SMT資料二極管失效的分析報(bào)告8Dreport

1、d1.問(wèn)題描述(problem description)： 客戶反映產(chǎn)品ll4148漏電ir偏大。簽名（signature）：陳明文 完成時(shí)間(date)：2011-09-19d2.改善小組成員(improvement team members)： 品質(zhì)部：鄧生利工藝部：尹海軍生產(chǎn)部：陳子瓊客服部：陳明文/劉遠(yuǎn)田d3.短期對(duì)策(short term corrective action)： 應(yīng)急措施(actions)：挑選/返工(sorting/rework) 分析(for analysis)報(bào)廢(scrap) 特許(concession) 召回所有成品(recall parts from fi

2、nished goods store)補(bǔ)貨給客戶(replenish to customer) n/a負(fù)責(zé)人(responsible)： 完成時(shí)間(target date)：d4.原因分析(cause analysis)： 不良原因(defect cause)： 人為（man） 設(shè)備(equipment) 材料(material)環(huán)境(environment) 方法(method/workmanship) 設(shè)計(jì)(designer) 客戶操作(customer handling)根據(jù)客戶提供的樣品分析如下：1. 客戶提供ll4148樣品4pcs，樣品銅釘釘頭粘有余錫，應(yīng)已使用過(guò)，樣品銅釘表面已發(fā)

3、白（銅釘表面銅層已腐蝕）；仔細(xì)觀察發(fā)現(xiàn)樣品表面有如助焊劑之類的物質(zhì)殘留，見(jiàn)下圖： 客供來(lái)料樣品圖 整理后 表面有殘留物質(zhì)2. 萬(wàn)用表測(cè)試4pcs樣品的pn結(jié)正、反向壓降，確認(rèn)4pcs樣品中有2pcs樣品壓降正常，2pcs樣品已擊穿短路，各取一圖作參考，見(jiàn)下圖： 2pcs樣品壓降正常（正、向壓降測(cè)試） 2pcs樣品已擊穿短路（正、向壓降測(cè)試） 3. 常規(guī)參數(shù)測(cè)試：結(jié)果4pcs樣品中pn結(jié)壓降正常的2pcs樣品參數(shù)漏電ir偏大，另2pcs樣品參數(shù)均為0（短路漏電大，設(shè)備保護(hù)顯示為0），均已短路，詳見(jiàn)以下測(cè)試參數(shù)：test itemvz n(v)vf 1(mv)ir1 n(ua)ir2 n(ua)t

4、est conditioniz(ma)=0.1t(ms)=16if1(ma)=10t(ms)=0vr1(v)=75(ms)=0vr2(v)=20(ms)=0test specvzl(v)=100vzh(v)=200vf1l(mv)=0vf1h(mv)=1000ir1(ua)<5ir2(ua)<0.0251#40.2101 739.9574 249.9969 0.0000 2#147.5794 736.2950 0.2517 0.0492 3#0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 4#0.0000 0.00000.0000 0.0000 4. 把樣品表面進(jìn)行清洗后再

5、測(cè)試常規(guī)參數(shù)，結(jié)果各樣品參數(shù)與第3點(diǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)明顯變化。5. 解剖觀察：任取漏電和短路樣品各1pc分別進(jìn)行解剖觀察分析，發(fā)現(xiàn)樣品銅釘切面均平整，樣品晶片表面均見(jiàn)有腐蝕氧化的銅粉，參考第1點(diǎn)分析，應(yīng)是在客戶處使用過(guò)程中受到酸濃度較高的助焊劑或別的具有腐蝕性化學(xué)物質(zhì)浸蝕所致，任取一圖作參考，見(jiàn)下圖： 6. 將漏電和短路樣品解剖出的裸晶清洗后再測(cè)試常規(guī)電性參數(shù)，結(jié)果都符合ll4148產(chǎn)品規(guī)格要求，確認(rèn)晶片電性是良好的，說(shuō)明樣品漏電、短路電性不良是因腐蝕脫落的銅層所致。詳見(jiàn)以下清洗后的裸晶測(cè)試參數(shù)表： test itemvz n(v)vf 1(mv)ir1 n(ua)ir2 n(ua)test con

6、ditioniz(ma)=0.1t(ms)=16if1(ma)=10t(ms)=0vr1(v)=75(ms)=0vr2(v)=20(ms)=0test specvzl(v)=100vzh(v)=200vf1l(mv)=0vf1h(mv)=1000ir1(ua)<5ir2(ua)<0.0251#136.8059 728.9702 0.0152 0.00393#139.5001741.1782 0.0991 0.0010 7. 檢查本廠產(chǎn)品生產(chǎn)流程，每只產(chǎn)品出廠前都會(huì)經(jīng)過(guò)2次100%常規(guī)電性測(cè)試，漏電、擊穿短路等電性不良品不能通過(guò)測(cè)試功能而生產(chǎn)出廠。8. 綜上分析：1） 客戶提供ll4

7、148樣品4pcs，樣品銅釘表面銅層已被腐蝕而變白，已使用過(guò)；經(jīng)測(cè)試分析確認(rèn)4pcs樣品中有2pcs樣品參數(shù)漏電ir偏大、2pcs樣品已擊穿短路； 2） 從解剖觀察分析，發(fā)現(xiàn)樣品銅釘切面平整，樣品晶片表面均見(jiàn)有腐蝕脫落的銅粉，將有銅層的晶片清洗后測(cè)試裸晶電性ok，脫落的銅層使樣品內(nèi)部正、負(fù)極兩端銅釘相互接觸連通而導(dǎo)致樣品漏電、短路；3） 導(dǎo)致銅層脫落的原因應(yīng)是在客戶端的某個(gè)工序使用過(guò)程中有如助焊劑或別的其它化學(xué)物質(zhì)腐蝕銅釘與玻殼之間的位置形成縫隙后進(jìn)而腐蝕到內(nèi)部所致。 簽名（signature）：吳亞峰/陳明文 完成時(shí)間(target date)：2011-09-19d5.長(zhǎng)期對(duì)策(long

8、term corrective action): 1. 請(qǐng)客戶查看當(dāng)時(shí)生產(chǎn)測(cè)試試驗(yàn)該批次產(chǎn)品過(guò)程中使用的助焊劑或別的溶劑成份酸性強(qiáng)度是否有變化；2. 建議客戶在后續(xù)使用過(guò)程中，應(yīng)在波峰焊后對(duì)pcb進(jìn)行有效清洗，防止助焊劑殘留在元件本體而影響產(chǎn)品電性。 負(fù)責(zé)人(responsible)：mary/陳明文 完成時(shí)間(target date)：2011-09-20d6.對(duì)策驗(yàn)證(verification of corrective actions): n/a驗(yàn)證結(jié)果：合格 不合格 負(fù)責(zé)人(responsible)： 完成時(shí)間(target date)：d7.形成標(biāo)準(zhǔn)化(standardization):更改的文件類型(change the file type)： fmea(失效模式及效果分析) 控制計(jì)劃( control plan)操作指引(work instruction) 檢驗(yàn)指引(inspection instruction)圖紙(drawing) 規(guī)格(spec) n/a負(fù)責(zé)人(responsible)： 完成時(shí)間(