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一位全加器的設(shè)計(jì)1引言………11.1發(fā)展歷史與現(xiàn)狀…………..11.2研究目的與意義…………..21.3全加器的發(fā)展前景………..22設(shè)計(jì)內(nèi)容…………………32.1真值表………………...32.210管全加器的電路圖…………………42.3導(dǎo)出網(wǎng)表……………….53電路仿真及分析………..63.110管全加器仿真波形…………………..63.210管全加器的功耗和延遲……………..64參考文獻(xiàn)…………………71引言由于運(yùn)算電路的最基本單元是全加器電路,為了能使高速運(yùn)算電路功耗更加低,傳輸速度更快,只能繼續(xù)研究設(shè)計(jì)功耗更加低,性能更加優(yōu)越的全加器。所以提高高速數(shù)字集成運(yùn)算電路性能最關(guān)鍵是要全面的優(yōu)化全加器的性能。在一些全加器設(shè)計(jì)中,同或門(mén)和異或門(mén)構(gòu)成了全加器的基本構(gòu)建塊,優(yōu)化基礎(chǔ)構(gòu)建塊的性能可以顯著提高整個(gè)全加器的性能。實(shí)踐證明,減少晶體管的數(shù)量可以有效提高全加器的速度,降低功耗,降低傳輸延遲。本文提出了一種新型3管同或門(mén)和異或門(mén)制作的10管全加器的新穎設(shè)計(jì)。較少的晶體管數(shù)量保證了較小的功耗,而且芯片面積也可以大大降低,同時(shí)保證了較小的傳輸延遲。對(duì)其功耗和延遲可以利用Hspice軟件進(jìn)行仿真。1.1發(fā)展歷史與現(xiàn)狀由于芯片設(shè)計(jì)以及時(shí)代發(fā)展的需要,全加器電路經(jīng)歷了多種不同結(jié)構(gòu)的發(fā)展演變。由28個(gè)晶體管組成的是比較傳統(tǒng)早期的全加器,雖然在信號(hào)輸出方面比較穩(wěn)定,但是由于存在過(guò)多的晶體管所以其功耗和延遲還有芯片面積都比較大,因此很快在研究過(guò)程中被淘汰。再后來(lái)陸陸續(xù)續(xù)出現(xiàn)了20管的、16管的、14管的等等。并且功耗和延遲也都逐漸控制得較為出色。由此我們可以看出全加器的發(fā)展趨勢(shì)是晶體管數(shù)目在不斷減少,芯片的面積也越來(lái)越小,并且現(xiàn)在研究的重點(diǎn)是如何降低功耗延遲積。隨著學(xué)者的研究,在不久的將來(lái)全加器的類型及性能肯定還會(huì)有質(zhì)的飛躍。1.2研究目的與意義隨著集成電路的應(yīng)用越來(lái)越普遍,人們對(duì)電子設(shè)備的需求越來(lái)越廣泛,這就對(duì)如何設(shè)計(jì)、生產(chǎn)高速、低電壓和低功耗的集成電路或微處理器提出了更高的要求。為了讓數(shù)字電路整體的功耗降低,只能對(duì)其中的全加器進(jìn)行性能上的。不同的系統(tǒng)對(duì)性能有著不同的要求,有的要求低電壓,有的要求低功耗,或者延時(shí)短和芯片面積小等等。通過(guò)理論研究,了解全加器功耗高和延遲大的原因,然后減少晶體管數(shù)量,設(shè)計(jì)出性能較優(yōu)異的10管全加器,利用軟件得出全加器性能參數(shù)。1.3全加器的發(fā)展前景從一開(kāi)始傳統(tǒng)的28管全加器到現(xiàn)在要設(shè)計(jì)的10管全加器,甚至以后會(huì)有更少晶體管數(shù)目的全加器,全加器在性能上有了全面的優(yōu)化。縱觀全加器的發(fā)展歷程,隨著集成電路工藝的發(fā)展,可以清晰地看到芯片面積越來(lái)越小,全加器晶體管數(shù)目越來(lái)越少,為的就是使功耗延遲積降低。未來(lái)的全加器設(shè)計(jì)肯定會(huì)繼續(xù)考慮工藝方面的改進(jìn),并隨著科技的進(jìn)步,會(huì)有傳輸速度更快,功耗更小的全加器出現(xiàn)。2設(shè)計(jì)內(nèi)容2.1全加器真值表:ABCSUMCOUT0000000110010100110110010101011100111111如圖表所示,由全加器的真值表可以得出邏輯轉(zhuǎn)換式其中A、B是輸入,C是進(jìn)位輸入,SUM是和輸出,COUT是進(jìn)位輸出。表示異或,表示同或。由邏輯表達(dá)式可以看出,SUM可以經(jīng)過(guò)一個(gè)同或門(mén)和一個(gè)異或門(mén)得到,所以可以設(shè)計(jì)同或門(mén)和異或門(mén)來(lái)實(shí)現(xiàn)全加器的邏輯傳輸。2.210管全加器的電路圖經(jīng)過(guò)多次調(diào)試,圖中所標(biāo)MOS管參數(shù)比例為此全加器晶體管較優(yōu)的數(shù)值。觀察上圖,在設(shè)計(jì)中首先利用了一個(gè)CMOS結(jié)構(gòu)和一個(gè)傳輸門(mén)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)了同或門(mén)和異或門(mén)。分析由M0、M1、M2構(gòu)成的部分,當(dāng)B輸入為1時(shí),CMOS反相器電路運(yùn)作,此時(shí)Y=A;當(dāng)B輸入為0時(shí),CMOS反相器電路失效,此時(shí)輸出Y=A。于是即可得到輸出Y=AB。分析由M3、M4、M5構(gòu)成的部分,相同原理,當(dāng)B=1時(shí),Y=A;當(dāng)B=0時(shí),Y=A。當(dāng)輸入A和輸入B經(jīng)過(guò)晶體管M0、M1、M2組成的異或門(mén)后,得到一級(jí)輸出AB,第一級(jí)輸出AB和輸入C經(jīng)過(guò)晶體管M6,得到了(AB)C,同時(shí)M3、M4、M5組成的同或門(mén)的輸出和輸入C經(jīng)過(guò)晶體管M7,得到了(AB)C,于是就得到了。同理,同或門(mén)的輸出和輸入C經(jīng)過(guò)晶體管M8得到了(AB)C,同或門(mén)的輸出和輸入B經(jīng)過(guò)晶體管M9得到了(AB)B,于是就得到了。2.310管全加器電路的網(wǎng)表:*InverterCircuit.optionslistnodepost.lib'E:\soft\hspice\180nmCMOS.lib'180cmos_models.GLOBALgnd!vdd!Vddvdd!01.8Vssgnd!00.SUBCKTinvABCSUMCOUT*.PININFOA:IB:IC:ISUM:OCOUT:OM0YAgnd!gnd!NlW=180nL=180nM1YABBPlW=360nL=180nM2YBAAPlW=900nL=180nM3NYAvdd!vdd!PlW=900nL=180nM4NYABBNlW=360nL=180nM5ABNYgnd!NlW=900nL=180nM6YCSUMSUMPlW=1080nL=180nM7NYCSUMSUMNlW=540nL=180nM8CM9BNYCOUTCOUTNlW=540nL=180n.ENDSX1ABCSUMCOUTINVv1A00pulse01.82.01n0n0n5n10nv2B00pulse01.82.01n0n0n10n20nv3C00pulse01.82.01n0n0n20n40nc1SUM00.02pFic=0c2COUT00.02pFic=0.measuretranpX1avgp(X1)from=0nsto=40ns.measuretranCOUT_RISE_DELAYTRIGv(A)VAL=0.8vTD=0RISE=1TARGv(SUM)VAL=0.8vTD=0RISE=1.measuretranSUM_FALL_DELAYTRIGv(A)VAL=0.8vTD=0RISE=1TARGv(SUM)VAL=0.8vTD=0FALL=1.optionpost.plotp(X1).tran200p50n.printtranv(A)v(B)v(C)v(SUM)v(COUT).end3電路仿真及分析3.110管全加器仿真波形3.210管全加器的功耗和延遲$DATA1SOURCE='HSPICE'VERSION='W-2005.03'.TITLE'*invertercircuit'px1cout_rise_delaysum_fall_delaytemperalter#1.693e-041.390e-105.331e-0925.00001.0000在1.8V的工作電壓下,該全加器
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