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文檔簡介

1《智能計算憶阻器基礎特性測試方法》委員會主管，全國智能計標準化算工作組（SAC/SWG32）和全國半導體器件標準化技術委員會（SAC/TC78）歸口。本項目是制定項目，2院等十余家單位在內(nèi)的標準編制組。對《智能計算憶阻器基礎特性3（3）科學性原則。本標準多次召開標準起草會、專家研討會，4本文件規(guī)定了不同結構和材料的雙極型憶阻器件理和寫操作的測試步驟和計算方法，同時對單晶體管單電阻（1T1R）目前標志組圍繞憶阻器及其陣列的基礎特性的測試方法展開研5），tdelaytreadIreadG01236a)1T1M單元的forming操作tformingVforming01723a)1T1M單元的SET操作8tdelaytSET0123a)1T1M單元的RESET操作tdelaytRESETVRESET01239tdelaytread12301234KB本標準后續(xù)將陸續(xù)開展憶阻器及其陣列的基礎特性測試方的驗該標準的制定和實施，對于測試和評價憶阻器件及陣列的基礎特性起著重要作用。標準的制定初期，就與國際標準的水平一致，并且在國際標準的基礎上增加了憶阻器陣列的測試方法，實現(xiàn)憶阻器基礎特性的測試方法與國際接軌。通過本標準的制修訂對憶阻器件的研究、生產(chǎn)、檢驗和使用具有重要意義，同時可以憶阻器測試等國際廠商都在開展憶阻器的研究和生產(chǎn)，在國內(nèi)昕原半導體、知存科技以及眾多科研機構也紛紛布局科研和產(chǎn)業(yè)化，因此同過本標準及后續(xù)相關的憶阻器系列測試標準的制定將用戶

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