液晶面板不良現(xiàn)象Defect Code的命名及現(xiàn)象簡(jiǎn)介PPT演示課件

AUOProprietary2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)的紅色、綠色、藍(lán)色小光點(diǎn)。2.如下圖所示。3.完整一顆Subpixel發(fā)亮則稱為亮點(diǎn)。,DA11亮點(diǎn)(BrightPoint),成因：1.Array金屬殘留;Cell段導(dǎo)電性突起物2.Cell段導(dǎo)電性突起物,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)的紅色、綠色或藍(lán)色忽亮忽暗的小光點(diǎn)。2.其閃爍的速度不定有的快有的慢。3.通常為完整一顆的Subpixel。,DA111閃爍亮點(diǎn)(FlashPoint),成因：1.Array金屬殘留2.Cell段導(dǎo)電性突起物3.Cell段導(dǎo)電性突起物RepairFail,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.因?yàn)橛|碰產(chǎn)品表面而出現(xiàn)的50公分可見(jiàn)的紅色、綠色或藍(lán)色小光點(diǎn)。2.出現(xiàn)後有可能變成亮點(diǎn)也可能變成閃爍亮點(diǎn)。3.通常為完整的一顆Subpixel。,DA112壓力點(diǎn)(PressPoint),成因：1.PI刮傷2.ITO破洞3.Cell製程中的污染,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分輕微可見(jiàn)的紅色、綠色或藍(lán)色微小光點(diǎn)。2.沒(méi)有固定形狀且常數(shù)顆或成群出現(xiàn)。3.通常為1/3顆的Subpixel。,DA113碎亮點(diǎn)(SmallBP),成因：1.ITO殘留2.AS殘留,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)的混色小光點(diǎn)。2.任何兩相鄰亮點(diǎn)的四角或四邊有連接情形者皆稱之.,DA12二連亮點(diǎn)(BP-Pair),成因：1.Array元件特性不良2.O/LShift3.Cell製程中導(dǎo)電性Particle,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)的混色或偏白色的光點(diǎn)。2.任何三顆相鄰亮點(diǎn)者皆稱之。,DA13聚集亮點(diǎn)(Point-Cluster),成因：1.Array元件特性不良;2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測(cè)畫面L0階(黑畫面)。現(xiàn)象敘述裸視可見(jiàn),50公分正視不可見(jiàn),放大鏡看占滿整個(gè)subpixel,DA114微亮點(diǎn)(smallbrightdot),成因：1.Array元件特性不良;2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)的綠色的光點(diǎn)。,DA16綠點(diǎn)(GreenBrightPoint),成因：1.ITO殘留2.AS殘留,檢測(cè)畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)的垂直長(zhǎng)條型綠色的光點(diǎn)。,DA161垂直二連綠亮點(diǎn)(V-PairGreenBrightDot),成因：1.Array元件特性不良;2.刮傷3.Cell段導(dǎo)電性Particle,檢測(cè)畫面L0階畫面、L116階畫面。現(xiàn)象敘述50公分可見(jiàn)的兩顆靠近的亮點(diǎn)。,DA17靠近亮點(diǎn)(BP-Near),成因：1.Array元件特性不良2.AS殘留3.ITO殘留4.Cell製程中導(dǎo)電性Particle5.刮傷,檢測(cè)畫面1.L0,L48,L92,L116,L255,RGB現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)的紅色、綠色或藍(lán)色小光點(diǎn)和暗點(diǎn)，總數(shù)合計(jì)超過(guò)規(guī)格。,DA181亮暗點(diǎn)總數(shù)(Point-Count),成因：1.Array元件與GateLine之間有Leakage2.ITO殘留3.AS殘留,檢測(cè)畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB現(xiàn)象敘述1.同一畫面中同時(shí)存在亮點(diǎn)與暗點(diǎn)並有兩點(diǎn)間距離不合規(guī)格時(shí)。,DA182亮暗點(diǎn)間距(DP-BPnear),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測(cè)畫面RGB,L255階畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)的黑色小點(diǎn)。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA21暗點(diǎn)(DarkPoint),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測(cè)畫面W/R/G/B,L255階畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)的黑色小點(diǎn)。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA22二連暗點(diǎn)(DP-Pair),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測(cè)畫面W/R/G/B,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)三顆或以上相連接的黑色小點(diǎn)。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA23聚集暗點(diǎn)(ClusterPoint),成因：1.刮傷2.Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測(cè)畫面R/G/B,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述50公分明顯可見(jiàn)兩顆靠近的小暗點(diǎn)。,DA231靠近暗點(diǎn)(DP-Near),成因：光罩曝光部分重疊,檢測(cè)畫面G92階畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見(jiàn)塊狀、條狀或十字形顏色較深的區(qū)塊。2.常發(fā)生位置如下:,DA31面繼Mura(ShotMura),成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片尺吋過(guò)大2.背光板Frame設(shè)計(jì)不良尺吋過(guò)小或製程出問(wèn)題造成Frame尺吋過(guò)小3.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片經(jīng)Agine後熱漲冷縮造成,檢測(cè)畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述40度側(cè)視明顯可見(jiàn)波浪狀痕跡。,DB33PMura(PMura),成因：1背光板膜片設(shè)計(jì)不良2.背光板內(nèi)的膜片在燈管兩側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過(guò),檢測(cè)畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述畫面四角出現(xiàn)偏亮白色的色塊但輪廓不明顯，,DB34角Mura(HornMura),成因：1.背光板膜片設(shè)計(jì)不良2.背光板內(nèi)的膜片在燈管側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過(guò),檢測(cè)畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見(jiàn)一條或一段顏色較暗的色帶。,DB4暗線(DarkLine),成因：1.背光板原材不良本身即有背光板髒污2.背光板經(jīng)組裝或重工時(shí)組裝不慎造成,檢測(cè)畫面L255畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分側(cè)視(或由上往下看)即可見(jiàn)明顯的一條亮度比全白的背景更亮更白的白色線或點(diǎn)，直徑約為1-3mm不等。2.以正視會(huì)變淡或看不見(jiàn)。,DB51背光板刮傷/Prism損傷(B/Lscratch/Prismsheetdamage),成因：1背光板原材不良本身即有背光板髒污2.背光板經(jīng)組裝或重工時(shí)組裝不慎造成,檢測(cè)畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分可見(jiàn)大小大於背光板異物且形狀與色差均較背光板異物模糊小霧狀物體。2.以15倍放大鏡(15XLupe)無(wú)法看出明顯異物者。,DB52背光板髒污(B/Ldirty),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測(cè)畫面L255(63)畫面?，F(xiàn)象敘述產(chǎn)品因燈管損壞而造成該區(qū)域顏色偏暗。,DB6Lamp暗/BLU暗(lampdark),成因：1.泛指一般末定義的背光板原材不良,DB7背光源材料不良(BackLightMaterialDamage),成因：1.背光板原材不良本身燈源線材有斷裂情況2.測(cè)試人員操作不良燈源線材有斷裂情況,DB8燈管shutdown(Lampshutdown),成因：1.人員在組裝時(shí)造成的particle,2.B/L來(lái)料時(shí)就有的particle,3.cell表面的particle,檢測(cè)畫面1.L255L1/5gomi現(xiàn)象敘述1.用放大鏡看,particle在RGB的下面,并且會(huì)隨視線的動(dòng)而動(dòng).,DB11下gomi(B/LParticle),成因:背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片上有殘膠或透明異物,檢測(cè)畫面L255(63)畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分正視即可見(jiàn)明顯的一顆亮度比全白的背景更亮更白的白色點(diǎn)，直徑約為1-10mm不等。2.以上視或其他角度會(huì)變淡或看不見(jiàn),DB12背光板白點(diǎn)(B/Lwhitespot),成因：1.Bezel變形或間隙過(guò)大2.遮光膠帶貼付對(duì)位不準(zhǔn)3.玻璃漏光,檢測(cè)畫面L0畫面或漢字框畫面?，F(xiàn)象敘述漏光係指鐵框與玻璃間所出現(xiàn)的條狀白色、黃色、褐色或藍(lán)色亮線，長(zhǎng)度不一定，有時(shí)呈數(shù)段出現(xiàn)。,DB21漏光(Lightleakage),B/L漏光,鐵框漏光,成因：1.Bezel變形或間隙過(guò)大2.遮光膠帶貼付對(duì)位不準(zhǔn)3.玻璃漏光,檢測(cè)畫面漢字字框畫面?，F(xiàn)象敘述畫面週圍的有色細(xì)線斷掉或?qū)挾雀淖儭?DB22漢字字框缺陷(waku),成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片組裝不良或尺寸不合,檢測(cè)畫面L255畫面。現(xiàn)象敘述畫面任一邊出現(xiàn)顯示區(qū)與BM區(qū)間的亮白色細(xì)線，仔細(xì)看通常呈一邊較細(xì)一邊較粗的現(xiàn)象,DB23背光板內(nèi)層偏移(Black-LightSheetShift),成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片定位片尺吋不對(duì)或組裝偏移,檢測(cè)畫面GB128畫面?，F(xiàn)象敘述通常出現(xiàn)在畫面兩側(cè)(或單側(cè))的2/3高度左右(依產(chǎn)品別位置可能有所差異)，有的呈亮白色有的呈暗黑色，形狀為小長(zhǎng)方形但輪廓呈暈開(kāi)現(xiàn)象。,DB31耳朵Mura(EarMura),成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片燈管側(cè)補(bǔ)償印刷過(guò)度2.背光板設(shè)計(jì)不良，燈管過(guò)亮,檢測(cè)畫面L0畫面,L255階.現(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見(jiàn)一條或一段顏色較亮的色帶。,DB32亮度Mura(KidoMura),成因：液晶氣泡可分為真空泡和空氣泡，一般來(lái)說(shuō)真空泡形成原因?yàn)閘aserrepair所造成，可經(jīng)由autoclave後消除。而空氣泡比較無(wú)法經(jīng)由autoclave消除，其成因?yàn)椋?.液晶脫泡不完全，2.進(jìn)VPA預(yù)抽QTime過(guò)長(zhǎng)，3.Panel液晶封口不良。,檢測(cè)畫面任何畫面現(xiàn)象敘述50公分可見(jiàn)黑色或彩色水草狀或線狀痕跡，輕觸其週邊有陷入的現(xiàn)像。,DC10液晶氣泡（LCBubble),成因：,檢測(cè)畫面L0畫面。現(xiàn)象敘述側(cè)視可見(jiàn)類似星雲(yún)狀的亮帶，顏色與形狀皆不一定。,DC11小星星(sandy),成因：,檢測(cè)畫面L48,L92,L116畫面?，F(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點(diǎn)，正視即可見(jiàn)，其亮度、形狀與背光板白點(diǎn)有明顯的差異。,DC12白點(diǎn)(whitespot),成因：,檢測(cè)畫面L48、L92、L116?，F(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點(diǎn)，正視即可見(jiàn)。,DC13點(diǎn)黑(blackspot),成因：,檢測(cè)畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述通常成團(tuán)出現(xiàn)，50公分看起來(lái)像很多碎亮點(diǎn)集中在一起，以15倍放大鏡檢驗(yàn)可看別Subpixel的某些部份顏色變淡，刮傷，無(wú)顏色，破洞皆稱之。,DC14CF缺陷(CFdefect),成因：BM不夠黑，原材問(wèn)題。,檢測(cè)畫面漢字字框?，F(xiàn)象敘述BM區(qū)原本黑色變成咖啡色或褐色.,DC141BM區(qū)CF缺陷（BMCFDefect),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測(cè)畫面L0畫面。現(xiàn)象敘述現(xiàn)象類似Sandy，但其顏色為亮白色圓型，以15X放大鏡檢視可看出極細(xì)微的亮點(diǎn)聚集在一起,DC16Spacer破裂(Spacerbroken),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測(cè)畫面:L48,L92,L116?，F(xiàn)象敘述50公分正視可見(jiàn)約呈45度向左或向右斜的條紋狀Mura，通常為白色條紋間有規(guī)律的間隔。,DC21配向(Rubbingmura),成因：CF膜厚不均。,檢測(cè)畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述40度由上往下看可見(jiàn)位在產(chǎn)品中間以下部份一大片看似雲(yún)狀的Mura，其成因類似GapMura，但觸碰其週周圍沒(méi)有波動(dòng)。,DC215雲(yún)狀Mura(CloudyMura),成因：1.PI塗佈膜厚不均。2.PI膜內(nèi)有水痕、異物或汙染。,檢測(cè)畫面L48、L92、L116?，F(xiàn)象敘述無(wú)特定形狀、位置、大小，通常為灰白或灰黑色，整個(gè)Mura色差很平均不會(huì)在輪廓處擴(kuò)散霧開(kāi)，故其形狀較明顯。,DC216PIMura(PIMura),成因：1.Cell製作過(guò)程中所點(diǎn)的銀膠過(guò)大或過(guò)高，造成CellGap(間隙)改變。2.Cell製作過(guò)程中所塗佈的框膠過(guò)大或過(guò)高，造成CellGap(間隙)改變。上述兩個(gè)原因皆會(huì)造成週邊Mura。,檢測(cè)畫面L0階畫面?，F(xiàn)象敘述1.會(huì)在Panel四周邊形成，按升降階可見(jiàn)其亮度。2.特徵:在全白畫面會(huì)泛黃。,DC23週邊Mura(AroundMura),成因：1.CF(彩色濾光片)製作過(guò)程中某一個(gè)顏色曝光或成型時(shí)有間題，造成該顏色畫面出現(xiàn)黑點(diǎn)或深色色塊。2.CF(彩色濾光片)製作過(guò)程中成型時(shí)膜厚不均。上述兩個(gè)原因皆會(huì)造成色Mura。,檢測(cè)畫面R、G、B、L92階畫面?，F(xiàn)象敘述1.在R、G、B其中一色出現(xiàn)的小白圓點(diǎn)。2.該Mura只出現(xiàn)在R、G、B、L92階畫面其中一個(gè)或兩個(gè)畫面者稱之。,DC24色Mura(ColorMura),成因：1.Cell製作過(guò)程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn)垂直狀色塊2.Rubbing製程中成型時(shí)膜厚不均。上述兩個(gè)原因皆會(huì)造成垂直狀Mura。,檢測(cè)畫面L48、L92、L116階?，F(xiàn)象敘述升降階確認(rèn)成立一直線白色的Mura。,DC26垂直狀Mura(V-LineMura),成因：1Polarizort材料製作過(guò)程中因補(bǔ)償膜本身有條紋狀細(xì)紋,有時(shí)出現(xiàn)白色有時(shí)出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。,檢測(cè)畫面1.L0階2.L92階3.L48階現(xiàn)象敘述一般都為斜形狀，比一般其他Mura更立體。,DC261筋狀mura(TFTPFlinearmura),成因：尚未有明確成因。,檢測(cè)畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB階畫面?，F(xiàn)象敘述像有顏色細(xì)細(xì)麵線形狀，在水藍(lán)GB128畫面確認(rèn)，會(huì)逐漸消失淡掉。,DC27縱筋mura(MultipleV-LineMura),成因：1.Cell製作過(guò)程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn)水平狀色塊。2.Rubbing製程中成型時(shí)膜厚不均。上述兩個(gè)原因皆會(huì)造成水平狀Mura。,檢測(cè)畫面L48,L92,L116階畫面?，F(xiàn)象敘述像暈開(kāi)的Mura橫條狀。,DC28水平狀mura(H-LineMura),成因：1.上(CF)玻璃與下(TFT)玻璃因外力施壓，造成上下兩片玻璃間的對(duì)位有偏移的現(xiàn)象。2.CF在Sub-pixel間的BM寬度預(yù)留寬度不足，外力施壓後無(wú)法遮住玻璃偏移造成的TFT金屬線路外露，以50公分40度側(cè)視時(shí)會(huì)有一整片或藍(lán)或綠亮亮的現(xiàn)象。,檢測(cè)畫面L0階畫面?，F(xiàn)象敘述在L0階畫面用滾輪拉出的色差。,DC29可動(dòng)式mura(Moveablemura),成因：1.畫面檢驗(yàn)完畢關(guān)掉電源後畫面出現(xiàn)水平線狀或其他形狀的殘留影像，通常為IC與Cell搭配有問(wèn)題。,DC32關(guān)機(jī)殘像(AfterImage),成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變小,檢測(cè)畫面1.L0/L48/L92/L116/L255/RGB階調(diào)中以最明顯的pattern判定現(xiàn)象敘述1.在defect的附近用手輕壓,此defect會(huì)動(dòng).,DC33黑GAPMura(Cell)BlackGapMura(Cell),成因：1.Cell原材不良所造成，玻璃間隙變大。,檢測(cè)畫面GB128畫面?，F(xiàn)象敘述白色的GapMura。,DC331白GapMura(Cell)WhiteGapMura(Cell),成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變大，此外力通常是JI段自動(dòng)化機(jī)臺(tái)的治具不平或不清潔造成2.偏光板重工時(shí)因?yàn)樗浩獍鍣C(jī)臺(tái)調(diào)校不良或製程參數(shù)失準(zhǔn)，導(dǎo)致偏光板撕離時(shí)用力過(guò)度造成。,檢測(cè)畫面L0、L48、L92、L116階畫面?，F(xiàn)象敘述手壓Panel形成漩渦狀，現(xiàn)象特別明顯。,DC34GAPMura(Module),成因：原因不明。,檢測(cè)畫面L48、L92、L116階畫面。現(xiàn)象敘述PI變厚或變薄所形成不規(guī)則形狀，無(wú)特定之名稱。,DC35Mura(Mura),成因：Cell漏光可能形成之原因?yàn)椋?.Pixel線路刮傷。2.ITO破洞。3.微小之particle，掉落在線路上，造成short。,檢測(cè)畫面L0、L48、L92、L116階。現(xiàn)象敘述在升降階時(shí)於面板四周有亮亮之情形。,DC356Cell漏光（Celllightleakage）,成因：1.Cell原材不良。2.玻璃清洗機(jī)臺(tái)的刮刀卡到玻璃屑。3.裂片機(jī)臺(tái)上有玻璃屑。,檢測(cè)畫面1.點(diǎn)亮檯燈現(xiàn)象敘述1.Cell刮傷處目視可見(jiàn),DC359Cell刮傷(CellScratch),成因：1.注入口封膠污染。2.注入口封膠厚度不均造成玻璃間隙改變。,檢測(cè)畫面GB128階畫面?，F(xiàn)象敘述在面板右側(cè)注入口位置，升降階可見(jiàn)其色差，或由上往下看，用Lupe確認(rèn)Subpixel一點(diǎn)一點(diǎn)的像CFDefect。,DC36注入口不良(Injwhitemura),成因：,檢測(cè)畫面L92階?，F(xiàn)象敘述針對(duì)B152EW01和B141XN04-2/25這兩種Model,Panel每秒搖三下,會(huì)看見(jiàn)不規(guī)則形狀的水波紋。,DC37Cell波紋狀(CellRipple),成因：,檢測(cè)畫面L48,L92,L116畫面?，F(xiàn)象敘述不規(guī)則狀大小、不定區(qū)域，類似MURA，看似霧狀物。,DC5黑霧(BlackFog),成因：1.CF玻璃與TFT玻璃組裝時(shí)對(duì)位不良造成。,檢測(cè)畫面L0畫面、升降階畫面。現(xiàn)象敘述50公分正視Cell組裝不良處可見(jiàn)一亮帶，以15X放大鏡檢驗(yàn)可看到SubPixel側(cè)邊有漏光現(xiàn)象。,DC91Cell組裝偏移(Cellassyshift),成因：遮光黑色膠布貼付不良。,檢測(cè)畫面漢字框畫面?，F(xiàn)象敘述黑色膠布已露出偏光板BM面上,DM1黑色膠布露出(ExcessBlacktape),成因：1Polarizort材料製作過(guò)程中因補(bǔ)償膜本身有條紋狀細(xì)紋,有時(shí)出現(xiàn)白色有時(shí)出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。,檢測(cè)畫面L0畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述不規(guī)則狀，不固定區(qū)域，俗稱IPMura。,DM2燒付(Imprint),成因：1.玻璃經(jīng)COG製程高溫高壓處理造成應(yīng)力集中與變形,檢測(cè)畫面GB128畫面、L92畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述COG製程的產(chǎn)品容易在COG相關(guān)位置出現(xiàn)。,DM11COGMuraCOGMura),成因：Cell原材不良上偏光板有異物，通常指未經(jīng)過(guò)模組段偏光板重工者。,檢測(cè)畫面L0階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP111上偏光板異物(cell)TopPFParticle(cell),成因：Cell原材不良下偏光板有異物，通常指未經(jīng)過(guò)模組段偏光板重工者。,檢測(cè)畫面L0L63階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP112下偏光板異物(cell)TopPFParticle(cell),成因：1上偏光板有異物，通常指經(jīng)過(guò)模組段偏光板重工者。,檢測(cè)畫面L0L63階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP121上偏光板異物(module)TopPFParticle(module),成因：1.下偏光板有異物，通常指經(jīng)過(guò)模組段偏光板重工者。,檢測(cè)畫面L0L48階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L48階檢查黑色異物。,DP122下偏光板異物(module)BottomPFParticle(module),成因：1.下偏光板有異物，通常指經(jīng)過(guò)模組段偏光板重工者。,檢測(cè)畫面L0L48階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L48階檢查黑色異物。,DP122下偏光板異物(module)BottomPFParticle(module),成因：1.上偏光板原材刮傷。2.人員取放動(dòng)作不當(dāng)。3.硬式保護(hù)膜硬度太高。,檢測(cè)畫面L0階?，F(xiàn)象敘述偏光板上有熔解的痕跡，而顏色為黑色，而燒傷區(qū)域大部份在Panel的四周BM區(qū)域。,DP21上偏光板刮傷(TopPFScratch),成因：1.偏光板原材不良(負(fù)翹太嚴(yán)重)2.Pol貼付機(jī)臺(tái)rollergap未調(diào)整好。,DP31偏光板氣泡(PFBubble),成因：1.偏光板原材不良(沾附particle)2.機(jī)臺(tái)內(nèi)部particle污染。,檢測(cè)畫面L255階、L92階?，F(xiàn)象敘述偏光板內(nèi)有污點(diǎn)或髒污，類似Mura或Gomi。,DP4偏光板髒污（TopPFDirt）,成因：1.Cell原材不良。2.軟式保護(hù)膜上有投影筆筆跡轉(zhuǎn)印到偏光板。,檢測(cè)畫面L255階?，F(xiàn)象敘述在白畫面容易看出有投影筆痕跡，位置在偏光板內(nèi)部。,DP41偏光板投影筆筆跡(PolarizerHandwritingDirty),成因：1.偏光板原材不良。2.Robot上有particle。3.settable上有particle。4.cleanroller上有particle。,檢測(cè)畫面1.點(diǎn)亮檯燈現(xiàn)象敘述1.傷痕目視可見(jiàn),DP6上偏光板壓傷(TopPFDent),成因：1.Cell原材不良。2.JI機(jī)臺(tái)治具不清潔有硬異物殘留導(dǎo)軟壓傷偏光板。,檢測(cè)畫面L0階、L92階現(xiàn)象敘述大的類似BlackGapMura有黑色和白色，小的有時(shí)很像異物,DP61下偏光板壓傷(BottomPFDent),成因：1.偏光板原材不良。2.化學(xué)藥品污染。,檢測(cè)畫面L92畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述偏光板層內(nèi)類似Mura，在L0階會(huì)比較明顯看出偏光板腐蝕。,DP7偏光板腐蝕(Chemicalpollution),成因：,檢測(cè)畫面1.B/L點(diǎn)亮2.所有檢測(cè)畫面現(xiàn)象敘述1.垂直區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏色與周圍不同)皆屬之。2.多重垂直性區(qū)塊皆屬之。,TM3垂直區(qū)塊缺陷(V-BlockDefect),成因：,檢測(cè)畫面1.B/L點(diǎn)亮2.所有檢測(cè)畫面現(xiàn)象敘述1.水平區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)