檢驗(yàn)題庫(kù)含答案

檢驗(yàn)題庫(kù)

一、判斷題

1、正規(guī)量具廠家有合格證的卡尺買(mǎi)回來(lái)后可以直接使用測(cè)量零件（X）

2、0-200mm的游標(biāo)卡尺10mm處與150nlm處的誤差是不一樣的（J）

3、三坐標(biāo)的精度比數(shù)控機(jī)床的精度高（X）

4、內(nèi)徑千分量表比內(nèi)徑百分量表測(cè)量更準(zhǔn)確（X）

5、測(cè)量精確度是指測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)量塊的一致程度（X）

6、粗糙度儀校準(zhǔn)后就可以進(jìn)行零件粗糙度檢測(cè)了（X）

7、Rz是在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，輪廓峰頂線和輪廓谷底線之間的距離（X）

8、合格的三坐標(biāo)采用正確的方法測(cè)量平面度，實(shí)測(cè)出來(lái)的不是真實(shí)的平面度。（J）

9、由兩種或兩種以上的金屬，經(jīng)熔煉，燒結(jié)或其他方法組合而成并具有金屬特性的物質(zhì)叫

合金（X）

10、當(dāng)兩組元在液態(tài)時(shí)無(wú)限互溶，固態(tài)時(shí)有限互溶，發(fā)生共晶轉(zhuǎn)變，并形成共晶組織，這種

二元系相圖叫二元共晶相圖（J）

11、滲碳后出現(xiàn)網(wǎng)狀碳化物應(yīng)判定不合格（X）

12、如果被磁化的試件表面存在裂紋，使裂紋產(chǎn)生漏磁場(chǎng)的原因是裂紋具有高應(yīng)力。（X）

13、由磁粉探傷理論可知，磁力線在缺陷處會(huì)斷開(kāi)，產(chǎn)生磁極并吸咐磁粉。（X）

14、熒光磁粉檢測(cè)時(shí)采用的紫外線波長(zhǎng)范圍是510~550nm。（X）

15、紫外燈前安裝的濾光片是用來(lái)濾去不需要的紫外線.（J）

16、A型試片上的標(biāo)值15/50是指試片厚度為50um,人工缺陷槽深為15um。（V）

17、采用長(zhǎng)度和直徑相同的鋼棒和銅棒分別對(duì)同一鋼制筒形工件作芯棒法磁化，如果通過(guò)

的電流相同，則探傷靈敏度相同。（J）

18、交叉磁輾既可用于干法，又可用于濕法；既可用于連續(xù)法，又可用于剩磁法。（X）

19、磁化電流過(guò)大會(huì)產(chǎn)生偽顯示，其特征是：磁痕濃密清晰，沿金屬流線分布。（X）

20、淬火裂紋的磁痕特征是：磁痕濃度較高，多發(fā)生在試件上應(yīng)力容易集中的部位。如孔、

鍵及截面尺寸突變的部位。（V）

21、交流電磁柜只可用作局部退磁。（X）

22、波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。（X）（應(yīng)該是機(jī)械波）

23、由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。（J）

24、材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問(wèn)題。

（V）

25、一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。（義）

26、超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無(wú)關(guān)。（J）

27、超聲波的頻率越高，傳播速度越快。（X）

28、介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。（J）

29、頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。（X）

30、因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速

度。（X）

31、如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒（直徑〈人=與鋼鍛件中的聲速相同（X）（C細(xì)鋼棒=（E/P）%）

32、波的疊加原理說(shuō)明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。

（X）

33、具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)。（J）

34、材料中應(yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大，根據(jù)

這一特性，可用超聲波測(cè)量材料的內(nèi)應(yīng)力。（J）

35、材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。（X）（成反比）

36、超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。（X）

37、對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。（J）

38、在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。（V）（Z=P-C）

39、當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。（J）

（聲壓反射率也隨頻率增加而增加）

40、超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。（X）

41、超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。（X）

42、如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。（X）

43、如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。

（V）

44、200mm處84長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處中2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。（J）

45、球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。（V）

46、點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。（J）

47、雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。（X）

48、A型顯示探傷儀，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。（J）

49、調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度。（J）

（從而使熒光屏上回波間距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）

50、調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。（X）

51、工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。（X）

52、斜探頭楔塊前部和上部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。（X）

（目的是為了減少雜波）

53、利用IIW試塊上①50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。3

54、與HW試塊相比CSKTA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。（J）

55、調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性。（X）

（調(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也

不會(huì)改變水平線性）

56、盲區(qū)與始波寬度是同一概念。（X）

（盲區(qū)是指從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有

關(guān)）

57、為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。（

58、《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，應(yīng)當(dāng)接受特種設(shè)備安全監(jiān)

督管理部門(mén)依法進(jìn)行的特種設(shè)備安全監(jiān)察。（J）

59、耦合劑的用途是消除探頭與工件之間的空氣以利于超聲波的透射（V）

60、千分尺測(cè)微螺桿的移動(dòng)量一般為25nlm（J）

61、高度游標(biāo)尺可專(zhuān)門(mén)用來(lái)測(cè)量高度和劃線等。（J）

62、當(dāng)游標(biāo)卡尺尺身的0線與游標(biāo)上0線對(duì)準(zhǔn)時(shí)，游標(biāo)上的其它刻線都不與尺身刻線對(duì)準(zhǔn)。

（X）

63、百分表也可以用來(lái)測(cè)量表面粗糙度過(guò)大的工件。（X）

64、表面粗糙度屬微觀幾何何形狀誤差。（X）

65、若杠桿百分表的測(cè)頭球面已磨減平面時(shí)，則此表不能繼續(xù)使用。（V）

66、為了方便，我們可以用游標(biāo)卡尺的量爪當(dāng)作圓規(guī)等工具使用。（J）

67、千分尺在使用前，應(yīng)做歸零檢驗(yàn)。（J）

68、塞規(guī)材料的硬度略低于工件材料硬度，可以避免工件表面被拉傷（X）

69、用內(nèi)徑百分表測(cè)量?jī)?nèi)孔時(shí),必須擺動(dòng)內(nèi)徑百分表，所得最大尺寸是孔的實(shí)際尺寸.（X）

70、在進(jìn)行大批量生產(chǎn)中，長(zhǎng)度為25（+0.021/0）我們一般會(huì)選用游標(biāo)卡尺測(cè)量。（X）

71、050±0.015的內(nèi)孔直徑用內(nèi)徑千分表檢測(cè)。（J）

72、用內(nèi)徑千分尺檢測(cè)內(nèi)孔直徑時(shí)，可以只檢測(cè)一個(gè)方向。（X）

73、用三針?lè)蓽y(cè)螺紋小徑尺寸（X）

74、游標(biāo)卡尺是一種常用量具，能測(cè)量各種不同精度要求的零件。（X）

75、游標(biāo)卡尺尺身和游標(biāo)上的刻線間距都是1mm。（X）

76、千分尺可以分為內(nèi)徑千分尺、螺紋千分尺、公法線千分尺、深度千分尺等幾種。（V）

30、外徑千分尺測(cè)量精度通常都是0.05mm。（X）

二、選擇題（多選題/單選混合）

77、形狀公差包括（A、C）

A、平面度B、垂直度C、圓度D、平行度

78、測(cè)量過(guò)程包括下列哪些因素（A、B、C、D）

A、測(cè)量精確度B、測(cè)量方法C、測(cè)量對(duì)象D、計(jì)量單位

79、校準(zhǔn)的主要目的是測(cè)量被測(cè)值的（A）

A、測(cè)量不確定度B、靈敏度C、精度D、都不是

80、形位公差的包容原則是（C）

A、@B、⑦C、①D、①

81、內(nèi)螺紋中徑尺寸數(shù)值可用下列哪些量具測(cè)量（C）

A、螺紋通止規(guī)B、三針?lè)–、測(cè)長(zhǎng)儀D、內(nèi)徑千分尺

82、下圖直徑?95+0.3/0尺寸可用哪些量具測(cè)量？（B、C、D）

A、0-150游標(biāo)卡尺

B、75-100外徑千分尺

C、75-100公法線千分尺

D、75700葉片千分尺

83、下列粗糙度符號(hào)，表示用不去除材料的方法獲得的表面的是？（B）

A、\/B、VC、1）、\/

84、下列哪一條是磁粉優(yōu)于滲透探傷的地方：（D）

85、A、能檢出表面夾有外來(lái)材料的表面不連續(xù)性B、對(duì)單個(gè)零件檢驗(yàn)快

86、C、可檢出近表面不連續(xù)D、以上都是。

87、黑光燈的強(qiáng)度應(yīng)用什么測(cè)量？（A）

88、A、黑光輻照計(jì)B、照度計(jì)C、磁強(qiáng)計(jì)D、高斯計(jì)。

89、以下關(guān)于磁粉檢測(cè)時(shí)機(jī)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的：（A）

A、檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)選在機(jī)加工后，磨削前進(jìn)行；

B、檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)選在容易產(chǎn)生缺陷的各道工序后進(jìn)行；

C、檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)選在涂漆，電鍍等表面處理之前進(jìn)行；

D、對(duì)延遲裂紋傾向的材料，應(yīng)在焊后24小時(shí)進(jìn)行。

90、以下關(guān)于磁粉檢測(cè)安全防護(hù)的敘述中，錯(cuò)誤的是：（B）

A、使用干法探傷時(shí)，檢測(cè)區(qū)域應(yīng)保持通風(fēng)良好；

B、使用黑光燈時(shí)，人眼應(yīng)避免直接注視黑光光源，必要時(shí)應(yīng)戴上防護(hù)用的變色眼鏡;

C、安裝心臟起搏器者，不得從事磁粉檢測(cè)；

D、在附近有易燃易爆材料的場(chǎng)所，禁止使用觸頭法和通電法進(jìn)行磁粉檢測(cè)。

91、下列關(guān)于缺陷漏磁場(chǎng)的敘述，錯(cuò)誤的是（CD）。

A、漏磁場(chǎng)的大小與試件上總的磁通密度有關(guān)

B、漏磁場(chǎng)的大小與缺陷自身高度有關(guān)

C、磁化方向與缺陷垂直時(shí)漏磁場(chǎng)最小

D、以上都對(duì)

92、下列關(guān)于磁化方法和磁場(chǎng)強(qiáng)度的敘述中，錯(cuò)誤的是（ABD）。

A、在磁軟法中，磁極連線上的磁場(chǎng)方向垂直于連線

B、在觸頭法中，電極連線上的磁場(chǎng)方向平行于連線

C、在線圈法中，線圈軸線上的磁場(chǎng)方向與線圈軸線平行

D、在芯棒法中，磁場(chǎng)方向與芯棒軸線平行

93、在旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)磁化法中，不能采用下列哪種磁化電流。（ABD）

A、分別采用交流電和全波直流電

B、分別采用半波直流電和交流電

C、全部采用交流電但相位有差異

D、全部采用恒穩(wěn)直流電

94、以下關(guān)于特斯拉計(jì)的敘述，正確的是（ABC）

A、特斯拉計(jì)又稱(chēng)高斯計(jì)

B、特斯拉計(jì)的用途是測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度

C、特斯拉計(jì)的原理是霍爾效應(yīng)

D、特斯拉計(jì)可以測(cè)量磁化電流大小

95、以下關(guān)于紫外燈的敘述，正確是（BCD）

A、為延長(zhǎng)紫外燈的壽命，應(yīng)做到用時(shí)即開(kāi)，不用即關(guān)

B、電源電壓波動(dòng)對(duì)紫外燈壽命影響很大

C、有用的紫外光波長(zhǎng)范圍在320?400nm之間

D要避免紫外燈直射人眼

96、以下關(guān)于磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊的敘述正確的是（ABC）

A、磁粉探傷試塊不能用于確定磁化規(guī)范

B、磁粉探傷試塊不能用于確定有效磁化范圍

C、磁粉探傷試塊不能考察被檢工件表面磁場(chǎng)方向

D、磁粉探傷試塊不能檢驗(yàn)設(shè)備和磁懸液的綜合性能

97、下列有關(guān)濕法的敘述哪個(gè)是錯(cuò)誤的（BD）

A、采用水懸液時(shí)，應(yīng)進(jìn)行水?dāng)嘣囼?yàn)

B、在粗糙的表面上使用很合適

C、對(duì)細(xì)小缺陷檢出靈敏度高

D、對(duì)大批量工件進(jìn)行檢驗(yàn)不合適

98、下列關(guān)于剩磁法磁粉探傷的敘述，正確的是（ABD）

A、切斷磁化電流后施加磁懸液的方法叫作剩磁法

B、高矯頑力材料制成的零件可以用剩磁法探傷

C、剩磁法一般采用干法檢驗(yàn)

D、剩磁法對(duì)近表面缺陷檢出靈敏度低

99、用于磁粉探傷的磁粉應(yīng)具備的性能是（ACD）

A、磁導(dǎo)率高B、高剩磁C、無(wú)毒I）、頑磁性低

100、給工件退磁的方法是（BD）

A、給工件通電B、給工件加熱到居里點(diǎn)以上

C、在交流線圈中沿軸線緩慢取工件D、以上都是

101、超過(guò)人耳聽(tīng)覺(jué)范圍的聲波稱(chēng)為超聲波，它屬于（C）

A、電磁波B、光波C、機(jī)械波D、微波

102、對(duì)于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格等級(jí)人員，有權(quán)獨(dú)立判定檢測(cè)結(jié)果并簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告的是（D）

A、高級(jí)人員B、中級(jí)人員C、初級(jí)人員D、A和B都可以

103、某軸類(lèi)零件由兩個(gè)V型鐵支承其兩端的基準(zhǔn)外圓，用千分表測(cè)量軸上某一個(gè)回轉(zhuǎn)外圓,

其所顯示數(shù)值的變動(dòng)量是（D）

A、同軸度誤差值B、圓度誤差值C、位置度誤差值I）、圓跳動(dòng)誤差值

104、①25±0.015nm的軸，最佳檢測(cè)工具應(yīng)該是（C）。

A、0?150卡尺B、0?25千分尺C、25?50外徑千分尺

105、在千分尺中當(dāng)微分筒旋轉(zhuǎn)一圈時(shí)，測(cè)微螺桿就軸向移動(dòng)（C）mm

A、0.01B、0.1C、0.5

106、用來(lái)測(cè)量工件內(nèi)外角度的量具是（A）。

A、萬(wàn)能角度尺B、內(nèi)徑千分尺C、游標(biāo)卡尺D、量塊

107、三針測(cè)量是測(cè)量外螺紋（C）的一種比較精密的方法。

A、內(nèi)徑B、外徑C、中徑D、底徑

108、杠桿千分表與被測(cè)工件表面必須（B）否則會(huì)產(chǎn)生誤差。

A、平行B、垂直C、不垂直D、不平行

109、用帶有檢驗(yàn)圓盤(pán)的測(cè)量心棒插入孔內(nèi)，著色法檢驗(yàn)圓盤(pán)與端面的接觸情況，即可確定孔

軸線與端面的（A）誤差。

A、垂直度B,平面度C、圓跳度D、同軸度

110、千分尺的精確值是（B）mm

A、0.lmm