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文檔簡介
1、1 課程指導(dǎo)課六課程指導(dǎo)課六 第第6章、光的干涉章、光的干涉 6.1 光的相干性光的相干性 楊氏雙縫干涉實驗楊氏雙縫干涉實驗 6.2 光源對干涉條紋的影響光源對干涉條紋的影響 6.3 光程與光程差光程與光程差 6.4 薄膜干涉薄膜干涉 6.5 邁克耳遜干涉儀邁克耳遜干涉儀 教師:鄭采星教師:鄭采星 大學(xué)物理大學(xué)物理 2 基本要求基本要求 教學(xué)基本內(nèi)容、基本公式教學(xué)基本內(nèi)容、基本公式 第第6章章 光的干涉光的干涉 了解相干光的獲得,掌握楊氏雙縫干涉。理解光程概念,等厚干涉了解相干光的獲得,掌握楊氏雙縫干涉。理解光程概念,等厚干涉 (劈尖、牛頓環(huán))、等傾干涉。了解邁克耳遜干涉儀。(劈尖、牛頓環(huán))、
2、等傾干涉。了解邁克耳遜干涉儀。 1. 光的相干性光的相干性 可見光可見光:波長為波長為400760nm之間的電磁波,之間的電磁波,具有同一頻率的光為單色光。具有同一頻率的光為單色光。 光源的發(fā)光特性(光源的發(fā)光特性(光源的最基本發(fā)光單元是分子、原子。)光源的最基本發(fā)光單元是分子、原子。) E1 E2 h EE 12 波列長波列長 L = c 是波列持續(xù)時間是波列持續(xù)時間。 普通光源:自發(fā)輻射普通光源:自發(fā)輻射 能級躍遷輻射能級躍遷輻射 獨立獨立 不同原子不同原子 同一時刻發(fā)的光同一時刻發(fā)的光 獨立獨立 同一原子不同時刻發(fā)的光同一原子不同時刻發(fā)的光 3 原子自發(fā)輻射的間斷性和相位隨機性,不利于干
3、涉條件的實現(xiàn)。原子自發(fā)輻射的間斷性和相位隨機性,不利于干涉條件的實現(xiàn)。 獲得相干光的兩種方法獲得相干光的兩種方法 p S * * p 薄膜薄膜 S * * 2.2.楊氏雙縫實驗楊氏雙縫實驗 k, d D kx k 3210, 明紋中心:明紋中心: 暗紋中心:暗紋中心: 1,2,3., 2 ) 1 2( k d D kx k 分振幅法分振幅法 分波面法分波面法 4 d D xxx kk 1 , k d D kx k 3210, 1. 1. 在雙縫干涉實驗中,為使屏上的干涉條紋間距變大,可以采取的在雙縫干涉實驗中,為使屏上的干涉條紋間距變大,可以采取的 辦法是辦法是 ( (A)使屏靠近雙縫。使屏靠
4、近雙縫。 ( (B)使兩縫的間距變小使兩縫的間距變小。 ( (C)把兩個縫的寬度稍微調(diào)窄。把兩個縫的寬度稍微調(diào)窄。 ( (D) )改用波長較小的單色光源。改用波長較小的單色光源。 B B d D kxk d D kxk) 1( 1 0 D d x x P 5 若用復(fù)色光源,則干涉條紋是彩色的。若用復(fù)色光源,則干涉條紋是彩色的。 k 2 條紋有重疊條紋有重疊 D 零級明條紋中央為零級明條紋中央為各種波長光各種波長光 疊加形成的白色疊加形成的白色 3k1k2k2k1k3k d D x 波長不同條紋間距不同波長不同條紋間距不同 6 2. 用白光作雙縫干涉實驗時,能觀察到幾級清晰可辨的彩色光譜?用白光
5、作雙縫干涉實驗時,能觀察到幾級清晰可辨的彩色光譜? 解解: : 用白光照射時,除中央明紋為白光外,兩側(cè)形成用白光照射時,除中央明紋為白光外,兩側(cè)形成內(nèi)紫外紅內(nèi)紫外紅的對的對 稱彩色光譜稱彩色光譜. .當當k 級紅色明紋位置級紅色明紋位置xk紅 紅大于 大于k+1+1級紫色明紋位置級紫色明紋位置x( (k+1) )紫 紫 時,光譜就發(fā)生重疊。據(jù)前述內(nèi)容有時,光譜就發(fā)生重疊。據(jù)前述內(nèi)容有 紅紅 d D kxk 紫紫 d D kx k ) 1( )1( 由由 xk紅 紅 = = x( (k+1) )紫紫 的臨界情況可得 的臨界情況可得 紫紫紅紅 ) 1( kk 將將 紅 紅 = = 7600, 紫
6、紫 = = 4000 代入得代入得 k = 1.1 因為因為 k只能取整數(shù),所以應(yīng)取只能取整數(shù),所以應(yīng)取 k = 2 這一結(jié)果表明:在中央白色明紋兩側(cè),這一結(jié)果表明:在中央白色明紋兩側(cè), 只有第一級彩色光譜是清晰可辨的。只有第一級彩色光譜是清晰可辨的。 7 3. 等厚干涉(劈尖、牛頓環(huán))等厚干涉(劈尖、牛頓環(huán)) e 1 n 3 n 2 n 2 2 2 en )2 .1 .0( 2 )12(kk )2 .1(kk明紋明紋 暗紋暗紋 在劈尖在劈尖上下表面上下表面反射的反射的 兩光線之間的光程差是:兩光線之間的光程差是: 2 2en 2 n1 n2且且n2 n3 n1 n2且且n2 n3 劈尖劈尖
7、8 3.3.用單色光垂直照射在觀察劈尖干涉的裝置上,當上平面玻璃垂直用單色光垂直照射在觀察劈尖干涉的裝置上,當上平面玻璃垂直 向上緩慢平移而遠離下平面玻璃時,可以觀察到這些干涉條紋向上緩慢平移而遠離下平面玻璃時,可以觀察到這些干涉條紋 (A) 向右平移,條紋間距不變。向右平移,條紋間距不變。 (B) 向右平移,條紋間距變小。向右平移,條紋間距變小。 (C) 向左平移,條紋間距不變。向左平移,條紋間距不變。 (D) 靜止不動。靜止不動。 C . sin2 n L 如果向上平移繼續(xù)進行如果向上平移繼續(xù)進行, , 這些干涉條紋將這些干涉條紋將( ? ).( ? ). 9 討論題討論題 1 n 2 n
8、 3 n 1 2 3 4 可以簡化成:可以簡化成: 1 n 2 n 3 n 1 n 2 n 3 n 2 3 只分析了劈尖的上下表面反射光只分析了劈尖的上下表面反射光 形成相干光?形成相干光? 10 4. 如圖如圖a所示,一光學(xué)平板玻璃所示,一光學(xué)平板玻璃A與待測工件與待測工件B之間形成空氣劈尖,用波長之間形成空氣劈尖,用波長 500 nm (1 nm=10-9 m)的單色光垂直照射看到的反射光的干涉條紋如的單色光垂直照射看到的反射光的干涉條紋如 圖圖b所示有些條紋彎曲部分的頂點恰好與其右邊條紋的直線部分的連線所示有些條紋彎曲部分的頂點恰好與其右邊條紋的直線部分的連線 相切則工件的上表面缺陷是相
9、切則工件的上表面缺陷是 (A) 不平處為凸起紋,最大高度為不平處為凸起紋,最大高度為500 nm (B) 不平處為凸起紋,最大高度為不平處為凸起紋,最大高度為250 nm (C) 不平處為凹槽,最大深度為不平處為凹槽,最大深度為500 nm (D) 不平處為凹槽,最大深度為不平處為凹槽,最大深度為250 nm A B 圖 b 圖 a 5. 用波長為用波長為 1的單色光照射空氣劈形膜,從反射光干涉條紋中觀察到劈的單色光照射空氣劈形膜,從反射光干涉條紋中觀察到劈 形膜裝置的形膜裝置的A點處是暗條紋若連續(xù)改變?nèi)肷涔獠ㄩL,直到波長變?yōu)辄c處是暗條紋若連續(xù)改變?nèi)肷涔獠ㄩL,直到波長變?yōu)?2 ( 2 1)時,
10、時,A點再次變?yōu)榘禇l紋求點再次變?yōu)榘禇l紋求A點的空氣薄膜厚度點的空氣薄膜厚度 e 1 n 3 n 2 n 解:設(shè)點處空氣薄膜的厚度為解:設(shè)點處空氣薄膜的厚度為,則有,則有 111 2,) 12( 2 1 2 1 2keke即 改變波長后有改變波長后有 2 ) 1(2 ke )/(, 122221 kkk )/( 2 1 2 1 12211 ke , 2 1 n ee kk B 11 6. .用波長用波長 = 500nm (1nm = 10-9m) 的單色光垂直照射在由兩塊玻璃板的單色光垂直照射在由兩塊玻璃板(一一 端剛好接觸成為劈棱端剛好接觸成為劈棱)構(gòu)成的空氣劈尖上。劈尖角構(gòu)成的空氣劈尖上。
11、劈尖角 = 2 10-4 rad,如果劈,如果劈 尖內(nèi)充滿折射率為尖內(nèi)充滿折射率為n =1.40的液體。求從劈棱數(shù)起第五個明條紋在充入液的液體。求從劈棱數(shù)起第五個明條紋在充入液 體前后移動的距離。體前后移動的距離。 解:設(shè)第五個明紋處膜厚為解:設(shè)第五個明紋處膜厚為e,則有,則有 5 2 2ne 設(shè)該處至劈棱的距離為設(shè)該處至劈棱的距離為l,則有近似關(guān)系,則有近似關(guān)系 le 由上兩式得由上兩式得 2 9 2 nl n l 4 9 充入液體前第五個明紋位置充入液體前第五個明紋位置 4 9 1 l 充入液體后第五個明紋位置充入液體后第五個明紋位置 n l 4 9 1 充入液體前后第五個明紋移動的距離充
12、入液體前后第五個明紋移動的距離 mm61. 1) 1 1 ( 4 9 21 n lll e l 12 牛頓環(huán)牛頓環(huán) 光源光源 透鏡透鏡 顯微鏡顯微鏡 平玻璃平玻璃 平凸透鏡平凸透鏡 反射鏡反射鏡 .)2 , 1(, 2 ) 12 k Rk r ( 明 2 2 e .)2 , 1( ,kk 明明 .)2 , 1 , 0( , 2 ) 12(kk 暗暗 牛頓環(huán)牛頓環(huán) r 越大,越大,k 越大,即級次越高。越大,即級次越高。 13 7. 在圖示三種透明材料構(gòu)成的牛頓環(huán)裝置中,用單色光垂直照射,在在圖示三種透明材料構(gòu)成的牛頓環(huán)裝置中,用單色光垂直照射,在 反射光中看到干涉條紋,則在接觸點反射光中看到干
13、涉條紋,則在接觸點P處形成的圓斑為處形成的圓斑為 (A) 全明;全明; (B) 全暗;全暗; (C) 右半部明,左半部暗;右半部明,左半部暗; (D) 右半部暗,左半部明。右半部暗,左半部明。 P 1.52 1.75 1.52 圖中數(shù)字為各處的折射 1.62 1.62 (D) 8. 用波長為用波長為 的單色光垂直照射如圖所示的牛頓環(huán)裝置,觀察從空氣膜上的單色光垂直照射如圖所示的牛頓環(huán)裝置,觀察從空氣膜上 下表面反射的光形成的牛頓環(huán)若使平凸透鏡慢慢地垂直向上移動,從透下表面反射的光形成的牛頓環(huán)若使平凸透鏡慢慢地垂直向上移動,從透 鏡頂點與平面玻璃接觸到兩者距離為鏡頂點與平面玻璃接觸到兩者距離為d
14、的移動過程中,移過視場中某固定的移動過程中,移過視場中某固定 觀察點的條紋數(shù)目等于觀察點的條紋數(shù)目等于_ ) 2( 2 )2(k de) 1 ( 2 2k e ) 1 () 2()(2kkd d kkd 2 2 2 2 ne .)2 , 1( ,kk 明明 .)2 , 1 , 0( , 2 ) 12(kk 暗暗 2 左左 0 右右 14 9. 如圖所示,牛頓環(huán)裝置的平凸透鏡與平板玻璃有一小縫隙如圖所示,牛頓環(huán)裝置的平凸透鏡與平板玻璃有一小縫隙e0,現(xiàn)用波長,現(xiàn)用波長 為為 的單色光垂直照射,已知平凸透鏡的曲率半徑為的單色光垂直照射,已知平凸透鏡的曲率半徑為R,求反射光形成的牛,求反射光形成的牛
15、 頓環(huán)的各暗環(huán)半徑。頓環(huán)的各暗環(huán)半徑。 e0 空氣空氣 2 )2( 0 ee.)2 , 1 , 0(, 2 ) 12(kk o A B 曲率半徑曲率半徑 透鏡透鏡 平板玻璃平板玻璃 R r e e0 2222 2)(eReeRRr R e,e2 2Re ,代入公式。 R r eRer 2 ,2 2 2 12 2 1 2 1 22 0 kee 式中式中k為大于零的整數(shù)為大于零的整數(shù) 0 2ekRr(k為整數(shù),且為整數(shù),且k2e0 / ) 15 4.4.等傾干涉等傾干涉 sin2 22 1 2 2 inne ab )2.1(kk明紋 明紋 )2 . 1 . 0( 2 )12(kk 暗紋暗紋 = 當
16、當i 一定一定,e 變化時,稱等厚干涉變化時,稱等厚干涉; 當當e 一定,一定,i 變化時,變化時, 稱等傾干涉。稱等傾干涉。 cos2 2 en b a )2 .1(kk明紋明紋 ). 1 . 0( 2 )12(kk 暗紋暗紋 = 2 sin2 2 22 1 2 2 inne ab 16 10. 在折射率在折射率n1.50的玻璃上,鍍上的玻璃上,鍍上n1.35的透明介質(zhì)薄膜入射光的透明介質(zhì)薄膜入射光 波垂直于介質(zhì)膜表面照射,觀察反射光的干涉,發(fā)現(xiàn)對波垂直于介質(zhì)膜表面照射,觀察反射光的干涉,發(fā)現(xiàn)對 1600 nm的光的光 波干涉相消,對波干涉相消,對 2700 nm的光波干涉相長且在的光波干涉
17、相長且在600 nm到到700 nm之之 間沒有別的波長是最大限度相消或相長的情形求所鍍介質(zhì)膜的厚間沒有別的波長是最大限度相消或相長的情形求所鍍介質(zhì)膜的厚 度度(1 nm = 10-9 m) e n0 =1.00 n =1.35 n =1.50 解:設(shè)介質(zhì)薄膜的厚度為解:設(shè)介質(zhì)薄膜的厚度為e,上、下表面反射,上、下表面反射 均為由光疏介質(zhì)到光密介質(zhì),故不計附加光均為由光疏介質(zhì)到光密介質(zhì),故不計附加光 程差。當光垂直入射程差。當光垂直入射i = 0時,依公式有:時,依公式有: 對對 1: ) 1 ( 2 122 1 ken 對對 2: )2( 2 2ken 由由(1),(2)得:得: 3 2 1
18、2 1 k 將將k、 2、 n 代入代入 (2) 式得式得 mm1078. 7 2 4 2 n k e 17 18 11. 如圖所示,用波長為如圖所示,用波長為 = 632.8 nm (1 nm = 10-9 m)的單色點光源的單色點光源S照照 射厚度為射厚度為e = 1.0010-5 m、折射率為、折射率為n2 = 1.50、半徑為、半徑為R = 10.0 cm的圓的圓 形薄膜形薄膜F,點光源,點光源S與薄膜與薄膜F的垂直距離為的垂直距離為d = 10.0 cm,薄膜放在空氣,薄膜放在空氣 (折射率(折射率n1 = 1.00)中,觀察透射光的等傾干涉條紋問最多能看到幾)中,觀察透射光的等傾干
19、涉條紋問最多能看到幾 個亮紋?(注:亮斑和亮環(huán)都是亮紋)個亮紋?(注:亮斑和亮環(huán)都是亮紋) S F d e f L C R n1 n2 n1 解:對于透射光等傾條紋的第解:對于透射光等傾條紋的第k級明紋有:級明紋有: kencos2 2 中心亮斑的干涉級最高,為中心亮斑的干涉級最高,為kmax,其,其 = 0,有:,有: 4 .47 10328. 6 1000. 150. 122 7 5 2 max en k 應(yīng)取應(yīng)取較小較小的整數(shù),的整數(shù),kmax = 47(能看到的最高干涉級為第(能看到的最高干涉級為第47級亮斑)級亮斑) 最外面的亮紋干涉級最低,為最外面的亮紋干涉級最低,為kmin,相,
20、相 應(yīng)的入射角為應(yīng)的入射角為 im = 45 (因因R=d),相應(yīng)的相應(yīng)的 折射角為折射角為 m,據(jù)折射定律有,據(jù)折射定律有 mm ninsinsin 21 01 2 1 1 13.28 50. 1 45sin00. 1 sin )sin(sin mm i n n 由由 min2 cos2kren m 8 .41 10328. 6 13.28cos1000. 150. 12cos2 7 5 2 min m ren k 應(yīng)取應(yīng)取較大較大的整數(shù),的整數(shù),kmin = 42(能看到的最低(能看到的最低 干涉級為第干涉級為第42級亮斑)級亮斑) 最多能看到最多能看到6個亮斑個亮斑 (第(第42,43,
21、44,45,46,47級亮斑)級亮斑) 19 12. 鈉黃光中包含著兩條相近的譜線,其波長分別為鈉黃光中包含著兩條相近的譜線,其波長分別為 1 = 589.0 nm和和 2 = 589.6 nm (1nm = 10-9 m)用鈉黃光照射邁克耳孫干涉儀當干涉儀的可動用鈉黃光照射邁克耳孫干涉儀當干涉儀的可動 反射鏡連續(xù)地移動時,視場中的干涉條紋將周期性地由清晰逐漸變模糊,反射鏡連續(xù)地移動時,視場中的干涉條紋將周期性地由清晰逐漸變模糊, 再逐漸變清晰,再變模糊,再逐漸變清晰,再變模糊,求視場中的干涉條紋某一次由最清晰變?yōu)榍笠晥鲋械母缮鏃l紋某一次由最清晰變?yōu)?最模糊的過程中可動反射鏡移動的距離最模糊的
22、過程中可動反射鏡移動的距離d 解:設(shè)視場中的干涉條紋由最清晰(解:設(shè)視場中的干涉條紋由最清晰( 1 的明紋與的明紋與 2的明紋重合)變?yōu)樽钅5拿骷y重合)變?yōu)樽钅?糊(糊( 1的明紋與的明紋與 2的暗紋重合)的過程中,可動反射鏡的暗紋重合)的過程中,可動反射鏡M2移動的距離為移動的距離為d, 則在此過程中,對于則在此過程中,對于 1,光程差增加了,光程差增加了 (1) 1 2kd 對于對于 2,光程差增加了,光程差增加了 (2) 2 ) 2 1 (2 kd 由由式和式和式聯(lián)立解得:式聯(lián)立解得: (3) )(2 12 2 k 將將式代入式代入式得:式得: )(4 12 21 d m1045. 1n
23、m1045. 1 )0 .5896 .589(4 6 .5890 .589 45 20 研討題研討題 1. 如果如果S1和和S2為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機能否拍出干涉條紋為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機能否拍出干涉條紋 照片?如果曝光時間比照片?如果曝光時間比10-8s短得多,是否有可能拍得干涉條紋照片?短得多,是否有可能拍得干涉條紋照片? 參考解答:參考解答:如果如果S1和和S2為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機不能拍得為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機不能拍得 干涉條紋照片;如果曝光時間比干涉條紋照片;如果曝光時間比10-8s短得多,有可能拍得干涉條紋照片。短得多,有可能
24、拍得干涉條紋照片。 所謂干涉就是在觀察的時間內(nèi),疊加區(qū)有一穩(wěn)定的強度分布。一般的所謂干涉就是在觀察的時間內(nèi),疊加區(qū)有一穩(wěn)定的強度分布。一般的 實驗中觀察時間都遠比實驗中觀察時間都遠比原子發(fā)光的時間原子發(fā)光的時間10-8s長得多,所以要維持各點強度長得多,所以要維持各點強度 穩(wěn)定,就得要求疊加區(qū)內(nèi)各點每時刻相遇的兩條光線除了頻率相同、振動穩(wěn)定,就得要求疊加區(qū)內(nèi)各點每時刻相遇的兩條光線除了頻率相同、振動 方向相同之外,還必須相位差恒定。方向相同之外,還必須相位差恒定。 由發(fā)光的特點可知,由發(fā)光的特點可知, 在我們觀察的時間內(nèi),兩在我們觀察的時間內(nèi),兩 個獨立光源不可能保證兩個獨立光源不可能保證兩
25、條光線在確定的點有恒定條光線在確定的點有恒定 的相位差。的相位差。 普通光源:自發(fā)輻射普通光源:自發(fā)輻射 獨立獨立 不同原子不同原子 同一時刻發(fā)的光同一時刻發(fā)的光 獨立獨立 同一原子不同時刻發(fā)的光同一原子不同時刻發(fā)的光 21 但每時刻,兩獨立光源發(fā)出的兩條光線在各點都有一定的相差,即有但每時刻,兩獨立光源發(fā)出的兩條光線在各點都有一定的相差,即有 一確定的諧振疊加結(jié)果,只不過在觀察的時間內(nèi),各種合成結(jié)果都會出現(xiàn),一確定的諧振疊加結(jié)果,只不過在觀察的時間內(nèi),各種合成結(jié)果都會出現(xiàn), 從而得到的觀察結(jié)果是非相干的。從而得到的觀察結(jié)果是非相干的。 用普通相機只能拍得用普通相機只能拍得平均結(jié)果平均結(jié)果,所
26、以無法拍得兩個獨立的光源的,所以無法拍得兩個獨立的光源的“干涉干涉 條紋條紋”照片。照片。 1. 如果如果S1和和S2為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機能否拍出干涉條紋為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機能否拍出干涉條紋 照片?如果曝光時間比照片?如果曝光時間比10-8s短得多,是否有可能拍得干涉條紋照片?短得多,是否有可能拍得干涉條紋照片? 參考解答:參考解答:如果如果S1和和S2為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機不能拍得為兩個普通的獨立單色線光源,用照相機不能拍得 干涉條紋照片;如果曝光時間比干涉條紋照片;如果曝光時間比10-8s短得多,有可能拍得干涉條紋照片。短得多,有可能拍得干涉條
27、紋照片。 如果曝光時間比如果曝光時間比10-8s短得多,即短到一個原子一次發(fā)光的時間,那么短得多,即短到一個原子一次發(fā)光的時間,那么 就把兩個原子發(fā)光的某一次的疊加結(jié)果記錄下來,當然就有一個確定的強就把兩個原子發(fā)光的某一次的疊加結(jié)果記錄下來,當然就有一個確定的強 度分布。因此可以說,這樣的相機有可能拍得干涉條紋。度分布。因此可以說,這樣的相機有可能拍得干涉條紋。 22 2. 用白色線光源做雙縫干涉實驗時,若在用白色線光源做雙縫干涉實驗時,若在S1縫后面放一紅色濾光片,縫后面放一紅色濾光片, S2后面放一綠色濾光片,問能否觀察到干涉條紋?為什么?后面放一綠色濾光片,問能否觀察到干涉條紋?為什么?
28、 參考解答:不能觀察到干涉條紋。參考解答:不能觀察到干涉條紋。 判斷是否能看到干涉條紋應(yīng)從兩個方面考慮。判斷是否能看到干涉條紋應(yīng)從兩個方面考慮。 首先是產(chǎn)生相干疊加的條件,即相干光必須頻率相同,在疊加區(qū)首先是產(chǎn)生相干疊加的條件,即相干光必須頻率相同,在疊加區(qū) 必須有振動方向相同的分量及有恒定的相位差。必須有振動方向相同的分量及有恒定的相位差。 P s1 s2 s0 其次還要從技術(shù)上考慮,如對兩光強其次還要從技術(shù)上考慮,如對兩光強 之比、光源的非單色性及光源的線度之比、光源的非單色性及光源的線度 等都有一定的要求,以保證獲得清晰等都有一定的要求,以保證獲得清晰 的干涉條紋。的干涉條紋。 若在兩個縫上分別放置紅色若在兩個縫上分別放置紅色 和綠色濾波片,不滿足頻率和綠色濾波片,不滿足頻率 相同的相干條件,所以不可相同的相干條件,所以不可 能看到干涉條紋。能看到干涉條紋。 23 3. 在煤礦的井下生產(chǎn)中在煤礦的井下生產(chǎn)中, ,即時準確地監(jiān)測井下氣體的甲烷濃度變化即時準確地監(jiān)測井下氣體的甲烷濃度變化, ,對確保對確保 安全生產(chǎn)極其重要安全生產(chǎn)極其重要. .請請利用所學(xué)的知識設(shè)計一檢測儀監(jiān)測礦井甲烷濃度利用所學(xué)的知識設(shè)計一檢測儀監(jiān)測礦井甲烷濃度. 介紹瑞利干涉儀監(jiān)測礦井甲烷濃度。介紹瑞利干涉儀監(jiān)測礦井甲烷濃度。 瑞利干涉儀的結(jié)構(gòu)
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