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1、.實(shí)驗(yàn)報(bào)告【實(shí)驗(yàn)名稱(chēng)】:電子荷質(zhì)比測(cè)定【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹浚?、了解利用電子在磁場(chǎng)中偏轉(zhuǎn)的方法來(lái)測(cè)定電子荷質(zhì)比。2、通過(guò)實(shí)驗(yàn)加深對(duì)洛倫茲力的認(rèn)識(shí)。【實(shí)驗(yàn)儀器】:FB710型電子荷質(zhì)比測(cè)定儀【實(shí)驗(yàn)原理】:當(dāng)一個(gè)電荷以速度v垂直進(jìn)入磁場(chǎng)時(shí),電子要受到洛倫茲力的作用,它的大小可由公式f=ev*B (1)所決定,由于力的方向是垂直于速度的方向,則電子的運(yùn)動(dòng)的軌跡是一個(gè)圓,力的方向指向圓心,完全符合圓周運(yùn)動(dòng)的規(guī)律,所以作用力與速度的關(guān)系為 f=mv2/r (2)其中r時(shí)電子運(yùn)動(dòng)圓周的半徑,由于洛倫茲力就是使電子做圓周運(yùn)動(dòng)的向心力,因此 evB=mv2/r (3)由公式轉(zhuǎn)換可得 e/m=v/rB (4)實(shí)驗(yàn)裝置是
2、用一電子槍?zhuān)诩铀匐妷篣的驅(qū)使下,射出電子流,因此eU全部轉(zhuǎn)變成電子的輸出動(dòng)能,因此又有 eU=mv2/2 (5)由公式(4)、(5)可得 e/m=2U/(r*B)2 (6)實(shí)驗(yàn)中可采取固定加速電壓U,通過(guò)改變偏轉(zhuǎn)點(diǎn)了,產(chǎn)生不同的磁場(chǎng),進(jìn)而測(cè)量出電子束的圓軌跡半徑,就能測(cè)定電荷的荷質(zhì)比。亥姆赫茲線(xiàn)圈產(chǎn)生磁場(chǎng)的原理, B=K*I (7)其中K為磁電變換系數(shù),可表達(dá)為K=0(4/5)(3/2)*N/R (8) 其中0是真空導(dǎo)磁率,等于4T*m/A或H/m,R為亥姆赫茲線(xiàn)圈的平均半徑,N為單個(gè)線(xiàn)圈的匝數(shù),其他參數(shù)R=158mm,N=130匝,因此公式(6)可以改寫(xiě)為e/m=125/32R2U/02N
3、2I2r2=2.4741012 R2U/N2I2r2(C/kg) (9)【實(shí)驗(yàn)內(nèi)容】:1、正確完成儀器的連接。2、開(kāi)啟電源,使加速電壓文檔于120V。3、調(diào)節(jié)偏轉(zhuǎn)電流,使電子束的運(yùn)行軌跡形成封閉的圓,細(xì)心調(diào)節(jié)聚焦電壓,使電子束明亮,緩緩改變亥姆茲線(xiàn)圈中的電流,觀察電子束大小、偏轉(zhuǎn)的變化。4、測(cè)量步驟:(1)調(diào)節(jié)儀器后線(xiàn)圈上的反射鏡的位置,以方便觀察。(2)移動(dòng)測(cè)量機(jī)構(gòu)上的滑動(dòng)標(biāo)尺,用黑白分界的中心刻度線(xiàn),對(duì)準(zhǔn)電子槍口與反射鏡中的像,采用三點(diǎn)一線(xiàn)的方法測(cè)出電子圓的右端點(diǎn),從游標(biāo)上讀出刻度數(shù),并記錄。(3)再次移動(dòng)滑動(dòng)標(biāo)尺到電子圓的左端點(diǎn),采用同樣的方法讀出刻度數(shù),并記錄,同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的電流值。(
4、4)用公式r=(S1-S0)/2求出電子圓的半徑(5)記錄實(shí)驗(yàn)環(huán)境條件,整理好實(shí)驗(yàn)儀器?!緮?shù)據(jù)處理】測(cè)量值rUI78.111121.2678.271211.3563.851271.5998.981171.0183.251021.07【誤差分析】1、 系統(tǒng)誤差(1) 實(shí)驗(yàn)理論和實(shí)驗(yàn)方法不完善帶來(lái)的誤差,例如理論公式的近似性或?qū)嶒?yàn)條件達(dá)不到理論要求。(2) 實(shí)驗(yàn)儀器不準(zhǔn)確或使用不當(dāng)造成的誤差,例如,儀器本身存在某些缺陷,或沒(méi)有在規(guī)定條件下使用儀器。(3) 環(huán)境條件有規(guī)律地變化所引起的誤差,例如,溫度、氣流、電壓的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果帶來(lái)一定影響。(4) 實(shí)驗(yàn)者的某些不足也會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)誤差,例如,由于生理或心理的特點(diǎn),有人估計(jì)讀書(shū)時(shí)總是偏大或偏小。2、 隨機(jī)
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