基于LK8810S的電路綜合測試版設(shè)計制作

2基于LK8810S的電路綜合測試版設(shè)計制作

芯片原理圖主要芯片引腳圖2.測試項目直流測試交流測試放大倍數(shù)測試DUT原理接線圖--7---6-三．項目簡科技創(chuàng)新的源頭是芯片，卡脖子技術(shù)的核心是芯片，發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)是強(qiáng)國必經(jīng)之路。集成電路細(xì)分領(lǐng)域包括集成電路設(shè)計、集成電路制造、集成電路測試封裝。集成電路測試是對集成電路或模塊進(jìn)行檢測，通過測量對于集成電路的輸出回應(yīng)和預(yù)期輸出比較，以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程，是驗證設(shè)計、監(jiān)控生產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。集項目簡成電路封裝行業(yè)則屬于輕資產(chǎn)，屬于產(chǎn)業(yè)下游，目前國內(nèi)封測領(lǐng)域已經(jīng)處于世界第一梯隊。2016-2019年來，封裝測試領(lǐng)域保持則15%以上增速。芯片研發(fā)以及生產(chǎn)過程中，測試的成本也是重要的指標(biāo)之一，降低測試成本，可以有效地提高利潤。結(jié)合國家政策導(dǎo)向，順應(yīng)市場需求，本創(chuàng)新項目主要是面向集成電路封測行業(yè)，結(jié)合待測芯片的功能設(shè)計出該芯片的專用測試板，并以此為基礎(chǔ)設(shè)計測試代碼，從而能夠完成芯片功能測試的大部分流程，降低芯片測試的成本。表1我國核心集成電路國產(chǎn)芯片占有率（%）數(shù)據(jù)來源前瞻產(chǎn)業(yè)學(xué)院）基于國內(nèi)市場，面向芯片自主研發(fā)和制備生產(chǎn)的企業(yè),實現(xiàn)開發(fā)階段芯片功能測試以及生產(chǎn)階段芯片功能測試。芯片LM358里面包括有兩個高增益、獨立的、內(nèi)部頻率補(bǔ)償?shù)碾p運放，適用于電壓范圍很寬的單電源，而且也適用于雙電源工作方式，它的應(yīng)用范圍包括傳感放大器、直流增益模塊和其他所有可用單電源供電的使用運放的地方使用。3、SN74HC138是高速硅柵CMOS解碼器，適合內(nèi)存地址解碼或數(shù)據(jù)路由應(yīng)用。74HC138作用原理于高性能的存貯譯碼或要求傳輸延遲時間短的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)，在高性能存貯器系統(tǒng)中，用這種譯碼器可以提高譯碼系統(tǒng)的效率。二．LM358編程代碼 void

AC_IHPUT_TEST()

{

Hprintf("ACINPUTTEST\n");

Mprintf(“兩倍\n")；

reset();

wait(50);

_on_relay(1);

turn_switch("on”，1,0)；

x1-0;

x2-0;

For(i-0;i<10;i++)

{

_nset_uave(1,1,1000,1)；

set_dist_range1(1,1,1)；

wait(50);//延時50ns

x1=x1+

dist

rns1()=1000；

x2=x2+_distortion1();

}//測量十次失真度升系加

x1=x1/10；

x2=x2/10;

Hprintf("rns=%2.2fmv\t

,x1);

Mprintf("distortion=%2.2f\n"，x2)；

Mprintf(“三倍\n”);

reset();

_wait(50);

set_logic_level(2,0,0,0)；

_on_Fun_pin(1,0)；

_sel_dru_pin(1,0);

set_drvpin("H",1,0);

turn_switch("on",2,0);

wait(50);

}

void

DC_INPUT_TEST()

{

Mprintf("DCINPUT

TEST\n");

Mprintf(“兩倍\n")；

reset();

_wait(50);

_set_logic_leve1(2,0,0,0);

_set_drupin("H",1,0)；

_turn_switch("on",1,0);

wait(50);

X=read_pin_voltage(2,1);

Mprintf("OUT=2.3FU\n"x)；

Mprintf("三倍\n");

reset();

wait(50);

_set_logic_level(2,0,0,0);

_on_fun_pin(1,0):

_seldru_pin（1,0);

_set_drupin("H"1,0)；

_turn_switch("on",2,0):

wait(50);

}四．LM358測試結(jié)果五、74HC138芯片引腳圖六、測試項目1、輸入輸出引腳開短路測試2、芯片輸出引腳高低電平測試3、芯片功能測試七、DUT原理接線圖八、74HC138程序代碼voidPASCALSlSN74HC138(){ G_2A=12; G_2B=13; G1=14; A=9; B=10; C=11; Y[0]=1; Y[1]=2; Y[2]=3; Y[3]=4; Y[4]=5; Y[5]=6; Y[6]=7; Y[7]=8;_reset(); Openshort(); Function(); _wait(5);// testsum.passbin= ;//合格發(fā)給機(jī)械手Bin}float_read_pin_voltage(unsignedintpin_number,unsignedintchanel){floatvout;_on_pmu_pin(pin_number);switch(chanel){case1:SUBPORT[113]|=0xc0; _outsubport(0x71,SUBPORT[113]);SUBPORT[124]|=0x03;_outsubport(0x7c,SUBPORT[124]);_wait(5);vout=_ad_conver(2,2);break;case2:SUBPORT[115]|=0xc0; _outsubport(0x73,SUBPORT[115]);SUBPORT[124]|=0x0c;_outsubport(0x7c,SUBPORT[124]);_wait(5); vout=_ad_conver(4,2);break;default:vout=0.0;break;}_off_pmu_pin(pin_number);return(vout);}voidOpenshort(){floatV[17];inti; _on_vpt(1,1,0); _wait(5);Mprintf("\n.........Openshorttest............\n");for(i=1;i<15;i++) { V[i-1]=_pmu_test_iv(i,2,100,2); if(V[i-1]<1.2&&V[i-1]