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文檔簡介

1、計算機組成原理計算機組成原理武漢科技大學武漢科技大學計算機科學與技術學院計算機科學與技術學院第三章第三章 多層次的存儲器多層次的存儲器n本章內容本章內容3.1 存儲器概述存儲器概述3.2 SRAM存儲器存儲器3.3 DRAM存儲器存儲器3.4 只讀存儲器和閃速存儲器只讀存儲器和閃速存儲器3.5 并行存儲器并行存儲器3.6 Cache存儲器存儲器3.7 虛擬存儲器虛擬存儲器3.8 奔騰系列機奔騰系列機(IA-32體系結構體系結構)的虛存組織的虛存組織3.1 存儲器概述存儲器概述3.1.1 3.1.1 存儲器的分類存儲器的分類半導體器件半導體器件磁性材料磁性材料磁表面存儲器磁表面存儲器( (磁盤、

2、磁帶磁盤、磁帶) )光材料光材料光盤光盤雙極型雙極型MOSMOS型型1. 1. 按存儲介質分按存儲介質分2. 2. 按存取方式分按存取方式分 隨機存儲器:隨機存儲器:如半導體存儲器如半導體存儲器順序存儲器:順序存儲器:如磁帶如磁帶半順序存儲器:半順序存儲器:如磁盤、光盤如磁盤、光盤存儲位元、存儲單元、存儲器存儲位元、存儲單元、存儲器目錄目錄4. 4. 按信息易失性分按信息易失性分 3. 3. 按存儲內容的可變性分按存儲內容的可變性分( (半導體存儲器的分類半導體存儲器的分類) )只讀存儲器只讀存儲器(ROM)(ROM)隨機讀寫存儲器隨機讀寫存儲器(RAM)(RAM)易失性存儲器易失性存儲器:斷

3、電后信息消失斷電后信息消失( (如如RAM)RAM)非易失性存儲器:非易失性存儲器:斷電后仍能保存信息斷電后仍能保存信息( (如磁盤如磁盤) )5. 5. 按在系統(tǒng)中的作用分按在系統(tǒng)中的作用分 MROMPROMEPROMEEPROMSRAMDRAM控制存儲器控制存儲器高速緩沖存儲器高速緩沖存儲器主存儲器主存儲器輔助輔助( (外外) )存儲器存儲器閃速存儲器閃速存儲器(FLASH)(FLASH)NAND FLASHNOR FLASH不可變或條件可變條件可變可變內存儲器內存儲器(CPU(CPU可直接訪問可直接訪問) ) 半導體存儲器類型半導體存儲器類型存儲器類型存儲器類型種類種類可擦除性可擦除性寫

4、機制寫機制 易失性易失性隨機存取存儲器隨機存取存儲器RAM讀讀-寫存儲器寫存儲器電,字節(jié)級電,字節(jié)級電電易失易失只讀存儲器只讀存儲器ROM一次編程只一次編程只讀存儲器讀存儲器不能不能掩模掩模非易失非易失可編程可編程PROM電電光擦可編程光擦可編程EPROM多次編程只多次編程只讀存儲器讀存儲器紫外線,芯片級紫外線,芯片級電擦可編程電擦可編程EEPROM電,字節(jié)級電,字節(jié)級閃速存儲器閃速存儲器電,塊級電,塊級3.1.2 存儲器的分級存儲器的分級 設計存儲器體系結構時應考慮設計存儲器體系結構時應考慮容量、速度和成本容量、速度和成本n高速緩沖存儲器高速緩沖存儲器(cache)(cache)高速小容量高

5、速小容量半導體存儲器半導體存儲器n主存儲器主存儲器( (主存主存) )存放計算機運行期存放計算機運行期間的大量程序和數(shù)據(jù);采用間的大量程序和數(shù)據(jù);采用MOSMOS半導體半導體存儲器構成存儲器構成n外存儲器外存儲器( (外存外存) )大容量輔助存儲器大容量輔助存儲器n各級存儲器之間的關系各級存儲器之間的關系3.1.2 存儲器分級結構存儲器分級結構CPU外存外存(輔存輔存)寄存器寄存器高速緩沖高速緩沖存儲器存儲器主存主存主機主機3.1.3 主存儲器的技術指標主存儲器的技術指標字存儲單元、字地址;字節(jié)存儲單元、字節(jié)地址字存儲單元、字地址;字節(jié)存儲單元、字節(jié)地址按字尋址的計算機、按字節(jié)尋址的計算機按字

6、尋址的計算機、按字節(jié)尋址的計算機n存儲容量存儲容量存儲器中可以容納的存儲單元總數(shù),存儲器中可以容納的存儲單元總數(shù),通常用通常用字數(shù)字數(shù)或或字節(jié)數(shù)字節(jié)數(shù)表示表示( (單位:單位:K K、MM、G G、T)T)n存取時間存取時間( (存儲器訪問時間存儲器訪問時間) )發(fā)出一次讀操作命令發(fā)出一次讀操作命令到該操作完成,將數(shù)據(jù)讀出到數(shù)據(jù)總線上所經(jīng)歷的到該操作完成,將數(shù)據(jù)讀出到數(shù)據(jù)總線上所經(jīng)歷的時間;通常取寫操作時間等于讀操作時間時間;通常取寫操作時間等于讀操作時間n存儲周期存儲周期連續(xù)啟動兩次讀操作所需間隔的最小連續(xù)啟動兩次讀操作所需間隔的最小時間,略大于存取時間時間,略大于存取時間n存儲器帶寬:存儲

7、器帶寬:單位時間里存儲器所存取的信息量單位時間里存儲器所存取的信息量指標指標 含義含義 表現(xiàn)表現(xiàn) 單位單位 存儲容量存儲容量一個存儲器中可容納一個存儲器中可容納的存儲單元總數(shù)的存儲單元總數(shù) 存儲空間存儲空間的大小的大小 字數(shù),字節(jié)數(shù)字數(shù),字節(jié)數(shù) KBKB、MBMB、GBGB、TBTB存取時間存取時間啟動到完成一次存儲啟動到完成一次存儲器操作所經(jīng)歷的時間器操作所經(jīng)歷的時間主存的速主存的速度度 存儲周期存儲周期連續(xù)啟動兩次操作所連續(xù)啟動兩次操作所需間隔的最小時間需間隔的最小時間 主存的速主存的速度度 存儲器帶存儲器帶寬寬單位時間里存儲器所單位時間里存儲器所存取的信息量存取的信息量 數(shù)據(jù)傳輸數(shù)據(jù)傳輸

8、速率速率位位/ /秒,字節(jié)秒,字節(jié)/ /秒秒3.2 SRAM存儲器存儲器n內存采用半導體存儲器,按信息存儲的機理不同分類內存采用半導體存儲器,按信息存儲的機理不同分類n靜態(tài)隨機讀寫存儲器靜態(tài)隨機讀寫存儲器(SRAM(SRAMStatic RAM)Static RAM)n動態(tài)隨機讀寫存儲器動態(tài)隨機讀寫存儲器(DRAM(DRAMDynamic RAM)Dynamic RAM)目錄目錄3.2.1 3.2.1 基本的靜態(tài)存儲元陣列基本的靜態(tài)存儲元陣列1 1、存儲位元、存儲位元是一個觸發(fā)器,具有兩個穩(wěn)定狀態(tài)是一個觸發(fā)器,具有兩個穩(wěn)定狀態(tài)644位位2 2、三組信號線、三組信號線n地址地址線線n數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)線線

9、n控制控制線線n行線行線n列線列線63n地址譯碼器地址譯碼器 雙譯碼雙譯碼( (二級譯碼二級譯碼) )x x向向(A(A0 0AA7 7 ) ) 、y y向向( ( A A8 8AA14 14 ) )3.2.2 基本的基本的SRAM邏輯結構邏輯結構存儲體、地址譯碼器和讀寫控制邏輯存儲體、地址譯碼器和讀寫控制邏輯n存儲體存儲體(32K256(32K2561281288)8)n讀寫控制邏輯讀寫控制邏輯(CS=0時時)讀操作讀操作OE=0,G2開啟,開啟, G1關閉關閉寫操作寫操作WE=0,G1開啟,開啟,G2關閉關閉032767RAM32K83.2.3 3.2.3 讀讀/ /寫周期波形圖寫周期波形

10、圖n讀周期讀周期n讀出時間讀出時間t tAQAQn讀周期讀周期t tRCRCn寫周期寫周期n寫時間寫時間t tWDWDn寫周期寫周期t tWCWCn存取周期存取周期取取t tRCRC= = t tWCWC例例1:SRAM的寫入時序如圖。其中的寫入時序如圖。其中R/W是讀是讀/寫命令控制線,當寫命令控制線,當R/W線為低電平時,存儲器按給定地址把數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)寫入線為低電平時,存儲器按給定地址把數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)寫入存儲器。請指出該寫入時序中的錯誤,并畫出正確的寫入時序存儲器。請指出該寫入時序中的錯誤,并畫出正確的寫入時序圖。圖。3.3 DRAM存儲器存儲器3.3.1 DRAM3.3.1 DRAM存

11、儲元的記憶原理存儲元的記憶原理由一個由一個MOSMOS晶體管和電容器組成的記憶電路晶體管和電容器組成的記憶電路目錄目錄3.3.1 DRAM3.3.1 DRAM存儲元的記憶原理存儲元的記憶原理1 1、MOSMOS管作為管作為開關使用,信開關使用,信息由電容器上息由電容器上的電荷量體的電荷量體現(xiàn)現(xiàn)電容器電容器充滿電荷代表充滿電荷代表存儲了存儲了1 1;電容;電容器放電沒有電器放電沒有電荷代表存儲了荷代表存儲了0 03 3、寫、寫00輸出緩輸出緩沖器和刷新緩沖器沖器和刷新緩沖器關閉;輸入緩沖器關閉;輸入緩沖器打開,輸入數(shù)據(jù)打開,輸入數(shù)據(jù)D DININ=0=0送到存儲元送到存儲元位線上;行選線為位線上

12、;行選線為高,打開高,打開MOSMOS管,管,電容上的電荷通過電容上的電荷通過MOSMOS管和位線放電管和位線放電5 5、讀出、讀出1 1后存儲位后存儲位元重寫元重寫1 1 (1 (1的讀出是的讀出是破壞性的破壞性的) )輸入輸入緩沖器關閉,刷新緩沖器關閉,刷新緩沖器和輸出緩沖緩沖器和輸出緩沖器器/ /讀放打開,讀放打開,D DOUTOUT=1=1經(jīng)刷新緩沖經(jīng)刷新緩沖器送到位線上,再器送到位線上,再經(jīng)經(jīng)MOSMOS管寫到電容管寫到電容上上4 4、讀出、讀出11輸入輸入緩沖器和刷新緩沖緩沖器和刷新緩沖器關閉;輸出緩沖器關閉;輸出緩沖器器/ /讀放打開讀放打開(R/W(R/W為高為高) );行選線

13、為;行選線為高,打開高,打開MOSMOS管,管,電容上存儲的電容上存儲的1 1送送到位線上,通過輸?shù)轿痪€上,通過輸出緩沖器出緩沖器/ /讀出放讀出放大器發(fā)送到大器發(fā)送到D DOUTOUT,即即D DOUTOUT=1=12 2、寫、寫11輸出緩沖輸出緩沖器和刷新緩沖器關閉;器和刷新緩沖器關閉;輸入緩沖器打開輸入緩沖器打開(R/W(R/W為低為低) ),D DININ=1=1送到存送到存儲元位線上;行選線儲元位線上;行選線為高,打開為高,打開MOSMOS管,管,位線上的高電平給電位線上的高電平給電容器充電容器充電n與與SRAMSRAM相比,增加的部件:相比,增加的部件:以以1M1M4 4位的位的D

14、RAMDRAM為例為例3.3.2 DRAM3.3.2 DRAM芯片的邏輯結構芯片的邏輯結構(1) 行、列地址鎖存器行、列地址鎖存器分時傳送,分時傳送,RAS/CAS(2) 刷新計數(shù)器及控制電路刷新計數(shù)器及控制電路按行刷新;刷新計數(shù)按行刷新;刷新計數(shù)器的長度、刷新地址器的長度、刷新地址與讀與讀/寫地址的切換寫地址的切換1. 1. 讀周期、寫周期讀周期、寫周期從從RAS下降沿開始,到下一個下降沿開始,到下一個RAS的下降沿為止的時間的下降沿為止的時間(連連續(xù)兩個讀周期的時間間隔續(xù)兩個讀周期的時間間隔),通常取讀周期,通常取讀周期=寫周期寫周期3.3.3 3.3.3 讀讀/ /寫周期、刷新周期寫周期

15、、刷新周期2. 2. 刷新周期刷新周期n刷新周期:刷新周期:典型值典型值2ms2ms、8ms8ms 16ms16ms;某些器件可大于;某些器件可大于100ms100msn刷新操作以行為單位進行刷新操作以行為單位進行n刷新方式刷新方式n集中式刷新集中式刷新n分散式刷新分散式刷新n異步式刷新異步式刷新3.3.3 3.3.3 讀讀/ /寫周期、刷新周期寫周期、刷新周期例:設某個存儲器結構為例:設某個存儲器結構為1024 1024的存儲矩陣的存儲矩陣讀讀/寫周期為寫周期為TC=0.5s,刷新周期為,刷新周期為8ms集中刷新方式集中刷新方式n集中式刷新:集中式刷新:將一個刷新周期分為兩部分將一個刷新周期

16、分為兩部分前一段時間進行前一段時間進行正常讀正常讀/寫;后一段時間作為集中刷新時間寫;后一段時間作為集中刷新時間優(yōu)點:優(yōu)點:對存儲器的平均讀對存儲器的平均讀/寫時間影響不大,適用于高速存儲器寫時間影響不大,適用于高速存儲器缺點:缺點:在集中刷新時間內不能進行存取訪問在集中刷新時間內不能進行存取訪問死時間死時間讀讀/寫寫/保持保持刷新刷新tctc0 1 2149750 110238ms集中刷新方式集中刷新方式8ms分成分成16000個個TC(=0.5s),只需,只需1024個個TC進行刷新進行刷新分散刷新方式分散刷新方式n分散式刷新分散式刷新:將一個存儲系統(tǒng)周期:將一個存儲系統(tǒng)周期tS分為兩半分

17、為兩半前半段用于前半段用于讀讀/寫,后半段為刷新時間寫,后半段為刷新時間tctR讀讀/寫寫刷新刷新tS8ms讀讀/寫寫刷新刷新刷新刷新讀讀/寫寫分散刷新方式分散刷新方式優(yōu)點:優(yōu)點:不存在死時間不存在死時間缺點:缺點:刷新過于頻繁,影響系統(tǒng)速度;如存儲器讀刷新過于頻繁,影響系統(tǒng)速度;如存儲器讀/寫周期為寫周期為0.5s,則存儲系統(tǒng)的周期至少應為,則存儲系統(tǒng)的周期至少應為1s整個系統(tǒng)速度降低整個系統(tǒng)速度降低設設TC=0.5s,系統(tǒng)周期,系統(tǒng)周期TS=1s,則只需,則只需1024s即可刷新一遍,即可刷新一遍,在在8ms內可進行多次刷新內可進行多次刷新異步刷新方式異步刷新方式n異步式刷新異步式刷新:前

18、兩種方式結合,先用刷新的行數(shù)對刷新周期進:前兩種方式結合,先用刷新的行數(shù)對刷新周期進行分割,再將分割好的時間分為兩部分行分割,再將分割好的時間分為兩部分前段時間用于讀前段時間用于讀/寫,寫,后一小段時間用于刷新后一小段時間用于刷新讀讀/寫寫7.8s8ms刷新刷新讀讀/寫寫7.8s刷新刷新異步刷新方式異步刷新方式將將8ms分割成分割成1024個時間段,每段時間為個時間段,每段時間為8ms/1024=7.8125s(取取7.8s),每隔每隔7.8s刷新一行,刷新一行,8ms內完成對所有內完成對所有1024行的一次刷新行的一次刷新3.3.4 3.3.4 存儲器容量的擴充存儲器容量的擴充1 1、字長、

19、字長位數(shù)擴展位數(shù)擴展地址線和控制線公用;數(shù)據(jù)線分開連接地址線和控制線公用;數(shù)據(jù)線分開連接所需芯片數(shù)所需芯片數(shù)d=設計要求的存儲器容量設計要求的存儲器容量/選擇芯片存儲容量選擇芯片存儲容量2 2、字字存儲容量存儲容量擴展擴展地址線和數(shù)據(jù)線公用,控制線中地址線和數(shù)據(jù)線公用,控制線中R/W公用,使能端公用,使能端EN不能公不能公用,由地址總線的高位段譯碼決定片選信號用,由地址總線的高位段譯碼決定片選信號所需芯片數(shù)所需芯片數(shù)(d=設計要求的存儲器容量設計要求的存儲器容量/選擇芯片存儲容量選擇芯片存儲容量)CPUMDR主存主存MAR地址總線地址總線數(shù)據(jù)總線數(shù)據(jù)總線讀讀寫寫主存與主存與CPUCPU的連接原

20、理的連接原理用用8K1的存儲器芯片組成的存儲器芯片組成8K8位位(位擴展位擴展) 用用16K8的存儲器芯片組成的存儲器芯片組成64K8位位(字擴展字擴展)用用16K4的存儲器芯片組成的存儲器芯片組成64K8 (字位同時擴展字位同時擴展) A A1515 A A1414 CPU CPU WE WE 2:42:4譯碼器譯碼器1111101001010000D D0 0 D D3 3D D4 4 D D7 7A A0 0A A1313 CE CE 16K 16K4 4WEWE CE CE 16K 16K4 4WEWEA A0 0A A1313D D0 0 D D3 3 CE CE 16K 16K4

21、4WEWE CE CE 16K 16K4 4WEWEA A0 0A A1313D D0 0 D D3 3 CE CE 16K 16K4 4WEWE CE CE 16K 16K4 4WEWEA A0 0A A1313D D0 0 D D3 3 CE CE 16K 16K4 4WEWE CE CE 16K 16K4 4WEWEA A0 0A A1313D D0 0 D D3 33 3、存儲器模塊條、存儲器模塊條( (內存條內存條) ) n類型類型SDSD、DDRDDR、DDR2DDR2、DDR3DDR3n封裝封裝有有3030腳、腳、7272腳、腳、100100腳、腳、144144腳、腳、16816

22、8腳、腳、184184腳、腳、240240腳腳(DDR2(DDR2、DDR3)DDR3)n3030腳腳8 8位數(shù)據(jù)線位數(shù)據(jù)線,容量,容量256KB256KB32MB32MBn7272腳腳3232位數(shù)據(jù)總線位數(shù)據(jù)總線n100100腳以上腳以上既用于既用于3232位位又用于又用于6464位數(shù)據(jù)總線位數(shù)據(jù)總線,容量,容量4MB4MB512MB512MBnDDR3DDR3單條容量可達單條容量可達32GB32GB3.3.4 3.3.4 存儲器容量的擴充存儲器容量的擴充轉轉3.3.61. FPM-DRAM1. FPM-DRAM( (快速頁模式快速頁模式DRAMDRAM)程序的局部性原理程序的局部性原理n頁

23、頁同一行地址的所有列地址單元集合同一行地址的所有列地址單元集合讀寫周期中,首先由讀寫周期中,首先由RAS確定行地址,然后在同一頁中不再改變確定行地址,然后在同一頁中不再改變行地址行地址(RAS保持有效保持有效),直接由,直接由CAS選定不同的列地址選定不同的列地址3.3.5 3.3.5 高級的高級的DRAMDRAM結構結構快速頁模式讀操作時序圖快速頁模式讀操作時序圖2. CDRAM2. CDRAM( (帶高速緩沖存儲器帶高速緩沖存儲器cachecache的動態(tài)存儲器的動態(tài)存儲器) )在在DRAMDRAM芯片內集成一個芯片內集成一個小容量的小容量的SRAMSRAM3.3.5 3.3.5 高級的高

24、級的DRAMDRAM結構結構SRAMSRAM是是DRAMDRAM某一行的副本,可完成某一行的副本,可完成猝發(fā)式讀取猝發(fā)式讀取讀出過程分析讀出過程分析1M1M4 4,其中,其中SRAM 512SRAM 5124 43. SDRAM3. SDRAM( (同步型動態(tài)存儲器同步型動態(tài)存儲器) )SDRAMSDRAM的操作要求與系統(tǒng)時鐘同步,在系統(tǒng)時鐘的控制下從的操作要求與系統(tǒng)時鐘同步,在系統(tǒng)時鐘的控制下從CPUCPU獲得地址、數(shù)據(jù)和控制信息,即:它獲得地址、數(shù)據(jù)和控制信息,即:它與與CPUCPU的數(shù)據(jù)交換同步于的數(shù)據(jù)交換同步于外部的系統(tǒng)時鐘信號外部的系統(tǒng)時鐘信號,并且以并且以CPU/CPU/存儲器總線

25、的最高速度運行,存儲器總線的最高速度運行,不需要插入等待狀態(tài)不需要插入等待狀態(tài)nSDRAMSDRAM基于雙存儲體系基于雙存儲體系( (甚至是多體系甚至是多體系) )結構結構內含兩個交錯內含兩個交錯的存儲陣列,允許兩個內存頁面同時打開的存儲陣列,允許兩個內存頁面同時打開3.3.5 3.3.5 高級的高級的DRAMDRAM結構結構 例例 CDRAM CDRAM內存條組成實例內存條組成實例用用8 8片片1M1M4 4位的位的CDRAMCDRAM構成構成1M1M3232位位(4MB)(4MB)的存儲模塊的存儲模塊8 8個芯片共用行選通、刷新和行地址個芯片共用行選通、刷新和行地址A A0 0 A A10

26、10猝發(fā)式存取過程猝發(fā)式存取過程增加增加附加位附加位( (同數(shù)據(jù)位一起寫入同數(shù)據(jù)位一起寫入DRAMDRAM中保存中保存) )3.3.6 DRAM3.3.6 DRAM讀讀/ /寫的正確性校驗寫的正確性校驗最簡單的校驗最簡單的校驗奇偶校驗奇偶校驗;最簡單的糾錯碼;最簡單的糾錯碼漢明碼漢明碼數(shù)據(jù)位數(shù)據(jù)位單糾錯時校驗位單糾錯時校驗位單糾錯單糾錯/雙檢錯時校驗位雙檢錯時校驗位8163264456756783.4 只讀存儲器和閃速存儲器只讀存儲器和閃速存儲器3.4.1 3.4.1 只讀只讀存儲器存儲器ROMROMn掩模掩模ROMROM:存儲內容固定的:存儲內容固定的ROMROM,由生產廠家提供,由生產廠家

27、提供 n可編程可編程ROMROM:用戶寫入內容,有的可多次寫入:用戶寫入內容,有的可多次寫入n一次性編程的一次性編程的PROMPROMn多次編程的多次編程的EPROMEPROM和和E E2 2PROMPROM目錄目錄只讀存儲器只讀存儲器 定義定義 優(yōu)點優(yōu)點 缺點缺點 掩模式掩模式 數(shù)據(jù)在芯片制造過程中就確定數(shù)據(jù)在芯片制造過程中就確定 可靠性和集成度可靠性和集成度高,價格便宜高,價格便宜不能重寫不能重寫一次編程一次編程 用戶可自行改變某些存儲元用戶可自行改變某些存儲元可以根據(jù)用戶需可以根據(jù)用戶需要編程要編程只能改寫一只能改寫一次次多次編程多次編程 可以用紫外光照射或電擦除,可以用紫外光照射或電擦

28、除,然后再重新寫入新數(shù)據(jù)然后再重新寫入新數(shù)據(jù) 可以多次改寫可以多次改寫ROMROM中的內容中的內容次數(shù)有限次數(shù)有限1. 1. 掩膜掩膜ROMROM3.4.1 3.4.1 只讀存儲器只讀存儲器ROMROM存儲元構成:存儲元構成:二極管、雙極型晶體管、二極管、雙極型晶體管、MOSMOS管管I/O電路電路Y地址譯碼地址譯碼工作原理:工作原理:若管子的基極與選擇線相連,若管子的基極與選擇線相連,該管導通,反向后輸出為該管導通,反向后輸出為“1 1”;若基極與選擇線不連通,則輸若基極與選擇線不連通,則輸出為出為“0 0”優(yōu)點:優(yōu)點:可靠性和集成度高,可靠性和集成度高,價格便宜價格便宜缺點:缺點:不能重寫

29、不能重寫16168 8位位ROMROM陣列結構示意圖陣列結構示意圖行選線與行選線與柵極相連柵極相連行選線與柵行選線與柵極不相連極不相連掩模掩模ROMROM邏輯符號及內部邏輯框圖邏輯符號及內部邏輯框圖A0A1A2A3A4列譯碼器列譯碼器和和I/O電路電路行譯碼器行譯碼器A5A6A7輸輸出出緩緩沖沖器器O0 O1 O2 O3E0E1行行地地址址列列地地址址片選片選使能使能存儲陣列存儲陣列32行行 8列列 4位位ROM256 4A0A1A2A3A4A5A6A7E0E1&EN2550AO0O1O2O3邏輯符號邏輯符號n2. PROM2. PROM( (用戶可編程一次用戶可編程一次) )n熔斷絲

30、結構熔斷絲結構PROMPROM 多發(fā)射極管多發(fā)射極管 基極連選擇線基極連選擇線n編程寫入時使某些熔編程寫入時使某些熔斷絲燒斷斷絲燒斷3.4.1 3.4.1 只讀存儲器只讀存儲器ROMROMn讀出時讀出時熔斷絲連通,輸出為熔斷絲連通,輸出為“1 1”熔斷絲燒斷為熔斷絲燒斷為“0 0”n以以浮柵雪崩注入浮柵雪崩注入型型MOSMOS管管為存儲為存儲元的元的EPROMEPROM3 3、光擦除可編程、光擦除可編程EPROMEPROM(Erasible Programmable ROM)(Erasible Programmable ROM)3.4.1 3.4.1 只讀存儲器只讀存儲器ROMROMnG1G1

31、浮置柵,無引出線;浮置柵,無引出線;G2G2控制柵,有引出線控制柵,有引出線n若漏極若漏極D D端加約幾十伏的脈沖電壓,則溝道中的電場足夠強,端加約幾十伏的脈沖電壓,則溝道中的電場足夠強,會造成雪崩,產生很多高能量電子;此時,若會造成雪崩,產生很多高能量電子;此時,若G2G2柵上加正電柵上加正電壓,則溝道中的電子穿過氧化層注入到壓,則溝道中的電子穿過氧化層注入到G1G1柵,使柵,使G1G1柵積累負柵積累負電荷電荷nG1G1柵周圍都是絕緣的二氧化硅層,泄漏電流極小,所以一旦柵周圍都是絕緣的二氧化硅層,泄漏電流極小,所以一旦電子注入到電子注入到G1G1柵后,能長期保存柵后,能長期保存3. EPRO

32、M3. EPROM3. EPROM3. EPROMn0 0和和1 1的存儲的存儲當當G1G1柵柵有電子有電子積累積累時,時,MOSMOS管的開啟電壓變得管的開啟電壓變得很高,即使很高,即使G2G2柵為高電平,該管柵為高電平,該管仍不能導通,相當于存儲了仍不能導通,相當于存儲了“0 0”;當當G1G1柵柵沒有電子積累沒有電子積累時,時,MOSMOS管管的開啟電壓較低,當?shù)拈_啟電壓較低,當G2G2柵為高電柵為高電平時,該管可以導通,相當于存平時,該管可以導通,相當于存儲了儲了“1 1”n出廠時信息為全出廠時信息為全“1”n擦除擦除用光子能量較高用光子能量較高的紫外光照射的紫外光照射G1G1,使電子

33、,使電子獲得足夠能量,穿過氧化獲得足夠能量,穿過氧化層回到襯底中,即抹去了層回到襯底中,即抹去了存儲的信息,又存了全存儲的信息,又存了全“1 1”用用40W40W紫外燈,相距紫外燈,相距2cm2cm,照射幾分鐘即可照射幾分鐘即可n石英窗口石英窗口n讀出讀出讀出電路采用二維譯碼方式:讀出電路采用二維譯碼方式:x x地址譯碼器的輸出地址譯碼器的輸出xi xi與與G2G2柵極相連,以決定柵極相連,以決定T2T2管是否選中;管是否選中;y y地址譯碼器的輸出地址譯碼器的輸出yi yi與與T1T1管柵極相連,控制數(shù)據(jù)是否讀出;當片選信號管柵極相連,控制數(shù)據(jù)是否讀出;當片選信號CSCS為高電平為高電平時,

34、方能讀出數(shù)據(jù)時,方能讀出數(shù)據(jù)n寫寫“0 0”xi xi和和yi yi選擇線為高電位,選擇線為高電位,P P端加端加2020多伏的正脈沖,多伏的正脈沖,脈沖寬度為脈沖寬度為0.10.11ms1ms3. EPROM3. EPROMEPROMEPROM實例實例27162716為例為例容量:容量:2K 2K 8 8位,地址線位,地址線11 11根:根:7 7條條X X譯碼、譯碼、4 4條條Y Y譯碼譯碼數(shù)據(jù)線數(shù)據(jù)線8 8根根D D7 7D D0 0 ;帶輸出緩沖器;帶輸出緩沖器12864存儲矩陣12864 存儲矩陣行譯碼器輸出列選擇讀出放大器輸出緩沖器輸出列選擇讀出放大器輸出緩沖器128線64線128

35、線輸入緩沖器輸入緩沖器輸入緩沖器輸入緩沖器A0A3CE (PD/PGM)OEO0O3O1O2A4A10O4O7O5O664線27162716工工 作作 模模 式式CE(PD/PGM) OEVPPVCC數(shù)據(jù)傳輸方向數(shù)據(jù)傳輸方向讀讀00+5V+5V輸出輸出無操作無操作01+5V+5V高阻高阻功率下降功率下降1+5V+5V高阻高阻編程編程50ms寬正脈沖寬正脈沖1+25V +5V輸入輸入4. 4. 電擦除可編程電擦除可編程E E2 2PROMPROM(Electrical EPROM)(Electrical EPROM)nE E2 2PROMPROM存儲元存儲元 具有兩個柵極;具有兩個柵極;G1G1

36、是是浮柵浮柵,無引出線;,無引出線;G2G2是是抹去柵抹去柵,有引出線,有引出線G1G1柵和漏極柵和漏極D D間有一小面積、間有一小面積、極薄的氧化層,可產生極薄的氧化層,可產生隧道效應隧道效應n存儲存儲“1”1”G2G2柵加柵加20V20V正脈沖正脈沖P1P1,通過隧道效應,電子由通過隧道效應,電子由襯底注入到襯底注入到G1G1,相當于,相當于存儲了存儲了“1 1”n出廠時,內容為全出廠時,內容為全“1”1”4. EEPROM4. EEPROMn寫寫“0 0”漏極漏極D D加加20V20V正脈沖正脈沖P2P2,G2G2柵接地,柵接地, G1G1上電子通過隧道返回上電子通過隧道返回襯底,相當于

37、寫襯底,相當于寫“0 0” n讀出讀出G2G2柵加柵加3V3V電壓,若電壓,若G1G1柵有電子積累,柵有電子積累,T2T2不能導通,相當于存不能導通,相當于存“1 1”;若;若G1G1柵無電子積累,柵無電子積累,T2T2導通,相當于存導通,相當于存“0 0” 允許改寫上千次允許改寫上千次改寫改寫( (先抹后寫先抹后寫) )大約需大約需20ms20ms數(shù)據(jù)可存儲數(shù)據(jù)可存儲2020年以上年以上高密度非易失性的讀高密度非易失性的讀/ /寫存儲器寫存儲器既有既有RAMRAM的優(yōu)點,又有的優(yōu)點,又有ROMROM的優(yōu)點的優(yōu)點3.4.2 3.4.2 閃速存儲器閃速存儲器(FLASH(FLASH存儲器存儲器)

38、 )n由單個由單個MOSMOS晶體管組成,晶體管組成,漏極漏極D D、源極源極S S、控制柵控制柵和和浮空柵浮空柵FLASH ROM屬于真正的單電壓芯片,讀和寫都是在單電壓下屬于真正的單電壓芯片,讀和寫都是在單電壓下進行,不需跳線,只利用專用程序即可方便修改進行,不需跳線,只利用專用程序即可方便修改FLASH ROM的存儲容量普遍大于的存儲容量普遍大于EEPROM,價格也比較合適,價格也比較合適,近年來已逐漸取代了近年來已逐漸取代了EEPROMn“0 0” :當控制柵加足夠的正電壓,浮空柵將儲存許多電子而:當控制柵加足夠的正電壓,浮空柵將儲存許多電子而帶負電帶負電定義為存儲元處于定義為存儲元處

39、于0 0狀態(tài)狀態(tài)n“1 1” :控制柵不加正電壓時,浮空柵只有少許電子或不帶電:控制柵不加正電壓時,浮空柵只有少許電子或不帶電荷荷定義為存儲元處于定義為存儲元處于1 1狀態(tài)狀態(tài)3.4.2 3.4.2 閃速存儲器閃速存儲器n所有存儲元的所有存儲元的原始狀態(tài)原始狀態(tài)為為“1 1”n編程編程( (寫寫) )操作操作:使某些存儲元改寫成:使某些存儲元改寫成“0 0”控制柵控制柵C C上加上加正電壓正電壓;保持;保持“1 1” 的存儲元,控制柵不加正電壓的存儲元,控制柵不加正電壓n一旦存儲元被編程,存儲的數(shù)據(jù)可保持一旦存儲元被編程,存儲的數(shù)據(jù)可保持100100年之久年之久3.4.2 3.4.2 閃速存儲

40、器閃速存儲器n讀取操作:讀取操作:控制柵加正電壓控制柵加正電壓,浮空柵上的負電荷量將決定,浮空柵上的負電荷量將決定MOSMOS管是否導通;若存儲元原存管是否導通;若存儲元原存1 1,晶體管導通,讀出電路檢,晶體管導通,讀出電路檢測到測到有電流有電流 ;若原存;若原存0 0,晶體管不導通,晶體管不導通,無電流無電流n擦除操作:擦除操作:源極源極S S加上正電壓,加上正電壓,吸收浮空柵中的電子,使所有吸收浮空柵中的電子,使所有存儲元中浮空柵上的負電荷全部存儲元中浮空柵上的負電荷全部洩洩放出去放出去3.4.2 3.4.2 閃速存儲器閃速存儲器nFLASHFLASH存儲器的陣列結存儲器的陣列結構構n讀

41、操作讀操作若存儲元若存儲元原存原存1 1,則晶體管,則晶體管導通導通,有電,有電流經(jīng)負載產生一個電壓降,流經(jīng)負載產生一個電壓降,與參照電壓比較,輸出標與參照電壓比較,輸出標志為邏輯志為邏輯1 1的電平;若存的電平;若存儲元儲元原存原存0 0,晶體管,晶體管不導不導通通,位線上沒有電流,比,位線上沒有電流,比較器輸出端產生標志為邏較器輸出端產生標志為邏輯輯0 0的電平的電平3.4.2 3.4.2 閃速存儲器閃速存儲器各種存儲器性能比較各種存儲器性能比較存儲器類型存儲器類型 非易失性非易失性 高密度高密度 單晶體管存儲元單晶體管存儲元在系統(tǒng)中的可寫性在系統(tǒng)中的可寫性FLASHSRAMDRAMROM

42、EPROMEEPROM 3.5 并行存儲器并行存儲器解決解決CPUCPU和主存儲器間和主存儲器間速度不匹配速度不匹配的問題的問題主存采用更高速技術縮短讀出時間主存采用更高速技術縮短讀出時間采用采用并行技術并行技術的存儲器的存儲器n采用空間并行技術采用空間并行技術雙端口存儲器雙端口存儲器n采用時間并行技術采用時間并行技術多體交叉存儲器多體交叉存儲器目錄目錄3.5.1 雙端口存儲器雙端口存儲器 1、雙端口存儲器的邏輯結構、雙端口存儲器的邏輯結構同一個存儲器同一個存儲器具有兩組相互獨立的讀寫控制電路具有兩組相互獨立的讀寫控制電路,并行,并行如如IDT71332K16的的SRAM2、無沖突、無沖突(兩

43、個端口的地址不同兩個端口的地址不同)讀寫控制讀寫控制任一端口被選中驅動即可對整個存儲器存取,每個端口有自己任一端口被選中驅動即可對整個存儲器存取,每個端口有自己的片選控制的片選控制(CE)和輸出驅動控制和輸出驅動控制(OE)3、有沖突、有沖突(兩個端口同時存取同一存儲單元兩個端口同時存取同一存儲單元)讀寫控制讀寫控制片上的判斷邏輯決定哪個端口優(yōu)先進行讀寫,而對另一個被延片上的判斷邏輯決定哪個端口優(yōu)先進行讀寫,而對另一個被延遲的端口置遲的端口置BUSY標志標志(變?yōu)榈碗娖阶優(yōu)榈碗娖?,暫時關閉,暫時關閉3.5 并行存儲器并行存儲器雙端口存儲器雙端口存儲器IDT7133IDT7133邏輯框圖邏輯框

44、圖返回返回無沖突讀寫控制無沖突讀寫控制左端口或右端口左端口或右端口功能功能R/WLBR/WUBCEOEI/O0 7I/O8 15X0010111X010101110000000XX001101Z數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入Z數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)出ZZ數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入Z數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)入數(shù)據(jù)出數(shù)據(jù)出Z端口不用端口不用低位和高位字節(jié)數(shù)據(jù)寫入存儲器低位和高位字節(jié)數(shù)據(jù)寫入存儲器(BUSY高電平高電平)低位寫入存儲器,存儲器中數(shù)據(jù)輸出到高位字節(jié)低位寫入存儲器,存儲器中數(shù)據(jù)輸出到高位字節(jié)高位寫入存儲器,存儲器中數(shù)據(jù)輸出到低位字節(jié)高位寫入存儲器,存儲器中數(shù)據(jù)輸出到低位字節(jié)低位字節(jié)數(shù)據(jù)

45、寫入存儲器低位字節(jié)數(shù)據(jù)寫入存儲器高位字節(jié)數(shù)據(jù)寫入存儲器高位字節(jié)數(shù)據(jù)寫入存儲器存儲器中數(shù)據(jù)輸出至低位字節(jié)和高位字節(jié)存儲器中數(shù)據(jù)輸出至低位字節(jié)和高位字節(jié)高阻抗輸出高阻抗輸出返回返回3.5.1 3.5.1 雙端口存儲器雙端口存儲器4 4、有沖突讀寫控制判斷方法、有沖突讀寫控制判斷方法(1) 地址匹配且在地址匹配且在CE前有效,控制邏輯在前有效,控制邏輯在CEL和和CER間進行判斷間進行判斷來選擇端口來選擇端口(CE判斷判斷)(2)CE在地址匹配前變低,控制邏輯在在地址匹配前變低,控制邏輯在左、右地址間進行判斷來左、右地址間進行判斷來選擇端口選擇端口(地址有效判斷地址有效判斷)無論哪種方式,延遲端口的

46、無論哪種方式,延遲端口的BUSY標志都將置位而關閉此端口;標志都將置位而關閉此端口;當允許存取的端口完成操作時,延遲端口當允許存取的端口完成操作時,延遲端口BUSY標志才進行復標志才進行復位而打開此端口位而打開此端口左、右端口讀寫操作的功能判斷左、右端口讀寫操作的功能判斷左端口左端口右端口右端口標志標志功能功能說明說明CECEL L(A(A0 0A A1010) )L LCECER R(A(A0 0A A1010) )R RBUSYBUSYL LBUSYBUSYR R1010XAnyX(A0A10)R1100XXAny(A0A10)L11111111無沖突無沖突無沖突無沖突0000LV5RRV

47、5LSameSame0000LV5RRV5LSameSame10100101左端口勝右端口勝消除判斷消除判斷地址判斷LL5RRL5LLW5RLW5R=(A0A10)R=(A0A10)R=(A0A10)R=(A0A10)RLL5RRL5LLW5RLW5R=(A0A10)L=(A0A10)L=(A0A10)L=(A0A10)L10100101左端口勝右端口勝消除判斷消除判斷CE判斷雙端口存儲器讀寫時序雙端口存儲器讀寫時序3.5.2 3.5.2 多模塊交叉存儲器多模塊交叉存儲器1. 1.存儲器的模塊化組織存儲器的模塊化組織若干個模塊組成的主存儲器,地址在各模塊中的安排方式:若干個模塊組成的主存儲器,

48、地址在各模塊中的安排方式:一種是一種是順序方式順序方式,一種是,一種是交叉方式交叉方式(1) (1) 順序方式順序方式 例例MM0 0MM3 3共四個模塊,每個模塊共四個模塊,每個模塊8 8個字個字 MM0 0:0 07 7 M M1 1:8 81515 MM2 2:16162323 MM3 3:24243131n5 5位地址的組織:位地址的組織: X XX X X X X X X X 高位高位選模塊選模塊,低位低位選塊內地址選塊內地址n特點:特點:某個模塊存取時,其他模塊不工作某個模塊存取時,其他模塊不工作n優(yōu)點:優(yōu)點:某一模塊出現(xiàn)故障時,其他模塊可照常工作;通過增添某一模塊出現(xiàn)故障時,其他

49、模塊可照常工作;通過增添模塊來擴充存儲器容量比較方便模塊來擴充存儲器容量比較方便n缺點:缺點:各模塊串行工作,存儲器帶寬受限各模塊串行工作,存儲器帶寬受限3.5.2 3.5.2 多模塊交叉存儲器多模塊交叉存儲器(2)(2)交叉方式交叉方式 例例MM0 0MM3 3共四個模塊,則每個模塊共四個模塊,則每個模塊8 8個字個字 MM0 0:0 0,4.4.除以除以4 4余數(shù)為余數(shù)為0 0 M M1 1:1 1,5.5.除以除以4 4余數(shù)為余數(shù)為1 1 M M2 2:2 2,6.6.除以除以4 4余數(shù)為余數(shù)為2 2 M M3 3:3 3,7.7.除以除以4 4余數(shù)為余數(shù)為3 3n5 5位地址的組織:位

50、地址的組織: X X XX X X X XX X 高位高位選塊內地址選塊內地址,低,低位位選模塊選模塊n特點:特點:連續(xù)地址分布在相鄰的不同模塊內,同一個模塊內的地連續(xù)地址分布在相鄰的不同模塊內,同一個模塊內的地址不連續(xù)址不連續(xù)n優(yōu)點:優(yōu)點:對連續(xù)字的成塊傳送可實現(xiàn)對連續(xù)字的成塊傳送可實現(xiàn)多模塊流水式并行存取多模塊流水式并行存取,大,大大提高存儲器的帶寬,對成批數(shù)據(jù)讀寫有利大提高存儲器的帶寬,對成批數(shù)據(jù)讀寫有利n缺點:缺點:某一模塊出現(xiàn)故障則整個存儲器不能正常工作某一模塊出現(xiàn)故障則整個存儲器不能正常工作3.5.2 3.5.2 多模塊交叉存儲器多模塊交叉存儲器2 2、多模塊交叉存儲器的基本結構、

51、多模塊交叉存儲器的基本結構( (以以4 4模塊為例模塊為例) )3.5.2 3.5.2 多模塊交叉存儲器多模塊交叉存儲器對每個存儲模塊:對每個存儲模塊:從從CPUCPU發(fā)出訪存命令到讀出信息使用了一個存發(fā)出訪存命令到讀出信息使用了一個存儲周期儲周期對于對于CPUCPU:在一個存儲周期內連續(xù)訪問了在一個存儲周期內連續(xù)訪問了4 4個模塊個模塊( (分時使用數(shù)據(jù)分時使用數(shù)據(jù)總線總線) ),各模塊的讀寫過程重疊進行,各模塊的讀寫過程重疊進行若連續(xù)在主存中存取程序段或數(shù)據(jù)塊若連續(xù)在主存中存取程序段或數(shù)據(jù)塊訪問速度大大提高訪問速度大大提高主存被分成主存被分成4 4個相互獨立、容量個相互獨立、容量相同的模塊

52、,每個模塊有自己相同的模塊,每個模塊有自己的讀寫控制電路、地址寄存器的讀寫控制電路、地址寄存器和數(shù)據(jù)寄存器,各自以等同的和數(shù)據(jù)寄存器,各自以等同的方式與方式與CPUCPU傳送信息傳送信息定量分析:定量分析:設模塊字長等于數(shù)據(jù)總線寬度,模塊存取一個字的時間為設模塊字長等于數(shù)據(jù)總線寬度,模塊存取一個字的時間為T,由,由m個總線傳送周期個總線傳送周期()組成,即組成,即Tm ,并使用,并使用m個模塊交叉組個模塊交叉組織存儲器,則成塊傳送可按織存儲器,則成塊傳送可按間隔流水方式間隔流水方式進行進行交叉存取度交叉存取度m=T/ 模塊數(shù)必須大于等于模塊數(shù)必須大于等于m連續(xù)讀取連續(xù)讀取m個字所需的時間為個字

53、所需的時間為t1T+(m-1) 順序方式存儲器連續(xù)讀取順序方式存儲器連續(xù)讀取m個字所個字所需時間需時間t2=mT3.5.2 3.5.2 多模塊交叉存儲器多模塊交叉存儲器m=4的流水線方式存取示意圖的流水線方式存取示意圖m=4的流水線方式存取示意圖的流水線方式存取示意圖例例5 5 設存儲器容量為設存儲器容量為3232字,字長字,字長6464位,模塊數(shù)位,模塊數(shù)m=4m=4。存儲周期。存儲周期T=200nsT=200ns,數(shù)據(jù)總線寬度為,數(shù)據(jù)總線寬度為6464位,總線傳送周期位,總線傳送周期=50ns=50ns。若連續(xù)讀。若連續(xù)讀出出4 4個字,分別求用順序方式和交叉方式組織的存儲器的帶寬個字,分

54、別求用順序方式和交叉方式組織的存儲器的帶寬解:兩種方式連續(xù)讀出解:兩種方式連續(xù)讀出4 4個字的信息總量都是:個字的信息總量都是: q=64bq=64b4=256b4=256b順序存儲器和交叉存儲器連續(xù)讀出順序存儲器和交叉存儲器連續(xù)讀出4 4個字所需的時間分別是:個字所需的時間分別是:順序:順序:t t2 2=mT=4=mT=4200ns=800ns=8200ns=800ns=81010-7-7s s交叉:交叉:t t1 1=T+(m-1)=T+(m-1) =200ns+3=200ns+350ns=350ns=3.550ns=350ns=3.51010-7-7s s順序存儲器和交叉存儲器的帶寬分

55、別是:順序存儲器和交叉存儲器的帶寬分別是:順序:順序: W W2 2=q/t=q/t2 2=256b=256b(8(81010-7-7)s=320Mb/s)s=320Mb/s交叉:交叉: W W1 1=q/t=q/t1 1=256b=256b(3.5(3.51010-7-7)s=731Mb/s)s=731Mb/s3. 3. 二模塊交叉存儲器舉例二模塊交叉存儲器舉例二模塊二模塊( (各各1MB)1MB)交叉存儲器交叉存儲器(DRAM(DRAM構成構成) )方框圖方框圖二模塊交叉存儲器無等待狀態(tài)成塊存取示意圖二模塊交叉存儲器無等待狀態(tài)成塊存取示意圖3. 3. 二模塊交叉存儲器舉例二模塊交叉存儲器舉

56、例補充:補充:相聯(lián)存儲器相聯(lián)存儲器CAM(Content Addressed Memory)相聯(lián)存儲器相聯(lián)存儲器其中某一存儲項內容作為地址來存取的存儲器,其中某一存儲項內容作為地址來存取的存儲器,用來尋址存儲器的字段叫做用來尋址存儲器的字段叫做關鍵字關鍵字相聯(lián)存儲器中的項相聯(lián)存儲器中的項可視為由可視為由KEYKEY、DATADATA組成,其中組成,其中KEYKEY是地址,是地址,DATADATA是被讀寫信息是被讀寫信息基本原理基本原理把存儲單元所存內容的某一部分作為檢索項把存儲單元所存內容的某一部分作為檢索項( (關關鍵字鍵字) ),去檢索該存儲器,并將與該檢索項符合的存儲單元內容,去檢索該存

57、儲器,并將與該檢索項符合的存儲單元內容讀出或寫入讀出或寫入主要用途主要用途虛擬存儲器中存放段表、頁表和快表;高虛擬存儲器中存放段表、頁表和快表;高速緩沖存儲器中,存放速緩沖存儲器中,存放cache的行地址的行地址檢索寄存器檢索寄存器屏蔽寄存器屏蔽寄存器比較線路比較線路存儲器存儲器譯譯碼碼選選擇擇電電路路代碼寄存器代碼寄存器12.m符符合合寄寄存存器器補充:補充:相聯(lián)存儲器相聯(lián)存儲器CAM(續(xù)續(xù))檢索寄存器檢索寄存器屏蔽寄存器屏蔽寄存器符合寄存器符合寄存器比較線路比較線路代碼寄存器代碼寄存器存儲體存儲體3.6 Cache存儲器存儲器3.6.1 Cache3.6.1 Cache基本原理基本原理1.

58、 cache1. cache的功能:解決的功能:解決CPUCPU和主存間速度不匹配問題和主存間速度不匹配問題n采用高速采用高速SRAMSRAM構成構成n速度差別很大時采用兩級或多級速度差別很大時采用兩級或多級CacheCache系統(tǒng)系統(tǒng)n早期的一級早期的一級CacheCache在在CPUCPU內,二級在主板上內,二級在主板上n現(xiàn)在的現(xiàn)在的CPUCPU內帶內帶L1 CacheL1 Cache和和L2 CacheL2 Cachen全由硬件調度全由硬件調度,對用戶透明,對用戶透明程序訪問的局部性原理程序訪問的局部性原理n空間局部:緊鄰被訪問單元的地方也將被訪問空間局部:緊鄰被訪問單元的地方也將被訪問

59、n時間局部:剛被訪問的單元很快將再次被訪問時間局部:剛被訪問的單元很快將再次被訪問目錄目錄塊傳送3.6.1 Cache3.6.1 Cache基本原理基本原理2. cache2. cache的基本原理的基本原理n地址映射地址映射n替換策略替換策略n寫一致性寫一致性n性能評價性能評價基本原理小結:基本原理小結:n介于介于CPUCPU和主存之間的小容量存儲器和主存之間的小容量存儲器:從功能上看,是主:從功能上看,是主存的緩沖存儲器,由高速的存的緩沖存儲器,由高速的SRAMSRAM組成;為追求高速,包組成;為追求高速,包括管理在內的全部功能由括管理在內的全部功能由硬件實現(xiàn)硬件實現(xiàn),故對程序員,故對程序

60、員透明透明nCacheCache的設計依據(jù):的設計依據(jù):程序訪問的局部性程序訪問的局部性nCPUCPU與與CacheCache間的數(shù)據(jù)傳送是以間的數(shù)據(jù)傳送是以字為單位字為單位n主存與主存與CacheCache間的數(shù)據(jù)傳送是以間的數(shù)據(jù)傳送是以塊為單位塊為單位nCPUCPU讀主存讀主存時,把地址同時送給時,把地址同時送給CacheCache和主存,和主存,CacheCache控制控制邏輯依據(jù)地址判斷此字是否在邏輯依據(jù)地址判斷此字是否在CacheCache中,若在立即傳送給中,若在立即傳送給CPUCPU;否則,用主存讀周期把此字從主存讀出送到;否則,用主存讀周期把此字從主存讀出送到CPUCPU,并把含有這個

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