內(nèi)存ATE測試介紹.ppt

1、技術(shù)交流記憶ATE測試，2007年3月，客戶服務(wù)，卓越，概述，ATE測試和ATE測試設(shè)備特性HP83K/T5592 ATE測試簡介，ATE測試，什么是ATE測試？自動測試設(shè)備(ATE)是自動測試設(shè)備(automatic test equipment)的縮寫，即自動測試設(shè)備，是一種測試存儲芯片或軟件隨機存取存儲器芯片質(zhì)量的測試設(shè)備。自動測試設(shè)備(ATE)測試是使用自動測試設(shè)備來測試存儲芯片或軟件隨機存取存儲器芯片的質(zhì)量。ATE測試，ATE的工作原理：ATE測試設(shè)備，高級ATE測試設(shè)備包括：Verigy的93K系統(tǒng)，Advantest的T5581/T5585/T5592系統(tǒng)，KINGTIGER的K

2、T2A PRO系統(tǒng)特點：高精度，快速，完整的電氣性能，功能和定時測試和分析，昂貴的專業(yè)制造商，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，KT-2A PRO系統(tǒng)，ATE測試設(shè)備，ATE的特點T5592簡介，T5592測試系統(tǒng)簡介，T5592參數(shù)簡介，可測試各種存儲器(專用)。 最高測試頻率可達1.066千兆赫，定時精度可達150微秒。有64個可測試芯片，16個內(nèi)存庫(2個工作站)。驅(qū)動程序與雙向端口分開，以節(jié)省成本(內(nèi)存功能是專門設(shè)計的)。T5592簡介、硬件部分、T5592簡介、ATE測試簡介、ATE測試簡介、T5592測試項目、連通性測試漏電流測試電源電流測試功能測試重

3、要DC交流參數(shù)測試SPD讀寫測試、T5592簡介、連通性測試原理、ATE測試簡介、ATE測試簡介、漏電流測試原理、ATE測試簡介、IDD(動態(tài)電源電流)測試原理、時間條件電壓條件波形條件邏輯值、驅(qū)動器(ATE)比較器、 被測器件(DUT)、圖形文件、結(jié)果： P/F、芯片電源、自動測試設(shè)備測試簡介、功能測試模式檢查板、自動測試設(shè)備測試簡介、功能測試模式3月-6日。 加電壓測量電流，加電流測量電壓2。改變DC參數(shù)，執(zhí)行功能測試，并找到P/F轉(zhuǎn)換點3。運行模式程序直接測量參數(shù)，自動測試設(shè)備測試介紹，DC測試，自動測試設(shè)備測試介紹，目的：測試芯片的各種電氣性能，VSIM，ISVM，DC測試單元，DC參

4、數(shù)測試，電壓參數(shù)測試，主電壓參數(shù)，電源電壓VDD，VDDQ，VREF輸入電壓VIL，VIH輸出電壓vol，VOH，測試目的：評估被測設(shè)備能夠正常工作的電壓范圍；評估輸入引腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力；評估輸出引腳輸出相應(yīng)邏輯電壓的能力；測試當前參數(shù)；主要電流參數(shù)：電源電流IDD、輸入漏電流IIL、IIH、輸出漏電流IOL、IOH、IOZ；評估DUT的漏電流，評估DUT工作所需的電源電流；DC參數(shù)測試、工程測試、交流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試的基本原理：改變待測參數(shù)，重復(fù)功能測試，直到測試結(jié)果從合格變?yōu)椴缓细?。記錄通過/失敗轉(zhuǎn)換點，執(zhí)行必要的數(shù)學(xué)運算，并獲得待測試參數(shù)的真實值。本質(zhì)上，進行功能測試是基于

5、時間條件的。，交流參數(shù)測試，交流參數(shù)測試目的：為了保證器件的時序參數(shù)滿足器件規(guī)格要求，為了保證器件能夠在不同的時序條件下正常工作，為了分析器件的時序參數(shù)，為了解決故障問題，為了調(diào)試/優(yōu)化測試程序，為了測試工程，為了測試典型交流參數(shù)(CL/TRCD/Trp)的時序圖，為了測試交流參數(shù)，Shmoo圖例- Margin Test用于評估芯片的實際性能，通常通過SHMOO PLOT工具進行分析。交流參數(shù)測試，Shmoo圖例，二維Shmoo同時改變兩個相關(guān)參數(shù)，執(zhí)行功能測試，紅色FAIL區(qū)域，綠色PASS區(qū)域，交流參數(shù)測試，ate測試，大規(guī)模生產(chǎn)，工程/評估)，ATE ate測試介紹，生產(chǎn)測試流程，基本電氣性能測試，重要交流參數(shù)測試，功能測試，連通性測試，泄漏電流測試，IDD測試，時間順序?qū)捤桑瑫r間