• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-03-19 頒布
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【正版授權(quán)-英/法語(yǔ)版】 IEC 63185:2025 EN-FR Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method_第1頁(yè)
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：IEC 63185:2025 EN-FR
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：低損耗介電基底復(fù)介電性的測(cè)量——平衡式圓盤(pán)諧振器法
  • 英文名稱：Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-03-19

文檔簡(jiǎn)介

IEC63185:2025是一個(gè)國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）制定的標(biāo)準(zhǔn)，主要用于測(cè)量低損耗介質(zhì)基片的復(fù)介電常數(shù)。這是一個(gè)針對(duì)平衡式圓盤(pán)諧振器（balanced-typecirculardiskresonator）方法的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。具體來(lái)說(shuō)，該方法使用了一個(gè)平衡式圓盤(pán)諧振器電路來(lái)檢測(cè)和分析在給定的介質(zhì)基片上施加的電磁波。

這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的主要步驟包括：

1.準(zhǔn)備測(cè)試樣品：樣品應(yīng)該是一個(gè)低損耗的介質(zhì)基片，其特性應(yīng)該與所測(cè)量的電磁波頻率相匹配。

2.安裝和校準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)：包括電磁波源、樣品放置平臺(tái)、測(cè)量設(shè)備（如平衡式圓盤(pán)諧振器電路）和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。所有設(shè)備都需要進(jìn)行校準(zhǔn)以確保準(zhǔn)確測(cè)量。

3.施加電磁波：通過(guò)電磁波源向樣品施加特定頻率和模式的電磁波。

4.測(cè)量和分析：使用測(cè)量設(shè)備檢測(cè)施加的電磁波在樣品上的反射和傳輸，通過(guò)分析這些數(shù)據(jù)可以得出樣品的復(fù)介電常數(shù)。

5.數(shù)據(jù)處理和結(jié)果解釋：根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)，使用適當(dāng)?shù)乃惴ê湍Ｐ瓦M(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到樣品的復(fù)介電常數(shù)的具體數(shù)值和相關(guān)特性。

這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于研究和生產(chǎn)涉及到介質(zhì)基片的應(yīng)用（如無(wú)線通信、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等）具有重要的意義，因?yàn)樗峁┝司_測(cè)量介質(zhì)基片電

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