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文檔簡介

1、表面界面物理復習思考題原子間的鍵合方式及性能特點。原子的外層電子結構,晶體的能帶結構。描述原子中一個電子的空間位置和能量: 1)主量子數(shù)n;軌道角量子數(shù)l;磁量子數(shù)m;自旋量子數(shù)s; 2)核外電子的排布規(guī)律三原則:能量最低原理;Pauli不相容原理;Hund規(guī)則。  說明: 1)晶體中,當N個原子聚在一起成晶體時,每個原子能級上將有2N個相同能量狀態(tài)的電子(共有化電子),這是泡利不相容原理所不允許的,實際上,由于原子的相互作用,每個原子能級將分裂為一個有N個支能級的能帶。 2)能帶表示電子允許占有的狀態(tài),能帶間隙有禁帶,其寬度通常用E

2、g表示。每一根能帶中可以容納的電子是有限制的(最多為組成晶體原子數(shù)的2倍)。 3)能帶全部裝滿電子為滿帶,沒有電子為空帶,兩者都不對導電作貢獻;能帶沒有填滿為未滿帶,其中電子在外電場作用下能改變狀態(tài),對導電作貢獻。晶體(單晶體、多晶體)的基本概念,晶體與非晶體的區(qū)別。晶體:內部質點(原子、離子或分子)在三維空間呈周期 重復排列的固體。 單晶體:質點按同一取向排列。由一個核心(稱為晶核)生長而成的晶體。 多晶體:由許多不同位向的小晶體(晶粒)所組成的晶體。多晶體一般顯示出各向同性假等向性。 固態(tài)物質按其原子(或分子)的聚集狀態(tài)而分為兩大類:晶體與

3、非晶體空間點陣與晶胞、晶面指數(shù)、晶面間距的概念,原子的堆積方式和典型的晶體結構。空間點陣:呈周期性的規(guī)則排列的陣點所形成的具有等同的周圍環(huán)境的三維 陣列。  晶胞:在空間點陣中,能代表空間點陣結構特點的結構單元,反映晶格特征的最小幾何單元。晶面指數(shù):代表一組平行的晶面。為了便于研究和表述不同晶面原子排列的情況及其在空間的位向,需要確定一種統(tǒng)一的表示方法來表示晶面,稱為晶面指數(shù) 。晶面間距:兩近鄰平行晶面間的垂直距離。  晶體中原子堆積方式: 1)面心立方結構是以其最密排面111每三層就重復堆積,按ABCABC的次序堆積起來的。

4、0;2)密排六方結構也是一種密堆積,它的(001)面和面心立方111面具有相同的最緊密排列方式,(001)面每兩層就重復堆垛,即(001)面按(ABABAB)的順序堆垛,  3)體心立方結構是以其最密排面111每三層就重復堆積,按ABCABC的次序堆積起來的。 4)簡單立方結構是以其最密排面111每三層就重復堆積,按ABCABC的次序堆積起來的。           典型的晶體結構: 面心立方結構;體心立方結構;密排六方結構;簡單立方。表面信息獲

5、取的主要方式及基本原理。表面信息的獲取:用荷能的電子、離子、光子作“探針”,根椐入射粒子和出射粒子之間的類型轉換、能量變化、粒子的分布等關系,可以獲取表面的信息。 基本原理: 以荷能電子作探針,當電子與表面作用后,能從表面激發(fā)出電子、離子和光子。采用相應的儀器可測量這些激發(fā)粒子的能量分布和角度分布,然后推算出表面原子排列、成分、缺陷、原子價態(tài)等信息,這就是目前各類表面分析的基本原理。為什么XPS可獲得表面信息,而X射線衍射只能獲得體信息?X射線與物質相互作用時,會發(fā)生一系列效應。其中,X射線從物質中激發(fā)出光電子被應用于XPS中,而X射線的相干散射被應用于X射線衍射中。

6、60;XPS方法以X射線光電子的能量來鑒別化學元素,而X射線光電子在逸出的路上自由程很短,實際能探測的信息濃度只有表面幾個至十幾個原子層,因而XPS可獲取表面信息。 而X射線信號產生的深度和廣度較大,同時有表面信號與體信號,體信號的強度遠大于表面信號,所以只能獲得體信息。利用光電子能譜(XPS)和俄歇電子能譜(Auger)進行表面分析的基本原理和應用范圍。透射電子顯微鏡有哪幾種工作模式,它們可獲得材料的什么信息。掃描電子顯微鏡的二次電子像和背反射電子像的成像原理。二次電子成像原理: 二次電子的產額與入射電子束與樣品表面法線的夾角有關,與cos成反比,入射電子強度一定的情況下

7、,由二次電子的信息可得入射點處的形貌信息。入射電子束在樣品上掃描,收集二次電子的信息,可得到樣品的形貌圖像。  背反射電子成像原理: 入射電子束打到樣品上,存在一部分與入射電子能量相當?shù)姆瓷浠貋淼碾娮樱曳瓷潆娮拥膹姸扰c樣品表面原子的序數(shù)有關,隨原子序數(shù)的增大而緩慢提高,存在比例關系。入射電子束在樣品上掃描,收集背反射電子的信息,可得到樣品的成分襯度圖像。說明電子束技術的基本特征,舉出幾種利用電子束的波動性和粒子性的分析技術。電子束的基本特征: 1)電子源容易獲得。2)檢測容易。3)電子對所有元素都有較強的相互作用,其散射幾率比X射線大幾個數(shù)量級。4)

8、近代電子束的聚焦技術好,分辨率較高。5)電子束不會導致高真空環(huán)境的污染。  利用電子的波動性的分析技術: 1)透射電子顯微鏡(TEM)。2)低能電子衍射(LEED)。3)高能電子衍射(HEED)  利用電子的粒子性的分析技術: 1)紫外光電子能譜(UPS)。2)俄歇電子譜(AES)。3)X射線光電子能譜(XPS)。4)掃描電子顯微鏡(SEM)。什么是電子結合能的位移?價帶能態(tài)密度可采用什么方法測試,簡述其原理。電子結合能位移: 原子內殼層電子的結合能受到核內、外電荷分布的影響。任何引起這些電荷分布發(fā)生變化的因素,都可能使原子

9、內殼層電子的結合能產生變化,在光電子能譜圖上可以看到光電子譜峰的位移,這種現(xiàn)象稱為電子結合能位移。  價帶能態(tài)密度可用XPS測試。固體價帶中的電子狀態(tài)的能量分布由能態(tài)密度來表示,某一能量X射線光電子的數(shù)量與對應能量的表面能態(tài)密度成正比,當入射光子能量大于21eV時,光電子發(fā)射譜的能量分布可以看作是價帶能態(tài)密度分布。表面的定義。什么是清潔表面和實際表面?表面:兩種不同相的交界區(qū)域稱為表面。通常指凝聚相與氣相、液相的界面,不是幾何意義上的平面,具有一定的過度區(qū)。 清潔表面:清潔表面是指反映材料本征特性的表面。它應當是在經腐蝕、解理、離子刻蝕等處理,除去吸附層、氧化層、

10、表面損傷層后的表面。只能在高真空環(huán)境下依存的表面。 實際表面:經過一定處理后,保存在通常環(huán)境下的固體表面。  理想表面:將一無限大的晶體分成兩部分所形成的表面。表面的原子排列與體內完全一致,這就是通常物理學、化學學所討論的“表面”。什么是表面的TLK模型?表面缺陷產生的原因是什么?表面不是原子級的平坦,上面有平臺(Terrace),臺階(Ledge)和扭曲(Kink),這種方式描述表面,稱為TLK模型。  表面缺陷產生的原因: 由熱力學定律,溫度高于絕對零度(0K)時,所有物理系統(tǒng)的熵(S)都不為零。系統(tǒng)的自由能(F)與內能(U)、熵

11、(S)和絕對溫度(T)關系為:F=U-TS。系統(tǒng)穩(wěn)定的條件是自由能最小。有兩種情況:1,當內能U減小時,即原子排列整齊;2,當熵S增大時,既系統(tǒng)混亂度增加,原子排列混亂;特別是在溫度較高時,S的影響更大。什么是表面弛豫和表面重構?畫出表面弛豫和表面重構的原子排列圖。理想晶體表面具有二維周期性,其單位網(wǎng)格由基矢決定。由于表面原子受力的情況與體內不同,或由于有外來原子的吸附,最表面層原子常會有垂直于或傾斜于表面的位移,表面以下的數(shù)層原子也會有垂直或傾斜于表面的位移,這種現(xiàn)象為表面重構。如果表面原子只有垂直于表面的運動,則稱為表面弛豫。為什么表面原子排列與體內不同,請比較重構與馳豫的異同,并解釋Si

12、(111)2×1重構的成因。由于表面處原子排列突然中斷,如果在該處原子仍按照內部方式排列,則勢必會增加系統(tǒng)的自由能。因此,表面附近的原子排列就會進行調整,以減小其表面能,使系統(tǒng)穩(wěn)定。  重構與弛豫的異同: 相同點:都是為了降低表面能,表面層原子排列情況的變化。 不同點:對于馳豫,表面原子只有垂直于表面的運動;對于重構,表面原子有垂直或傾斜于表面的位移Si(111)2×1重構的成因:納米材料有哪些效應?1)小尺寸效應:當納米材料結構單元的尺寸與光波波長,德布羅意波長,以及超導體的相干長度,穿透深度等物理特征尺度相當時,其內部晶體周期性邊

13、界條件將被破壞。導致特征光譜移動,磁序改變,超導相破壞,結構發(fā)生非熱力學結構相變等。 2)量子尺度效應:當納米材料結構單元某一位上的尺寸下降到某個值時候,費米面附近的電子能量譜由準連續(xù)到離散,表面結構和電子態(tài)急劇變化,能隙變寬,處于分享的量子化能級中的電子波動使其產生一系列反常。 例如,導電的金屬在超微顆粒時可以變成絕緣體,磁矩的大小和顆粒中電子是奇數(shù)還是偶數(shù)有關,比熱亦會反常變化,光譜線會產生向短波長方向的移動,這就是量子尺寸效應的宏觀表現(xiàn)。 3)表面效應:指納米粒子的表面原子數(shù)與總原子數(shù)之比隨著粒子尺寸的減小而大幅度的增加,粒子的表面能及表面張力也隨著增加,從

14、而引起納米粒子物理、化學性質的變化。 4)宏觀量子隧道效應:納米材料中發(fā)現(xiàn)一些宏觀物理量,如微顆粒的磁化強度、量子相干器件中的磁通量等亦顯示出隧道效應。 5)庫侖堵塞效應:納米體系的充放電時,電子不能集體傳輸,而是一個一個單電子的傳輸。 6)介電限域效應:由納米微粒分散在異質介質中由于界面引起的體系介電增強的現(xiàn)象說明表面張力和表面自由能分別用于什么情況。解釋表面吸附對表面自由能的影響。如何測試材料的表面自由能,簡述其基本原理。對于液體來說,表面張力等于表面自由能,而對于固體來說,表面張力取決于在表面的方向和表面的確切的晶體結構。因此,表面張力用于涉及到液相的表面,

15、而對于涉及到固相時,采用表面自由能。  晶體的自由表面雖然由于原子弛豫、表面重構等效應,使斷鍵飽和,但仍處于高能狀態(tài)。將通過吸附等效應進一步降低表面能。 對于高表面能的物質(如金屬等),表面活性物質對表面能的影響較大。一般低表面能物質吸附在高表面能物質表面,將顯著降低其表面能;而高表面能物質吸附在低表面能物質表面,則對表面能影響不大,因為這種情況下,表面的吸附濃度較低。  表面自由能表測試方法: 1)結合能:測量分開兩個相同的接觸到無限分離所需要的能量,由關系:Wc=2(其中就是表面能),范德堡方法,,得(其中A11為Hamaker常

16、量;H0的值在液體原子間的表面約為0.165nm,在因體原子之間在表面處是0.3nm)  2)通過液體與固體表面的接觸角: 由關系Cos = 1-(l -c) 其中:為 接觸角 ;為0.030.04; l 為液體表面張力; c為特定表面張力 測試不同l液體的接觸角作曲線,外推到=0度,可到的c值什么是晶體材料的易生長晶面,它與什么因素有關?NaCl為簡立方晶體,它的易生長晶面是什么?晶體材料的易生長晶面是指晶體表面張力大,生長速度相對最大晶面。  

17、;易生長晶面與晶體材料表面的取向(即晶面的類型)有關。而晶體生長速度的幾種主要的外部因素:渦流,溫度,雜質,粘度,結晶速度  。NaCl簡單立方晶體易生長面; 由Wulff定律,晶體(111)晶面表面張力最大,自由能最小,對外來原子的引力最大,生長速度最快,為晶體的易長晶面。 分析過程:(100)晶面的網(wǎng)面上結點密度最大,網(wǎng)面間距也最大,網(wǎng)面對外來質點的引力小,生長速度慢,晶面橫向擴展,最終保留在晶體上;(110)晶面次之;(111)晶面的網(wǎng)面上結點密度最小,網(wǎng)面間距也就小,網(wǎng)面對外來質點引力大,生長速度最快,橫向逐漸縮小以致晶面最終消失。表面態(tài)的產生原

18、因和種類,它對材料性能有何影響?(1)表面態(tài)是由于表面原子排列的中斷或畸變而產生在表面區(qū)的一些附加的、在體內不可能存在的一些能級或能帶,有Tamm態(tài)和Shockley態(tài)。 (2)表面態(tài)產生的原因:原子在表面周期性排列的改變,缺陷,吸附外來原子,晶格失配,應力畸變,污染等。 (3)表面態(tài)對材料的老化,器件的性能和可靠性等會產生重要影響,特別是當器件尺寸越來越小,表面占據(jù)的比例就越來越大。具體表現(xiàn)如下:空間電荷,表面電導,少數(shù)載流子的壽命與復合,金屬半導體的接觸勢壘形狀與高度,異質結的勢壘形狀與高度。形成空間電荷區(qū)的原因和表面空間電荷區(qū)的類型。1)形成空間電荷區(qū)的原因:表面空間

19、電荷區(qū)的形成主要是由于表面存在表面電場,而表面電場產生的原因如下: a,表面態(tài)的影響:由于表面態(tài)與體內電子態(tài)之間交換電子,結果產生了垂直于表面的電場。表面費米能級EFS,體費米能級EF,EFSEF,這樣表面與體內將發(fā)生電子(空穴)的交換,產生空間電荷區(qū)。 b,功函數(shù)的差異:WS>Wm,于是有EFS>EFm,形成金半電場;同理,如果,WS<Wm,于是有EFS<EFm,形成半金電場 c,氧化層中的雜質離子。 d,外加偏壓。  2)類型: P型半導體: a,VG<0,VS<0時,能帶下

20、彎,多子堆積;b,VG=0時,平帶 c,VG>0時,能帶上彎,多子耗盡;d,VG>>0時,反型,少子堆積。N型半導體: a,VG>0,VS>0時,多子堆積;b,VG=0,VS=0時,平帶 c,VG<0,VS<0時,多子耗盡;   d,VG<<0時,反型,少子堆積。什么是準費米能級?準費米能級是為了討論非平衡載流子的統(tǒng)計規(guī)律而引入的。對于處于非平衡姿態(tài)的半導體,非平衡載流子不服從Fermi-Dirac(費米-荻拉克)分布,F(xiàn)ermi能級的概念失去意義,不能用于計算非平衡載流子。但注入

21、到半導體中的非平衡載流子,在導帶中通過與其他載流子的相互作用,可以很快地達到與導帶相應的、接近平衡的狀態(tài),這個過程的時間很短,比平衡載流子壽命短得多,可近似地認為,注入到能帶中的非平衡載流子在各自的能帶內處于一種“準平衡狀態(tài)”。從而分別引入相應的電子空穴準費米能級(EN和EF)來分別描述非平衡電子和空穴在各自能帶中的分布。 注: 準費米能級的位置即分別表征了種的電子和總的空穴的濃度大小??偟碾娮訚舛萵越大,EFn就越靠近導帶底EC;總的空穴濃度p越大,EFp就越靠近價帶頂EV,非平衡半導體中兩條準費米能級所分開的距離,與外界作用的強度有關。有一半導體材料,其體費米能級在導帶

22、下1/3Eg處,表面費米能級距導帶2/3Eg處,Eg為禁帶寬度。問:1、這是什么類型的半導體?2、當表面與體內達到平衡時,載流子如何轉移?3、表面區(qū)能帶如何彎曲?1)n型半導體 2)多子(電子)向體內轉移,形成多子耗盡;少子(空穴)向表面轉移。 3)表面能帶:n型半導體的不同表面勢下的表面空間電荷區(qū)情況,請結合能帶圖說明。(1)VG>0,VS>0,能帶下彎,表面多子堆積 ;(2)VG=0,VS=0,平帶 ;(3)VG<0,VS<0,能帶上彎,多子耗盡;   (4)VG<<0,反型,。請分析

23、非平衡載流子的復合過程。非平衡載流子:由于外界作用(如光照),使半導體材料中載流子的數(shù)目比平衡時多,多出的載流子稱為過剩載流子。這種狀態(tài)不穩(wěn)定,當去掉外加作用后半導體中的非平衡載流子將逐漸消亡。非平衡截流子的消亡主要是通過電子空穴的相遇而成對消失來完成,把這個過程簡稱為載流子的復合。  非平衡載流子的復合過程為分直接復合和間接復合兩種。 直接復合:電子、空穴直接躍遷能帶(導帶底與價帶頂之間)進行復合。 間接復合:不是直接躍遷能帶,而且是能過一些復合中心,即表面復合態(tài)。表面復合態(tài)能俘獲電子和空穴,同時釋放出能量(發(fā)射光子,發(fā)射聲子,俄歇復合)。若以Kn,E

24、n分別表示界面態(tài)俘獲、發(fā)射電子的速率,則:請分析實際金半接觸中勢壘高度與理論上的Schottky勢壘、Bardeen表面釘扎勢壘偏離的原因。理想情況: 由于金屬與半導體平衡時的費米能級不等,當兩者相互接觸的時候,將會發(fā)生電子轉移,直到兩邊的費米能級相等,這就使兩物質之間存在一個接觸電勢差,當金屬與N型半導體接觸時,若W m>Ws,形成表面勢壘。在勢壘區(qū),空間電荷主要由電場作用形成,電子濃度比體內小的多,是一個高阻區(qū)域,稱之為阻擋層(肖特基勢壘)。若Wm<Ws,電子由金屬流向半導體,在半導體表面形成負的空間電荷區(qū),Vs>0使能帶下彎曲,這里的電子濃度比體內的大多了,是

25、一個高電導區(qū),即歐姆接觸區(qū)。當與P型半導體接觸時,若Wm<Ws時形成阻擋層,Wm>Ws形成歐姆接觸。 實際情況: 由于表面態(tài)濃度比較大,最終使EF向(EF)s靠近,這就是表面費米能級的釘扎作用。實際接觸的勢壘高度由界面態(tài)勢壘決定,對于許多半導體材料,它們位于禁帶寬度1/3處,這個界面態(tài)勢壘始終存在,這就是導致實際和理論上的差別的根本原因。試分析多晶ZnO材料中具有雙向整流效應的I-V特性曲線與界面電子結構的關系。由于氧化鋅晶界區(qū)存在晶界相,所以它的晶界區(qū)勢壘較厚;在低偏壓時,勢壘隨電壓變化小,電導的主要形式是熱電子發(fā)射,隧道效應很弱。隨著電壓增加,出現(xiàn)弱反型;當

26、電壓超過某一個值后,能帶彎曲很大,出現(xiàn)強反型。表面區(qū)空穴濃度很高,通過復合中心傳導電流,界面態(tài)上的電子會通過隧道效應道進入右邊,所以電流迅速增大。 多晶ZnO材料中“ZnO晶粒-晶界-ZnO晶?!笨梢暈閷ΨQ的結構,即雙向的I-V曲線對稱。什么是表面吸附與偏析?吸附:吸附屬于一種傳質過程,當流體與固體接觸時,由于受到固體表面的不飽和力場的作用,流體中某一組分或多個組分在固體表面處產生積蓄,使物質在表面外的濃度增大,此現(xiàn)象稱為吸附。也指物質(主要是固體物質)表面吸住周圍介質(液體或氣體)中的分子或離子現(xiàn)象。 偏析:指液相或固溶體中的原子(分子)在固-固、固-液界面上富集,即液相

27、或固溶體中質原子在界面上的濃度大于其基相。比較化學吸附與物理吸附,并畫出它們的吸附能曲線;什么是快化學吸附和慢化學吸附? 物理吸附與化學吸附的比較能量曲線: 吸附速度:EB>0,需要激活,活化化學吸附(慢化學吸附) EB0,不需要激活,非活化化學吸附(快化學吸附)請解釋第IV型吸附等溫線。1)低壓下上凸表明吸附物質和吸附劑有相當強的親和力,并且也易確定 像在類等溫線B點的位置(相當于蓋滿單分子層時的飽和吸附量)  2)壓力的增加,又由多層吸附逐漸產生毛細管凝結,吸附量劇增  3)最后又由于毛細孔中均裝滿 吸附

28、物,吸附量不再增加,等溫線又平緩起來N型半導體表面吸附氧后它的表面電導和表面能帶如何變化?N型半導體表面,隨溫度升高,先是導致電子濃度增加,電阻下降;后來晶粒表面吸附氧,使得物理吸附變?yōu)榛瘜W吸附,(一個氧氣分子加2個電子兩個負2價氧離子)載流子數(shù)目減小,電阻上升(電導下降),表面由于多子堆積,變成耗盡層。水在N型半導體表面吸附后對電導和能帶會發(fā)生哪些影響?N型半導體吸附水氣之后,氫從導帶中抽出電子,表面形成耗盡層,故材料的電阻率增加。N型半導體吸附水氣后,勢壘增高,電阻增大,直到成為強反型層;由于強反型層內有自由載流子空穴的存在,所以材料的電阻率將隨水氣的吸附而減小。 擴散有哪些微觀

29、機制?其激活能與擴散速度有何不同?由構成物質的微觀粒子(離子、原子、分子)的熱運動而產生的物質遷移現(xiàn)象稱為擴散。  擴散微觀機制:空位機制,間隙機制,復合機制,環(huán)形機制。間隙機制:原子在點陣的間隙位置間躍遷面導致的擴散。間隙擴散只要能夠擠到另一個填隙位置就完成一個擴散過程,需要的能量很小,擴散速度比較快; 空位機制:必須原子前面出現(xiàn)空位時,才有可能進入空位改變它的位置,等待前面又出現(xiàn)了空位后它又可能再向前移動一步。需要一定的激活能,消耗的畸變能不大,容易擴散; 交換機制:原子的擴散是相鄰兩原子直接對調位置,所需的激活能比前兩者大得多,擴散速度也更慢。&#

30、160;環(huán)形機制:同一晶面上距離相等的n個原子可以同時輪換位置以構成擴散試比較原子在表面、晶界、相界、晶內擴散的方式、速度的異同?表面擴散:跳躍式和替位式是兩種主要擴散方式。其擴散的類型:(1)表面區(qū)濃度梯度引起的擴散 (2)毛細管效應引起的擴散  相界擴散:一般稱基爾肯特(Kirkendall)擴散,由于原子間擴散速度不等,可能發(fā)生兩種情況:(1)導致界面移動,產生疏孔和隴起物。(2)通過相互擴散生成金屬間化合物,如Au-Al鍵合時生成的紫斑(AuAl2)等 。 晶界擴散:擴散系數(shù)和擴散時間的關系, 晶界擴散分為三種類型 

31、A. 對應于體擴散系數(shù)較大的情況:雜質沿晶粒和晶界都發(fā)生擴散,基本上雜質是均勻擴散的 。B. 為體內擴散慢,晶界擴散快的情況:這種擴散使雜質包裹在晶界上。 C. 對應于晶粒擴散非常小的情況:雜質全部通過晶界往體內擴散 ,熱處理雜質快速污染材料的可能機理、什么是Kirkendall擴散,其發(fā)生會導致何種后果?一般稱分界面上原子間產生的相互擴散為Kirdenkall(基爾肯特)擴散。由于原子間擴散速度不等,可能發(fā)生兩種情況: 1,導致界面移動,產生疏孔和隴起物 2,通過相互擴散生成金屬間化合物 kirkend

32、all擴散在一般情況是通過體擴散和晶界擴散來進行的,只有在溫度較高和時間較長時才明顯,它造成的后果對界面的強度、附著力、噪聲、接觸電阻和抗腐蝕性等有重要影響。固相反應的發(fā)生是如何進行的?反應速度的快慢影響因素有哪些?固相反應指所有包含固相物質參加的化學反應,包括固-固相反應,固-液相反應,固-氣相反應等。固相反應也可能發(fā)生在單一固相內部,如均相反應。 第一步:開始時,A晶格中的原子在反應驅力F驅動下,原子鍵合斷裂,形成A原子流JA向B晶格擴散。類似過程也會在B晶格中發(fā)生。 第二步:經過一段時間后,A、B原子在界面處發(fā)生反應生成AB,AB界面標志為A/AB/B, AB是一種新化合物。  影響反應速度的因素有:原子的擴散速度,原子鍵斷裂速度。 有兩種情況: 1,若原子擴散遠比晶格中A原

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