LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性研究_第1頁
LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性研究_第2頁
LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性研究_第3頁
全文預覽已結束

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性研究標題:LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性研究摘要:隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展和應用,LTCC(低溫共燒陶瓷)與PCB(印制電路板)之間的互聯(lián)焊接技術越來越受到關注。然而,互聯(lián)焊點在使用過程中可能會出現(xiàn)熱疲勞現(xiàn)象,這對電子產(chǎn)品的可靠性和壽命產(chǎn)生了重要影響。本研究通過對LTCC與PCB互聯(lián)焊點的熱疲勞特性進行研究,旨在為改善互聯(lián)焊接技術提供指導和參考。引言:隨著電子產(chǎn)品的迅猛發(fā)展,尤其是移動通信、無線網(wǎng)絡和汽車電子等領域的快速發(fā)展,對電子器件的密度、功能和可靠性提出了更高的要求。在電子器件中,焊接技術是實現(xiàn)高密度連接的關鍵環(huán)節(jié)。LTCC與PCB的互聯(lián)焊接技術具有體積小、連接性好、耐高溫等優(yōu)點,因此受到了廣泛的研究和應用。然而,由于LTCC與PCB具有不同的材料特性,焊點在高溫環(huán)境下易發(fā)生熱膨脹不一致,導致焊點出現(xiàn)應力集中,進而引起熱疲勞,最終影響電子器件的可靠性和壽命。因此,研究LTCC與PCB互聯(lián)焊點的熱疲勞特性對于改善焊接技術和提升電子產(chǎn)品的可靠性具有重要意義。主體:1.LTCC與PCB材料特性分析:介紹LTCC和PCB材料的特性,包括熱膨脹系數(shù)、熱導率、機械強度等。重點分析兩種材料的差異性,為后續(xù)研究提供基礎。2.焊接工藝分析:介紹LTCC與PCB互聯(lián)焊接的工藝流程和常用焊接方法,如電烙鐵焊接、熱壓焊接等。分析各種焊接方法的優(yōu)缺點,并提出改進措施,以提高焊點的可靠性和抗熱疲勞能力。3.熱疲勞測試方法:介紹熱疲勞測試的常用方法,包括熱沖擊試驗、熱循環(huán)試驗等。比較不同測試方法的特點和適用范圍,選擇合適的測試方法來研究LTCC與PCB互聯(lián)焊點的熱疲勞特性。4.實驗研究:制備LTCC與PCB樣品,并進行熱疲勞實驗。通過改變溫度、循環(huán)次數(shù)等參數(shù),觀察焊點的破壞情況,并分析熱疲勞壽命。同時,探究焊接厚度、焊接材料等因素對焊點熱疲勞特性的影響。5.結果與討論:分析實驗結果,得出LTCC與PCB互聯(lián)焊點的熱疲勞特性。討論不同因素對焊點熱疲勞壽命的影響,并提出改進措施和建議,以提高焊點的可靠性和壽命。結論:本研究通過對LTCC與PCB互聯(lián)焊點熱疲勞特性的研究,得出了焊點熱疲勞與溫度、循環(huán)次數(shù)等因素的關系,揭示了焊接厚度、焊接材料對焊點熱疲勞的影響。根據(jù)實驗結果和討論,提出了改進焊接工藝和材料選擇的建議,以提高焊點的可靠性和抗熱疲勞能力。這對于改進LTCC與PCB互聯(lián)焊接技術,提高電子產(chǎn)品的可靠性和壽命具有重要意義。參考文獻:1.Wang,K.,Lü,Y.,Wei,J.,&Luo,K.(2016).Investigationontemperatureeffectofflip-chipsolderjointreliabilityconsideringthecoefficientofthermalexpansion(CTE)mismatch.MicroelectronicsReliability,66,1-7.2.Kim,D.S.,Cho,M.S.,Lee,H.S.,&Choi,H.M.(2020).Experimentalstudyofthefatiguelifeofsolderjointsconsideringthecoefficientofthermalexpansioninflip-chipBGAassembly.MicroelectronicsReliability,103,113540.3.Tong,H.,Mao,F.,Li,Y.,Chen,T.,&Tao,R.(2018).ImpactofsolderjointthicknessonthefatiguelifeofSn-3.0Ag-0.5Cusolderinterconnects.IEEETransactionsonComponents,PackagingandManufacturingTechnology,8(1),43-51.4.Zhang,X.,Sheh,S.,Psota,E.T.,&Zhang,D.(2019).ThermalcyclingfatigueofSnCu/Niinterconnectionsforceramic-substratechip

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論