材料科學(xué)研究方法智慧樹知到期末考試答案章節(jié)答案2024年青島理工大學(xué)

材料科學(xué)研究方法智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年青島理工大學(xué)差示掃描量熱分析根據(jù)所用測量方法的不同

，可以分類為熱流型DSC

與

功率補(bǔ)償型DSC。（

）

答案:對當(dāng)自旋體系存在自旋-自旋耦合時，核磁共振譜線發(fā)生分裂。（

）

答案:對TG是在控制溫度變化情況下，以溫度（或時間）為橫坐標(biāo)，以樣品與參比物間溫差為零所需供給的{熱量}為縱坐標(biāo)所得的掃描曲線。(

)

答案:錯差示掃描量熱分析是在程序控溫條件下，測量輸入到物質(zhì)與參比物的功率差與溫度的關(guān)系的方法，其縱坐標(biāo)單位為mw或mw/mg

。（

）

答案:對晶體沿著一定方向裂開成光滑平面的性質(zhì)稱為解理，裂開的面稱為解理面。解理面一般平行于晶面。許多晶體都具有解理，但解理的方向、組數(shù)及完善程度不一樣，所以解理是鑒定晶體的一個重要依據(jù)。（

）

答案:對碳酸鈣熱重分析測試時，使用空氣氣氛、二氧化碳?xì)夥蘸驼婵諝夥账鶞y試的結(jié)果應(yīng)該是一樣的

（

）

答案:錯景深是指像平面固定時（像距不變），物平面前后移動，能成清晰像時，物平面前后移動的最大距離Df。（

）

答案:對原子光譜分析儀中的原子化器的作用是把樣品原子汽化為單個原子，并將其外層電子激發(fā)到高能態(tài)。(

)

答案:對電磁透鏡的分辨率由衍射效應(yīng)和球面像差來決定，球差是限制電磁透鏡分辨本領(lǐng)的主要因素。（

）

答案:對自旋-自旋弛豫，也稱為縱向弛豫。高能磁核將能量傳遞給鄰近低能態(tài)同類磁核的過程。（

）

答案:錯屏蔽常數(shù)與原子核所處的化學(xué)環(huán)境無關(guān)。（

）

答案:錯隨著外加磁場強(qiáng)度增加，則發(fā)生核的能級躍遷時需要的能量也相應(yīng)增大。（

）

答案:對電子探針分析中，線分析用于觀察元素在選定微區(qū)內(nèi)濃度分布。（

）

答案:錯在紅外光譜中，完全自由取向的分子所散射的光也可能是偏振的，因此一般在紅外光譜中用退偏振比(或稱去偏振度)ρ

表征分子對稱性振動模式的高低。（

）

答案:錯勞厄方程是確定

X射線衍射方向的基本方程，常用與晶體取向測定和晶體對稱性的研究。（

）

答案:對氣相色譜增加柱長可以提高分離度，因此在應(yīng)用中要盡量提高色譜柱的長度。（

）

答案:錯熱膨脹系數(shù)是材料的主要物理性質(zhì)之一，它是衡量材料的熱穩(wěn)定性好壞的一個重要指標(biāo)。（

）

答案:對德拜相機(jī)直徑一般為(

)。

答案:114.6mm;57.3mm拉曼光譜低波數(shù)方向的測定范圍寬(25cm

-1

)，有利于提供重原子的振動信息。比紅外光譜有更好的分辨率。（

）

答案:對X射線管不同管電壓下的連續(xù)譜存在的一個最小的頻率值，為短波限。（

）

答案:錯某種物質(zhì)的多晶體衍射線條的（

），是該種物質(zhì)的特征，因而可以成為鑒別物相的標(biāo)志。

答案:數(shù)目、位置和強(qiáng)度水泥凈漿水化后進(jìn)行XRD測試，其中那種物質(zhì)不能在XRD圖譜上出現(xiàn)

（

）

答案:CSH凝膠同名的正、

倒點(diǎn)陣基矢的點(diǎn)乘積為（

）。

答案:1以下屬于吸熱行為的是（

）

答案:玻璃化轉(zhuǎn)變透射電鏡一般不具備的功能是（

）

答案:材料內(nèi)部原子結(jié)構(gòu)與排列分析納米壓痕為現(xiàn)代剛發(fā)展的一種新的測試技術(shù)，利用該設(shè)備可能獲得材料下列哪種技術(shù)指標(biāo)（

）

答案:材料微區(qū)的彈性模量已知醇分子中化學(xué)鍵O－H伸縮振動吸收峰位于2.77μm，計算O－H鍵的力常數(shù)K.(

)

答案:7.21N·cm-1用于衍射分析的X射線波長范圍為（

）。

答案:0.05~0.25nm斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光（

）之差稱為拉曼位移。

答案:頻率激發(fā)限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問題。(

)

答案:對原子力顯微鏡利用原子力來實現(xiàn)顯微觀察，與導(dǎo)電無關(guān)?？朔薙TM不能測量不導(dǎo)電樣品的缺點(diǎn)，實現(xiàn)了對絕緣體原子級的觀察。（

）

答案:對X射線譜包括的2類信息是：角度、譜線強(qiáng)度。（

）

答案:對在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙，稱為中值孔徑。（

）

答案:錯自旋-晶格弛豫，也稱為橫向弛豫。高能磁核通過與周圍粒子之間的相互作用將能量傳遞給周圍環(huán)境，而自身回到低能態(tài)的過程。（

）

答案:錯由于試樣本身對X射線的吸收，使衍射強(qiáng)度的實測值與計算值不符，因此需用吸收因數(shù)對強(qiáng)度進(jìn)行修正。（

）

答案:對在水泥基材料中，平均孔徑越小，抗?jié)B性和耐久性越好。故在壓汞測試中，單位壓力變化時，進(jìn)汞量變化率較大時對應(yīng)的孔半徑即為平均孔半徑。（

）

答案:錯化學(xué)位移是由于核外電子云密度不同而造成的，某種同位素核因處于不同的化學(xué)化境（不同的官能團(tuán)），其核磁共振譜線位置是不同的。（

）

答案:對對于圓柱試樣，當(dāng)

變化時，溫度因數(shù)與吸收因數(shù)的變化趨勢相反，二者的影響可大致抵消，對強(qiáng)度要求不很精確的分析，可同時略去。（

）

答案:對紅外光譜在化學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用是多方面的。它不僅用于結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)研究，如確定分子的空間構(gòu)型，求出化學(xué)鍵的力常數(shù)、鍵長和鍵角等；而且廣泛地用于化合物的定性、定量分析和化學(xué)反應(yīng)的機(jī)理研究等。但是紅外光譜應(yīng)用最廣的還是未知化合物的結(jié)構(gòu)鑒定。（

）

答案:對影響多晶體衍射方向的其他因數(shù)主要有多重因數(shù)P

、

吸收因子A(θ)

和

溫度因子e-2M。（

）

答案:錯在拉曼光譜中，分子振動要產(chǎn)生位移也要服從一定的選擇定則，也就是說只有伴隨分子極化度發(fā)生變化的分子振動模式才能具有拉曼活性，產(chǎn)生拉曼散射。（

）

答案:對當(dāng)X射線照射到一個原子上時，其振動電場將使原子中的原子核與電子都發(fā)生振動而輻射電磁波，原子核的散射強(qiáng)度不可忽略不計。（

）

答案:錯核磁共振(nuclear

magnetic

resonance,

NMR)是指在強(qiáng)磁場下，電磁波與原子核自旋之間產(chǎn)生相互作用的物理現(xiàn)象。（

）

答案:對二次電子信號：主要用于分析樣品的表面形貌。因它只能從樣品表面層5～10nm深度范圍內(nèi)被入射電子束激發(fā)出來。（

）

答案:對電磁透鏡分辨極限d=0.61λ/α

增大電磁透鏡孔徑半角，可以使d減小，但將引起球差急劇增大；提高電鏡工作電壓u，可以使λ降低，從而提高電磁透鏡的分辨率。（

）

答案:對非晶物質(zhì)衍射圖由少數(shù)漫散射峰組成，由此來鑒別物質(zhì)屬于晶態(tài)或非晶態(tài)，非晶物質(zhì)中出現(xiàn)部分晶態(tài)物質(zhì)時，會在漫散射峰上疊加明銳結(jié)晶峰。（

）

答案:對把一特定殼層的電子擊出所需要的入射光最短波長，為吸收限。（

）

答案:錯用來進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的X射線學(xué)分支是X射線衍射學(xué)。（

）

答案:對電子對X射線散射分為兩種情況，

一種是受原子核束縛較緊的電子，X射線作用后，該電子發(fā)生振動，向空間輻射與入射波頻率相同的電磁波，由于波長、頻率相同，會發(fā)生相干散射

和

另一種X射線作用在束縛電子上，產(chǎn)生康普頓效應(yīng)---非相干散射，產(chǎn)生背底。

（

）

答案:對相差顯微鏡和微分干涉相差顯微鏡都可以用于觀測無色透明的標(biāo)本。

（

）

答案:對X射線線掃描儀中的掃描方式主要有光柵掃描和

角光柵掃描。（

）

答案:對非彈性散射機(jī)制主要有（

）

。

答案:聲子激發(fā);等離子激發(fā);單電子激發(fā)當(dāng)X射線發(fā)生裝置是Cu靶，濾波片應(yīng)選Mo靶。(

)

答案:錯每一種晶體物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對應(yīng)的。(

)

答案:對多相試樣的衍射花樣是由所含物質(zhì)的單獨(dú)物相衍射花樣簡單疊加而成。(

)

答案:對通過提高電鏡什么技術(shù)指標(biāo)，可使透射電鏡對較厚樣品觀測（

）

答案:電壓為有效對物質(zhì)含量進(jìn)行XRD定量分析，在試驗過程中應(yīng)采取哪種措施（

）

答案:減少X射線掃描步長材料孔結(jié)構(gòu)對其性能產(chǎn)生了至關(guān)重要的影響，采用壓汞法測試材料，可獲得下列哪種參數(shù)（

）

答案:材料孔徑分布在空間點(diǎn)陣中可以作出相互平行且間距相等的一組平面，使所有的節(jié)點(diǎn)均位于這組平面上，各平面的節(jié)點(diǎn)分布情況完全相同，這樣的節(jié)點(diǎn)平面稱為（

）。

答案:晶面能譜儀主要用于檢測被測材料微區(qū)在高能電子作用下產(chǎn)生的（

）

答案:X

射線頻率為了保護(hù)人體健康，在進(jìn)行X射線分析應(yīng)該對X射線進(jìn)行防護(hù)，下列哪種元素可以作為X射線的屏蔽材料（

）

答案:鉛高效液相色譜不適合下列哪類物質(zhì)的分析（

）

答案:氣體布拉格方程解決了X射線衍射方向問題，即滿足布拉格方程的晶面將參與衍射，但能否產(chǎn)生衍射花樣還取決于衍射（

）。

答案:強(qiáng)度紅外光譜為吸收光譜，拉曼光譜為（

）光譜。

答案:散射某一質(zhì)子吸收峰出現(xiàn)的位置與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)質(zhì)子吸收出現(xiàn)的位置之間的差異稱為（

）

答案:化學(xué)位移以下元素?zé)o法用XPS進(jìn)行定量分析的是（

）

答案:H以下不是影響基團(tuán)頻率位移因素的是（

）

答案:納米效應(yīng)X射線衍射中，只有晶面間距大于波長的（

）的晶面才能產(chǎn)生衍射。

答案:一半異名的正、倒點(diǎn)陣基矢的點(diǎn)乘積為（

）。

答案:0僅當(dāng)射向相鄰原子面上的入射光程差為波長λ的（

）時，相鄰晶面的反射波才能干涉加強(qiáng)形成衍射線，產(chǎn)生衍射。

答案:整數(shù)倍光電效應(yīng)中出射光電子的能量僅與入射光子的能量及原子軌道結(jié)合能有關(guān)，當(dāng)固定激發(fā)源能量時，其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān)。因此，我們可以根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。（

）

答案:對重復(fù)掃描可以消除雜質(zhì)對DSC測試的干擾。（

）

答案:對拉曼光譜為散射光譜。當(dāng)一束頻率為vo的入射光照射到氣體、液體或透明晶體樣品上時，絕大部分可以透過，大約有0.1％的入射光與樣品分子之間發(fā)生非彈性碰撞，即在碰撞時有能量交換，這種光散射稱為拉曼散射。（

）

答案:對經(jīng)濾波后的X射線是相對的單色光。(

)

答案:對單晶體電子衍射花樣是規(guī)則的衍射斑點(diǎn)組成。

（

）

答案:對TG熱失重曲線的標(biāo)注常常需要參照DTG曲線，DTG曲線上一個谷代表一個失重階段，而拐點(diǎn)溫度顯示的是失重最快的溫度。（

）

答案:對衍射強(qiáng)度是指絕對強(qiáng)度。（

）

答案:錯背散射電子是被入射電子轟擊出來的樣品核外電子。（

）

答案:錯硅酸鹽類樣品在進(jìn)行熱分析時，能選用剛玉材質(zhì)的樣品坩堝。（

）

答案:錯從陰極發(fā)出的電子經(jīng)高壓加速到達(dá)陽極靶材時，由于單位時間內(nèi)到達(dá)的電子數(shù)目極大，而且達(dá)到靶材的時間和條件各不相同，并且大多數(shù)電子要經(jīng)過多次碰撞，能量逐步損失掉，因而出現(xiàn)連續(xù)變化的波長譜，稱為特征X射線譜。

（

）

答案:錯X射線衍射分析時，如果粉末尺寸太小，則會引起衍射線寬化。（

）

答案:對兩種聚合物以分子狀態(tài)相容時，將保持各自的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度不變。（

）

答案:錯拉曼光譜是一個散射過程，因而任何尺寸、形狀、透明度的樣品，只要能被激光照射到，就可直接用來測量。（

）

答案:對Cr為立方晶系，ABC晶面在X、Y、Z坐標(biāo)軸的截距分別為1/2,1,1，其晶面指數(shù)為（211）。（

）

答案:對利用原子序數(shù)造成的襯度變化可以對各種金屬和合金進(jìn)行定性的成分分析。重元素區(qū)域：圖像上是暗區(qū)；輕元素區(qū)域：圖像為亮區(qū)。（

）

答案:錯當(dāng)入射光為自然光時，非均質(zhì)體能改變?nèi)肷涔獠ǖ恼駝犹攸c(diǎn)，但當(dāng)入射光為偏光時，其不能改變?nèi)肷涔獠ǖ恼駝臃较颉＃?/p>

）

答案:錯連續(xù)X射線譜在短波方向有一個波長極限，稱為短波限λ0，它是由光子一次碰撞就耗盡能量所產(chǎn)生的X射線，與管電壓及光子所攜帶的能量有關(guān)。（

）

答案:錯選擇小的接受光欄狹縫寬度，可以提高接受分辨率，但會降低接受強(qiáng)度。(

)

答案:對只要是體心點(diǎn)陣，則立方晶系、正方晶系、斜方晶系，系統(tǒng)消光規(guī)律是相同的。（

）

答案:對隨X射線管的電壓升高，λ0和λm都隨之減小。(

)

答案:對壓汞測試的步驟包括第一次進(jìn)汞、退汞和第二次進(jìn)汞。（

）

答案:對大量實驗證明，X射線具有波動性和微粒性的雙重性，即波粒二象性。（

）

答案:對布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強(qiáng)度。(

)

答案:對由于樣品中不同位相的衍射條件不同而造成的襯度差別叫衍射襯度。（

）

答案:對當(dāng)一定頻率的紅外光照射分子時，如果分子中某個基團(tuán)的振動頻率和它一樣，二者就會產(chǎn)生共振。此時光的能量通過分子偶極矩的變化而傳遞給分子，這個基團(tuán)就吸收一定頻率的紅外光，產(chǎn)生振動躍遷。（

）

答案:對差熱分析是在程序控溫條件下，測量樣品坩堝與參比坩堝間的溫度差與溫度的關(guān)系的方法。（

）

答案:對從陰極發(fā)出的電子在高壓加速后，如果電子的能量足夠大而將陽極靶原子中內(nèi)層電子擊出留下空位，原子中其他層電子就會躍遷以填補(bǔ)該空位，同時將多余的能量以X射線光子的形式釋放出來，結(jié)果得到具有固定能量，頻率或固定波長的特征X射線，稱為特征X射線譜。（

）

答案:對波譜儀有旋轉(zhuǎn)式波譜儀和直進(jìn)式波譜儀。（

）

答案:對影響透鏡分辨率的本領(lǐng)的因素有

波長，介質(zhì)

和孔徑半角。（

）

答案:對當(dāng)X射線的管壓恒定，增加管流，連續(xù)X射線譜的相對強(qiáng)度一致增高，但最大、最小波長數(shù)值大小不變（

）

答案:對德拜法底片的安裝方式可分以下幾種（

）。

答案:不對稱裝法;正裝法;反裝法X射線定量分析的方法有(

)。

答案:外標(biāo)法;內(nèi)標(biāo)法氣相色譜中的載氣具有運(yùn)載樣品分子和選擇性分離的雙重作用。（

）

答案:錯X射線粉末衍射可以對混合物進(jìn)行物相分析。（

）

答案:對費(fèi)米能級是材料中電子的一個真實能級。(

)

答案:錯影響掃描電鏡分辨率的三大因素是：電子束的束斑大小、檢測信號類型及檢測部位的原子序數(shù)。（

）

答案:對樣品含有水分時，對其紅外光譜譜圖影響較小。（

）

答案:錯在透射電鏡中主要有三種光闌：聚光鏡光闌、物鏡光闌、選區(qū)光闌。（

）

答案:對關(guān)于電磁透鏡分辨本領(lǐng)的影響因素中，敘述不正確的是（

）

答案:幾何像差是因為透鏡磁場幾何形狀上的缺陷而造成的；主要指球差、像散與色差。隧道掃描顯微鏡主要利用下面哪種原理進(jìn)行微觀成像（

）

答案:隧道電流成像下列幾種測試方法，哪項可實現(xiàn)對樣品元素組成測定？（

）

答案:EDS通過改變（

），可使得X射線特征譜線的波長發(fā)生改變。

答案:陽極靶靶材以下不屬于影響掃描電鏡分辨率的是（

）

答案:二次電子產(chǎn)生效率原子力顯微鏡作為一種高分辨率顯微系統(tǒng)，其對樣品的要求是（

）

答案:樣品具有高表面光潔度波譜儀主要用于檢測被測材料微區(qū)在高能電子作用下產(chǎn)生的（

）

答案:特征X射線石英在573度時由α石英轉(zhuǎn)化為β石英，其過程發(fā)生吸熱反應(yīng)，采用下面哪種測試手段能觀測到該相變（

）

答案:DSCX射線可用于材料的元素分析，它主要利用了X射線的哪種功能（

）

答案:X射線被物質(zhì)吸收效應(yīng)下面哪種儀器可用于材料的表面元素分析

（

）

答案:X射線光電子能譜儀以下不是紅外光譜測試時固體試樣制備方法的是（

）

答案:直接涂抹法X射線在穿透物質(zhì)后強(qiáng)度衰減，除大部分是因為吸收作用，還有一部分是（

）

答案:散射在熱分析中，DSC曲線與DTA曲線形狀相似，當(dāng)物體吸熱時，有（

）

答案:DSC曲線為上凸峰，

DTA曲線為下凹峰TMS分子中有12個氫核,所處的化學(xué)環(huán)境完全相同，在譜圖上是（

）個尖峰。

答案:1掃描電子顯微鏡主要利用下面哪種原理進(jìn)行微觀成像（

）

答案:透射電子成像某物質(zhì)能吸收紅外光波,

產(chǎn)生紅外吸收譜圖,

其分子結(jié)構(gòu)是（

）

答案:發(fā)生偶極矩的凈變化第一類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線位移，第二類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線線形變化，第三類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線強(qiáng)度（

）。

答案:降低電子波的波長較短，軸對稱非均勻磁場能使電子波聚焦。其波長取決于電子運(yùn)動的速度和質(zhì)量，電子波的波長要比可見光?。?/p>

）個數(shù)量級。

答案:5核磁共振氫譜規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品四甲基硅δTMS

=（

）。

答案:0一組晶面間距從大到小的順序：2.02?，1.43?，1.17?，1.01

?，0.90

?，0.83?，0.76

?……，用波長為λkα=1.94?的鐵靶照射時，產(chǎn)生衍射的晶面組有(

)個。

答案:4壓汞過程中，隨著外界壓力的增加，汞進(jìn)入更小的孔。

答案:對低壓系統(tǒng)主要用來注汞和測量（）的結(jié)構(gòu)。

答案:大孔中值孔徑指的是在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙。

答案:錯綜合考慮實驗結(jié)果可靠性和成本，壓汞試驗建議樣品數(shù)量取為（）個

答案:3貫通孔和和墨水瓶效應(yīng)的連通孔，可以通過第一次進(jìn)汞曲線和第一次退汞曲線得到。第二次進(jìn)汞時，有效孔徑的大小分布以及孔結(jié)構(gòu)其它參數(shù)可獲得。

答案:對壓汞試驗注意事項

答案:操作時要穿工作服并配戴口罩及乳膠手套;保持室內(nèi)溫度低于25℃且處于良好的通風(fēng)狀態(tài);廢汞及被汞污染的樣品應(yīng)用水密封;出現(xiàn)汞滲漏應(yīng)立即清理并灑硫磺覆蓋壓力通過液壓油傳遞給汞，升壓方式有連續(xù)掃描加壓和步進(jìn)掃描加壓兩種方式

答案:對壓汞和氣體吸附法所測定的孔是開口孔，閉口孔因流體不能滲入，不在測試范圍內(nèi)。

答案:對使用壓汞儀測定水泥基材料的孔隙結(jié)構(gòu)，需要建立試驗數(shù)據(jù)與孔結(jié)構(gòu)之間的相關(guān)關(guān)系，因而首先要對水泥基材料的孔隙系統(tǒng)進(jìn)行必要的假設(shè)——孔結(jié)構(gòu)柱狀毛細(xì)管系統(tǒng)假定，即認(rèn)為材料中的孔隙是相互連通的具有一定半徑的圓柱狀孔隙。

答案:對總孔隙率高的混凝土，滲透性一定高。

答案:錯核磁共振波譜是物質(zhì)與電磁波相互作用而產(chǎn)生的，屬于吸收光譜（波譜）范疇。

答案:對核自旋磁場與外磁場相互作用產(chǎn)生進(jìn)動稱為簡諧振動。

答案:錯所有的原子核均能產(chǎn)生核磁共振

答案:錯自旋偶合不影響化學(xué)位移，但會使吸收峰發(fā)生裂分，使譜線增多。

答案:對O2能產(chǎn)生紅外吸收。

答案:錯遠(yuǎn)紅外區(qū)：用來研究O-H、N-H及C-H鍵的倍頻吸收。

答案:錯紅外光譜目前多數(shù)用在鑒別樣品作定性分析，定量分析不僅需要標(biāo)樣，同時也難精確，更主要的是，由于大多數(shù)帶的位置集中于指紋區(qū)使得譜帶重疊現(xiàn)象頻繁，解疊困難。

答案:對當(dāng)弱的倍頻峰位于某強(qiáng)的基頻峰附近時，它們的吸收峰強(qiáng)度常常隨之增加，或發(fā)生譜峰分裂。這種振動耦合稱為費(fèi)米共振。

答案:對物質(zhì)吸收電磁輻射產(chǎn)生紅外光譜應(yīng)滿足兩個條件：一是輻射光子的能量與振動躍遷所需能量相等；二是輻射與物質(zhì)之間有偶合作用。

答案:對拉曼活性取決于振動中極化度是否變化，只有極化度有變化的振動才是拉曼活性的。

答案:對紅外光譜與物質(zhì)結(jié)構(gòu)有關(guān)，不同分子吸收紅外線選擇性不同，故可用紅外光譜法檢驗基團(tuán)，鑒定化合物及定量測定。

答案:對斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光頻率之差為化學(xué)位移。

答案:錯紅外光譜的強(qiáng)度與分子振動時偶極矩變化的平方成正比。

答案:對拉曼位移的大小與入射光的頻率無關(guān)，只與分子的能級結(jié)構(gòu)有關(guān)。

答案:對熱機(jī)械分析法：在程序控制溫度下測量物質(zhì)的力學(xué)性質(zhì)隨溫度(或時間)變化的關(guān)系。

答案:對熱重曲線的基線漂移是指試樣沒有變化而記錄曲線卻指示出有質(zhì)量變化的現(xiàn)象，它造成試樣失重或增重的假象。

答案:對熱分析的幾大支柱（）。

答案:熱機(jī)械分析（TMA與DMA）;差熱分析（DTA）;示差掃描量熱分析（DSC）;熱重分析（TG）根據(jù)測量方法不同，DTA分為：功率補(bǔ)償型差示掃描量熱法和熱流型差示掃描量熱法。

答案:錯差熱分析原理：將溫差熱電偶的一個熱端插在被測試樣中，另一個熱端插在參比物中，試樣和參比物同時升溫，測定升溫過程中兩者溫度差，得到溫度差隨溫度變化關(guān)系曲線。

答案:對熱重分析時氣相產(chǎn)物的逸出必然要通過試樣與外界空間的交界面，深而大的坩堝或者試樣充填過于緊密都會妨礙氣相產(chǎn)物的外逸，因此反應(yīng)受氣體擴(kuò)散速度的制約，結(jié)果使熱重曲線向低溫側(cè)偏移。

答案:錯熱電效應(yīng)：兩種不同材料的金屬絲組成回路，結(jié)點(diǎn)處溫度T和T0不相同時，可把熱能轉(zhuǎn)換成電能。

答案:對微商熱重分析又稱導(dǎo)數(shù)熱重分析(Derivativethermogravimetry，簡稱DTG)，它是記錄熱重曲線對溫度或時間的一階導(dǎo)數(shù)的一種技術(shù)。

答案:對是在程序溫度(升／降／恒溫及其組合)過程中，由熱天平連續(xù)測量樣品重量的變化并將數(shù)據(jù)傳遞到計算機(jī)中對時間／溫度進(jìn)行作圖，即得到熱重曲線。

答案:對線膨脹系數(shù)α為溫度升高1℃時，沿試樣某一方向上的相對伸長(或收縮)量為△t。

答案:錯二次電子數(shù)量和原子序數(shù)有明顯的關(guān)系，但對微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。

答案:錯透射電鏡的分辨率既受衍射效應(yīng)影響，也受透鏡的像差影響。

答案:對掃描隧道顯微鏡的橫向分辨率可達(dá)

答案:0.1nm透射電子顯微鏡配置選區(qū)電子衍射裝置，使得薄膜樣品的結(jié)構(gòu)分析與形貌觀察有機(jī)結(jié)合，是X射線衍射無法比擬的優(yōu)點(diǎn)。

答案:對明場像是質(zhì)厚襯度，暗場像是衍襯襯度。

答案:錯掃描電鏡的分辨率：是通過測定圖像中兩個顆粒(或區(qū)域)間的最小距離來確定的。

答案:對電子探針顯微分析對樣品的損傷程度為()

答案:無損傷影響掃描電鏡分辨率的因素是（）。

答案:其它選項都正確透射電鏡的主要性能指標(biāo)有分辨本領(lǐng)、放大倍數(shù)和加速電壓。

答案:對當(dāng)入射電子束作光柵掃描時，若電子束在樣品表面掃描的幅度為As，相應(yīng)地在熒光屏上陰極射線同步掃描的幅度為Ac，掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)為Ac和As的比值

答案:對對于同一放大倍數(shù)的物鏡，其數(shù)值孔徑越小，分辨率越高

答案:錯光率體是表示光波在晶體中傳播時，光波振動方向與相應(yīng)折射率值之間關(guān)系的一種光學(xué)立體圖形（光性指示體）

答案:對一束自然光穿過各向異性的晶體時分成兩束偏振光的現(xiàn)象，稱為雙折射現(xiàn)象。

答案:對介質(zhì)的折射率與光在介質(zhì)中的傳播速度成反比。

答案:對目鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)元件，顯微鏡的分辨能力及成像質(zhì)量主要取決于其性能。

答案:錯折射率色散:同一介質(zhì)的折射率因為所用波長的不同而不同；對于同一介質(zhì)，波長與折射率成反比。

答案:對晶體在正交偏光鏡下呈現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象。

答案:對顯微鏡總放大倍數(shù)=目鏡放大倍數(shù)×物鏡放大倍數(shù)

答案:對可見光的波長在390-760nm之間，最佳情況下，光學(xué)玻璃透鏡分辨本領(lǐng)的理論極限可達(dá)200nm。

答案:對只在平行于光的傳播方向的平面內(nèi)的某一方向振動稱為偏振光。

答案:錯結(jié)構(gòu)因數(shù)：結(jié)構(gòu)因數(shù)是表征單細(xì)胞對衍射強(qiáng)度的影響，只與原子的種類，在晶胞中的位置有關(guān)，而與晶胞大小和形狀無關(guān)。

答案:對在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的核外電子叫做（）

答案:二次電子布拉格方程式：散射線發(fā)生相干衍射，也可以稱為晶面反射所必需滿足的條件。方程式為2dsinθ=nλ.

答案:對當(dāng)一個K層電子被激發(fā)而形成空位時，一個M