Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質研究的開題報告_第1頁
Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質研究的開題報告_第2頁
Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質研究的開題報告_第3頁
全文預覽已結束

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質研究的開題報告題目:Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質研究一、選題背景及研究意義Ⅳ-Ⅵ族半導體材料在光電器件、電子器件、納米器件等領域中具有重要的應用價值。而低維結構的Ⅳ-Ⅵ族半導體材料,具有獨特的光學、電學、熱學等性質,被廣泛應用于激光器、太陽能電池、光電探測器等領域。因此,研究Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質具有重要的科學意義和應用價值。二、研究內(nèi)容和方法1.研究Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的光學性質,包括線性光學性質和非線性光學性質。2.制備Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構的樣品,包括量子點、納米線、薄膜等結構。3.采用多種手段對樣品進行表征,包括XRD、TEM、PL等技術。4.實驗測量樣品在外界光源下的吸收spectra、熒光spectra等光學性質。5.分析和討論樣品的光學性質及其內(nèi)在機理,通過亞納米級的光學結構和材料的光電性能相結合,研究Ⅳ-Ⅵ族半導體低維結構材料中的致發(fā)光機理和量子調(diào)控性質。三、論文結構和進度安排1.第一章緒論1.1研究背景和意義1.2國內(nèi)外研究現(xiàn)狀1.3研究方法和內(nèi)容2.第二章實驗材料和方法2.1實驗材料2.2實驗方法3.第三章實驗結果與分析3.1樣品的表征3.2光學性質的測量和分析4.第四章結論與展望4.1對實驗結果進行總結和分析4.2未來研究方向和展望5.參考文獻6.致謝時間安排:第一階段:查閱相關文獻和資料,撰寫開題報告,1周第二階段:材料制備和表征,4周第三階段:實驗測量和數(shù)據(jù)分析,6周第四階段:論文撰寫和修改,3周四、參考文獻1.Wang,X.,etal.UltrathinCdSnanotubeswithspecificfacetingandenhancedvisible-lightphotocatalyticactivity.NanoLetters,2011,11(5):2219-2225.2.Yang,P.,etal.Chemicalfunctionalizationofsemiconductornanowires.AdvMater,2002,14(7):462-466.3.Zhang,W.,etal.Single-crystallineNiOnanourchinsself-assembledfromnanorodsforefficientphotocatalysis.AdvFunctMater,2012,22(7):1515-1522.4.Liu,J.,etal.In-situgaseousdecompositionsynthesisofsingle-crystallineultrathinα-NiSnanosheetsforefficientwateroxidation.AngewandteChemieInternationalEdition,2014,53(26):6782-6786.5.Wang,X.,etal.α-Fe2O3nanoflakeswithenhancedhigh-frequencydielectricbehaviorasmicro

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論