字水印技術(shù)相對傳統(tǒng)方法更加穩(wěn)定和魯棒性更高，能夠提高三維模型中數(shù)字水印的可靠性，從而可以更好地保護三維模型的版權(quán)和隱私。2.構(gòu)建的幾何不變對照表可以保證在一定程度上保護原始模型的幾何信息，從而更好地保護三維模型的完整性和真實性。3.在實際應(yīng)用中，基于幾何不變對照表的數(shù)字水印技術(shù)具有較好的魯棒性和可靠性，在數(shù)字版權(quán)保護和身份認(rèn)證等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用前景。四、研究工作計劃和進度安排1.第一階段（2022年1月-2022年5月）：學(xué)習(xí)相關(guān)知識，了解數(shù)字水印技術(shù)的基本概念和原理，并對幾何不變對照表的構(gòu)建方法進行深入研究。2.第二階段（2022年6月-2022年9月）：研究針對三維模型的數(shù)字水印技術(shù)，了解當(dāng)前的研究進展和存在的問題，針對性地設(shè)計實現(xiàn)基于幾何不變對照表的數(shù)字水印技術(shù)。3.第三階段（2022年10月-2023年2月）：實現(xiàn)并測試基于幾何不變對照表的數(shù)字水印技術(shù)，并對實驗結(jié)果進行分析和總結(jié)。4.第四階段（2023年3月-2023年6月）：完成論文撰寫和答辯準(zhǔn)備工作。五、參考文獻[1]WangB,LiL,ZhangC.Arobust3Dmeshwatermarkingmethodbasedonprincipalcomponentanalysisandlocalsurfacefeaturealignment[J].MultimediaToolsandApplications,2016,75(22):14859-14875.[2]LiL,ZhangJ,BaiS,etal.Animprovedrobustwatermarkingbasedonspatial-temporalcharacteristicsof3Dmodel[J].MultimediaToolsandApplications,2017,76(4):4967-4990.[3]LiuX,WuF.Anoverviewof3Dmeshwatermarking[C]