千分尺校準教程

1、千分尺校準教程 千分尺千分尺 千分尺檢定規(guī)程（千分尺檢定規(guī)程（JJG21-2008） 千分尺的檢定或校準千分尺的檢定或校準 千分尺校準教程 一、范圍一、范圍 本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測 量上限至500mm的外徑千分尺;測量上限 至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分 辨力為0.001mm，0.0001mm，測量上限 至500mm的數(shù)顯外徑千分尺的首次檢定、 后續(xù)檢定和使用中檢驗。 千分尺校準教程 二、概述二、概述 千分尺是由尺架、測砧、測微螺桿、測 力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝置等組成。 如圖所示： 千分尺校準教程 二、概述二、概述 千分尺校準教程 二、概述二、概述 千分尺校準教程 二、概

2、述二、概述 千分尺校準教程 二、概述二、概述 千分尺校準教程 二、概述二、概述 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 1、測微螺桿的軸向串動和徑向擺動 測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均不 大于0.01mm。 2、測砧與測微螺桿測量面的相對偏移 測砧與測微螺桿 測量面的相對偏移 量應(yīng)不超過表1規(guī)定。 千分尺校準教程 表1 測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量 mm 三、計量性能要求三、計量性能要求 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 3、測力 千分尺的測力（系指測量面與球面接觸時 所作用的力）應(yīng)為（510）N。 4、刻線寬度及寬度差 微分筒刻線寬度為（0.080.20）mm，

3、固 定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差 均應(yīng)不大于0.03mm。帶刻度盤的刻線寬度為 （0.200.30）mm，其寬度差應(yīng)不大于 0.05mm 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 5、指針與刻度盤的相對位置 板厚千分尺刻度盤上的指針末端應(yīng)蓋住 刻線盤短刻線長度的30%80%，指針末端上 表面至 刻線度盤表面的距離應(yīng)不大于0.7mm。 指針末端與刻度盤刻線的寬度應(yīng)一致，差值 應(yīng)不大于0.05mm。 6、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻 線面的距離 微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的 距離應(yīng)不大于0.4mm。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 7、微分筒錐面的端面

4、與固定套管 毫米刻線的相對位置 當測量下限調(diào)整正確后，微分筒上 的零刻線與固定套管縱刻線對準時，微 分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣 應(yīng)相切，若不相切，壓線不大于0.05mm， 離線不大于0.1mm。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 8、測量面的平面度 外徑千分尺測量面的平面度度應(yīng)補大于 0.6m。壁厚千分尺、板厚千分尺測量面的平 面度應(yīng)不大于1.5 m。數(shù)顯外徑千分尺測量面 平面度應(yīng)不大于0.3 m。 9、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性不大于1 m。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 10、數(shù)顯外徑千分尺任意位置時數(shù) 值漂移應(yīng)不大于

5、1 m/h。 11 、兩測量面的平面度 外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時， 千分尺兩工作面的平行度均應(yīng)不超過表 2規(guī)定。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 表2外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩側(cè)量面的平面度 測量范圍/mm最大允許誤差/m兩測量面的平行度/m 025，25 5042 50 75，75 10053 100 125，125 15064 150 175，175 20075 200 225，225 25086 250 275，275 30097 300 325，325 350109 350 375，375 40011 400 425，425 4501211 450 475

6、，475 50013 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 板厚千分尺兩測面的平行度應(yīng)不超過 4m 數(shù)顯外徑千分尺兩測面的平行度應(yīng)不 超過表3規(guī)定。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩測量面的平面度 56300 325，325 350 350 375，375 400 67400 425，425 450 450 475，475 500 45250 275，275 300 3.54200 225，225 250 34150 175，175 200 2.53100 125，125 150 2.0350 75，75 100 1.520

7、 25，25 50 兩測量面的平行度/m最大允許誤差/m測量范圍/mm 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 12 示值誤差 外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超 過表2規(guī)定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允 許誤差應(yīng)不超過8m。 數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng) 不超過表3規(guī)定 對于測量上限大于150mm的千分尺可只 檢測微頭示值誤差，測微頭各點相對零點的 示值最大允許誤差不超過3m。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 13 數(shù)顯外徑千分尺細分誤差 數(shù)顯外徑千分尺數(shù)顯裝置的細分誤差應(yīng)不 超過2m。 14 校對用的量桿 14.1外徑千分尺校對用的量桿 外徑千分尺

8、校對用量桿的尺寸偏差 和變動量應(yīng)不超過表4規(guī)定。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 表4 外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量 校對量桿標稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動量/m 25，5021 7531.5 10032 12542 15042.5 17552.5 20053.5 225，2506 3.5 275，30073.5 325，350，375，40094 425，450，475115 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性能要求 14.2 數(shù)顯外徑千分尺校對用量 數(shù)顯外徑千分尺校對用量桿的尺寸 偏差和變動量應(yīng)不超過表5規(guī)定。 千分尺校準教程 三、計量性能要求三、計量性

9、能要求 表5 數(shù)顯外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量 標稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動量/m 25，501.251 751.51 10021 125，150，1752.51.5 200，225，2503.51.5 275，30042 325，350，375， 400 4.52.5 425，450，47553 千分尺校準教程 四、通用技術(shù)要求四、通用技術(shù)要求 1 外觀 1.1 千分尺及其校對用的量桿不應(yīng)有碰傷、 腐蝕，帶礠或其他缺陷，標尺刻線應(yīng)清晰、 均勻，數(shù)顯外徑千分尺數(shù)字顯示應(yīng)清晰、完 整。 1.2 千分尺應(yīng)附有調(diào)整零位工具，測量上 限大于或等于25mm的千分尺應(yīng)附有校對用的 量桿。千分尺

10、應(yīng)具有測力裝置、隔熱裝置和 鎖緊裝置。校對量桿應(yīng)有隔熱裝置。 千分尺校準教程 四、通用技術(shù)要求四、通用技術(shù)要求 1.3 千分尺上應(yīng)標有分度值、測量 范圍、制造廠名（或廠標）及出廠編號。 1.4 后續(xù)檢定和使用中檢驗的千分 尺及其校對用的量桿不應(yīng)有影響使用準 確度的外觀缺陷。 千分尺校準教程 四、通用技術(shù)要求四、通用技術(shù)要求 2 各部分的相互作用 2.1 微分筒轉(zhuǎn)動和測微螺桿的移動應(yīng)平穩(wěn) 無卡滯現(xiàn)象。 2.2 可調(diào)或可換測砧的調(diào)整或裝卸應(yīng)順暢， 作用要可靠，調(diào)零和緊鎖裝置的作用應(yīng)切實 有效。 2.3 帶有表盤的千分尺，表針移動應(yīng)靈活、 無卡滯現(xiàn)象。 2.4數(shù)顯外徑千分尺各工作按鈕應(yīng)靈活可 靠。

11、千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 計量器具控制包括首次檢定、后續(xù) 檢定和使用中檢定。 1 檢定條件 1.1環(huán)境條件 檢定千分尺的室內(nèi)溫度和被檢千分尺在 室內(nèi)平衡溫度的時間均應(yīng)符合表6規(guī)定。 室內(nèi)濕度不大于70%RH 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 表6 室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時間 受檢千分尺 名稱 受檢千分尺 測量范圍 /mm 室內(nèi)溫度對20的允許偏差/平衡溫度 的時間/h 千分尺 校對用的 量桿 外徑、板厚、 壁厚 100532 100 5004 23 數(shù)顯100313 100 200214 200 500115 千分尺校準教程 五、計量器具控

12、制五、計量器具控制 1.2 檢定設(shè)備 主要檢定設(shè)備見表7。 2 檢定項目 檢定項目見表7。 千分尺校準教程 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3 檢定方法 3.1 外觀 目力觀察。 3.2 各部分的相互作用 手動試驗和目力觀察。 3.3 測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動 一般情況下用手感檢驗測微螺桿的軸向 竄動和徑向擺動。有異議時，可按下列方法 檢定。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.3.1 測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分 表檢定。檢定時，杠桿千分表與測微螺桿測 量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分表返加力 3N5N，如圖7所示。桿杠千分表示值變化， 即為軸向竄動量

13、。 3.3.2 測微螺桿的徑向擺動亦用杠桿千分 表檢定。檢定時，將測微螺桿伸出尺架10mm 后，使杠桿千分表接觸測微螺桿端部，再沿 杠桿千分表測量方向加力2N3N，然后在相 反方向加同樣大小的力，此時杠桿千分表示 值的變化即為徑向擺動。徑向擺動的檢定應(yīng) 在測微螺桿相互垂直的兩個方向進行。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.4 測砧與測微螺桿測量面的相對偏 移 一般情況下目力觀察千分尺測砧與 測微螺桿測量面的相對偏移，(0 25)mm的千分尺可使兩測量面直接接觸 觀察其偏移量，測量上限大于25mm的 千分尺可借助校對量桿進行檢定。如有 異議時，可按下列方法進行檢定。 千分尺校

14、準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 測量范圍為（025）mm的用塞尺比較； 測量上限大于25mm的外徑千分尺用專用檢具 測出偏移量。 在平板上用杠桿百分表檢定；對于測量范 圍大于300mm的千分尺用百分表檢定。檢定 時借助千斤頂放置在平板上(圖9),調(diào)整千斤頂 使千分尺的測微螺桿與平板工作面平行，然 后用百分表測出測砧與測微螺桿在這一方位 上的偏移量，然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90，按上述 方法測出測砧與測微螺桿在另一方位上的偏 移量。測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量 按下式求得：= 22 yx 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.5 測力 用分度值不大于0.2N的專用測力計檢定。

15、 檢定時，使測量面與測力計的球工作面接觸 后進行。 3.6 刻線寬度及寬度差 在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上 的刻線寬度至任意抽檢3條刻線。此項檢定也 可采用滿足不確定度要求的其他方法。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.7 指針與刻線的相對位置 指針末端與刻度盤短刻線的相對位 置可用目力估計。指針末端上表面至刻 度盤表面的距離應(yīng)用塞尺進行檢定。上 述檢定應(yīng)在刻度盤上均勻分布的3各位 置上進行。指針末端與刻度盤的刻線的 寬度差在工具顯微鏡上檢定。此項檢定 也可采用滿足不確定度要求的其他方法。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.8 微分筒錐面的端面棱

16、邊至固定套管 刻線面的距離 在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞 尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定， 檢定時在微分筒轉(zhuǎn)動一周內(nèi)不少于3各位置上 進行。 3.9 微分筒錐面的端面與固定套管毫米 刻線的相對位置 當測量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面 的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相 切時，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱向 刻線的偏移量。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.10 測量面的平面度 對于新制的和修理后的千分尺，用二級平 晶以光波干涉法檢定，將平面平晶的測量面 與千分尺測量面研合，調(diào)整平晶使測量面上 的干涉環(huán)或干涉帶的數(shù)目盡可能少。外徑千 分尺測量面不應(yīng)出現(xiàn)

17、2條以上，壁厚千分尺， 板厚千分尺不應(yīng)出現(xiàn)5條以上，數(shù)顯千分尺不 應(yīng)出現(xiàn)1條以上相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶。 對于后續(xù)檢定的可用刀口尺用光隙法檢定 在距測量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽 略不計。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.11 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性 在相同測量條件下重復測量5次分別讀數(shù)。 示值重復性以最大與最小讀數(shù)的差值確定。 3.12 數(shù)顯外徑千分尺任意位置時數(shù)值漂 移 在測量范圍內(nèi)的任意位置鎖緊測微螺桿， 觀察1h內(nèi)顯示值的變化不超過規(guī)定值。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.13 量測量面的平行度 測量上限至100mm千分尺兩測量面

18、的平 行度用4塊厚度差為1/4測微螺桿螺距的平行平 晶檢定，也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等 量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。 測量上限大于100mm的千分尺兩測量面的平 行度用鋼球檢具檢定。 兩測量面的平行度也可用其他相應(yīng)準確 度的儀器檢定。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 使用平行平晶檢定時，依次將4塊厚度差 為1/4螺距的平行平晶放入兩測量面間，使量 測量面與平行平晶接觸，轉(zhuǎn)動棘輪機構(gòu)，并 輕輕轉(zhuǎn)動平晶，使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或 干涉帶數(shù)目減至最少。分別讀取量測量面上 的干涉條紋數(shù)，取兩測量面上的干涉條紋數(shù) 目之和與所用光的波長值的計算結(jié)果作為兩 測量面的平行

19、度。利用平行平晶組中每一塊 平行平晶按上速程序分別進行檢定，取其中 最大值作為受檢千分尺的兩測量面平行度測 量結(jié)果。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 使用量塊檢定時，采用其尺寸差為 1/4螺距的4塊量塊進行。每個量塊以其 同一部位放入測量面間的4個位置上分 別在微分筒上讀數(shù)，并求出其差值。以 四組差值中最大值作為被檢千分尺兩測 量面的平行度。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 3.14 示值誤差 外徑、壁厚、板厚千分尺示值誤差 用5等專用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等 專用量塊檢定。各種千分尺的受檢點應(yīng) 均勻分布于測量范圍的5點上，如表8中 所示。得出千分尺示值與

20、相應(yīng)量塊尺寸 的差值，各點上的示值誤差均不超過表 2或表3最大允許誤差的要求。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 測量上限大于100mm的千分尺，將專 用量塊依次研合在相當于千分尺測量范 圍下限的5等量塊上依稀進行檢定。各 點上的示值誤差均不應(yīng)超過表2或表3中 的規(guī)定。對于測量范圍大于25mm的千 分尺應(yīng)以相應(yīng)的千分尺測量下限的量塊 對零。 千分尺校準教程 五、計量器具控制五、計量器具控制 表8 各種千分尺受檢點 測量范圍/mm受檢點尺寸/mm 0102.12 4.25 6.37 8.50 10 0153.12 6.24 9.37 12.50 15 0255.12 10.25 15.37 20.5 25 或5.12 10.24 15.36 21.5 25 大于25A+5.12 A+10.25 A+15.37