環(huán)境空氣 顆粒物中無機(jī)元素的測定 能量色散X射線熒光光譜法(HJ 829-2017)

中華人民共和國國家環(huán)境保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

HJ829-2017

環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定

能量色散X射線熒光光譜法

Ambientair-Determinationofinorganicelementsinambient

particlematter-EnergydispersiveX-rayfluorescencespectroscopy

(ED-XRF)method

（發(fā)布稿）

前言

為貫徹《中華人民共和國環(huán)境保護(hù)法》和《中華人民共和國大氣污染防治法》，保護(hù)環(huán)

境，保障人體健康，規(guī)范環(huán)境空氣和無組織排放顆粒物中無機(jī)元素的測定方法，制定本標(biāo)準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測定環(huán)境空氣和無組織排放顆粒物中無機(jī)元素的能量色散X射線熒光光

譜（ED-XRF）分析方法。

本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。

本標(biāo)準(zhǔn)附錄A為規(guī)范性附錄，附錄B和附錄C均為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由環(huán)境保護(hù)部環(huán)境監(jiān)測司和科技標(biāo)準(zhǔn)司組織制訂。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：中日友好環(huán)境保護(hù)中心（國家環(huán)境分析測試中心）。

參加本標(biāo)準(zhǔn)方法驗(yàn)證的單位有：中國科學(xué)院地球環(huán)境研究所、上海市環(huán)境科學(xué)研究院、

江蘇天瑞儀器股份有限公司、上海思百吉儀器系統(tǒng)有限公司（帕納科業(yè)務(wù)部）、島津企業(yè)管

理（中國）有限公司、湖南省環(huán)境監(jiān)測中心站、北京市環(huán)境保護(hù)監(jiān)測中心、天津市環(huán)境監(jiān)測

中心、布魯克（北京）科技有限公司和環(huán)境保護(hù)部標(biāo)準(zhǔn)樣品研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境保護(hù)部2017年5月2日批準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)自2017年7月1日起實(shí)施。

本標(biāo)準(zhǔn)由環(huán)境保護(hù)部解釋。

ii

環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定能量色散X射線熒光光譜法

1適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測定環(huán)境空氣和無組織排放顆粒物中無機(jī)元素的能量色散X射線熒光光

譜法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于利用濾膜采集的環(huán)境空氣和無組織排放顆粒物中鈉（Na）、鎂（Mg）、

鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）、鈣（Ca）、鈧（Sc）、鈦

（Ti）、釩（V）、鉻（Cr）、錳（Mn）、鐵（Fe）、鈷（Co）、鎳（Ni）、銅（Cu）、

鋅（Zn）、砷（As）、硒（Se）、鍶（Sr）、溴（Br）、鎘（Cd）、鋇（Ba）、鉛（Pb）、

錫（Sn）、銻（Sb）等元素的測定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于經(jīng)方法驗(yàn)證能夠達(dá)到準(zhǔn)確度和精密度

要求的其他無機(jī)元素。

在本標(biāo)準(zhǔn)推薦的各元素特征譜線條件下，方法檢出限及測定下限見附錄A。

2規(guī)范性引用文件

本標(biāo)準(zhǔn)引用了下列文件中的條款。凡是不注明日期的引用文件，其有效版本適用于本標(biāo)

準(zhǔn)。

HJ93環(huán)境空氣顆粒物（PM10和PM2.5）采樣器技術(shù)要求及檢測方法

HJ664環(huán)境空氣質(zhì)量監(jiān)測點(diǎn)位布設(shè)技術(shù)規(guī)范（試行）

HJ/T55大氣污染物無組織排放監(jiān)測技術(shù)導(dǎo)則

HJ/T194環(huán)境空氣質(zhì)量手工監(jiān)測技術(shù)規(guī)范

HJ/T374總懸浮顆粒物采樣器技術(shù)要求及檢測方法

3方法原理

X射線管產(chǎn)生的初級X射線照射到平整、均勻的顆粒物樣品表面上時，被測元素釋放

出特征X射線熒光直接進(jìn)入檢測器。經(jīng)電子學(xué)系統(tǒng)處理得到不同能量（元素）的X射線熒

光能譜。采用全譜圖擬合或特定峰面積積分的方式獲取特征X射線熒光強(qiáng)度。顆粒物負(fù)載

量在一定范圍內(nèi)，采用薄樣品分析技術(shù)，被測元素特征譜峰強(qiáng)度與其含量成正比。

4干擾和消除

通常采用全譜圖擬合或特定峰面積積分兩種方式獲取強(qiáng)度。元素含量較低且無干擾時，

可選某區(qū)間特定譜峰凈面積方式獲取強(qiáng)度。存在干擾時，應(yīng)采用全譜圖擬合方法對重疊譜峰

進(jìn)行解析，扣除干擾峰的影響，得到目標(biāo)元素特征譜峰強(qiáng)度。干擾元素擬合解析示例參見附

錄B表B.4。

5試劑和材料

5.1負(fù)載在聚酯膜（Mylarfilm）或聚碳酸酯核孔膜（Nucleporepolycarbonatemembranes）上

1

的單元素或化合物標(biāo)準(zhǔn)樣品，（0.5~50）g/cm2，以單元素含量計。

注：負(fù)載有元素的薄膜面在支撐環(huán)下面的為A模式，在支撐環(huán)上面的為B模式。建議采用B模式（參見

12）。

5.2金屬純元素或無機(jī)化合物樣品，純度大于99.9%。

5.3負(fù)載在聚碳酸酯核孔膜上的混合元素標(biāo)準(zhǔn)樣品或模擬PM2.5標(biāo)準(zhǔn)樣品，有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

5.4石英濾膜，特氟龍、聚丙烯等有機(jī)濾膜。

注：用XRF測量環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素時，特氟龍濾膜比石英濾膜更合適。

6儀器和設(shè)備

6.1顆粒物采樣器。其性能和技術(shù)指標(biāo)應(yīng)符合HJ/T374和HJ93的規(guī)定。

6.2能量色散X射線熒光光譜儀。根據(jù)輕元素測定需要，可配備氦氣置換或抽真空功能。

6.3顆粒物濾膜裁剪圓刀，直徑47mm?；蛱沾杉舻丁?/p>

6.4鑷子（鑷子頭為非金屬材質(zhì)）。

6.5帶蓋樣品盒，聚氯乙烯材質(zhì)，直徑47mm、90mm。

6.6包裝用錫紙。

6.7XRF專用聚丙烯膜（Prolenethinfilm4.0m）。

7樣品

7.1樣品采集

7.1.1樣品負(fù)載量

采集在濾膜上的顆粒物負(fù)載量原則上不宜超過100g/cm2，負(fù)載的顆粒物要均勻分布在

直徑至少為30mm的范圍。可以通過控制采樣時間調(diào)控濾膜上顆粒物負(fù)載量。

注：顆粒物負(fù)載量過多會導(dǎo)致樣品基體效應(yīng)，偏離薄樣品假設(shè)，影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。

7.1.2環(huán)境空氣顆粒物樣品

環(huán)境空氣采樣點(diǎn)的設(shè)置應(yīng)符合HJ664相關(guān)要求。采樣過程按照HJ/T194中顆粒物采樣的

要求執(zhí)行。當(dāng)目標(biāo)元素含量較低或采集PM10（PM2.5）樣品時，可適當(dāng)增加采樣體積。采樣

時應(yīng)詳細(xì)記錄采樣環(huán)境條件。

7.1.3無組織排放顆粒物樣品

無組織排放顆粒物樣品采集按照HJ/T55中相關(guān)要求設(shè)置監(jiān)測點(diǎn)位，其它同環(huán)境空氣樣

品采集要求。

7.2樣品保存

采樣結(jié)束后，用鑷子將濾膜取出，放入干燥潔凈、已編號的樣品盒（6.5）中，大流量

采樣器采集的石英濾膜樣品可對折后用包裝用錫紙（6.6）包好，并按采樣要求做好記錄。

樣品在干燥、潔凈、室溫環(huán)境下于硅膠干燥器中保存。

7.3樣品處理

2

小流量采樣器采集的顆粒物樣品可直接放入樣品杯。大、中流量采樣器采集的石英濾膜

顆粒物樣品需用直徑為47mm圓刀（6.3）裁剪成直徑為47mm的濾膜圓片，待測。上述操作

應(yīng)避免樣品測量面被沾污。

8分析步驟

8.1儀器測量條件

根據(jù)儀器操作手冊，選擇合適的測量條件建立方法。需要優(yōu)化的主要測量參數(shù)有：待測

元素的分組；特征譜線及測量時間；濾光片（或二次靶）；X射線管電壓及電流；干擾元素

及其干擾系數(shù)的測定等。儀器測量參數(shù)示例見附錄B。

8.2標(biāo)準(zhǔn)樣品及純元素樣品測量

根據(jù)所用儀器操作手冊，在儀器軟件相關(guān)界面上建立標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)表。輸入空白薄膜和

薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品（5.1）中各元素的標(biāo)準(zhǔn)值。按照優(yōu)化后的測量條件（8.1）測量系列標(biāo)準(zhǔn)樣品。

薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品的個數(shù)根據(jù)實(shí)驗(yàn)室條件可在2~4個之間選取（不包括空白濾膜），標(biāo)樣含量大

致范圍如下：0.5~2μg/cm2、3~8μg/cm2、15~25μg/cm2、40~60μg/cm2。

在相同測量條件下測量純元素（5.2）的特征譜線掃描譜圖。所有標(biāo)準(zhǔn)樣品中相關(guān)元素

強(qiáng)度及純元素譜圖應(yīng)在同一批次測試中完成。

根據(jù)所用儀器提供的線性回歸校正模型和程序?qū)?biāo)準(zhǔn)空白濾膜、系列薄膜標(biāo)樣的含量和

強(qiáng)度進(jìn)行回歸分析，建立校準(zhǔn)曲線，求出回歸方程斜率并存儲于計算機(jī)中。

8.3樣品測量

按照與標(biāo)準(zhǔn)樣品相同的條件（8.2）測量空白濾膜和樣品濾膜。通常采用全譜圖擬合或

特定峰面積積分兩種方式獲取強(qiáng)度。元素含量較低且無干擾時，可選區(qū)間譜峰凈面積方式獲

取強(qiáng)度。目標(biāo)元素存在干擾時，應(yīng)采用全譜圖擬合方法對重疊譜峰進(jìn)行解析，扣除干擾峰的

影響，得到目標(biāo)元素特征譜峰強(qiáng)度。根據(jù)樣品濾膜和空白濾膜中目標(biāo)元素的強(qiáng)度和校準(zhǔn)曲線

的斜率計算濾膜樣品中目標(biāo)元素含量。

9結(jié)果計算與表示

9.1結(jié)果計算

顆粒物樣品中元素含量按式（1）計算：

(II)A

0（1）

bV

式中：

A—濾膜上負(fù)載有顆粒物的面積（cm2）；

I—樣品濾膜中目標(biāo)元素X射線熒光強(qiáng)度（cps或cps/mA）；

I0—空白濾膜中目標(biāo)元素X射線熒光強(qiáng)度（cps或cps/mA）；

b—校準(zhǔn)曲線斜率[cps/(g/cm2)或(cps/mA)/(g/cm2)]；

V—標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下（273K，101.325Pa）采樣體積（m3）；

3

—顆粒物樣品中目標(biāo)元素含量（g/m3）。

9.2結(jié)果表示

各元素測定結(jié)果小數(shù)點(diǎn)后的數(shù)字保留位數(shù)與方法檢出限保持一致，測定結(jié)果最多保留3

位有效數(shù)字。顆粒物樣品檢測結(jié)果也可以用μg/cm2表示。

10精密度和準(zhǔn)確度

10家實(shí)驗(yàn)室對統(tǒng)一提供的大氣顆粒物標(biāo)樣、濾膜質(zhì)控樣品、具有不同顆粒物負(fù)載量的3

個TSP樣品（石英濾膜）、3個PM2.5樣品（聚丙烯濾膜）和2個無組織排放顆粒物樣品（石英

濾膜），用X射線熒光光譜法測量。對測定結(jié)果進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計，得到方法精密度（包括各元

素測定值的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)相對標(biāo)準(zhǔn)偏差范圍、實(shí)驗(yàn)室間相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、重復(fù)性限和再現(xiàn)性限）和

方法準(zhǔn)確度（各元素測定值的相對誤差范圍和相對誤差最終值），詳見附錄C。

11質(zhì)量保證和質(zhì)量控制

11.1濾膜空白

每批樣品應(yīng)至少分析2個與采樣用濾膜同批次購得的空白濾膜試樣。用于采集無組織排

放顆粒物的濾膜空白試樣中目標(biāo)元素測定值不得大于目標(biāo)元素排放標(biāo)準(zhǔn)限值的十分之一。否

則，應(yīng)適當(dāng)增加采樣量，使顆粒物中目標(biāo)元素測定值明顯高于濾膜空白值。用于采集環(huán)境空

氣顆粒物的空白濾膜中目標(biāo)元素測定值應(yīng)小于方法測定下限。

11.2校準(zhǔn)曲線

建立分析方法時的校準(zhǔn)曲線可長期使用。每批樣品測定前應(yīng)核對校準(zhǔn)曲線。以接近校準(zhǔn)

曲線中間含量的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)控樣（或不同來源濾膜標(biāo)樣）進(jìn)行分析確認(rèn)，其相對誤差應(yīng)滿足表

1要求。否則，應(yīng)重新建立校準(zhǔn)曲線或校準(zhǔn)偏移度。

表1質(zhì)控樣品中各元素實(shí)驗(yàn)室內(nèi)測試準(zhǔn)確度要求

元素相對誤差范圍（%）

Al、Si、K、Ca、Cr、Mn、Cu、Se、Sr、Ti、Fe、Ni、Zn、Co、Ba、Pb、Cl-10~10

Na、Mg、As、Cd、Sn、Sb、S、P、V、Sc、Br-20~20

11.3精密度

如果顆粒物濾膜樣品可重復(fù)測定（如石英濾膜樣品、聚丙烯濾膜樣品），每批樣品應(yīng)抽

取10％的樣品進(jìn)行重復(fù)測定。樣品數(shù)量少于10個時，應(yīng)至少測定1個。當(dāng)元素含量高于測

定下限時，平行樣測定結(jié)果相對偏差應(yīng)滿足表2要求。

4

表2各元素平行樣測定精密度要求

元素相對偏差（%）

Al、P、S、K、Ca、Zn5

Mg、Si、Cl、Ti、Ni、Cr、Mn、Fe、Cu、Pb、As10

Na、Co、Se、Sr、Cd、Sn、Sb、Sc、V、Br、Ba20

11.4準(zhǔn)確度

使用本方法標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)通過分析薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行方法驗(yàn)證。如果測量誤差超過允許范

圍，則停止分析樣品，查找原因。有條件時，可采用有證大氣顆粒物標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行驗(yàn)證。驗(yàn)

證結(jié)果滿足要求以后，才能繼續(xù)進(jìn)行分析。以后分析測定每批實(shí)際樣品時可同時分析實(shí)驗(yàn)室

質(zhì)控樣品（或不同來源濾膜標(biāo)樣），當(dāng)元素含量高于測定下限時，實(shí)驗(yàn)室質(zhì)控樣品室內(nèi)測試

準(zhǔn)確度應(yīng)達(dá)到表1要求。

對混合元素薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品（含Al、Si、Fe、Pb、Cu、Zn、Ni、Mn、Cr等元素）的測定

可在每批樣品測量前或全部樣品完成測量后進(jìn)行。其測定值與標(biāo)準(zhǔn)示值的相對誤差應(yīng)小于

10%。此標(biāo)樣和實(shí)驗(yàn)室質(zhì)控樣系列測定值均可用于繪制質(zhì)控圖并計算期間精密度。期間精密

度數(shù)值乘以2可用于評估測量結(jié)果擴(kuò)展不確定度。

如果實(shí)驗(yàn)室條件所限，可以考慮采用儀器廠家提供的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行驗(yàn)證。

12注意事項(xiàng)

ED-XRF測定過程中，對于下照式儀器，為了防止顆粒物掉落在儀器內(nèi)，有時需要在其

濾膜樣品表面覆蓋一層XRF專用聚丙烯膜（6.7）保護(hù)儀器。如果在測定樣品時有上述考慮，

建立校準(zhǔn)曲線測定標(biāo)準(zhǔn)樣品強(qiáng)度時需采取上述同樣措施，兩者測量條件應(yīng)保持一致。

薄膜標(biāo)樣根據(jù)支撐環(huán)的位置有兩種模式可以選擇。建議選擇與實(shí)際樣品測量面保持一致

的模式，即B模式（5.1注）。如果薄膜標(biāo)樣是A模式，應(yīng)在實(shí)際濾膜樣品表面上放一個與

薄膜標(biāo)樣支撐環(huán)厚度一致的圓環(huán)。如果儀器是下照式，在樣品杯內(nèi)放入圓環(huán)后再放入濾膜樣

品，測量面向下；對于上照式，則在樣品杯上先放入濾膜樣品，測量面朝上，再放入圓環(huán)后

固定，使實(shí)際樣品與薄膜標(biāo)樣受X射線照射的距離保持一致。

5

附錄A

（規(guī)范性附錄）

方法檢出限和測定下限

表A.1各元素特征譜線、方法檢出限和測定下限

石英濾膜聚丙烯濾膜

分析

元素檢出限測定下限檢出限測定下限

譜線

g/cm2g/m3g/cm2g/m3g/cm2g/m3g/cm2g/m3

NaK0.230.170.920.670.120.0840.460.34

MgK0.0520.0380.210.150.0850.0610.340.25

AlK0.0630.0460.250.180.0430.0310.170.12

SiK————0.0680.0490.270.20

PK0.0420.0300.170.120.0190.0140.0760.055

SK0.0270.0200.110.0780.0170.0120.0680.049

ClK0.0330.0240.130.100.0400.0290.160.12

KK0.0060.0040.0240.0170.0400.0290.160.12

CaK0.0190.0140.0760.0550.0220.0160.0880.064

ScK0.0060.0040.0240.0170.0100.0070.0400.029

TiK0.0370.0270.150.110.0170.0120.0680.049

VK0.0140.0100.0560.0400.0120.0090.0480.035

CrK0.0130.0090.0520.0380.0050.0040.0200.014

MnK0.0310.0220.120.0900.0160.0120.0640.046

FeK0.0420.0300.170.120.0190.0140.0760.055

CoK0.0200.0140.0800.0580.0080.0060.0320.023

NiK0.0150.0110.0600.0430.0040.0030.0160.012

CuK0.0120.0090.0480.0350.0100.0070.0400.029

ZnK0.0240.0170.100.0690.0060.0040.0240.017

AsK0.0230.0170.0920.0660.0320.0230.130.093

SeK0.0190.0140.0760.0550.0110.0080.0440.032

BrK0.0070.0050.0280.0200.0120.0090.0480.035

SrK0.0500.0360.200.140.0260.0190.100.075

CdL0.510.372.01.50.0630.0460.250.18

BaL0.0430.0310.170.120.0310.0220.120.090

PbL10.0410.0300.160.120.0290.0210.120.084

SnL0.0280.0200.110.0810.140.100.550.40

SbL0.0970.0700.390.280.130.100.530.39

注：以g/m3表示的數(shù)據(jù)按濾膜上負(fù)載有顆粒物的圓直徑為47mm、采樣體積為24m3計算。

6

附錄B

（資料性附錄）

ED-XRF測量條件示例

表B.1ED-XRF測量條件示例1

X射線管電壓

分組條件組條件特定峰（keV）或譜圖擬合分析活時間

元素及電流二次靶探測器

編號名稱(秒)

kVmA左邊界右邊界背景扣除

Na1Mg2524Al0.9911.090Yes高分辨400

Mg1Mg2524Al1.2031.304Yes高分辨400

Al2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合高分辨200

Si2Ca-Sc4015Ti1.6841.795Yes高分辨200

P2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合高分辨200

S2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合高分辨200

Cl2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合高分辨200

K2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合高分辨200

Ca2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Sc2Ca-Sc4015Ti譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Ti3Ti-Cr4015Fe譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

V3Ti-Cr4015Fe4.8635.035Yes標(biāo)準(zhǔn)200

Cr3Ti-Cr4015Fe譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Mn4Cu-Zn758Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Fe4Cu-Zn758Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Co4Cu-Zn758Ge6.8247.022Yes標(biāo)準(zhǔn)200

Ni4Cu-Zn758Ge7.3697.574Yes標(biāo)準(zhǔn)200

Cu4Cu-Zn758Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Zn4Cu-Zn758Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)200

Ga5Ga-As906KBr譜圖擬合高強(qiáng)度300

As5Ga-As906KBr10.40210.649Yes高強(qiáng)度300

Se6Rb_Re-Tl906Zr11.07511.332Yes高強(qiáng)度300

Br6Rb_Re-Tl906Zr11.76712.035Yes高強(qiáng)度300

Sr7Xe-La906Al2O313.95614.307Yes高強(qiáng)度200

Ag9Pd-In906CsI21.82622.327Yes高強(qiáng)度300

Cd9Pd-In906CsI22.81823.34Yes高強(qiáng)度300

Sn7Xe-La906Al2O324.87325.443Yes高強(qiáng)度200

Sb7Xe-La906Al2O325.93726.534Yes高強(qiáng)度200

Ba7Xe-La906Al2O331.6332.382Yes高強(qiáng)度200

Pb6Rb_Re-Tl906Zr12.50112.727Yes高強(qiáng)度300

注：X光管電流全自動調(diào)節(jié)；死時間50%；特征譜線：PbLβ；其他元素均為Kα。

7

表B.2ED-XRF測量條件示例2

X射線管電壓

分組條件測量時間特定峰（keV）或譜圖擬合最大能量

元素及電流二次靶探測器

名稱（s）(kV)

kVmA左邊界右邊界背景扣除

NaMg2524300Al0.9931.088Yes高分辨20

MgSi-K4015300CaF2譜圖擬合高分辨20

AlSi-K4015300CaF2譜圖擬合高分辨20

SiSi-K4015300CaF21.6861.793Yes高分辨20

PSi-K4015300CaF2譜圖擬合高分辨20

SSi-K4015300CaF22.2042.394Yes高分辨20

ClSi-K4015300CaF22.5342.704Yes高分辨20

KSi-K4015300CaF23.2003.400Yes高分辨20

CaTi-Cr758350Fe3.6133.768Yes標(biāo)準(zhǔn)20

TiTi-Cr758350Fe譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

VTi-Cr758350Fe譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

CrTi-Cr758350Fe譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

MnFe-Co758300Cu譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

FeFe-Co758300Cu譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

CoFe-Co758300Cu譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

NiCu-Zn758300Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

CuCu-Zn758300Ge7.8998.173Yes標(biāo)準(zhǔn)20

ZnCu-Zn758300Ge譜圖擬合標(biāo)準(zhǔn)20

GaGa-As906350KBr譜圖擬合高強(qiáng)度20

AsGa-As906350KBr譜圖擬合高強(qiáng)度20

SeRb_Re-Tl906400Zr譜圖擬合高強(qiáng)度20

BrRb_Re-Tl906400Zr譜圖擬合高強(qiáng)度20

RbRb_Re-Tl906400Zr譜圖擬合高強(qiáng)度20

SrXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

MoXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

CdXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

SbXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

TeXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

CsXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

BaXe-La906400Al2O3譜圖擬合高強(qiáng)度80

PbXe-La906400Al2O312.47812.75Yes高強(qiáng)度80

注：X光管電流全自動調(diào)節(jié)；死時間50%；特征譜線：PbLβ；其他元素均為Kα。

8

表B.3ED-XRF測量條件示例3

X射線管電壓

最大能量特定峰區(qū)間測量活時間死時間

元素及電流濾光片

(keV)（keV）（秒）（%）

kVA

Na15100-Auto0-200.84~1.249930

Mg15100-Auto0-201.05~1.459930

Al15100-Auto0-201.29~1.699930

Si15100-Auto0-201.54~1.949930

P15100-Auto0-201/81~2.219930

S15100-Auto0-202.11~2.519930

Cl15100-Auto2#0-202.42~2.829930

K15100-Auto2#0-203.11~3.519930

Ca15100-Auto2#0-203.49~3.899930

Ti50100-Auto0-404.30~4.709930

V50100-Auto0-404.74~5.149930

Cr50100-Auto0-405.22~5.629930

Mn50100-Auto0-405.70~6.109930

Fe50100-Auto0-406.20~6.609930

Co50100-Auto0-406.72~7.129930

Ni50100-Auto4#0-407.28~7.689930

Cu50100-Auto4#0-407.84~8.249930

Zn50100-Auto4#0-408.44~8.849930

As50100-Auto4#0-4010.30~10.809930

Se50100-Auto4#0-4010.96~11.469930

Sr50100-Auto4#0-4013.90~14.409930

Cd50100-Auto1#0-4022.72~23.529930

Ba50100-Auto1#0-4031.54~32.549930

Pb50100-Auto4#0-4012.38~12.889930

Sn50100-Auto1#0-4024.80~25.609930

Sb50100-Auto1#0-4025.88~26.689930

9

表B.4ED-XRF測量條件示例4

X射線管電壓及電流測量活特定峰區(qū)間（keV）強(qiáng)度計算用于譜圖擬

元素濾光片

kVA時間(s)左邊界右邊界方法合純元素

Cl2510000.3mm鋁片2002.522.72凈面積

K2510000.3mm鋁片2003.213.39純元素擬合Ar、K

Ca2510000.3mm鋁片2003.603.79凈面積

Sc2510000.3mm鋁片2004.004.20凈面積

Ti2510000.3mm鋁片2004.414.62純元素擬合Sc、Ti、Ba

V2510000.3mm鋁片2004.855.07純元素擬合Ti、V、Ba

Cr2510000.3mm鋁片2005.315.56純元素擬合V、Cr

Mn2510000.3mm鋁片2005.806.00純元素擬合Cr、Mn

Fe2510000.3mm鋁片2006.306.51純元素擬合Mn、Fe

Co4810000.1mm銀片2006.827.04純元素擬合Fe、Co

Ni4810000.1mm銀片2007.367.59凈面積

Cu4810000.1mm銀片2007.938.16凈面積

Zn4810000.1mm銀片2008.518.75凈面積

Ga4810000.1mm銀片2009.129.37凈面積

As4810000.1mm銀片20011.5711.86純元素擬合As、Br、Hg、Pb

Se4810000.1mm銀片20011.0711.33凈面積

Br4810000.1mm銀片20011.7612.03純元素擬合As、Br、Hg

Sr4810000.1mm銀片20013.9714.28凈面積

Mo4810000.1mm銀片20017.2417.60凈面積

Pd4810000.3mm銅片20020.8821.30凈面積

Ag4810000.3mm銅片20021.8422.29凈面積

Cd4810000.3mm銅片20022.8423.29凈面積

Sn4810000.3mm銅片20024.8825.40凈面積

Sb4810000.3mm銅片20025.9326.51凈面積

Te4810000.3mm銅片20027.0027.63凈面積

Cs2510000.3mm鋁片2004.194.39凈面積

Ba2510000.3mm鋁片2004.754.97純元素擬合Ti、Ba

Hg4810000.1mm銀片2009.8510.10凈面積

Tl4810000.1mm銀片20010.1210.38純元素擬合As、Tl、Pb

Pb4810000.1mm銀片20012.4712.75凈面積

10

表B.5ED-XRF測量條件示例5

X射線管測量活時間

元素特征譜線分組條件編號濾光片

電壓（kV）（s）

NaK120200

MgK120200

AlK120200

SiK120200

PK120200

SK120200

ClK120200

KK25025mTi200

CaK25025mTi200

ScK25025mTi200

TiK25025mTi200

VK25025mTi200

CrK25025mTi200

MnK25025mTi200

FeK25025mTi200

CoK25025mTi200

NiK25025mTi200

CuK25025mTi200

ZnK350500mAl200

GaK350500mAl200

AsK350500mAl200

SeK350500mAl200

SrK350500mAl200

CdL25025mTi200

BaL25025mTi200

PbL1350500mAl200

SnL25025mTi200

SbL25025mTi200

注：自動調(diào)節(jié)X射線管電流，以達(dá)到總計數(shù)率為100kcps。

11

表B.6ED-XRF測量條件示例6

特征射線管測量活

元素及分組X濾光片

譜線電壓（kV）時間（s）

ClK80.1mmAl200

K、Ca、Sc、Ti、V、CrK200.4mmAl200

Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Br、Sr、MoK

I、Ba、Hg、Tl、BiL350.4mmTi100

PbLβ1

Pd、Ag、Cd、Sn、SbK503.0mmTi400

注：風(fēng)冷端窗Mo靶，薄鈹窗X射線管，最大管電壓50kV，最大管電流2000A可調(diào)，最大功率50W，探

測器死時間<30%，濾光片包括0.1mmAl、0.4mmAl、0.4mmTi、3.0mmTi四種。

表B.7ED-XRF測量條件示例7

X射線管測量活時間

元素及分組組名濾光片介質(zhì)探測器

電壓(kV)電流A)（s）

Na、Mg<F-Si>53000氦氣高分辨300

Al、Si、P、S、Cl<P-Cl>91660Ti氦氣高分辨300

K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、

<Cr-Co>16930Al-50空氣標(biāo)準(zhǔn)300

Co、Fe、Mn、Ba

Cu、Ni、Zn、Pb、Se、

<Ni-Mo>50300Ag空氣標(biāo)準(zhǔn)300

Sr、Br、As

Cd、Sn、Sb<Tc-Sb>50300Cu-500空氣標(biāo)準(zhǔn)300

注：PbLβ；其他元素均為Kα。

12

附錄C

（資料性附錄）

方法精密度和方法準(zhǔn)確度

表C.1方法精密度匯總表（g/cm2）

實(shí)驗(yàn)室內(nèi)相實(shí)驗(yàn)室間相

重復(fù)性限再現(xiàn)性限

元素樣品編號平均值