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文檔簡(jiǎn)介
一起GIS閃絡(luò)故障原因分析摘要:GIS設(shè)備全封閉結(jié)構(gòu)導(dǎo)致故障檢查相對(duì)復(fù)雜,應(yīng)聯(lián)合多種手段以快速準(zhǔn)確判斷出故障原因,保證設(shè)備安全。本文介紹了一起某變電站GIS閃絡(luò)故障,針對(duì)氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(GIS)開(kāi)展現(xiàn)場(chǎng)交接試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)擊穿的問(wèn)題,通過(guò)采用多種測(cè)試方式,查找故障點(diǎn),判斷故障原因,最終發(fā)現(xiàn)故障原因,可為防止類(lèi)似事故的發(fā)生和處理提供借鑒。
關(guān)鍵詞:GIS;故障原因;導(dǎo)電桿;故障分析
引言
近年來(lái),隨著電力工業(yè)的快速發(fā)展,氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(GIS)以其結(jié)構(gòu)緊湊、占地空間小、操作簡(jiǎn)單以及安全可靠性高等優(yōu)點(diǎn)在變電站中得到了廣泛的應(yīng)用。但GIS在應(yīng)用中也存在一系列的問(wèn)題,例如當(dāng)GIS出現(xiàn)故障時(shí),事故影響范圍大且處理周期長(zhǎng),嚴(yán)重影響著變電站的安全穩(wěn)定運(yùn)行。因此,對(duì)于GIS必須要求嚴(yán)格開(kāi)展交接試驗(yàn),以發(fā)現(xiàn)潛在故障并及時(shí)整改,同時(shí)開(kāi)展帶電檢測(cè)技術(shù),在投運(yùn)后采用帶電檢測(cè)的方式定位故障點(diǎn),判斷故障類(lèi)型,以確保設(shè)備安全穩(wěn)定運(yùn)行。本文以某變電站氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(GIS)閃絡(luò)故障為例,從故障經(jīng)過(guò)、故障查找、故障分析等方面進(jìn)行了介紹,可為之后的交接試驗(yàn)及現(xiàn)場(chǎng)安裝提供了經(jīng)驗(yàn)。
1.GIS內(nèi)部常見(jiàn)缺陷分析
GIS是封閉式設(shè)備,其內(nèi)部由于安裝或運(yùn)行過(guò)程中產(chǎn)生的氣泡、金屬顆粒等雜質(zhì)會(huì)導(dǎo)致GIS設(shè)備試驗(yàn)及運(yùn)行過(guò)程中出現(xiàn)缺陷,顆粒的跳動(dòng)以及固體材料的微小振動(dòng)會(huì)發(fā)出超高頻或超聲波信號(hào),因此在不停電檢修的前提下,通過(guò)采用檢測(cè)超聲波與超高頻信號(hào)的方式觀測(cè)GIS內(nèi)部缺陷類(lèi)型及缺陷的嚴(yán)重程度[1]。
GIS內(nèi)部缺陷中,經(jīng)常出現(xiàn)的缺陷類(lèi)型包括電暈放電、懸浮放電、自由金屬顆粒放電、空穴放電、沿面放電等放電現(xiàn)象。每種內(nèi)部缺陷都有相應(yīng)的測(cè)量特征。不同的放電類(lèi)型所產(chǎn)生的原因不同,當(dāng)在不均勻的電場(chǎng)周?chē)拾霃叫〉碾姌O附近當(dāng)電壓升高到一定值時(shí),由于空氣游離就會(huì)產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象;懸浮電位則是由于在運(yùn)輸或運(yùn)行過(guò)程中,導(dǎo)體或絕緣子等與其他的金屬構(gòu)件接觸不良,導(dǎo)致電位懸浮,與周邊的部位形成電位差,產(chǎn)生放電;空穴放電則是由于設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生氣泡或其他雜質(zhì),在正常運(yùn)行過(guò)程中產(chǎn)生局部放電;沿面放電是固體絕緣表面金屬顆粒對(duì)絕緣表面、固體絕緣表面臟污或固體絕緣表面其他異物引起的放電。圖1為GIS內(nèi)部缺陷位置的示意圖。
圖1GIS絕緣缺陷位置
如圖1所示,在GIS殼體、導(dǎo)體上均易出現(xiàn)由毛刺造成的電暈放電;在導(dǎo)體上易出現(xiàn)由于機(jī)械松動(dòng)造成的懸浮放電;在盆式絕緣子、導(dǎo)體或殼體上易于出現(xiàn)氣泡或雜質(zhì)造成的空穴放電。不同的因素產(chǎn)生的局放形式不同,但不同類(lèi)型的局部放電都會(huì)對(duì)GIS的絕緣造成破壞,同時(shí),放電產(chǎn)生的氣體或熱效應(yīng),有的使局部絕緣腐蝕、電導(dǎo)增加,導(dǎo)致了絕緣性能下降,在嚴(yán)重的局放作用下,甚至?xí)斐山^緣擊穿。
2.設(shè)備情況
本次被試設(shè)備為某公司生產(chǎn)的500kVGIS,主要技術(shù)參數(shù)如下所示:設(shè)備額定電壓:550kV,額定頻率;50Hz,工頻1min耐受電壓:740kV,在周?chē)諝鉁囟葹?0℃時(shí)的氣體壓力(相對(duì)值),斷路器室:0.5MPa,其他氣室:0.4MPa。所開(kāi)展的交接試驗(yàn)項(xiàng)目具體包括:SF6氣體微水與純度測(cè)試、主回路絕緣試驗(yàn)及超聲波局放測(cè)試等。
3.試驗(yàn)過(guò)程及故障點(diǎn)查找
3.1試驗(yàn)步驟
交接試驗(yàn)首先對(duì)充入GIS內(nèi)部氣室的SF6氣體開(kāi)展微水及純度測(cè)試,以氣室為單位,對(duì)每個(gè)氣室分別檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果無(wú)異常,具備主回路絕緣試驗(yàn)條件。
主回路絕緣試驗(yàn)包括三個(gè)步驟[2]:老練、主回路對(duì)地耐壓、局部放電測(cè)量,首先進(jìn)行老練試驗(yàn),試驗(yàn)的加壓程序?yàn)椋?→Um/3(550/3=318kV)持續(xù)5min→Um(550kV)持續(xù)3min;主回路對(duì)地耐壓加壓程序?yàn)椋篣m(550kV)→Uf(740kV)持續(xù)1min;耐壓試驗(yàn)結(jié)束后,將試驗(yàn)電壓降至1.1Um/3(349kV)后進(jìn)行局部放電測(cè)量,局部放電測(cè)量結(jié)束后電壓降至零。整體加壓程序如圖2所示。
圖2GIS主回路絕緣試驗(yàn)加壓程序示意圖
3.2故障經(jīng)過(guò)及故障點(diǎn)定位
500kVGIS第4串主回路絕緣試驗(yàn)于8月17日開(kāi)始進(jìn)行,老練試驗(yàn)無(wú)異常,升至550kV時(shí)保持3min后,準(zhǔn)備升至740kV時(shí)發(fā)生放電,現(xiàn)場(chǎng)對(duì)加壓回路及被試回路進(jìn)行檢測(cè),未發(fā)現(xiàn)明顯異常,經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)討論決定再次試驗(yàn)。由于加壓回路采用串聯(lián)諧振的方式升壓,因此需要調(diào)節(jié)試驗(yàn)頻率,再次調(diào)頻后,發(fā)現(xiàn)無(wú)法升壓,切斷加壓回路,采用絕緣表對(duì)被試回路絕緣狀況進(jìn)行測(cè)量,發(fā)現(xiàn)主回路對(duì)地?zé)o絕緣,判斷GIS第4串主回路某部分出現(xiàn)絕緣擊穿現(xiàn)象。
采用多種手段進(jìn)行故障點(diǎn)定位,首先通過(guò)超聲波閃絡(luò)定位儀定位,在試驗(yàn)前安裝的閃絡(luò)定位儀上發(fā)現(xiàn)CB42A相以及相鄰電流互感器CT氣室的閃絡(luò)定位儀示數(shù)較大,其余氣室閃絡(luò)定位儀顯示無(wú)異常,初步判斷發(fā)生故障的位置位于CB42A相斷路器或其相鄰的CT氣室內(nèi)部。采用氣體分析儀對(duì)以上兩個(gè)疑似氣室進(jìn)行SF6氣體成分分析,結(jié)果如表1所示。
表1氣體成分分析結(jié)果μL/L
從氣體分析結(jié)果可以看出CB42A相斷路器H2S及SO2數(shù)值偏高,且現(xiàn)場(chǎng)打開(kāi)充氣閥門(mén)可聞到明顯的臭雞蛋氣味,因此基本判斷放電氣室位于CB42A相斷路器處。
為進(jìn)一步驗(yàn)證放電位置,采用絕緣測(cè)量的方式,將第4串GIS斷路器及隔離開(kāi)關(guān)逐步斷開(kāi),查找故障點(diǎn),首先斷開(kāi)DS44隔離開(kāi)關(guān),絕緣電阻為60GΩ,斷開(kāi)DS44斷路器,發(fā)現(xiàn)絕緣電阻為5MΩ,斷開(kāi)CB42斷路器,絕緣電阻為56GΩ,判斷為CB42斷路器合閘絕緣強(qiáng)度降低。發(fā)生故障位置和設(shè)備形態(tài)如圖3所示。
圖3故障位置
由于現(xiàn)場(chǎng)不具備解體條件,將故障斷路器返廠解體,在更換完故障斷路器后第2次進(jìn)行主回路絕緣試驗(yàn),試驗(yàn)通過(guò)。
3.3廠內(nèi)解體
9月5日在廠內(nèi)對(duì)故障斷路器進(jìn)行了解體檢查。檢查結(jié)果發(fā)現(xiàn)斷路器導(dǎo)電桿表面存在沿面放電痕跡。
除沿面放電痕跡外,在導(dǎo)電桿表面還發(fā)現(xiàn)有磕碰痕跡,如圖4所示。
圖4斷路器磕碰痕跡
4.故障分析
根據(jù)解體檢查的情況分析,本次故障屬于氣室內(nèi)部金屬類(lèi)異物引發(fā)的導(dǎo)電桿沿面放電。
4.1GIS監(jiān)造記錄
500kVGIS使用的導(dǎo)電桿為該公司外購(gòu)的產(chǎn)品。導(dǎo)電桿所開(kāi)展的試驗(yàn)項(xiàng)目如表2所示。
表2導(dǎo)電桿試驗(yàn)項(xiàng)目
總裝車(chē)間將合格的導(dǎo)電桿裝配到斷路器試驗(yàn)形態(tài),裝配完畢后按試驗(yàn)形態(tài)進(jìn)行工頻耐壓試驗(yàn),試驗(yàn)電壓740kV,持續(xù)時(shí)間90s,局部放電試驗(yàn)、雷電沖擊試驗(yàn),其中正負(fù)極性各三次,試驗(yàn)電壓1675kV,全部試驗(yàn)合格以后按運(yùn)輸形態(tài)進(jìn)行解體包裝。
4.2故障分析
將解體的導(dǎo)電桿表面打磨清理后,現(xiàn)場(chǎng)對(duì)導(dǎo)電桿進(jìn)行了工頻耐壓試驗(yàn)及局部放電試驗(yàn)[3]。
從導(dǎo)電桿工頻耐壓試驗(yàn)及局部放電試驗(yàn)情況及試驗(yàn)記錄可知,該導(dǎo)電桿順利通過(guò)了工頻耐壓試驗(yàn),試驗(yàn)電壓740kV,持續(xù)時(shí)間90s及局部放電試驗(yàn)(局放值1pC),說(shuō)明導(dǎo)電桿自身絕緣性能優(yōu)良、質(zhì)量可靠。
本次斷路器絕緣故障是氣室內(nèi)部金屬類(lèi)異物引發(fā)的導(dǎo)電桿沿面放電。氣室內(nèi)金屬異物來(lái)源渠道可能為:
(1)斷路器氣室裝配時(shí),使得金屬異物帶入氣室內(nèi)部,完成機(jī)械操作后,進(jìn)行氣室清理未能將氣室清理干凈,使得氣室內(nèi)部遺留金屬異物。這些金屬異物在低電場(chǎng)區(qū)域,產(chǎn)品有一定的絕緣裕度,耐壓試驗(yàn)通過(guò)。斷路器氣室是完整形態(tài)運(yùn)輸,運(yùn)輸時(shí)斷路器氣室內(nèi)部充有0.05MPa的SF6運(yùn)輸氣體。在運(yùn)輸過(guò)程中倒運(yùn)、顛簸等會(huì)使金屬異物進(jìn)行跳躍、移動(dòng),金屬異物移動(dòng)至高場(chǎng)強(qiáng)區(qū)域,引發(fā)了絕緣故障。
(2)斷路器到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)后,對(duì)氣室SF6運(yùn)輸氣體進(jìn)行微水測(cè)試,合格后進(jìn)行充SF6氣體工作?,F(xiàn)場(chǎng)充氣過(guò)程中如未將充氣接口清潔徹底,高壓SF6氣體將充氣口處的微粒異物吹入氣室內(nèi)部,或者在充氣時(shí)將SF6氣瓶倒置,氣瓶底部雜質(zhì)充入氣室內(nèi)部,附著在導(dǎo)電桿表面會(huì)引發(fā)絕緣故障。
5.結(jié)語(yǔ)
綜上所述,本文對(duì)某變電站氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(GIS)開(kāi)展現(xiàn)場(chǎng)交接試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)擊穿的問(wèn)題進(jìn)行研究,通過(guò)閃絡(luò)定位儀、氣體分析儀及絕緣檢測(cè)等多種手段對(duì)故障間隔氣室進(jìn)行定位,最終懷疑短路點(diǎn)位于CB42A相斷路器處,且在該斷路器合閘時(shí)絕緣強(qiáng)度降低,懷疑斷路器內(nèi)部可能出現(xiàn)絕緣件破損;并結(jié)合解體檢查,結(jié)果表明本次斷路器絕緣故障是氣室內(nèi)部金屬類(lèi)異物引發(fā)的導(dǎo)電桿沿面放電。為避免此類(lèi)故障的發(fā)生,建議確保斷路器在運(yùn)輸過(guò)程中的平穩(wěn)性以及加強(qiáng)對(duì)現(xiàn)場(chǎng)安裝工藝的管控。此研究成果可為同類(lèi)型故障處理提供很好地參考借鑒意義。
參考文獻(xiàn):
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