探究核磁共振采集參數(shù)對圖像的影響PPT課件

1、探究核磁共振采集參數(shù)對圖像的影響探究核磁共振采集參數(shù)對圖像的影響 0519014楊柳近代物理實驗期末報告引言1.實驗室新買進的儀器，對其并不了解2.成像參數(shù)是工程師設(shè)置的，具體的作用也不是很清楚3.為以后的同學做一個鋪墊內(nèi)容概要l成像原理l采集參數(shù)對圖像的影響和分析l成像瑕疵的說明和避免方法 成像原理數(shù)字灰度圖像像素的灰度值和位置像素的灰度值：表征質(zhì)子密度變化像素的位置：三位正交梯度場實現(xiàn)定位采集參數(shù)對圖像的影響和分析1.NE1對圖像的影響對圖像的影響 標準圖 NE=32 NE=64 NE=128 NE=256對比得出NE作用：圖像畸變 分辨率提高 測量時間增加原因解釋：a/ b/NE所表征的

2、是相位編碼步數(shù)，它也代表在K空間中采集次數(shù)的多少 c/重復次數(shù)的增加導致時間的延長 2 1*YYYSWNEFOVrGDrG2. SW對圖像的影響和分析對圖像的影響和分析SW=25 SW=50 SW=100 SW=150 SW=200對比得出SW的作用：圖像x軸方向畸變 分辨率提高 測量時間縮短原因分析：a/ b/對于X方向的分辨率 （FOV）x=SW/rGx；P=SW/rGx*TD 對于Y方向的分辨率 （FOV）y=SW/eGy；P=SW/rGy*NE c/T=TD/SW 圖像不畸變條件：（FOV）x=（FOV）y即 ()xxxwFOVrG1 *xYS WN EGDG3. TD對圖像的影響對圖

3、像的影響 TD=32 TD=64 TD=128 TD=256 TD=512對比得出TD作用：圖像逐漸清晰 圖像無畸變 測量時間增加原因分析：TD表征的是采樣點數(shù)，采樣點數(shù)越多當然越清晰 從分辨率公式上也可以看出 X：P=SW/rGx*TD Y：P=SW/rGy*NE 采樣點數(shù)增加T=TD/SW時間增加4. NS對圖像的影響對圖像的影響 NS=2 NS=4 NS=8對比得出NS作用：NS表征的是累加次數(shù)隨著次數(shù)的累加信號的差異性就會 逐漸明顯，信號的強度也會變大，反映在圖像上就是圖像灰 度對比度的變化 測量時間變長5. RG對圖像的影響對圖像的影響( 對比對比NS的影響）的影響） RG=1 RG

4、=2 RG=3 RG=4增益加大信號強度變強，同樣可以增加對比度，與NS不同的是時間不會變化6. SLICE和和Gi的選擇對圖像的影響的選擇對圖像的影響 0-縱截面 1-橫截面 2-冠截面 下圖slice調(diào)節(jié)的是1即以Y軸場來作為選層的梯度場，實際上的Gz扮演的是上面理論中Gx的角色，隨著Gz的增大，（FOV）x變小，圖像橫向拉伸，圖像的變化證實了這一點。 Gz=40 Gz=60Gz=80 Gy=40 Gy=60 在在z方向的選層是通過射頻的頻率差和梯度來決定的方向的選層是通過射頻的頻率差和梯度來決定的 Gy的增大使層厚度減小，實際上后圖的厚度是比前圖的薄的的增大使層厚度減小，實際上后圖的厚度

5、是比前圖的薄的*zrGZfzfZr G成像瑕疵的說明和避免方法 1.卷褶偽影卷褶偽影 成因：選擇的參數(shù)不合適導致FOV太小沒有把所有需要的樣品都采集進去，那 么在FOV以外的樣品也會產(chǎn)生信號并被線圈收集 ，圖像卷曲。 下圖就是由于采樣寬度太小 SW=25導致的卷褶偽影消除卷褶偽影的方法就是增大FOV在X方向 在Y方向增加SW 增加NE減小Gx 減小D1減小Gy()xxxwFOVrG2 1*YYYSWNEFOVrGDrG2.截斷偽影截斷偽影成因：采集有限的點，對無限的回波信號進 行一個矩形的截取，相當于在原來的回波信號中乘上一個矩形窗函數(shù)導致振鈴效應，F(xiàn)FT后在圖像上就表現(xiàn)為漣漪狀的黑白條紋 下圖就是由有SW=128過小，圖像邊緣出現(xiàn)了漣漪狀條紋。 要避免截斷偽影就是要把采樣時間加長，減弱截斷效應， T=TD/SW增加TD或者減少SW。 值得注意的是