材料分析方法考試資料(1)

1、材料科學(xué)研究方法考試試卷（第一套）課程號(hào)6706606030考試時(shí)間120分鐘適用專(zhuān)業(yè)年級(jí)（方向）：材料學(xué)、高分子考試方式及要求：閉卷、筆試題號(hào)一二三四總分得分閱卷人一 名詞解釋?zhuān)款}2分，選做5題，共10分，多答不加分）1. 基態(tài)2. 俄歇電子3. 物相分析4. 色散5. 振動(dòng)耦合6. 熱重分析二 填空題（每空1分，選做20空，共20分，多答不加分）1. 對(duì)于X射線(xiàn)管而言，在各種管電壓下的連續(xù)X射線(xiàn)譜都存在著一個(gè)最短的波長(zhǎng)長(zhǎng)值，稱(chēng)為 ，當(dāng)管電壓增大時(shí)，此值 。2. 由點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)量精確度與q角的關(guān)系可知，在相同條件下，q角越大，測(cè)量的精確度 。3. 對(duì)稱(chēng)取代的S=S、CN、C=S等基團(tuán)在紅外光

2、譜中只能產(chǎn)生很弱的吸收帶（甚至無(wú)吸收帶），而在 光譜中往往產(chǎn)生很強(qiáng)的吸收帶。4. 根據(jù)底片圓孔位置和開(kāi)口位置的不同，德拜照相法的底片安裝方法可以分為： 、 、 。5. 兩組相鄰的不同基團(tuán)上的H核相互影響，使它們的共振峰產(chǎn)生了裂分，這種現(xiàn)象叫 。6. 德拜法測(cè)定點(diǎn)陣常數(shù)，系統(tǒng)誤差主要來(lái)源于相機(jī)的半徑誤差、底片的伸縮誤差、樣品的偏心誤差和 。7. 激發(fā)電壓是指產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的最 電壓。8. 凡是與反射球面相交的倒易結(jié)點(diǎn)都滿(mǎn)足衍射條件而產(chǎn)生衍射，這句話(huà)是對(duì)是錯(cuò)？ 。9. 對(duì)于電子探針，檢測(cè)特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度是由X射線(xiàn)譜儀來(lái)完成的。常用的X射線(xiàn)譜儀有兩種：一種 ，另一種是 。10. 對(duì)于紅外吸收光

3、譜，可將中紅外區(qū)光譜大致分為兩個(gè)區(qū)： 和 。 區(qū)域的譜帶有比較明確的基團(tuán)和頻率對(duì)應(yīng)關(guān)系。11. 衍射儀的測(cè)量方法分哪兩種： 和 。12. DTA曲線(xiàn)描述了樣品與參比物之間的 隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。13. 在幾大透鏡中，透射電子顯微鏡分辨本領(lǐng)的高低主要取決于 。14. 紫外吸收光譜是由分子中 躍遷引起的。紅外吸收光譜是由分子中 躍遷引起的。15. 有機(jī)化合物的價(jià)電子主要有三種，即 、 和 。16. 核磁共振氫譜規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品四甲基硅d TMS 。17. 紅外吸收光譜又稱(chēng)振-轉(zhuǎn)光譜，可以分析晶體的結(jié)構(gòu)，對(duì)非晶體卻無(wú)能為力。此種說(shuō)法正確與否？ 18. 透射電子顯微鏡以 為成像信號(hào)，掃描電子顯微鏡主

4、要以 為成像信號(hào)。14.氫核受到的屏蔽效應(yīng)強(qiáng)，共振需要的磁場(chǎng)強(qiáng)度 ，共振峰在 場(chǎng)出現(xiàn)，其d 值 。三 簡(jiǎn)答題（共50分，選做50分，多答不加分）1 說(shuō)明倒易矢量的定義及倒易矢量的基本性質(zhì)；（10分）2 為什么用三乙胺稀釋時(shí)，CHCl3上氫核的NMR峰會(huì)向低場(chǎng)移動(dòng)？(10分)3 凡是滿(mǎn)足布拉格方程的皆會(huì)產(chǎn)生衍射，這種說(shuō)法正確與否？為什么？并寫(xiě)出布拉格方程的矢量表達(dá)式。（10分）4 運(yùn)動(dòng)電子與固體作用產(chǎn)生的哪些信號(hào)？（5分）5 簡(jiǎn)述掃描電鏡粉末試樣制備的方法。（10分）6 簡(jiǎn)要說(shuō)明差熱分析曲線(xiàn)的影響因素。（5分）7 影響紅外吸收光譜中峰位的因素有哪些？請(qǐng)簡(jiǎn)要說(shuō)明。（10分）8.與吸收頻率在什么范圍

5、內(nèi)？哪個(gè)峰強(qiáng)些？為什么? （10分）四 綜合題（每題10分，選做2題，共20分，多答不加分）1. CuKa輻射（l CuKa0.154nm）照射Cr（b.c.c）樣品，已知Cr的點(diǎn)陣常數(shù)a0.288nm，試用布拉格方程求其（211）反射的角。(10分)2. 已知Ag（fcc）的點(diǎn)陣常數(shù)為0.40856nm，假設(shè)用CuKa（Kl Cua =1.541）X射線(xiàn)照射Ag樣品。試寫(xiě)出頭四條衍射線(xiàn)的干涉指數(shù)，并計(jì)算相應(yīng)各衍射線(xiàn)的2q值。（10分）3. 純液體化合物的分子式為C8H8，試推斷其可能的結(jié)構(gòu)。（10分）頻率 （Hz）4. 分子式為C7H16O3，試推斷其結(jié)構(gòu)。(積分曲線(xiàn)高度比為169)（10分

6、）材料科學(xué)研究方法考試試卷（第一套）課程號(hào)6706606030考試時(shí)間120分鐘適用專(zhuān)業(yè)年級(jí)（方向）：材料學(xué)、高分子考試方式及要求：閉卷、筆試題號(hào)一二三四五六七八九總分得分閱卷人一 名詞解釋?zhuān)款}2分，選做5題，共10分，多答不加分）1. 激發(fā)態(tài)2. 短波限3. 干涉指數(shù)4. 基頻峰5. 差熱分析6. 生色團(tuán)二 填空題（每空1分，選做20空，共20分，多答不加分）1. 同一陽(yáng)極靶，管電壓V不變，提高管電流I，各波長(zhǎng)射線(xiàn)的強(qiáng)度I ，但短波限0 ；短波限0僅與 有關(guān)。2. 原子核外電子遵從能量最低原理、包利不相容原理和洪特規(guī)則，分布于各個(gè)能級(jí)上，此時(shí)原子處于能量最近狀態(tài)，稱(chēng)之為 ；原子中的一個(gè)或幾

7、個(gè)電子由基態(tài)所處能級(jí)躍遷至高能級(jí)，此時(shí)的原子狀態(tài)稱(chēng)為 ；而由基態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài)的過(guò)程稱(chēng)為 。3. 倒易矢量r*HKL的基本性質(zhì)是：r*HKL 于正點(diǎn)陣中相應(yīng)的（HKL）晶面，其長(zhǎng)度r*HKL等于（HKL）之 dHKL的倒數(shù)。4. 根據(jù)核的等價(jià)性，中Ha、Hb是 核。5. 紅外輻射與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生紅外吸收光譜，必須有 的變化。6. 衍射線(xiàn)的 由晶胞大小、形狀和位向決定；衍射線(xiàn)的 取決于原子的種類(lèi)及其在晶胞中的位置。7. 可將中紅外區(qū)光譜大致分為兩個(gè)區(qū)： 和 ， 區(qū)域的譜帶有比較明確的基團(tuán)和頻率對(duì)應(yīng)關(guān)系。8. 產(chǎn)生光電效應(yīng)的條件：入射X射線(xiàn)光子波長(zhǎng)必須 吸收限k。9. 由德拜相機(jī)的分辨本領(lǐng)：可知：

8、相機(jī)半徑R越大，分辨本領(lǐng) ；越大，分辨本領(lǐng) 高； X射線(xiàn)波長(zhǎng)越長(zhǎng)，分辨本領(lǐng) ；面間距越大，分辨本領(lǐng) ；10. 當(dāng)用同一射頻照射樣品時(shí)，樣品分子中處于不同化學(xué)環(huán)境的氫核，所產(chǎn)生的共振峰將出現(xiàn)在不同磁場(chǎng)強(qiáng)度的區(qū)域。這種共振峰位置的差異稱(chēng)為 。11. 高速運(yùn)動(dòng)的電子與物質(zhì)碰撞產(chǎn)生的X射線(xiàn)很少 ，約占總能量的1，其余多轉(zhuǎn)為 。12. 熱重法是在程序控溫下，測(cè)量物質(zhì)的 與溫度或時(shí)間的關(guān)系的方法。13. 多原子分子的基本振動(dòng)有兩大類(lèi)型： 和彎曲振動(dòng)。14. 在與外磁場(chǎng)B0 垂直的方向上施加一個(gè)頻率為 v 的交變射頻場(chǎng)B1，當(dāng) v 與核的回旋 v0 相等時(shí)，自旋核能夠吸收射頻場(chǎng)的能量，由低能級(jí)自旋狀態(tài)躍遷至

9、高能級(jí)自旋狀態(tài)，產(chǎn)生自旋的倒轉(zhuǎn)和共振吸收信號(hào)，這種現(xiàn)象叫 。15. 固有偶極距為零的分子，其對(duì)稱(chēng)伸縮振動(dòng)不會(huì)產(chǎn)生紅外吸收峰。此種說(shuō)法正確與否？ 三 簡(jiǎn)答題（共50分，選做50分，多答不加分）1. X射線(xiàn)管產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)是否與管電壓有關(guān)，為什么？（10分）2. 通過(guò)布拉格方程的討論，我們知道布拉格方程描述了“選擇反射”規(guī)律，在這里，“選擇反射”規(guī)律是指的什么？（5分）3. 電磁透鏡的主要像差有哪些？其各種產(chǎn)生的原因是什么？（5分）4. 簡(jiǎn)述紅外吸收光譜產(chǎn)生的必要條件；（5分）5. 簡(jiǎn)述透射電鏡制備復(fù)型所需材料應(yīng)具備的條件；（10分）6. 舉例說(shuō)明透射電鏡在高分子材料中的應(yīng)用；（10分）7.

10、 簡(jiǎn)要分析差熱分析的原理；（10分）8. 什么是共軛效應(yīng)，在紅外吸收光譜中共軛效應(yīng)對(duì)峰位是如何影響的？（10分）四 綜合題（每題10分，選做2題，共20分，多答不加分）1 已知金屬W（體心立方）的點(diǎn)陣常數(shù)為0.316nm，假設(shè)用CuKa（l CuKa =1.541）X射線(xiàn)照射W樣品。試寫(xiě)出（211）晶面所對(duì)應(yīng)的衍射線(xiàn)的2q值。（10分）2 試計(jì)算體心（點(diǎn)陣）晶胞的F與|F|2值。（10分）3. 化合物分子式為C8H7N，試推斷其可能的結(jié)構(gòu)。（10分）4. 化合物分子式為C8H8O2，試推斷其結(jié)構(gòu)。（積分曲線(xiàn)高度比為1223）。（10分）材料科學(xué)研究方法考試試卷參考答案提要（第一套）課程號(hào)670

11、6606030考試時(shí)間120分鐘適用專(zhuān)業(yè)年級(jí)（方向）：材料學(xué)、高分子考試方式及要求：閉卷、筆試題號(hào)一二三四總分得分閱卷人五 名詞解釋?zhuān)款}2分，選做5題，共10分，多答不加分）7. 基態(tài)：原子核外電子按照能量最低原理，泡利不相容原理、洪特規(guī)則分布于各能級(jí)上，此時(shí)系統(tǒng)處于能量最低狀態(tài)，稱(chēng)為基態(tài)。8. 俄歇電子：當(dāng)高能級(jí)的電子向低能級(jí)躍遷時(shí)，所釋放出的能量被某個(gè)殼層電子所吸收，并促使該電子受激發(fā)逸出原子形成的二次電子稱(chēng)為俄歇電子。9. 物相分析：確定材料由哪些相組成和組成相的相對(duì)含量。10. 色差：由于入射電子的波長(zhǎng)或能量的非單一性所造成的像差。11. 振動(dòng)耦合：當(dāng)兩個(gè)頻率相同或相近的基團(tuán)在分子中

12、靠得很近時(shí)，它們的振動(dòng)可能產(chǎn)生相互影響，使吸收峰裂分為兩個(gè)，一個(gè)高于原來(lái)的頻率，一個(gè)低于原來(lái)的頻率。12. 熱重分析：在程序控溫下，測(cè)量試樣質(zhì)量與溫度或時(shí)間關(guān)系的動(dòng)態(tài)技術(shù)。六 填空題（每空1分，選做20空，共20分，多答不加分）19. 對(duì)于X射線(xiàn)管而言，在各種管電壓下的連續(xù)X射線(xiàn)譜都存在著一個(gè)最短的波長(zhǎng)長(zhǎng)值，稱(chēng)為 短波限 ，當(dāng)管電壓增大時(shí)，此值 減小的 。20. 由點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)量精確度與q角的關(guān)系可知，在相同條件下，q角越大，測(cè)量的精確度 越高 。21. 對(duì)稱(chēng)取代的S=S、CN、C=S等基團(tuán)在紅外光譜中只能產(chǎn)生很弱的吸收帶（甚至無(wú)吸收帶），而在 拉曼（或者Raman） 光譜中往往產(chǎn)生很強(qiáng)的吸收帶

13、。22. 根據(jù)底片圓孔位置和開(kāi)口位置的不同，德拜照相法的底片安裝方法可以分為： 正裝法 、 偏裝法 、 反裝法 。23. 兩組相鄰的不同基團(tuán)上的H核相互影響，使它們的共振峰產(chǎn)生了裂分，這種現(xiàn)象叫 自旋耦合（或者自旋干擾、耦合裂分） 。24. 德拜法測(cè)定點(diǎn)陣常數(shù)，系統(tǒng)誤差主要來(lái)源于相機(jī)的半徑誤差、底片的伸縮誤差、樣品的偏心誤差和 樣品的吸收誤差 。25. 激發(fā)電壓是指產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的最 小 電壓。26. 凡是與反射球面相交的倒易結(jié)點(diǎn)都滿(mǎn)足衍射條件而產(chǎn)生衍射，這句話(huà)是對(duì)是錯(cuò)？ 錯(cuò) 。27. 對(duì)于電子探針，檢測(cè)特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度是由X射線(xiàn)譜儀來(lái)完成的。常用的X射線(xiàn)譜儀有兩種：一種 波譜儀 ，另一

14、種是 能譜儀 。28. 對(duì)于紅外吸收光譜，可將中紅外區(qū)光譜大致分為兩個(gè)區(qū)：特征頻率區(qū)和指紋區(qū)。 特征頻率區(qū) 區(qū)域的譜帶有比較明確的基團(tuán)和頻率對(duì)應(yīng)關(guān)系。29. 衍射儀的測(cè)量方法分哪兩種： 連續(xù)掃描法 和 步進(jìn)掃描法 。30. DTA曲線(xiàn)描述了樣品與參比物之間的 溫度差 隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。31. 在幾大透鏡中，透射電子顯微鏡分辨本領(lǐng)的高低主要取決于 物鏡 。32. 紫外吸收光譜是由分子中 電子能級(jí)（或價(jià)電子） 躍遷引起的。紅外吸收光譜是由分子中 振動(dòng)能級(jí)和轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí) 躍遷引起的。33. 有機(jī)化合物的價(jià)電子主要有三種，即 s電子 、 p電子 和 n電子 。34. 核磁共振氫譜規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品四甲基

15、硅d TMS 0 。35. 紅外吸收光譜又稱(chēng)振-轉(zhuǎn)光譜，可以分析晶體的結(jié)構(gòu)，對(duì)非晶體卻無(wú)能為力。此種說(shuō)法正確與否？ 否 36. 透射電子顯微鏡以 透射電子 為成像信號(hào)，掃描電子顯微鏡主要以 二次電子 為成像信號(hào)。14.氫核受到的屏蔽效應(yīng)強(qiáng)，共振需要的磁場(chǎng)強(qiáng)度 高（大） ，共振峰在 高 場(chǎng)出現(xiàn)，其d 值 小 。七 簡(jiǎn)答題（共50分，選做50分，多答不加分）1 說(shuō)明倒易矢量的定義及倒易矢量的基本性質(zhì)；（10分）提要：倒易矢量的定義：以任一倒易陣點(diǎn)為坐標(biāo)原點(diǎn)（以下稱(chēng)倒易原點(diǎn)，一般取其與正點(diǎn)陣坐標(biāo)原點(diǎn)重合），以a*1、a*2、a*3分別為三坐標(biāo)軸單位矢量。由倒易原點(diǎn)向任意倒易陣點(diǎn)（以下常簡(jiǎn)稱(chēng)為倒易點(diǎn)）

16、的連接矢量稱(chēng)為倒易矢量，用r*表示倒易矢量的基本性質(zhì)：r*HKL垂直于正點(diǎn)陣中相應(yīng)的（HKL）晶面，其長(zhǎng)度r*HKL等于(HKL)之晶面間距dHKL的倒數(shù)。2 為什么用三乙胺稀釋時(shí)，CHCl3上氫核的NMR峰會(huì)向低場(chǎng)移動(dòng)？(10分)提要：三乙胺的結(jié)構(gòu)式為N(C2H5)3或者三乙胺分子中含有較多的氫核；稀釋時(shí)，分子中的氫核與CHCl3上的氫核相互作用發(fā)生范德瓦爾斯效應(yīng)，共振吸收峰移向低場(chǎng)；當(dāng)化合物中的兩個(gè)氫原子的空間距離很近時(shí)，其核外電子云相互排斥，使得周?chē)碾娮釉泼芏认鄬?duì)降低，屏蔽效應(yīng)減弱，共振吸收峰移向低場(chǎng)。3 凡是滿(mǎn)足布拉格方程的皆會(huì)產(chǎn)生衍射，這種說(shuō)法正確與否？為什么？并寫(xiě)出布拉格方程的矢

17、量表達(dá)式。（10分）提要：錯(cuò)誤。因?yàn)橛裳苌涞某浞直匾獥l件可知，產(chǎn)生衍射的充分必要條件是：“反射定律布拉格方程”。因此凡是滿(mǎn)足布拉格方程的只是可能會(huì)產(chǎn)生衍射，但不一定會(huì)產(chǎn)生衍射。布拉格方程的矢量表達(dá)式：(s-s0)/=r*HKL4 運(yùn)動(dòng)電子與固體作用產(chǎn)生的哪些信號(hào)？（5分）提要：運(yùn)動(dòng)電子與固體作用產(chǎn)生的信號(hào)有：二次電子、俄歇電子、特征射線(xiàn)、連續(xù)射線(xiàn)、背反射電子、透射電子等。5 簡(jiǎn)述掃描電鏡粉末試樣制備的方法。（10分）提要：粉末樣品需要先黏結(jié)在樣品座上，黏結(jié)的方法是先將導(dǎo)電膠或雙面膠紙黏結(jié)在樣品座上，再均勻地把粉末試樣灑在上面；用洗耳球吹去未黏住的粉末；也可以將粉末制備成懸浮液；滴在樣品座上，待

18、溶劑揮發(fā)，粉末就附著在樣品座上得；再鍍上一層導(dǎo)電膜得。6 簡(jiǎn)要說(shuō)明差熱分析曲線(xiàn)的影響因素。（5分）提要：主要影響因素：樣品因素、實(shí)驗(yàn)條件和儀器因素；樣品因素：試樣的性質(zhì)、粒度及參比物的性質(zhì)。實(shí)驗(yàn)條件：升溫速率、加熱氣氛類(lèi)型和氣體的性質(zhì)；儀器因素：加熱爐的結(jié)構(gòu)和尺寸、坩堝材料和形狀、熱點(diǎn)偶的性能與位置7 影響紅外吸收光譜中峰位的因素有哪些？請(qǐng)簡(jiǎn)要說(shuō)明。（10分）提要：影響因素有內(nèi)部因素和外部因素一、分子內(nèi)部因素對(duì)峰位的影響：1.誘導(dǎo)效應(yīng)： 2共軛效應(yīng)3.場(chǎng)效應(yīng)4.空間位阻效應(yīng)5.環(huán)張力效應(yīng)6.跨環(huán)效應(yīng)7.氫鍵效應(yīng)8.振動(dòng)偶合效應(yīng)與費(fèi)米共振 振動(dòng)偶合效應(yīng)：9.互變異構(gòu) 二、分子外部因素對(duì)峰位的影響

19、外部因素包括：樣品的物理狀態(tài)、溶劑、儀器等。1.樣品的物理狀態(tài)。2.溶劑的影響三、儀器的影響8.與吸收頻率在什么范圍內(nèi)？哪個(gè)峰強(qiáng)些？為什么? （10分）提要： 吸收頻率在19001500cm-1，允許縮小范圍或1600左右； 吸收頻率在16901500 cm-1，允許縮小范圍或1650左右；C=O的峰比C=C的更強(qiáng)；吸收峰的強(qiáng)度由振動(dòng)時(shí)分子偶極矩變化的大小決定；偶極矩變化的大小與組成分子的原子電負(fù)性差有關(guān)，C、O原子電負(fù)性差比C、C原子電負(fù)性差大，若為對(duì)稱(chēng)性的差別；振動(dòng)時(shí)偶極矩變化越大，吸收峰越強(qiáng)。八 綜合題（每題10分，選做2題，共20分，多答不加分）1. CuKa輻射（l CuKa0.15

20、4nm）照射Cr（b.c.c）樣品，已知Cr的點(diǎn)陣常數(shù)a0.288nm，試用布拉格方程求其（211）反射的角。(10分)2. 已知Ag（fcc）的點(diǎn)陣常數(shù)為0.40856nm，假設(shè)用CuKa（Kl Cua =1.541）X射線(xiàn)照射Ag樣品。試寫(xiě)出頭四條衍射線(xiàn)的干涉指數(shù)，并計(jì)算相應(yīng)各衍射線(xiàn)的2q值。（10分）3. 純液體化合物的分子式為C8H8，試推斷其可能的結(jié)構(gòu)。（10分）頻率 （Hz）5. 分子式為C7H16O3，試推斷其結(jié)構(gòu)。(積分曲線(xiàn)高度比為169)（10分）、提要：由布拉格方程可知：從而得出提要：由結(jié)構(gòu)因子的計(jì)算可知，對(duì)于面心立方結(jié)構(gòu)而言，頭四根衍射線(xiàn)分別是：（）、（）、（）、（）。由

21、布拉格方程，且已知、，可知3、1）W = （288+2）/ 2 = 52）31003000 cm-1：=C-H（雙鍵上的C-H或者烯氫的伸縮振動(dòng)）Ar-H （芳?xì)渖炜s振動(dòng)） 1630 cm-1：C=C（C=C雙鍵伸縮振動(dòng)）1580、1500、1450cm-1：苯環(huán)上的骨架振動(dòng)1420 cm-1：C-C（C-C伸縮振動(dòng)）770、710 cm-1：一取代苯990、910 cm-1：=C-H（雙鍵上的C-H或者烯氫面外彎曲振動(dòng)） 表明存在CH=CH23）可能的結(jié)構(gòu)： 4、W =（72162）/ 20 積分曲線(xiàn)高度簡(jiǎn)比數(shù)字之和169163.38 四重峰：與之相連的是CH3 1.37 三重峰：與之相連的

22、是CH2 上述兩組峰相互耦合CH2 CH3 3.38 含有OCH2 CH3結(jié)構(gòu) 5.3 單峰：CH，位于低場(chǎng)，應(yīng)與多個(gè)電負(fù)性基團(tuán)相連。 材料科學(xué)研究方法考試試卷（第一套）課程號(hào)6705005030考試時(shí)間120分鐘適用專(zhuān)業(yè)年級(jí)（方向）：材料科學(xué)與工程專(zhuān)業(yè)考試方式及要求：閉卷題號(hào)一二三四五六七八九總分得分閱卷人一、 名詞解釋?zhuān)款}2分，共10分）1輻射躍遷： 2物相定性分析：3熱分析：4透光率：5IR：二、 填空題（每題1分，共10分）1. 用n（主量子數(shù)）、S、L、J、MJ等量子數(shù)表征原子能態(tài)，則原子能級(jí)由符號(hào)nMLJ表示，稱(chēng)為 2. 物質(zhì)中與入射的輻射即入射線(xiàn)相互作用而致其散射的基本單元可稱(chēng)

23、 。3. 衍射波的兩個(gè)基本特征 和 ，與晶體內(nèi)原子分布規(guī)律（晶體結(jié)構(gòu)）密切相關(guān)。4. 由點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)量精確度與q角的關(guān)系可知，在相同條件下，q角越大，測(cè)量的精確度 。5. 通過(guò)研究電磁透鏡的分辨本領(lǐng)可知，電子波的波長(zhǎng)越小，即加速電壓越大，則電磁透鏡的分辨本領(lǐng) 。6. 電子探針X射線(xiàn)顯微分析儀是利用高能電子與固體物質(zhì)相互作用時(shí)激發(fā)出的 波長(zhǎng)和強(qiáng)度的不同，來(lái)確定分析區(qū)域的 。7. 差熱分析是在程序控制溫度下，測(cè)量樣品與參比物之間的 與溫度的關(guān)系的一種熱分析方法。8. 有些官能團(tuán)本身并不在紫外區(qū)產(chǎn)生吸收，但它們具有能使生色團(tuán)的光譜峰移向長(zhǎng)波區(qū)并使其強(qiáng)度增加的作用，這種官能團(tuán)叫做 。三、 選擇題（每題2

24、分，共20分）1下面哪些晶面屬于11晶帶（ ）A、（101）B、（102）C、（120）D、（231）2對(duì)于連續(xù)X射線(xiàn)譜，其短波限只于（ ）有關(guān)。A、管電壓B、管電流、C、靶材的原子序數(shù)D、溫度3、下列哪種信號(hào)不可是電子與固體作用產(chǎn)生的信號(hào)。（ ）A、特征X射線(xiàn)B、光電子C、二次電子D、俄歇電子4對(duì)于立方晶系，（100）晶面的多重性因子P(100)=（ ）.A、4 B、6 C、8 D、105對(duì)于德拜相機(jī)的分辨本領(lǐng)，以下哪種說(shuō)法不正確：（ ）A、相機(jī)半徑越大，分辨本領(lǐng)越高；B、q角越大，分辨本領(lǐng)越高；C、波長(zhǎng)越長(zhǎng)，越高；D、所選晶面衍射線(xiàn)對(duì)應(yīng)的晶面間距越大，分辨本領(lǐng)越高；6多晶X射線(xiàn)衍射儀在衍射

25、實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，采用的驅(qū)動(dòng)方式為：（ ）A、q-2q聯(lián)動(dòng)B、q軸單動(dòng)C、2q軸單動(dòng)D、q-q聯(lián)動(dòng)7對(duì)于宏觀殘余應(yīng)力，若（111）面承受壓應(yīng)力，則（111）面對(duì)應(yīng)的衍射線(xiàn)的q值與無(wú)應(yīng)力時(shí)的（111）面對(duì)應(yīng)的q值相比將（ ）。A、減小B、增大C、不變8電磁透鏡焦距的調(diào)節(jié)一般是通過(guò)（ ）調(diào)節(jié)的。A、改變激磁電壓B、改變激磁電流C、更換電磁透鏡D、改變電子加速電壓9下列哪種工作方式不是電子探針的工作方式。（ ）A、定點(diǎn)分析B、線(xiàn)掃描分析C、面掃描分析D、體掃描分析10下列哪種因素不是影響紅外光譜譜峰位置的影響因素。（ ）A、誘導(dǎo)效應(yīng)B、共軌效應(yīng)C、分子含量D、偶合效應(yīng)四、 判斷題（每題1分，共10分）1

26、因晶體的周期性，與晶面指數(shù)一樣，干涉指數(shù)表示的晶面一定是晶體中的真實(shí)原子面。（ ）2 凡是實(shí)物粒子，不管是運(yùn)動(dòng)的還是靜止的，都具有波粒二象性，稱(chēng)為物質(zhì)波或德布羅意波。（ ）3 特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)與原子序數(shù)存在著特定的規(guī)律；（ ）4 衍射的充分必要條件是“反射定律+布拉格方程”；（ ）5 吸收因子越大，X射線(xiàn)的衍射強(qiáng)度也越大；（ ）6 衍射線(xiàn)在空間的方位僅取決于晶胞的形狀與大小，而與晶胞中的原子位置無(wú)關(guān)，衍射線(xiàn)的強(qiáng)度僅取決于晶胞中原子的位置，而與晶胞形狀及大小無(wú)關(guān)。（ ）7 透射電鏡的光學(xué)性質(zhì)與玻璃透鏡的光學(xué)性質(zhì)相似；（ ）8 掃描電鏡的一大特點(diǎn)是可以觀察磁性樣品；（ ）9 紅外吸收光譜屬于振轉(zhuǎn)光

27、譜，因有機(jī)分子都存在振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)，故凡是有機(jī)分子都會(huì)產(chǎn)生紅外吸收。（ ）10 差熱分析可以做物相的定性分析，因此可以分析樣品的元素組成。（ ）五、 簡(jiǎn)答題（每題10分，共40分）1 簡(jiǎn)述倒易矢量的定義及性質(zhì)；2 簡(jiǎn)述特征X射線(xiàn)產(chǎn)生的原理；3 簡(jiǎn)述X射線(xiàn)與固體物質(zhì)的相互作用；4 簡(jiǎn)述X射線(xiàn)多晶衍射物相分析的基本原理；六、 計(jì)算題（10分）1、CuKa輻射（l CuKa0.154nm）照射a-Fe（b.c.c）樣品，已知a-Fe的點(diǎn)陣常數(shù)a0.287nm，試用布拉格方程求其（211）反射的角。（10分）材料科學(xué)研究方法考試試卷（第二套）課程號(hào)6705005030考試時(shí)間120分鐘適用專(zhuān)業(yè)年級(jí)（方

28、向）：材料科學(xué)與工程專(zhuān)業(yè)考試方式及要求：閉卷題號(hào)一二三四五六七八九總分得分閱卷人七、 名詞解釋?zhuān)款}2分，共10分）1電離：2俄歇電子：3電子透鏡：4熱重分析：5紅移：八、 填空題（每題1分，共10分）1. 通常，原子核外電子遵從能量最低原理、包利（Pauli）不相容原理和洪特（Hund）規(guī)則，分布于各個(gè)能級(jí)上，此時(shí)原子處于能量最低狀態(tài)，稱(chēng)之為 2. X射線(xiàn)激發(fā)原子，使原子電離，原子在發(fā)射光電子的同時(shí)內(nèi)層出現(xiàn)空位，較外層電子向空位躍遷以降低原子能量的過(guò)程，此過(guò)程可稱(chēng)為退激發(fā)或去激發(fā)過(guò)程。退激發(fā)過(guò)程有兩種互相競(jìng)爭(zhēng)的方式，即 或發(fā)射俄歇電子。 3. 根據(jù)底片圓孔位置和開(kāi)口位置的不同，德拜照相法的底

29、片安裝方法可以分為： 、 、 。4. 德拜法測(cè)定點(diǎn)陣常數(shù)，系統(tǒng)誤差主要來(lái)源于相機(jī)的半徑誤差、底片的伸縮誤差、樣品的偏心誤差和 。5. 透射電鏡樣品可分為間接樣品和直接樣品，復(fù)型是常見(jiàn)的一種透射電鏡制作方法，而復(fù)型是屬于間接樣品還是直接樣品？ 。6. 電子探針使用的X射線(xiàn)譜儀有波譜儀和 。7差示掃描量熱法(DSC)是在程序控溫下，測(cè)量樣品和參比物之間的 隨溫度變化關(guān)系的一種熱分析方法。8n-p*和p-p*躍遷這兩種躍遷都要求分子中存在具有p軌道的不飽和基團(tuán)，這種不飽和的吸收中心稱(chēng)做 。九、 選擇題（每題2分，共20分）1下列哪種光譜屬于非特征光譜（ ）。A、連續(xù)光譜B、線(xiàn)光譜C、帶光譜2紅外輻射與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生紅外吸收光譜，必須有（