《電磁兼容與天線試驗場地-絕緣電阻和接地電阻測試方法編制說明》

《電磁兼容與天線試驗場地絕緣電阻和接地電阻測試》編制說明

（征求意見稿）

一、工作簡況

1主要工作過程

起草（草案、調(diào)研）階段：

2022年9月，由上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司牽頭，成立標(biāo)準(zhǔn)編寫工作組。2022

年9月至12月，啟動標(biāo)準(zhǔn)編制工作，工作組經(jīng)過充分討論，按照GBT1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化

工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》要求，制定大綱，并形成標(biāo)準(zhǔn)草案稿。

標(biāo)準(zhǔn)立項階段：

2022年12月，經(jīng)中國電工技術(shù)學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)工作委員會專家組審議，批準(zhǔn)《電磁兼容與

天線試驗場地-絕緣電阻和接地電阻測試》標(biāo)準(zhǔn)立項。

編寫研制階段：

2023年2月-7月標(biāo)準(zhǔn)編寫組根據(jù)立項專家組意見和建議，標(biāo)準(zhǔn)編寫組進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)編寫研

制，形成了征求意見稿。2023年3月，《電磁兼容與天線試驗場地-絕緣電阻和接地電阻測

試》工作組第一次會議以線上的形式召開，來自各企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)工作組10名專家代表參加了

會議，工作組專家對草案稿進(jìn)行了充分的論證討論，提出總計10條建議，上海電器科學(xué)研

究所(集團(tuán))有限公司按照會上建議對草案稿進(jìn)行了修改完善，并確定了后續(xù)工作計劃。2023

年5月，工作組通過線上會議形式召開工作組第二次討論會，對草案稿進(jìn)行了充分的論證

討論，對文稿用詞的嚴(yán)謹(jǐn)性、規(guī)范性進(jìn)行充分推敲。上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司按

照會上意見對草案稿進(jìn)行補(bǔ)充、修改、完善，并形成征求意見稿。

2主要參加單位和起草工作組成員及其所做的工作

本標(biāo)準(zhǔn)由上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司、上海電器科學(xué)研究院、上海電器設(shè)備檢

測所有限公司、上海電科智能裝備科技有限公司、深圳市磁迅科技有限公司、湖北省計量測

試技術(shù)研究院、微創(chuàng)投資控股有限公司、上海添唯檢測認(rèn)證技術(shù)有限公司共同負(fù)責(zé)起草。

主要成員：荀黎、彭培機(jī)、楊林樺、陳緒、張磊、高昇、汪婕、曹旸、謝延萍、王曉珉。

所做的工作：

負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)起草階段的技術(shù)論證、標(biāo)準(zhǔn)起草以及征求意見。

二、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容

1、標(biāo)準(zhǔn)編制原則

本標(biāo)準(zhǔn)的編制原則：

本標(biāo)準(zhǔn)以GBT1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》要求為指

導(dǎo)，對標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容進(jìn)行規(guī)范。

目前標(biāo)準(zhǔn)體系中關(guān)于絕緣電阻和接地電阻的測試僅是針對電子產(chǎn)品的，在CNAS-CL01-

A008的文件中只規(guī)定了電磁兼容試驗場地屏蔽室的絕緣電阻和接地電阻的限值要求，但是

沒有具體的測試要求和測試方法。因此不同測試機(jī)構(gòu)進(jìn)行場地的絕緣電阻和接地電阻的測試

時測試方法不統(tǒng)一，測試結(jié)果的一致性存在疑慮。且國內(nèi)外均無針對電磁兼容與天線試驗場

地-絕緣電阻和接地電阻測試方法標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)可以能填補(bǔ)此測試方法的標(biāo)準(zhǔn)空白。

2、標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容

從內(nèi)容來看，該標(biāo)準(zhǔn)主要包含以下幾個部分：

（1）范圍

本文件適用于電磁兼容與天線測試試驗場地，例如屏蔽室、電波暗室、微波暗室等場地。

對測試場地進(jìn)行絕緣電阻、接地電阻的測試，以確保測試場地用電的安全性、準(zhǔn)確性以及人

員的安全保障。

本文件旨在對接地電阻和絕緣電阻測試給出統(tǒng)一的要求，規(guī)定了檢測方法、測試條件和

結(jié)果的處理。

（2）規(guī)范性引用文件

主要包括在本文件中規(guī)范性引用的若干國家標(biāo)準(zhǔn)。

（3）術(shù)語和定義

主要包括：接地，絕緣，屏蔽室，電波暗室等。

（4）一般要求

本部分規(guī)定了測試時環(huán)境及測試儀器的要求。

（5）試驗方法

本部分規(guī)定了接地電阻和絕緣電阻的測試方法。

（6）試驗報告

本部分規(guī)定了試驗報告的要求。

3、主要技術(shù)差異

與CNAS-CL01-A008的文件中只規(guī)定了電磁兼容試驗場地屏蔽室的絕緣電阻和接地電阻

的限值要求，但是沒有具體的測試要求和測試方法。

4、解決的主要問題

為了保證設(shè)備絕緣可以安全可靠運(yùn)行,無論在制造過程還是運(yùn)行現(xiàn)場,都必須對絕緣進(jìn)

行各種檢查及試驗。電磁兼容測試為保證測試的專一性，一致性和可復(fù)現(xiàn)性，測試時需要在

專業(yè)場地進(jìn)行，根據(jù)CNAS-CL01-A008的文件中說明，試驗場地包含開闊試驗場、全/半電波

暗室、屏蔽室等。試驗場地的建設(shè)和驗收需考核各項關(guān)鍵指標(biāo)，關(guān)鍵指標(biāo)就包括絕緣電阻和

接地電阻測試。絕緣電阻和接地電阻的檢測,對確保產(chǎn)品質(zhì)量和運(yùn)行中人身安全及設(shè)備安全

具有重要意義,因此被國家強(qiáng)制要求進(jìn)行測試。為了避免發(fā)生漏電或短路事故,應(yīng)當(dāng)定期對測

試場地進(jìn)行絕緣電阻和接地電阻測試。

目前標(biāo)準(zhǔn)體系中關(guān)于絕緣電阻和接地電阻的測試僅是針對電子產(chǎn)品的，在CNAS-CL01-

A008的文件中只規(guī)定了電磁兼容試驗場地屏蔽室的絕緣電阻和接地電阻的限值要求，但是

沒有具體的測試要求和測試方法。因此不同測試機(jī)構(gòu)進(jìn)行場地的絕緣電阻和接地電阻的測試

時測試方法不統(tǒng)一，測試結(jié)果的一致性存在疑慮。且國內(nèi)外均無針對電磁兼容與天線試驗場

地-絕緣電阻和接地電阻測試方法標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)可以能填補(bǔ)此測試方法的標(biāo)準(zhǔn)空白。

三、主要試驗（或驗證）情況

本標(biāo)準(zhǔn)在研制過程中，進(jìn)行兩項驗證工作：

1.針對絕緣電阻測試位置的不同，分別在空氣開關(guān)上線端、空氣開關(guān)下線端和濾波器

下端，以DC750V和DC1000V兩種電壓反復(fù)測試5次得到數(shù)值，驗證絕緣電阻的測試位置需

選在空氣開關(guān)的上線端進(jìn)行測試，所得的阻值會更小。

2.針對接地電阻選取的點(diǎn)位距離和高度不同，分別選取兩個測試點(diǎn)位在0.3m,0.5m和

1m的情況下，在高度0.5m,1m,1.5m,2m和2.5m情況下，反復(fù)測試5次得到數(shù)據(jù)，驗證節(jié)點(diǎn)

電阻的測試點(diǎn)位之間的距離、高度變化對阻值影響不大。

四、標(biāo)準(zhǔn)中涉及專利的情況

本標(biāo)準(zhǔn)不涉及專利問題。

五、預(yù)期達(dá)到的社會效益、對產(chǎn)業(yè)發(fā)展的作用等情況

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電磁兼容與天線試驗場地-絕緣電阻和接地電阻測試方法和考核指標(biāo)，統(tǒng)

一了測試方法，確保了測試時產(chǎn)品質(zhì)量和運(yùn)行中人身安全及設(shè)備安全，保證了測試結(jié)果的一

致性，通過本標(biāo)準(zhǔn)的推廣采用，填補(bǔ)領(lǐng)域空白。

六、與國際、國外對比情況

國內(nèi)先進(jìn)水平

七、在標(biāo)準(zhǔn)體系中的位置，與現(xiàn)行相關(guān)法律、法規(guī)、規(guī)章及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，特

別是強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)性

無

八