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文檔簡介

1.定義

檢驗卡片是根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、圖樣、技術(shù)要求和工藝規(guī)范，對產(chǎn)品及其零、部件的質(zhì)量特性的檢測內(nèi)容、要求、手段作出規(guī)定的指導(dǎo)性文件。2.格式

按標(biāo)準(zhǔn)JB/T9165.2－1998之格式28，如表所示。一、檢驗卡片的定義與格式表

檢驗卡片格式與內(nèi)容

在工藝圖表中能方便地找到并使用檢驗卡片的內(nèi)容，表頭的填寫方法與工藝路線表相似，其它8項的填寫內(nèi)容如表4-38所示。表4-38檢驗卡片的主要內(nèi)容填寫示例空格號填寫內(nèi)容（1）、（2）該工序號、工序名稱按工藝規(guī)程填寫（3）按執(zhí)行該工序的車間名稱填寫（4）指該工序被檢項目，如軸徑、孔徑、形位公差、表面粗糙度等（5）指該工序被檢驗項目的尺寸公差及工藝要求的數(shù)值（6）執(zhí)行該工序檢驗所需的檢驗設(shè)備、工裝等（7）執(zhí)行該工序檢驗的方法，指抽檢或是頻次檢驗（8）填寫檢查操作要求二、填寫說明（1）檢驗項目：包括編號與名稱，其編號是根據(jù)檢驗項目的多少給出，如尺寸110max有二處，則檢驗項目中，編號寫“1～2”,項目寫“尺寸”。（2）技術(shù)要求：根據(jù)檢驗項目的內(nèi)容填寫，如尺寸（包括公差）、粗糙度、檢測指標(biāo)要求等。（3）檢驗手段：對于尺寸，應(yīng)填寫使用的器具及規(guī)格。如果是粗糙度，其檢測手段使用粗糙度比較樣塊，一般采用比較法。也有填寫檢測設(shè)備的；對于形位公差，一般是在平板上進行的，還需要填寫平板。形位公差的填寫依據(jù)《GB/T1958-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測規(guī)定》。（4）檢驗方案：填寫全檢還是抽樣檢驗，如果抽樣檢驗，要填寫檢查水平IL及接收質(zhì)量限AQL。二、填寫說明三、填寫示例檢驗項目技術(shù)要求檢測手段檢驗方案1～２、尺寸110max（二處）游標(biāo)卡尺寸0-150/0.02mmAQL=1.5、IL=II3～4、表面粗糙度

（二處）比較法AQL=1.5、IL=II5、尺寸外徑千分尺25-50/0.01mmAQL=1.5、IL=II6、尺寸37max游標(biāo)卡尺寸0-150/0.02mmAQL=1.5、IL=II7、絕緣電阻≥500MΩ兆歐表AQL=0.65、IL=II8、對地

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