JJF(皖) 149-2023 磁粉檢測用試片校準規(guī)范

(皖)安徽省地方計量技術規(guī)范JJF（皖）149—2023磁粉檢測用試片校準規(guī)范CalibrationSpecificationforShimsforMagneticParticleTesting2023—01—09發(fā)布 施安徽省市場監(jiān)督管理局 發(fā)布JJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023CalibrationSpecificationforShimsforMagneticParticleTesting歸口單位：安徽省幾何量計量技術委員會主要起草單位：安徽省長江計量所安徽省計量科學研究院本規(guī)范委托安徽省幾何量計量技術委員會負責解釋本規(guī)范主要起草人：）馬 琳安徽計量學研院）宋 超安徽長江量所）（））JJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023目 錄引 言 （II）1 范圍 （1）2 引用文件 （1）3 概述 （1）計量特性 （2）表面粗糙度 （2）幾何尺寸 （2）校準條件 （3）環(huán)境條件 （3）測量標準及其他設備 （3）校準項目和校準方法 （4）表面粗糙度 （4）幾何尺寸 （4）校準結果表達 （5）復校時間間隔 （5）附錄A 人工槽深度測量結果不確定度評定 （6）附錄B 試片厚度測量結果不確定度評定 （8）附錄C 校準證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式 （10）I引 言JJFJJF1059.1－2012表示》、JJF1071－2010JJF1094－2002《測量儀器特性評定》共同構成支撐本校準規(guī)范制定的基礎性系列規(guī)范。本規(guī)范為首次發(fā)布。IIJJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023磁粉檢測用試片校準規(guī)范范圍A型、CD參照校準。引用文件本規(guī)范引用了下列文件：GB/T23907—2009無損檢測磁粉檢測用試片凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本規(guī)范。概述（也稱靈敏度試片（合靈敏度）的標準試片。使用時，將有槽的一面面向被測工件一側，給工件通以電流即施加磁場后，在磁粉檢測用試片的凹槽處就會形成漏磁場，從而顯示出磁痕，用于驗證磁粉檢測綜合性能。試片按產(chǎn)品類型分為A型、CD型等。A型試片，適用于在較寬大或型和D12。1圖1 A型和D型試片外形結構示意圖1－圓形人工槽；2－十字人工槽；l1－試片邊長；l2－圓形人工槽直徑；l3－十字人工槽長度圖2 C型試片外形結構示意圖1－直線人工槽；2－分割線；l1－試片長度；l2－試片寬度；l3－分割線間隔計量特性表面粗糙度試片的表面粗糙度不大于Ra0.8μm。幾何尺寸試片的幾何尺寸不超過表1和表2的規(guī)定。表1 A型和D型試片的幾何尺寸名稱A型試片的幾何尺寸D型試片的幾何尺寸試片厚度l0/μm100±1050±550±5試片邊長l1/mm20±120±110±0.5圓形人工槽直徑l2/mm10±0.510±0.55±0.3十字人工槽長度l3/mm6±0.36±0.33±0.2人工槽深度l4/μm高靈敏度15±2.07±1.07±1.0中靈敏度30±4.015±2.015±2.0低靈敏度60±8.030±4.030±4.0人工槽寬度l5/μm60～1802表2 C型試片的幾何尺寸名稱C型試片的幾何尺寸試片厚度l0/μm50±5試片長度l1/mm10±0.5試片寬度l2/mm50±0.5分割線間隔l3/mm5±0.5人工槽深度l4/μm高靈敏度8±1.0中靈敏度15±2.0低靈敏度30±4.0人工槽寬度l5/μm60～180注：校準工作不判斷合格與否，上述計量特性要求僅供參考。校準條件環(huán)境條件溫度：（20±2）℃。70%RH校準前，試片和測量設備平衡溫度時間不少于2h。測量標準及其他設備推薦使用表3所列測量標準及其他設備，允許使用滿足測量不確定度要求的其他測量標準及其他設備進行校準。表3 測量標準及其他設備序號測量標準及其他設備名稱技術要求1表面粗糙度比較樣塊MPE：+12%～-17%2測長儀MPE：±（1μm+5×10-6L）3萬能工具顯微鏡或影像測量儀MPE：±（1μm+10-5L）或MPE：±（3μm+5×10-6L）4白光干涉輪廓儀MPE：±0.75%3校準項目和校準方法校準前首先檢查外觀和各部分相互作用，確定沒有影響計量特性因素后再進行校準。表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊進行比較測量。測量時選擇最接近被測表面粗糙度值的樣塊標稱值作為測量結果。幾何尺寸幾何尺寸可采用接觸測量和非接觸測量的方法。試片厚度用測長儀直接測量。選用球形測帽與Φ8mm平面測帽，在試片上至少選擇均勻分布的四個位置（要避開人工槽）進行測量。測量時先將測長儀的球形測帽與平面測，然后移動測長儀的測量軸使兩測帽離開，將之差即為試片的厚度。試片邊長、圓形人工槽直徑、十字人工槽長度、試片長度、試片寬度、分割線間隔和人工槽寬度用萬能工具顯微鏡測量。將試片放置在工作臺上，根據(jù)被測尺寸選擇適當倍數(shù)的物鏡，調(diào)整目鏡和焦距使米字線和試片影像清晰，移動縱向和模向滑板，分別測量上述尺寸。對A型和D型試片，分別測量試片的四條邊長，取四次測得值的平均值作為試片邊長。A型和D型試片的圓形人工槽直徑在相互垂直的兩個方向測量，取兩個方向測得值的平均值作為圓形人工槽直徑。A型和D型試片的十字人工槽長度在橫向和縱向兩個方向上分別測量。C型試片的試片長度在試片寬度范圍內(nèi)選擇均勻分布的三個位置進行測量，取三次測得值的平均值作為試片長度。C型試片的試片寬度在試片長度范圍內(nèi)選擇均勻分布的三個位置進行測量，取三次測得值的平均值作為試片寬度。C型試片的分割線間隔應測量試片寬度范圍內(nèi)所有間隔。A型和D型試片的圓形人工槽寬度在圓形范圍內(nèi)至少選擇均勻分布的四個位置進行測量，取四次測得值的平均值作為人工槽寬度。A型和D型試片的十字人工槽寬度在圖3所示的四個位置上進行測量，取四次測得值的平均值作為人工槽寬度。C型試片的直線人工槽寬度在圖4所示的十個位置上進行測量，取每個位置測得值作4JJF（皖）149—2023JJF（皖）149—2023為人工槽寬度。以上校準項目也可以使用影像測量儀測量，測量時優(yōu)先使用儀器自動尋邊的方式瞄準和選點。人工槽深度用白光干涉輪廓儀校準。將試片置于干涉物鏡下方的工作臺上，調(diào)整焦距，使測量軟件界面顯示清晰的試片表面，微調(diào)工作臺使試片被測位置位于成像中心，設3D與試片上表面間的距離。A型和D型試片的圓形人工槽深度在圓形范圍內(nèi)至少選擇均勻分布的四個位置進行測量。A型和D型試片的十字人工槽深度在圖3所示的四個位置上進行測量。C型試片的直線人工槽深度在圖4所示的十個位置上進行測量。圖3 十字人工槽寬度和深度測量位置示意圖圖4 直線人工槽寬度和深度測量位置示意圖校準結果表達校準后的磁粉檢測用試片出具校準證書。校準證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式見附錄C。復校時間間隔由于復校時間間隔的長短是由器具的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸多因素所決定的，因此委托方可根據(jù)實際使用情況自主決定復校時間間隔。建議不超過一年。5附錄A人工槽深度測量結果不確定度評定測量方法6.2.3D片為例，對其人工槽深度測量結果不確定度進行評定。測量模型L4Li

（A.1）式中：L4——人工槽深度，μm；——白光干涉輪廓儀測得的人工槽深度值，μmA.3 測量不確定度來源1 測量重復性(Li)2 白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差u2(Li)標準不確定度評定1 測量重復性引入的標準不確定度(Li)D10A.1：表A.1 重復性測量結果校準點/μm實測值/μms/μm1234567891077.147.096.957.046.996.967.037.247.056.910.099u1(Li)s0.099μm2 白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差引入的標準不確定度u2(Li)33白光干涉輪廓儀垂直方向示值最大允許誤差為±0.75%，均勻分布，k ，33u2(Li)0.75%7

0.031μm由于線膨脹系數(shù)差和溫度差引入的標準不確定度較小，可以忽略不計。合成標準不確定度uc標準不確定度匯總見表A.26表A.2 標準不確定度匯總表標準不確定度代號u(xi)不確定度來源標準不確定度值u(xi)靈敏系數(shù)c(xi)c(xi)u(xi)u1(Li)測量重復性0.099μm10.099μmu2(Li)白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差0.031μm0.031μmu2u2(L)u2(L1 i 2 i

0.11μm 擴展不確定度取包含因子k

Ukuc20.110.22μm0.3μm7附錄B試片厚度測量結果不確定度評定測量方法6.2.1D片厚度測量結果不確定度進行評定。測量模型L0Li

（B.1）式中：L0——試片厚度，μm；——測長儀測得的試片厚度值，μmB.3 測量不確定度來源1 測量重復性(Li)2 測長儀示值誤差u2(Li)B.3.3 測力造成的壓陷變形u3(Li)B.3.3 測長儀測帽的平面度u4(LiB.4 標準不確定度評定B.41 測量重復性引入的標準不確定度(Li)對D型試片的試片厚度重復測量10次，用貝塞爾公式計算實驗標準偏差，測得值見表B.1：表B.1 重復性測量結果校準點/μm實測值/μms/μm123456789105050.550.650.550.550.550.650.650.550.550.40.07(Lis0.07μmB.42 測長儀示值誤差引入的標準不確定度u2(Li)33測長儀示值最大允許誤差為±（1?μm+5×10-6L），均勻分布，k ，33u2(Li)1.00/

0.58μm3 測力造成的壓陷變形引入的標準不確定度u3(Li)測量時，試片的一面與平面測帽接觸，由于是平面對平面的接觸，變形量可以忽略不8計。另一面是球形測帽與試片的平面接觸，變形量不能忽略。根據(jù)公式：p2fK13d

（B.2）式中：f——變形量，μm；p——測量力，N；d——球形測頭直徑，mm；K1——不同情況下的材料系數(shù)。在試片厚度的測量過程中，測頭和試片的材料都是鋼，則K1=0.415。按反正2弦分布保守估算，k ，2

2222u(L)f/ 0.4153 /22

0.17μm3 i

204 測長儀測帽的平面度引入的標準不確定度u4(Li)22測長儀測帽的平面度為0.15μm，按反正弦分布保守估算，k ，22合成標準不確定度uc

u4(Li)0.15/

0.11μm表B.2 標準不確定度匯總表標準不確定度代號u(xi)不確定度來源標準不確定度值u(xi)靈敏系數(shù)c(xi)c(xi)u(xi)u1(Li)測量重復性0.07μm10.07μmu2(Li)測長儀示值誤差0.58μm0.58μmu3(Li)測力造成的壓陷變形0.17μm0.17μmu4(Li)測長儀測帽的平面度0.11μm0.11μmu2u2(L)u2(L)u2(L)u2(L1 i 2 i 3 i 4 i

0.62μm 擴展不確定度取包含因子k

Ukuc20.621.3μm9附錄C校準證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式 a）標題“校準證書”；b）實驗室名稱和地址；c）進行校準的地點；d）證書或報告的唯一性標識（如編號），每頁及總頁數(shù)的標識；e）客戶的名稱和地址；被校對象的描述和明確標識；日期；i）校準所依據(jù)的技術規(guī)范的標識，包括名稱及代號；j）本次校準所用測量標準的溯源性及有效性說明；k）校準環(huán)境的描述；l）校準結果及其測量不確定度的說明；m）對校準規(guī)范的偏離的說明；n）校準證書或校準報告簽發(fā)人的簽名、職務或等效標識；o）校準結果僅對被校對象有效的聲明；p）未經(jīng)實驗室書面批準，不得部分復制證書的聲明。C.1。