《集成電路測試技術(shù)項(xiàng)目教程（活頁式）》課件 項(xiàng)目2 晶圓打點(diǎn)與烘烤

集成電路測試簡介集成電路測試在產(chǎn)業(yè)鏈中的地位2集成電路整體產(chǎn)業(yè)鏈

集成電路整體產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計(jì)開始，然后是集成電路晶圓制造；制造完成的晶圓要經(jīng)過集成電路晶圓測試環(huán)節(jié)后才能進(jìn)行封裝；封裝完成的電路需要再次經(jīng)過測試，并判斷合格后才能進(jìn)入終端客戶應(yīng)用市場。可以看到在整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中有集成電路晶圓測試、集成電路成品測試兩個(gè)測試環(huán)節(jié)，它們?cè)谡麄€(gè)產(chǎn)業(yè)鏈中起著非常重要的作用。測試原理3集成電路測試原理集成電路測試原理如圖，圖中，待測電路DUT（DeviceUnderTest）可以是集成電路晶圓，也可以是封裝完成的集成電路成品電路；針對(duì)每一種DUT都要制定相應(yīng)的測試規(guī)范，從而形成一組測試輸入，測試輸入也稱為測試碼或者測試生成（TestGeneration）；測試系統(tǒng)根據(jù)測試輸入生成輸入定時(shí)波形，并施加到待測電路的輸入引腳上，然后從待測電路的輸出引腳上采樣得到相應(yīng)的輸出波形，形成一組測試輸出（或者稱為測試響應(yīng)），并分析該測試響應(yīng)是否完整、正確地顯示了待測電路的實(shí)際輸出。測試輸入（測試碼）待測電路（DUT）測試輸出（測試響應(yīng)）測試系統(tǒng)測試原理4集成電路測試主要考慮DUT的技術(shù)規(guī)范，如電路最高時(shí)鐘頻率、指標(biāo)精度、輸入/輸出引腳的數(shù)目等。另外，還要考慮測試費(fèi)用、電路可靠性、測試服務(wù)能力、軟件編程難易程度等。測試原理測試輸入（測試碼）待測電路（DUT）測試輸出（測試響應(yīng)）測試系統(tǒng)集成電路測試原理圖中的測試系統(tǒng)大致包括以下幾部分：（1）測試儀：主要用來給待測電路施加輸入，并采樣輸出。（2）測試界面：主要根據(jù)DUT的封裝形式、最高時(shí)鐘頻率及測試儀的資源配置和界面板卡形式等合理地選擇測試插座，并設(shè)計(jì)制作測試負(fù)載板。（3）測試程序：主要包括控制測試儀的指令序列，其中需要考慮待測電路的類型、物理特征、工藝、功能參數(shù)、環(huán)境特性、可靠性等。測試目的集成電路測試的目的，是保證芯片在惡劣環(huán)境下，能夠完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)。集成電路測試通常是由一系列測試項(xiàng)目組成的，從各個(gè)方面對(duì)芯片進(jìn)行充分測試。每一個(gè)測試項(xiàng)目都會(huì)產(chǎn)生一系列的測試數(shù)據(jù)，不僅可以判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn)、是否可以進(jìn)入市場，而且還能從測試結(jié)果的詳細(xì)數(shù)據(jù)中，充分、定量的反映出每個(gè)芯片從結(jié)構(gòu)、功能到電氣特性的各種指標(biāo)。集成電路測試的分類根據(jù)在產(chǎn)業(yè)鏈中所處的位置，集成電路測試分為集成電路晶圓測試和集成電路成品測試兩大類。本書主要介紹集成電路晶圓測試技術(shù)。根據(jù)目的和應(yīng)用，集成電路測試分為抽樣測試、可靠性測試和產(chǎn)品定型測試等。根據(jù)測試的側(cè)重內(nèi)容，集成電路測試分為功能測試、性能參數(shù)測試等。根據(jù)待測電路的類型，集成電路測試分為數(shù)字集成電路測試、模擬集成電路測試、混合信號(hào)集成電路測試以及超大規(guī)模片上系統(tǒng)電路（SOC）測試等。集成電路測試的應(yīng)用集成電路測試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、控制工藝、管理生產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段；集成電路測試應(yīng)用在集成電路開發(fā)、生產(chǎn)和使用的全過程。1.晶圓測試根據(jù)晶圓測試結(jié)果，集成電路設(shè)計(jì)人員可以進(jìn)行設(shè)計(jì)評(píng)估；集成電路工藝人員可以進(jìn)行工藝的調(diào)整；集成電路生產(chǎn)運(yùn)行管理人員可以制訂生產(chǎn)計(jì)劃等等。集成電路測試的應(yīng)用92.成品測試根據(jù)成品測試結(jié)果可以挑選出合格的產(chǎn)品；也可以根據(jù)實(shí)際測試得到的性能參數(shù)指標(biāo)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分級(jí)并統(tǒng)計(jì)各級(jí)電路數(shù)量。一般質(zhì)量管理人員監(jiān)控產(chǎn)品的質(zhì)量；生產(chǎn)運(yùn)行管理人員控制產(chǎn)品的生產(chǎn)計(jì)劃。3.其他階段集成電路測試除了以上兩大類集成電路測試類型及相關(guān)應(yīng)用外，在集成電路開發(fā)和生產(chǎn)過程中還會(huì)進(jìn)行以下幾種類型的測試，它們同樣很重要。集成電路測試的應(yīng)用（1）抽檢測試。為了確保集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量，通常會(huì)對(duì)準(zhǔn)備入庫的合格電路進(jìn)行抽檢，以檢驗(yàn)其是否確實(shí)達(dá)到了規(guī)定的質(zhì)量要求。另外，在向客戶提供批量產(chǎn)品前，也會(huì)根據(jù)需要進(jìn)行抽檢。集成電路測試的應(yīng)用（2）可靠性測試?？煽啃允侵讣呻娐烽L期使用的可靠度指標(biāo)，是電路在規(guī)定時(shí)間和額定條件下工作時(shí)出現(xiàn)故障的概率。為評(píng)估電路的可靠性，需要進(jìn)行可靠性測試。通常是在高電壓、大功率等外加應(yīng)力情況下，測試電路的電性能參數(shù)，進(jìn)而評(píng)估這些參數(shù)的變化量。集成電路測試的應(yīng)用（3）產(chǎn)品定型測試。在集成電路產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型、生產(chǎn)定型時(shí)，為全面鑒定產(chǎn)品的電性能所做的測試即為產(chǎn)品定型測試。這種測試有別于其他測試類型，主要表現(xiàn)在除了要測試規(guī)定環(huán)境和額定工作條件下電路的各項(xiàng)性能指標(biāo)是否符合規(guī)范要求外，還需測試電路的允許工作范圍，如工作電壓、工作溫度等。這種測試主要用于電路的失效分析、可靠性研究等。Thankyouforwatching.集成電路測試平臺(tái)

基于LK8820的測試平臺(tái)集成電路測試在產(chǎn)業(yè)鏈中的地位集成電路整體產(chǎn)業(yè)鏈

集成電路整體產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計(jì)開始，然后是集成電路晶圓制造；制造完成的晶圓要經(jīng)過集成電路晶圓測試環(huán)節(jié)后才能進(jìn)行封裝；封裝完成的電路需要再次經(jīng)過測試，并判斷合格后才能進(jìn)入終端客戶應(yīng)用市場?？梢钥吹皆谡麄€(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中有集成電路晶圓測試、集成電路成品測試兩個(gè)測試環(huán)節(jié)，它們?cè)谡麄€(gè)產(chǎn)業(yè)鏈中起著非常重要的作用。測試平臺(tái)概述LK8820集成電路開發(fā)教學(xué)平臺(tái)由控制系統(tǒng)、接口與通信模塊、參考電壓與電壓測量模塊、四象限電源模塊、數(shù)字功能管腳模塊、模擬功能模塊、模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊組成，可實(shí)現(xiàn)集成電路芯片測試、板級(jí)電路測試、電子技術(shù)學(xué)習(xí)與電路輔助設(shè)計(jì)。通過本平臺(tái)進(jìn)行典型集成電路芯片測試以及應(yīng)用電路的設(shè)計(jì)，電路板的焊接和調(diào)試，培養(yǎng)學(xué)生的實(shí)踐應(yīng)用能力。測試平臺(tái)概述平臺(tái)的主要特點(diǎn)如下：測試主機(jī)通過USB接口與工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換；采用雙層機(jī)架，最多可以配12塊測試模塊；測試總線一體化設(shè)計(jì)，掛載測試模塊更方便；高精度電源由軟件控制，測試主機(jī)具有自我保護(hù)功能；最多可擴(kuò)展到64個(gè)功能測試管腳，8個(gè)電壓電流源通道；最多可擴(kuò)展到256個(gè)光繼電器矩陣開關(guān)、32個(gè)用戶繼電器；配備TTL接口，可連接智能芯片分選機(jī)進(jìn)行芯片測試；支持TMU功能，能測量數(shù)字芯片上升沿、下降沿、建立時(shí)間等參數(shù)；提供高精度的交流信號(hào)源，支持正弦波、三角波、鋸齒波輸出；提供低速/高速、高精度交流信號(hào)測量功能；測試平臺(tái)構(gòu)成LK8820集成電路開發(fā)教學(xué)平臺(tái)整體采用智能化、模塊化、工業(yè)化設(shè)計(jì)，整個(gè)開發(fā)教學(xué)平臺(tái)由不同的電源模塊和信號(hào)模塊組成，可以根據(jù)用戶產(chǎn)品的實(shí)際測試需求選擇適合的模塊及數(shù)量，各模塊在機(jī)架內(nèi)插入槽位不受限制，插入后軟件自動(dòng)識(shí)別并加以控制。平臺(tái)結(jié)構(gòu)及模塊組成如圖所示，主要組成如下：供電電源：AC220V/5A；對(duì)外接口：USB2.0/USB3.0/AC220V/測試接口；工控機(jī)：8G內(nèi)存/500G硬盤/19英寸觸控顯示器/Windows10操作系統(tǒng)；工業(yè)級(jí)配置：工業(yè)機(jī)柜、觸控顯示屏、高精度電源、軟啟動(dòng)裝置、安全指紋門鎖、人體工學(xué)模組、漏電保護(hù)裝置、靜音直流風(fēng)扇、工作照明裝置；測試主機(jī)：CM測試模塊、VM測試模塊、PV測試模塊、PE測試模塊、WM測試模塊、ST測試模塊；配套軟件：LK8820-SP集成電路開發(fā)教學(xué)軟件；LK8820系統(tǒng)控制模塊測試主機(jī)模塊單元（1）接口與通信模塊（CM）接口與通信模塊（簡稱CM板）是進(jìn)行數(shù)據(jù)通信、電源狀態(tài)指示、RGB燈控制、軟啟動(dòng)繼電器控制。測試主機(jī)模塊單元（2）參考電壓與電壓測量模塊（VM）參考電壓與電壓測量模塊可提供四個(gè)參考電壓，四個(gè)參考電壓可通過程序設(shè)定，分別為輸入高電平（VIH）、輸入低電平（VIL）、輸出高電平（VOH）、輸出低電平（VOL）。電壓測量功能，可測試范圍±30V。測試主機(jī)模塊單元（3）四象限電源模塊（PV）四象限電源模塊可輸出四路電壓電流源，提供精密四象限恒壓、恒流、測壓、測流通道。電壓最大范圍±30V，電流最大范圍±500mA?？筛鶕?jù)用戶需求擴(kuò)展至2個(gè)四象限電源模塊（8通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機(jī)模塊單元（4）數(shù)字功能管腳模塊（PE）數(shù)字功能管腳模塊是實(shí)現(xiàn)數(shù)字功能測試的核心，能給被測電路提供輸入信號(hào)，測試被測電路的輸出狀態(tài)。數(shù)字功能管腳模塊提供16個(gè)管腳通道，可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展至4個(gè)數(shù)字功能管腳模塊（64通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機(jī)模塊單元（5）模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊（ST）模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊功能主要有16個(gè)用戶繼電器、128個(gè)光繼電器矩陣開關(guān)、1kHz~1MHz用戶時(shí)鐘信號(hào)、TMU測試功能。可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展至2個(gè)模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊，用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機(jī)模塊單元（6）模擬功能模塊（WM）模擬功能模塊是測試機(jī)實(shí)現(xiàn)交流信號(hào)測試的，主要功能是提供交流信號(hào)輸出與交流信號(hào)測量功能，可輸出波形有正弦波、三角波、鋸齒波，能測量交流信號(hào)的有效值、總諧波失真度。測試平臺(tái)電源

開發(fā)教學(xué)平臺(tái)電源是經(jīng)過專門設(shè)計(jì)的專用電源，為測試機(jī)提供+5V、+12V、±24V、±36V等電源，電源開啟時(shí)短時(shí)交流電流會(huì)達(dá)到25-30A，因此橋架上開關(guān)容量至少40A。開發(fā)教學(xué)平臺(tái)電源完全由測試系統(tǒng)軟件控制和監(jiān)控，并具備以下特性：由測試系統(tǒng)軟件打開和關(guān)閉電源；測試系統(tǒng)軟件退出時(shí)自動(dòng)關(guān)閉電源；按面板上的復(fù)位按鈕時(shí)可緊急關(guān)閉電源，并自動(dòng)停止測試；電源出現(xiàn)過載或輸出短路時(shí)自動(dòng)關(guān)閉電源，并報(bào)警；電源輸入交流電斷電時(shí)自動(dòng)關(guān)閉電源，并報(bào)警；帶電插拔測試機(jī)中的PCB板(嚴(yán)禁這樣操作)時(shí)，自動(dòng)關(guān)閉電源；電源自動(dòng)關(guān)閉報(bào)警時(shí)，需要按面板上的復(fù)位按鈕后才能再開啟電源。Thankyouforwatching.測試資源在使用基于LK8820的集成電路測試平臺(tái)進(jìn)行芯片測試時(shí)，需要結(jié)合LK230T集成電路測試資源系統(tǒng)來完成芯片測試。1．使用LK230T的原因由于基于LK8820的集成電路測試平臺(tái)在完成一個(gè)測試方案時(shí)，需要搭建測試電路以及完成測試電路板的焊接，過程較為復(fù)雜還容易出錯(cuò)。為了簡化使用者的繁復(fù)操作，降低集成電路測試平臺(tái)的使用難度，LK230T集成電路測試資源系統(tǒng)提供了豐富的測試電路實(shí)例，來滿足用戶需求的多樣化。測試資源LK230T資源系統(tǒng)主要由測試板放置區(qū)、應(yīng)用電子模塊放置區(qū)、耗材放置區(qū)、測試區(qū)、接口區(qū)和練習(xí)區(qū)組成，實(shí)驗(yàn)箱配有測試案例板、應(yīng)用電子模塊和耗材，可以進(jìn)行案例測試，也可以進(jìn)行自主練習(xí)測試，如上圖所示。LK230T組成（1）測試區(qū)測試區(qū)具有測試的便利性和可擴(kuò)展性，擴(kuò)展了基于LK8820的集成電路測試平臺(tái)功能，如圖所示。LK230T組成LK230T組成（2）練習(xí)區(qū)練習(xí)區(qū)采用面包板進(jìn)行動(dòng)手能力訓(xùn)練，具有免焊接，降低耗材成本以及操作靈活等優(yōu)點(diǎn)，如圖所示。LK230T組成LK230T組成（3）手持式萬用表滿足實(shí)訓(xùn)中的儀器需求，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的可視化，如圖所示。LK230T組成LK230T資源清單Thankyouforwatching.測試軟件軟件架構(gòu)LK8820芯片測試管理系統(tǒng)是專為LK8820集成電路開發(fā)教學(xué)平臺(tái)配套的專用測試系統(tǒng)軟件，通過測試系統(tǒng)軟件，用戶可有效組織系統(tǒng)構(gòu)架，方便進(jìn)行多種芯片的參數(shù)測試。LK8820測試軟件運(yùn)行于win10x64位環(huán)境，基于系統(tǒng)軟件，用戶可方便的新建、打開、修改用戶測試程序，并為用戶建立完全獨(dú)立的C/C++編程環(huán)境，用戶通過使用測試機(jī)專用函數(shù)，可以有效的使用和控制測試機(jī)硬件資源，在VS2013C/C++編程環(huán)境中編寫出屬于自己的測試程序。軟件運(yùn)行雙擊“LK8820圖標(biāo)”運(yùn)行LK8820測試軟件，彈出LK8820測試系統(tǒng)登錄界面，如圖所示。LK8820軟件快捷方式LK8820測試系統(tǒng)登錄界面通常用戶名和密碼是默認(rèn)的，只需要直接單擊“登錄”按鈕即可進(jìn)入系統(tǒng)主界面。軟件運(yùn)行用戶在相應(yīng)的編輯框中中輸入對(duì)應(yīng)的用戶名和密碼，點(diǎn)擊<登錄按鈕>，如在后臺(tái)本地?cái)?shù)據(jù)庫中查到相應(yīng)的信息，完成登錄進(jìn)入系統(tǒng)主界面。該葉面左側(cè)為功能欄，8個(gè)功能按鈕分別對(duì)應(yīng)設(shè)備設(shè)置、芯片測試、數(shù)據(jù)顯示、云平臺(tái)、日志管理、用戶管理、分選測試、系統(tǒng)退出等功能。用戶設(shè)置單擊“用戶設(shè)置”，進(jìn)入用戶管理界面，可新增、刪除、修改用戶的相關(guān)信息，可對(duì)用戶數(shù)據(jù)庫進(jìn)行管理，并且可定義管理員以下級(jí)別用戶的權(quán)限信息。用戶設(shè)置界面用戶管理選中某行用戶可將信息顯示在右側(cè)的四個(gè)編輯框中，同時(shí)鼠標(biāo)雙擊某一單元格可以直接進(jìn)行信息改寫。選中某行用戶信息后點(diǎn)擊<用戶刪除>完成刪除用戶操作，在右側(cè)四個(gè)編輯框中填寫新用戶信息，點(diǎn)擊<用戶增加>完成新增用戶。修改用戶名指示步驟修改用戶權(quán)限指示步驟用戶日志測試系統(tǒng)軟件使用過程中，自動(dòng)完成對(duì)用戶操作的日志記錄和保存，同時(shí)用戶可以對(duì)自己當(dāng)前的歷史記錄進(jìn)行查看和查詢。如下圖所示:點(diǎn)擊<日志信息>顯示出當(dāng)前軟件使用過程中的操作日志信息輸入日志字段(可在下拉列表中參看具體字段)和關(guān)鍵字(例如:通訊狀態(tài)中的關(guān)鍵字為正常或異常)，可以進(jìn)行日志查詢，快速定位和檢索目標(biāo)日志信息。芯片測試芯片測試功能窗口，如下圖所示，用戶可通過創(chuàng)建工程，編寫自己的測試程序，運(yùn)行編譯后生成可執(zhí)行程序，完成載入過程，點(diǎn)擊開始測試，便可在屏幕中心顯示打印出所測試出的數(shù)據(jù)結(jié)果。右側(cè)信息欄為顯示出當(dāng)前測試的次數(shù)，時(shí)間，測試工程名，測試版本等基本信息。最上方為測試功能欄，分別對(duì)應(yīng)軟件啟動(dòng)，創(chuàng)建程序，載入程序，開始測試，暫停測試，手動(dòng)(連續(xù))測試，數(shù)據(jù)打印，實(shí)驗(yàn)配置，卸載退出等功能。云平臺(tái)在主界面點(diǎn)擊<云平臺(tái)>，提供了集成電路云平臺(tái)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)接口，用戶可直接訪問云平臺(tái)系統(tǒng)，如下圖所示，為了保證更好的使用體驗(yàn)，建議在電腦中將谷歌或者火狐瀏覽器設(shè)置為默認(rèn)瀏覽器。分選測試點(diǎn)擊主界面<分選測試>，將進(jìn)入分選相機(jī)功能窗口，在分測試中提供了對(duì)芯片智能識(shí)別及處理的功能，配合分選設(shè)備完成對(duì)芯片的分選。該功能采用圖像識(shí)別技術(shù)，判斷芯片絲印、封裝形式、外觀缺陷等特征。上位機(jī)實(shí)時(shí)監(jiān)控，圖像采集、產(chǎn)能統(tǒng)計(jì)、批次對(duì)比、數(shù)據(jù)分析。窗口上方為功能欄，分別對(duì)應(yīng)重啟，開始/暫停預(yù)覽，停止相機(jī)，字符校準(zhǔn)，設(shè)置，拍照等功能。下方狀態(tài)欄為獲取到圖像的分辨率，顯示幀率，捕捉幀率等基本信息。右側(cè)為處理結(jié)果指示燈提示及字符匹配度顯示區(qū)域，包括文字識(shí)別顯示及圖像OK/NG顯示。芯片字符管理列表:為方便用戶減少字符校準(zhǔn)方面的設(shè)置，提供了相關(guān)芯片字符校準(zhǔn)的便捷設(shè)置方式，在其下拉列表中為若干芯片(已完成字符校準(zhǔn)的屬性設(shè)置)。分選統(tǒng)計(jì):統(tǒng)計(jì)分選測試的數(shù)量及合格數(shù)量。Thankyouforwatching.測試硬件環(huán)境1.LK8820的測試板LK8820的測試板，也稱為DUT板。在進(jìn)行芯片測試時(shí)，通常需要搭建焊接測試電路板。目前LK8820的測試板使用MiniDUT板，如圖所示。2.LK8820的測試轉(zhuǎn)接板LK8820的測試轉(zhuǎn)接板有6個(gè)96Pin接口（母接口），MiniDUT板主要是通過這些接口連接在測試機(jī)上進(jìn)行測試。LK8820的測試轉(zhuǎn)接板，如圖所示。2.LK8820的測試轉(zhuǎn)接板將LK8820的ViniDUI板的正面向外、絲印向下插接到測試轉(zhuǎn)接板上,如圖所示。3.LK8820的外掛測試接口LK8820的外掛測試接口在LK8820機(jī)體的右面上側(cè),如圖所示。LK8820的外掛測試接口也有6個(gè)96Pin接口（公接口），在進(jìn)行芯片測試時(shí)，可將插接有MiniDUT板的測試轉(zhuǎn)接板，正面向外、絲印向下插接到外掛測試接口上，如圖所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟根據(jù)任務(wù)描述，需要按照芯片測試電路圖，完成芯片測試接口配接表設(shè)計(jì)、MiniDUT板芯片測試電路焊接以及轉(zhuǎn)接板測試電路搭建。1.測試接口芯片引腳與LK8820的芯片測試接口，是芯片測試電路設(shè)計(jì)的基本依據(jù)。XX芯片引腳與LK8820測試接口的配接表設(shè)計(jì)，如表所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟2.MiniDUT板測試電路焊接根據(jù)芯片測試接口配接表，在.MiniDUT板上搭建焊接測試電路板，如圖所示。（1）在MiniDUT板正面的指定位置上，插上一個(gè)XX芯片，芯片正面缺口向上。（2）在MiniDUT板反面的指定位置上，用連接線將XX芯片的引腳，依次對(duì)應(yīng)焊接到MiniDUT板反面兩邊的針插引腳上。測試硬件環(huán)境搭建步驟3．搭建轉(zhuǎn)接板測試電路（1）先將焊接好的XX芯片測試電路的MiniDUT板，正面向外、絲印向下插接到測試轉(zhuǎn)接板上。（2）參考表1-2所示的XX芯片引腳與LK8820測試接口的配接表，用杜邦線將XX芯片的引腳，依次對(duì)應(yīng)連接到測試轉(zhuǎn)接板上的96Pin的接口上，如圖1-21所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟（3）將搭建好的轉(zhuǎn)接板測試電路，插接到LK8820外掛盒的芯片測試接口上，XX芯片測試電路搭建完成，如圖所示。Thankyouforwatching.創(chuàng)建測試程序創(chuàng)建測試程序在創(chuàng)建第一個(gè)集成電路測試程序之前，我們需要先打開測試平臺(tái)，其步驟如下：第一步：打開LK8820前面板，打開專用電源開關(guān)，如圖所示。創(chuàng)建測試程序第二步：打開工控機(jī)電源開關(guān)創(chuàng)建測試程序1.創(chuàng)建XX芯片測試程序在<芯片測試>界面點(diǎn)擊<創(chuàng)建程序>按鈕，進(jìn)入新建程序窗口，如圖所示，點(diǎn)擊程序路徑選擇按鈕，彈出右側(cè)文件對(duì)話框，選擇一個(gè)目錄作為新建程序的保存路徑。點(diǎn)擊<確定>完成自己工程的創(chuàng)建，<取消>則取消本次創(chuàng)建。創(chuàng)建測試程序2.配置工程屬性。在創(chuàng)建工程后，通常需要配置工程屬性。雙擊后綴名為XX芯片.sln的文件，打開創(chuàng)建的XX芯片測試程序。先右鍵單擊“解決方案資源管理器”的“XX芯片”工程名，然后在彈出菜單中，單擊最后一行的“屬性”選項(xiàng)，如圖所示。創(chuàng)建測試程序打開的XX芯片屬性頁后，在屬性頁的“配置（C）：”中選擇“Debug”，在“平臺(tái)（P）：”中選擇“x64”，如圖所示。另外，還可以進(jìn)入下圖中的“配置管理器”，進(jìn)行屬性配置。在紅框中選擇x64后，返回上一級(jí)的屬性頁中，先點(diǎn)擊<應(yīng)用>，再點(diǎn)擊<確定>，(注意順序，否則可能配置未應(yīng)用)，完成以上的配置后，就可以編寫代碼了。創(chuàng)建測試程序3.編寫測試程序在“解決方案資源管理器”中，打開“J8820_luntek.cpp”。J8820_luntek.cpp主要包含頭文件包含、測試程序信息函數(shù)以及主測試程序函數(shù)，其中主測試程序函數(shù)，是需要我們編寫測試程序代碼的。（1）PASCALJ8820_luntek_inf（）函數(shù)PASCALJ8820_luntek_inf（）是測試程序信息的函數(shù)，是一個(gè)自動(dòng)生成的代碼，不需要我們編寫或修改的。創(chuàng)建測試程序（2）PASCALJ8820_luntek（）函數(shù)PASCALJ8820_luntek（）是一個(gè)主測試程序函數(shù)，主要包括測試程序初始化、直流參數(shù)測試、功能測試以及輸出測試結(jié)果等，這些代碼都需要我們編寫。自動(dòng)生成的主測試函數(shù)inlinevoidPASCALJ8820_luntek（），代碼如下：1.inlinevoidPASCALJ8820_luntek(

)2{3.//空函數(shù)體，可添加測試芯片代碼4.}這時(shí)，還需要在這個(gè)空函數(shù)中編寫測試XX芯片的代碼，具體代碼在后面的項(xiàng)目中介紹。編寫完測試程序后進(jìn)行編譯，若編譯發(fā)生錯(cuò)誤，要進(jìn)行分析檢查，直至編譯成功為止。創(chuàng)建測試程序4.修改def文件在創(chuàng)建工程時(shí),會(huì)自動(dòng)生成一個(gè)det文件模板,在"解決方案資源管理器"中,打開"XX芯片.det"。在def文件模板上，根據(jù)XX芯片的測試條件要求，修改def文件模板的每行每列內(nèi)容。創(chuàng)建測試程序5.XX芯片測試程序載入運(yùn)行先將搭建好的XX芯片測試電路，插接到LK8820外掛盒的芯片測試接口上，然后進(jìn)行XX芯片測試程序載入運(yùn)行操作。操作步驟如下：（1）運(yùn)行LK8820測試軟件，通過LK8820測試系統(tǒng)登錄等操作，進(jìn)入芯片測試界面；（2）單擊“載入程序”，彈出“程序選擇”界面，然后通過XX芯片測試程序的文件夾、經(jīng)x64文件夾、定位到Debug文件夾，獲取XX芯片的動(dòng)態(tài)鏈接庫文件、并完成芯片測試程序的載入，如下圖所示；創(chuàng)建測試程序（3）測試設(shè)置完成程序載入后，在<芯片測試>功能欄中選擇測試方式。<手動(dòng)測試>按鈕每次只測試一遍。<手動(dòng)連續(xù)>按鈕按下后就能連續(xù)測試，點(diǎn)擊<暫停測試>就會(huì)停止測試。每一次測試完成后，會(huì)將打印屏幕刷新，顯示出當(dāng)前新一輪的測試結(jié)果。右側(cè)測試信息欄會(huì)相應(yīng)的刷新數(shù)據(jù)。完成一輪芯片測試后，若有保存此輪數(shù)據(jù)的需求，點(diǎn)擊<數(shù)據(jù)打印>按鈕，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)模板保存于本地。<實(shí)驗(yàn)配置>提供了測試程序中所要測試參數(shù)的基本信息。創(chuàng)建測試程序（4）程序測試選擇好測試方式后，點(diǎn)擊<開始測試>按鈕進(jìn)行測試，結(jié)束此次測試后會(huì)將結(jié)果輸出到屏幕中。觀察XX芯片測試程序運(yùn)行結(jié)果,是否符合任務(wù)要求。若運(yùn)行結(jié)果不能滿足任務(wù)的要求,要對(duì)測試程序進(jìn)行分析檢查修改,直至運(yùn)行結(jié)果滿足任務(wù)要求為止。Thankyouforwatching.集成電路靜態(tài)測試集成電路電性能測試電性能測試靜態(tài)測試動(dòng)態(tài)測試集成電路靜態(tài)測試靜態(tài)測試主要檢測集成電路對(duì)于直流輸入信號(hào)的響應(yīng)，俗稱為直流測試。1.靜態(tài)功能測試將直流高、低電平各種輸入信號(hào)組合施加到待測電路上，檢測其輸出端的響應(yīng)，判斷是否符合電路預(yù)先設(shè)計(jì)的功能。2.靜態(tài)參數(shù)測試將直流電壓、電流施加到待測電路上，待電路進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)后，測試其直流特性參數(shù)。靜態(tài)參數(shù)測試數(shù)字集成電路輸出高低電平輸入和輸出電壓靜態(tài)參數(shù)靜態(tài)參數(shù)測試模擬集成電路輸入偏置電壓/電流電路的功耗靜態(tài)參數(shù)輸入失調(diào)電壓/電流靜態(tài)參數(shù)測試方法方法一：在待測試端施加直流電源，同時(shí)在該端口測量直流電流；方法二：是在待測試端施加直流電流，同時(shí)在該端口測量直流電壓。靜態(tài)參數(shù)測試時(shí)必須確保初始值為零，另外還要保證測試的穩(wěn)定性，防止自激；可以采用增加屏蔽、添加電容濾波等手段來避免。Thankyouforwatching.集成電路動(dòng)態(tài)測試集成電路動(dòng)態(tài)測試動(dòng)態(tài)測試主要檢測集成電路對(duì)于交流輸入信號(hào)的響應(yīng)，通常稱為交流測試。1.動(dòng)態(tài)功能測試主要指針對(duì)大規(guī)模數(shù)字電路在額定負(fù)載和頻率規(guī)范內(nèi)，進(jìn)行其功能測試；針對(duì)模擬電路進(jìn)行的實(shí)裝測試等。2.動(dòng)態(tài)參數(shù)測試包括數(shù)字電路的脈沖響應(yīng)測試、時(shí)間參數(shù)測試等；還包括模擬電路的頻率響應(yīng)測試和增益、頻寬等參數(shù)的測試等。動(dòng)態(tài)參數(shù)表征電路動(dòng)態(tài)性能的參數(shù)即為動(dòng)態(tài)參數(shù)。對(duì)于數(shù)字集成電路來說主要就是時(shí)間參數(shù)，如高/低電平持續(xù)時(shí)間、信號(hào)上升/下降時(shí)間、信號(hào)建立/保持時(shí)間、工作周期、傳輸延時(shí)時(shí)間等等。動(dòng)態(tài)參數(shù)測試方法動(dòng)態(tài)參數(shù)還可以通過利用時(shí)間測量儀器來進(jìn)行測試。動(dòng)態(tài)參數(shù)測試主要方法是通過逐步改變定時(shí)信號(hào)的設(shè)置而進(jìn)行動(dòng)態(tài)功能測試，具體來說是通過形成一定格式的輸入測試信號(hào)，添加到待測電路的輸入端，然后在其輸出端檢測相應(yīng)的信號(hào)，在判斷動(dòng)態(tài)功能是否滿足預(yù)期的情況下，還可以具體給出時(shí)間參數(shù)測試值。Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)LK8820測試機(jī)常用函數(shù)1._set_logic_level()函數(shù)原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數(shù)功能：設(shè)置驅(qū)動(dòng)參考電壓和比較參考電壓。參數(shù)說明：vih——驅(qū)動(dòng)高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅(qū)動(dòng)低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應(yīng)用實(shí)例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)2._measure_v()函數(shù)原形：float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函數(shù)功能：測量電源通道電壓，返回值范圍-30~30V，單位V；參數(shù)說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應(yīng)用實(shí)例：_measure_v(1，2)；//測量電源通道1的電壓，增益一倍。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)3._measure_i()函數(shù)原形：float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函數(shù)功能：選擇合適電流檔位，精確測量工作電流，單位μA；參數(shù)說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應(yīng)用實(shí)例：_measure_i(2，4，3)；//測量電源通道2電流，量程為1mA，增益5倍；注意：若選擇電流檔位量程小于待測電流值，返回值為該電流檔位量程值。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)4._on_vpt()函數(shù)原形：void_on_vpt(unsignedintchanel，unsignedintcurrent_state,floatvoltage)；函數(shù)功能：設(shè)置輸出電壓源通道及電壓值；參數(shù)說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、current_state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；voltage——輸出電壓（V），電壓范圍-30~+30V；應(yīng)用實(shí)例：_on_vpt(1，2，5)；//設(shè)置電源通道1輸出5V，電流檔位量程為100mA；注意：調(diào)用_on_vpt函數(shù)后，為了使源的內(nèi)部達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，需要至少延時(shí)10ms再執(zhí)行其他操作。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)5._on_ip()函數(shù)原形：void_on_ip(unsignedintchannel，floatcurrent)；函數(shù)功能：設(shè)置輸出電流源通道及電流值；參數(shù)說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、current——輸出電流（uA），-500000~+500000uA；應(yīng)用實(shí)例：_on_ip(3，20000)；設(shè)置電源通道3輸出20mA電流；注意：調(diào)用_on_ip函數(shù)后，為了使源的內(nèi)部達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，需要至少延時(shí)10mS再執(zhí)行其他操作。Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)LK8820測試機(jī)常用函數(shù)1._sel_drv_pin()函數(shù)原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...)；函數(shù)功能：設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳，打開PIN腳輸出；參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾應(yīng)用實(shí)例：_sel_drv_pin(1，3，5，0)；//設(shè)定PIN1，3，5為驅(qū)動(dòng)管腳；注意：在設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳時(shí)，測試機(jī)將自動(dòng)斷開PMU管腳，如果需要使用PMU功能，必須閉合PMU管腳。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)2._set_logic_level()函數(shù)原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數(shù)功能：設(shè)置驅(qū)動(dòng)參考電壓和比較參考電壓。參數(shù)說明：vih——驅(qū)動(dòng)高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅(qū)動(dòng)低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應(yīng)用實(shí)例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)3._set_drvpin()函數(shù)原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...)；函數(shù)功能：設(shè)置輸出驅(qū)動(dòng)腳的邏輯狀態(tài)；參數(shù)說明：*logic——邏輯標(biāo)志（“H”，“L”），H：高電平，L：低電平pin，...——管腳序列（1，2，3，…64），管腳序列要以0結(jié)尾；應(yīng)用實(shí)例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0)；//設(shè)定PIN1，3，5輸出高電平。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)4._sel_comp_pin()函數(shù)原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...)；函數(shù)功能：設(shè)定輸出（比較）管腳，打開PIN腳輸入；參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾；應(yīng)用實(shí)例：_sel_comp_pin(1，3，5，0)；//設(shè)定PIN1，3，5為比較管腳；注意：在設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳時(shí)，測試機(jī)將自動(dòng)斷開PMU管腳。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)5._read_comppin()函數(shù)原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...)；函數(shù)功能：讀取比較腳的狀態(tài)或數(shù)據(jù)。當(dāng)*logic=“H”時(shí)，返回0則pass，否則為fail。當(dāng)*logic=“L”時(shí)，返回0則pass，否則為fail；參數(shù)說明：*logic——邏輯標(biāo)志（“H”，“L”）、pin——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾；應(yīng)用實(shí)例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0)；//比較PIN1，3，5是否為高電平。Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)

——VM板LK8820測試機(jī)常用函數(shù)測試程序是測試機(jī)用戶根據(jù)芯片測試規(guī)范，調(diào)用測試機(jī)自帶的函數(shù)庫內(nèi)部的函數(shù)編寫的軟件，目前常用的測試機(jī)系統(tǒng)編程環(huán)境為TurboC2.0,芯片測試程序運(yùn)行于DOS環(huán)境。測試程序除了可用于TurboC2.0提供的全部函數(shù)外，還需要用到測試機(jī)廠家提供的一些專用函數(shù)，這些函數(shù)以庫函數(shù)cl.lib和包含文件user.h的形式提供，下面介紹一下LK8820測試機(jī)的常用測試函數(shù)。LK8820測試機(jī)常用函數(shù)VM板函數(shù)測試機(jī)常用函數(shù)PV板函數(shù)PE板函數(shù)ST板函數(shù)WM板函數(shù)VM板簡介參考電壓與電壓測量模塊（VM板）可提供四個(gè)參考電壓，四個(gè)參考電壓可通過程序設(shè)定，分別為輸入高電平（VIH）、輸入低電平（VIL）、輸出高電平（VOH）、輸出低電平（VOL）。具備電壓測量功能，可測試范圍±30V。VM板的常用函數(shù)包括：設(shè)置邏輯電平函數(shù)_set_logic_level()、電壓測量函數(shù)_measure_v()、電流測量函數(shù)_measure_i()。VM板函數(shù)簡介1._vm_init()函數(shù)原形：_vm_init()；函數(shù)功能：VM板初始化，參考電壓預(yù)置到0V，關(guān)閉AD采樣通道。參數(shù)說明：無參數(shù)應(yīng)用實(shí)例：_vm_init()； //VM板初始化VM板函數(shù)簡介2._set_logic_level()函數(shù)原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數(shù)功能：設(shè)置驅(qū)動(dòng)參考電壓和比較參考電壓。參數(shù)說明：vih——驅(qū)動(dòng)高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅(qū)動(dòng)低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應(yīng)用實(shí)例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。VM板函數(shù)簡介3._measure_v()函數(shù)原形：

float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函數(shù)功能：測量電源通道電壓，返回值范圍-30~30V，單位V；參數(shù)說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應(yīng)用實(shí)例：_measure_v(1，2)；//測量電源通道1的電壓，增益一倍。VM板函數(shù)簡介4._measure_i()函數(shù)原形：

float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函數(shù)功能：選擇合適電流檔位，精確測量工作電流，單位μA；參數(shù)說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應(yīng)用實(shí)例：_measure_i(2，4，3)；//測量電源通道2電流，量程為1mA，增益5倍；VM板函數(shù)簡介5._get_ad()函數(shù)原形：float_get_ad(unsignedintchannel，unsignedintgain);函數(shù)功能：讀取A/D輸入電壓值，返回值范圍-10~10V，單位V。參數(shù)說明：channe——測量通道（1，2，3···16）其中測量通道1，3，5，7，9，11，13，15測量電流通道電壓值，測量通道2，4，6，8，10，12，14，16測量電壓通道電壓值。 gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應(yīng)用實(shí)例：_get_ad(2,2); //測量電源通道1的電壓值，無增益Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)

——PE板PE板簡介數(shù)字功能管腳模塊是實(shí)現(xiàn)數(shù)字功能測試的核心，能給被測電路提供輸入信號(hào)，測試被測電路的輸出狀態(tài)。數(shù)字功能管腳模塊提供16個(gè)管腳通道，可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展至4個(gè)數(shù)字功能管腳模塊（64通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。PE板的常用函數(shù)包括：_on_fun_pin()、_off_fun_pin()、_on_pmu_pin()、_off_pmu_pin()、_sel_drv_pin()、_set_drvpin()、_sel_comp_pin()、_read_comppin()、_rdcmppin()、_on_pmu()、_off_pmu()、_pmu_test_vi()、pmu_test_iv()、_read_pin_voltage()PE板函數(shù)簡介1.void_pe_init()函數(shù)原形：void_pe_init(unsignedintmodule);函數(shù)功能：PE板初始化，復(fù)位PMU通道，斷開PIN腳輸出。參數(shù)說明：module——板卡號(hào)（1，2，3，4）應(yīng)用實(shí)例：_pe_init(1)； //PE板

板卡1初始化PE板函數(shù)簡介2._on_fun_pin()函數(shù)原形：void_on_fun_pin(unsignedintpin，…);函數(shù)功能：閉合功能管腳繼電器，打開PIN腳輸出。參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾。應(yīng)用實(shí)例：_on_fun_pin（1，5，6，0）； //閉合PIN1，5，6的功能管腳繼電器PE板函數(shù)簡介3._off_fun_pin()函數(shù)原形：void_off_fun_pin(unsignedintpin，...);函數(shù)功能：斷開功能管腳繼電器，斷開PIN輸出。參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾應(yīng)用實(shí)例：_off_fun_pin（2，3，7，0）； //斷開PIN2，3，7的功能管腳繼電器PE板函數(shù)簡介4._on_pmu_pin()函數(shù)原形：void_on_pmu_pin(unsignedintpin);函數(shù)功能：閉合PMU管腳繼電器。參數(shù)說明：pin——管腳號(hào)（1，2，3，···64）應(yīng)用實(shí)例：_on_pmu_pin(2); //閉合PIN2的PMU管腳繼電器PE板函數(shù)簡介5._off_pmu_pin()函數(shù)原形：void_off_pmu_pin(unsignedintpin);函數(shù)功能：斷開PMU管腳繼電器。參數(shù)說明：pin——管腳號(hào)（1，2，3，···64）應(yīng)用實(shí)例：_on_pmu_pin(6); //斷開PIN6的PMU管腳繼電器PE板函數(shù)簡介6._sel_drv_pin()函數(shù)原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...);函數(shù)功能：設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳，打開PIN腳輸出。參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾注意：在設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳時(shí)，測試機(jī)將自動(dòng)斷開PMU管腳，如果需要使用PMU功能，必須閉合PMU管腳。應(yīng)用實(shí)例：_sel_drv_pin(1，3，5，0); //設(shè)定PIN1，3，5為驅(qū)動(dòng)管腳PE板函數(shù)簡介7._set_drvpin()函數(shù)原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...);函數(shù)功能：設(shè)置輸出驅(qū)動(dòng)腳的邏輯狀態(tài)。參數(shù)說明：*logic——邏輯標(biāo)志（“H”，“L”），H：高電平，L：低電平pin，...——管腳序列（1，2，3，…64），管腳序列要以0結(jié)尾應(yīng)用實(shí)例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0); //設(shè)定PIN1，3，5輸出高電平PE板函數(shù)簡介8._sel_comp_pin()函數(shù)原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...);函數(shù)功能：設(shè)定輸出（比較）管腳，打開PIN腳輸入。注意：在設(shè)定輸入（驅(qū)動(dòng)）管腳時(shí)，測試機(jī)將自動(dòng)斷開PMU管腳。參數(shù)說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾應(yīng)用實(shí)例：_sel_comp_pin(1，3，5，0); //設(shè)定PIN1，3，5為比較管腳PE板函數(shù)簡介9._read_comppin()函數(shù)原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...);函數(shù)功能：讀取比較腳的狀態(tài)或數(shù)據(jù)。當(dāng)*logic=“H”時(shí)，返回0則pass，否則為fail。當(dāng)*logic=“L”時(shí)，返回0則pass，否則為fail。參數(shù)說明：*logic——邏輯標(biāo)志（“H”，“L”）pin——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結(jié)尾應(yīng)用實(shí)例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0); //比較PIN1，3，5是否為高電平PE板函數(shù)簡介10._rdcmppin()函數(shù)原形：int_rdcmppin(unsignedintpin);函數(shù)功能：讀取比較腳的邏輯狀態(tài)，返回“0”或“1”。1：邏輯狀態(tài)為“H”；0：邏輯狀態(tài)為“L”參數(shù)說明：pin——管腳號(hào)（1，2，3，···64）應(yīng)用實(shí)例：_rdcmppin(5); //讀取PIN5的邏輯狀態(tài)PE板函數(shù)簡介11._on_pmu()函數(shù)原形：void_on_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函數(shù)功能：閉合PMU通道繼電器，打開PMU通道。參數(shù)說明：module——板卡號(hào)（1，2，3，4）channel——PMU通道（1，2，3，···8）應(yīng)用實(shí)例：_on_pmu(1，5)； //打開PE板

板卡1的PMU通道5PE板函數(shù)簡介12._off_pmu()函數(shù)原形：void_off_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函數(shù)功能：斷開PMU通道繼電器，關(guān)閉PMU通道。參數(shù)說明：module——板卡號(hào)（1，2，3，4） channel——PMU通道（1，2，3，···8）應(yīng)用實(shí)例：_on_pmu(2，6)； //關(guān)閉PE板

板卡2的PMU通道6PE板函數(shù)簡介13._pmu_test_vi()函數(shù)原形：float_pmu_test_vi(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintstate，floatvoltage，unsignedintgain);函數(shù)功能：對(duì)管腳進(jìn)行供電壓測電流的PMU測量，返回管腳電流，單位uA。參數(shù)說明：pin——管腳號(hào)（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···8）state——電流檔位（1，2，3···7） 1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA 5：100uA；6：10uA；7：1uAvoltage——驅(qū)動(dòng)電壓（V），-30~+30V gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應(yīng)用實(shí)例：_pmu_test_vi(1，2，5，0，2); //對(duì)PIN1使用PMU通道2供5V電壓測電流，電流量程100uA，增益一倍PE板函數(shù)簡介14.pmu_test_iv()函數(shù)原形：float_pmu_test_iv(unsignedintpin，unsignedintchannel，floatsouce，unsignedintgain);函數(shù)功能：對(duì)管腳進(jìn)行供電流測電壓的PMU測量，返回管腳電壓，單位V。參數(shù)說明：pin——被測管腳號(hào)（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···64） souse——驅(qū)動(dòng)電流（uA），-500000~+500000 gain——測量增益（1，2，3）1：衰減1/3倍；2：放大1倍；3：放大5倍應(yīng)用實(shí)例：_pmu_test_iv(1，3，500，2);PE板函數(shù)簡介15._read_pin_voltage()函數(shù)原形：float_read_pin_voltage(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintgain);函數(shù)功能：測量PIN腳輸入電壓，返回管腳電壓，單位V。參數(shù)說明：pin——被測管腳號(hào)（1，2，3，···64） channel——電源通道（1，2，3，···64） gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應(yīng)用實(shí)例：_read_pin_voltage(3，4，2)；//使用PMU通道4測量PIN3的電壓，增益一倍Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)

——ST板ST板簡介模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊功能主要有16個(gè)用戶繼電器、128個(gè)光繼電器矩陣開關(guān)、1kHz~1MHz用戶時(shí)鐘信號(hào)、TMU測試功能?？筛鶕?jù)用戶需求擴(kuò)展至2個(gè)模擬開關(guān)與時(shí)間測量模塊，用于滿足64pin以下芯片測試需求。ST板的常用函數(shù)包括：_turn_switch()、_turn_key()、_on_clko()、_off_clko()、_tmu_test()。ST板函數(shù)簡介1._turn_switch()函數(shù)原形：void_turn_switch(char*state，unsignedintn，...)；函數(shù)功能：打開或關(guān)閉用戶繼電器；參數(shù)說明：*state——接點(diǎn)狀態(tài)標(biāo)志（“on”，“off”），on：接通，off：斷開n，…——繼電器編號(hào)序列（1，2，3，···32），序列以0結(jié)尾；應(yīng)用實(shí)例：_turn_switch(“on”，1，2，0)；//閉合用戶繼電器1，2；ST板函數(shù)簡介2._turn_key()函數(shù)原形：void_turn_key(char*state，unsignedintmodule，unsignedintx，unsignedinty)；函數(shù)功能：控制xy矩陣接點(diǎn)；參數(shù)說明：*state——接點(diǎn)狀態(tài)標(biāo)志（“on”，“off”），on：接通，off：斷開、module——板卡號(hào)（1，2）、x——矩陣行（0，1，2···15）、y——矩陣列（0，1，2···7）；應(yīng)用實(shí)例：_turn_key(“on”，1，2)；//打開X=1，Y=2接點(diǎn)；ST板函數(shù)簡介3._on_clko()函數(shù)原形：void_on_clko(unsignedintchannel，floatlv1，floatlv2，floatfreq)；函數(shù)功能：設(shè)置用戶時(shí)鐘信號(hào)參數(shù)，打開用戶時(shí)鐘信號(hào)輸出；參數(shù)說明：channel——時(shí)鐘信號(hào)通道（1，2）、lv1——時(shí)鐘信號(hào)低電平電壓（V），電壓范圍-10V~+10V、lv2——時(shí)鐘信號(hào)高電平電壓（V），電壓范圍-10V~+10V、freq——時(shí)鐘信號(hào)頻率（Hz），頻率范圍1KHz~1MHz；應(yīng)用實(shí)例：_on_clko(1，0，5，1000)；//設(shè)置通道1輸出1000Hz時(shí)鐘信號(hào)，低電平為0V，高電平為5V；ST板函數(shù)簡介4._off_clko()函數(shù)原形：void_off_clko(unsignedintchannel)；函數(shù)功能：關(guān)閉用戶時(shí)鐘信號(hào)輸出；參數(shù)說明：channel——時(shí)鐘信號(hào)通道（1，2）；應(yīng)用實(shí)例：_off_clko(1)；//關(guān)閉時(shí)鐘信號(hào)通道1輸出；ST板函數(shù)簡介5._tmu_test()函數(shù)原形：int_tmu_test(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintmode，floatlv1，floatlv2，unsignedintgain)；函數(shù)功能：設(shè)置TMU測量參數(shù)，啟動(dòng)TMU測量；ST板函數(shù)簡介參數(shù)說明：channel——TMU通道（1，2）、state——輸入模式選擇（1，2，3，···6）、1：TMU+，TMU-輸入，高輸入阻抗，1MΩ；2：TMU+，TMU-輸入，低輸入阻抗，50Ω；3：TMU+輸入，高輸入阻抗，1MΩ；4：TMU+輸入，高輸入阻抗，50Ω；5：TMU+輸入，高輸入阻抗，1MΩ；6：TMU+輸入，高輸入阻抗，50Ω；mode——測量模式（1，2，3，···8）、1：低速測量，Start信號(hào)為上升沿，Stop信號(hào)為上升沿；2：低速測量，Start信號(hào)為下降沿，Stop信號(hào)為下降沿；3：低速測量，Start信號(hào)為上升沿，Stop信號(hào)為下降沿；4：低速測量，Start信號(hào)為下降沿，Stop信號(hào)為上升沿；5：高速測量，Start信號(hào)為上升沿，Stop信號(hào)為上升沿；6：高速測量，Start信號(hào)為下降沿，Stop信號(hào)為下降沿；7：高速測量，Start信號(hào)為上升沿，Stop信號(hào)為下降沿；8：高速測量，Start信號(hào)為下降沿，Stop信號(hào)為上升沿；lv1——設(shè)置Start觸發(fā)電壓（V），-10V~+10V、lv2——設(shè)置Stop觸發(fā)電壓（V），-10V~+10V、gain——信號(hào)衰減模式（1，2，3）；1：衰減比1：20；2：衰減比1：5；3：無衰減；應(yīng)用實(shí)例：應(yīng)用實(shí)例：int_tmu_test(1，3，1，1，4，3)；//設(shè)置TMU通道1的TMU+輸入待測信號(hào)，測量模式為低速模式，Start信號(hào)為上升沿，Stop信號(hào)為上升沿。設(shè)置Start觸發(fā)電壓1V，Stop觸發(fā)電壓4V，無衰減；Thankyouforwatching.LK8820測試機(jī)常用函數(shù)

——WM板WM板簡介模擬功能模塊是測試機(jī)實(shí)現(xiàn)交流信號(hào)測試的，主要功能是提供交流信號(hào)輸出與交流信號(hào)測量功能，可輸出波形有正弦波、三角波、鋸齒波，能測量交流信號(hào)的有效值、總諧波失真度。WM板的常用函數(shù)包括：設(shè)置波形參數(shù)函數(shù)_set_wave()、

輸出波形函數(shù)_wave_on()、禁止輸出波形函數(shù)_wave_off()、設(shè)置低速測量模式函數(shù)_set_lmeasure()、_tmu_test()、設(shè)置高速測量模式函數(shù)_set_hmeasure()。WM板函數(shù)簡介1._wm_init()函數(shù)原形：void_wm_init(unsignedintmodule);函數(shù)功能：WM板初始化，預(yù)置參考電壓、偏置電壓為0V，復(fù)位波形輸出通道、波形采樣通道，斷開所有繼電器。參數(shù)說明：module——板卡號(hào)（1，2）應(yīng)用實(shí)例：_wm_init(1)； //WM板

板卡1初始化WM板函數(shù)簡介2._set_wave()函數(shù)原形：void_set_wave(unsignedintchannel，unsignedintmode，floatvpp，floatvref，floatfreq，unsignedintfilter，unsignedintgain)；函數(shù)功能：設(shè)置波形輸出參數(shù)；參數(shù)說明：channel——波形輸出通道（1，2，3，4）、mode——設(shè)置輸出波形（1，2，3，4）、1：正弦波；2：三角波；3：鋸齒波；4：方波vpp——設(shè)置輸出波形峰峰值（V），0~20V、vref——設(shè)置輸出波形偏置值（V），-10V~10V、freq——設(shè)置輸出波形頻率（Hz），1Hz~100KHz、filter——選擇濾波截至頻率（1，2，3）、1：不濾波；2：截至頻率10KHz；3：截至頻率100KHz；gain——選擇波形輸出衰減比（1，2）；1：無衰減；2：衰減比1：10；應(yīng)用實(shí)例：_set_wave(1，1，10，0，1000，1，1)；//設(shè)置通道1輸出1KHz，10Vpp，0Vdc的正弦波，無濾波，無衰減；WM板函數(shù)簡介3._wave_on()函數(shù)原形：void_wave_on(unsignedintchannel)；函數(shù)功能：接通波形輸出繼電器，輸出波形；參數(shù)說明：channel——波形輸出通道（1，2，3，4）；應(yīng)用實(shí)例：_wave_on(1)；//波形輸出通道1輸出波形；注意事項(xiàng)：調(diào)用_wave_on函數(shù)后，為了使源的內(nèi)部達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，需要至少延時(shí)10mS再執(zhí)行其他操作。WM板函數(shù)簡介4._wave_off()函數(shù)原形：void_wave_off(unsignedintchannel)；函數(shù)功能：斷開波形輸出繼電器，禁止輸出波形；參數(shù)說明：channel——波形輸出通道（1，2，3，4）；應(yīng)用實(shí)例：_wave_off(1)；//關(guān)閉波形輸出通道1，波形輸出通道1禁止輸出波形WM板函數(shù)簡介5._set_lmeasure()函數(shù)原形：void_set_lmeasure(unsignedintchannel,unsignedintcouple,unsignedintvrange,floatvoffset,unsigned