材料微區(qū)測試平臺(tái)文檔

1、材料微區(qū)分析平臺(tái)平臺(tái)目前擁冇的儀器冇：冷場發(fā)射掃描電鏡（cfsem）、熱場發(fā)射掃描電鏡（tfsem）、s520掃描 電鏡（sem）、電子探針（epma）、x射線粉末衍射儀（xrd）、x射線單晶衍射儀（sxrd） 微區(qū)x射 線熒光光譜儀（pxrf）、以及冷凍干燥儀、臨界點(diǎn)干燥儀等配套的掃描電鏡制樣設(shè)備?？梢赃M(jìn)行各類材 料農(nóng)而形貌、微區(qū)結(jié)構(gòu)和元素成分及材料的物相和結(jié)構(gòu)分析等。平臺(tái)人員專業(yè)技術(shù)力量強(qiáng)，實(shí)力雄厚，在材料微區(qū)形貌結(jié)構(gòu)、成分分析和物相、結(jié)構(gòu)分析及其各類 電鏡的維修等方面都具有豐富的經(jīng)驗(yàn)；平臺(tái)學(xué)術(shù)氣氛濃片，承擔(dān)了國家11然科學(xué)基金和廣東省自然科學(xué)基 金多項(xiàng)；平臺(tái)人員粘誠合作，改革創(chuàng)新，竭誠為

2、校內(nèi)外提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。人員具體情況如下:姓名職務(wù)/職稱工作職責(zé)聯(lián)系電話電子郵箱趙文霞平臺(tái)主任/副研究員主持平臺(tái)全面工作/電子探針84115809.c n李陽研究員單晶數(shù)據(jù)處理84110195liyang223 許瑞梅實(shí)驗(yàn)師冷場發(fā)射掃描電鏡、s-520掃描電鏡84110783.c n程小寧實(shí)驗(yàn)師熱場發(fā)射掃描電鏡、s-520掃描電鏡84110783che ngxn 7.c n徐艷高級(jí)工程師x射線粉末衍射儀、微區(qū)x射線熒光光譜儀84110782xuya c n馮小龍工程師

3、x射線單晶衍射儀、微區(qū)x射線熒光光譜儀84110782.c n梁超倫實(shí)驗(yàn)師透射電鏡84110195lian gchl黃烘工程師透射電鏡84110195hua c n張浩助理實(shí)驗(yàn)師透射電鏡84110195zhhao26 型號(hào)：quanta 400/inca/hkl熱場發(fā)射掃描電鏡/ x-射線能譜儀/電子背散射衍射系統(tǒng)（thermal fe environment scanningelectron microscope/ energy dispersive x-ray spectrometer, eds/ electron b

4、ackscatter diffraction, ebsd）生產(chǎn)廠家：荷蘭飛利浦fei公司/oxford （英國牛津公司）/hkl （丹麥hkl公司，現(xiàn)屬于英國牛 津公司）主要技術(shù)指標(biāo)：1、電鏡的分辨率：2nm放大倍數(shù)：7 - 500,0002、掃描電鏡分辨率:30kv高真空、低真空：20nm； 3kv低真空：35nm3、30kv透射掃描（stem）分辨率：1.5nm；環(huán)境真空模式下30kv時(shí)，分辨率2.0nm4、能譜元素分析范圍:5b-92u5、ebsd空間分辨率（al, 20kv）: 0.1 pm feg sem；角度分辨率優(yōu)于0.5度6、相鑒定功能：包括七大晶系，具有最大的相祭雄數(shù)據(jù)庫應(yīng)用

5、范圍：quanta 400 feg場發(fā)射掃描電子顯微鏡是表面分析重要的農(nóng)征工具之一，具冇靈活 先進(jìn)的自動(dòng)化操作系統(tǒng)。具有三種成像真空模式-高真空模式、低真空模式和esem模式，可 以觀察分析各種類型的樣品。它可以對(duì)處理過的樣品和未處理的原始樣品提供微米、納米級(jí)表面 特征的圖像和微觀分析數(shù)據(jù)。在生物學(xué)、地質(zhì)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、考古 以及其他領(lǐng)域中得到口益廣泛的應(yīng)川。木儀器還配有incax-射線能譜儀和ebsd背散射電子衍 射系統(tǒng)，元素分析范囤為4be-92u,同時(shí)町進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)和取向分析。該儀器上是集多領(lǐng)域手段 于一體的顯微形貌、顯微成分、顯微結(jié)構(gòu)和顯微織構(gòu)的現(xiàn)代化顯微分析系

6、統(tǒng)。樣品要求：各種類型的尺寸小于5cmx5cmx5cm （尺寸亳米級(jí)為宜）的干燥固體樣品聯(lián)系方式號(hào):tecnai g2 f30300 kv透射電子顯微鏡生產(chǎn)廠家：美國fei公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、加速電壓200 kv300 kv2、點(diǎn)分辨率（nm） 0.203、線分辨率（nm） 0.1024、信息限度（nm） 0.145、tem放大倍數(shù)范圍60 x -1, oookx6、相機(jī)長度（mm） 804, 5007、最大衍射角度±128、stem haadf 分辨率（nm） 0.199、stem放大倍數(shù)范圍150 x -230mx10、能譜分辨率 < 136

7、ev11、能量過濾器分辨率：< 0.9 ev應(yīng)用范圍：fei公司tecnai g2 f30場發(fā)射透射電了顯微鏡是一個(gè)真止多功能，多用戶環(huán)境的300 kv 場發(fā)射透射電子顯微鏡，它將各種透対電鏡技術(shù)，包括 ctem, saed, stem, edx, eels有機(jī)組合， 形成強(qiáng)大的分析功能，可在原子尺度上提供納米材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)及化學(xué)環(huán)境等信息，同時(shí) 可對(duì)材料組成元素進(jìn)行線分布和面分布分析，獲得高空間分辨率的定性、泄量信息。樣品要求：樣晶厚度需低于200 nmo微細(xì)粒狀樣品可以通過介質(zhì)分散法并直接滴樣。由于該儀器是 高分辨分析型電鏡，為確保儀器高空間分辨率的特性，冃前主耍接受材料領(lǐng)

8、域的樣品，暫不接受磁性 樣品、易揮發(fā)、有毒及帶有輻射性樣品。聯(lián)系方式超倫老師（銳影）x射線衍射儀型號(hào):x射線衍射儀生產(chǎn)廠家：荷蘭帕納科公司生產(chǎn)的empyrean （銳影）x射線衍射儀廣泛用于無機(jī)物、冇機(jī)物（部 分）、高分子、-藥物及礦物等多晶樣品的分析?？蛇M(jìn)行物相定性、晶粒度測定、納米材料顆粒分 布、長周期測定、取向度測定、晶型鑒別、kch射線數(shù)據(jù)測最以及其它參數(shù)測定。主要技術(shù)指標(biāo)：1、功率3 kw2、最小掃描步長0.0001°3、2q 線性±0.01°4、角度重現(xiàn)ft 0.0001°5、測角范圍（28） 0.1。140。應(yīng)用

9、范圍：廣泛用于無機(jī)物、有機(jī)物（部分）、高分子、藥物及礦物等多晶樣品的分析?？蛇M(jìn)行 物相定性、晶粒度測定、納米材料顆粒分布、長周期測定、収向度測定、晶型鑒別、k6射線數(shù) 據(jù)測量以及其它參數(shù)測加。樣品要求：送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜、鍍膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.5 g （視 其密度和衍射能力而能）；塊狀樣品要求具有一個(gè)面積小于1.8 cm xi.8 cm的近似平面；薄膜 樣品要求有一定的厚度，面積小于1.8cmxl.8 cm,.聯(lián)系方式小龍老師120kv透射電子顯微鏡型號(hào)：tecnai g2 spirit 生產(chǎn)廠家：美國fei公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、加速電壓

10、20 kv120 kv2、點(diǎn)分辨率 twin 0.34 nm,3、線分辨率 twin 0.20 nm ,4、最大全對(duì)屮傾角twin +/70°,5、tem放大倍數(shù)twin 18.5倍650,000倍。應(yīng)用范圍：加速電壓20kv120kv屬于輕元素生物體研究的理想范圍，最大程度地減少了對(duì) 脆弱生物結(jié)構(gòu)的射束損壞；可自動(dòng)執(zhí)行眾多常規(guī)操作程序，操作簡單；側(cè)面和底部都女裝冇嵌入 式ccd相機(jī)，能瞬間生成高品質(zhì)圖像。樣品要求：除微細(xì)粒狀樣品町以通過介質(zhì)分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要冇物理 減薄法（包括離子和雙噴減薄等）和超薄切片法。一般情況下，物理減薄法的樣品制備過程須由 用戶口己

11、完成，不具備此制樣條件的院系，可預(yù)先與本儀器室聯(lián)系；超薄切片樣品的制 備周期較長，需一個(gè)刀左右。微區(qū)x射線熒光光譜儀ifagtf 111 xxl一聯(lián)系方式浩老師型號(hào)：eagle iii xxl pprobe微區(qū)能量色散x射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家：美國edax公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、可檢測元素92(j2、光斑直徑 100pm, 300pm3、濃度范圉在ppm級(jí)至100%的范圍4、可以在真空下或大氣壓下進(jìn)行檢測5、超大型樣品室700mmx700mmx700mm；可以進(jìn)行面掃描與線掃描元索分布分析應(yīng)用范圍：主要用于金屬材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商晶檢驗(yàn)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、寶玉石鑒

12、定、 考古和文物鑒定、公女刑偵物證元素分析等。優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)上述樣品局部進(jìn)行最小到100微 米局部范圍內(nèi)元素定性和半定量無損分析。聯(lián)系方式：84110782馮小龍老師x 射線單晶衍射儀x-射線單晶衍射儀(single crystal diffractometer)型號(hào)：smart 1000 ccd生產(chǎn)廠家：徳國bruker公司主要技術(shù)指標(biāo):1、功率3kw2、mo 靶 應(yīng)用范圍：用于測定各種無機(jī)物、冇機(jī)物的晶體結(jié)構(gòu)。可以獲得樣品的晶胞參數(shù)、鍵長、鍵角、 構(gòu)彖、氫鍵、分子間堆積作用等信息。樣品要求：1、送檢樣品必須為單晶2、選擇晶體時(shí)要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致3、不附著小品體，沒有缺

13、損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷4、晶體長、寬、高的尺寸均為0.1 0.4mm ,即晶體對(duì)角線長度不超過0.5 mm (大晶體可用 切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力)聯(lián)系方式場掃描電鏡冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡(field emission scanning eletron microscope)生產(chǎn)廠家：口本電子株式會(huì)社主要技術(shù)指標(biāo)：1、分辨率：1.5nm2、放大倍數(shù):xlo z x500,0003、樣品尺寸：v(p8 mm x 5 mm4、最大尺寸：v 100 mm x 6 mm應(yīng)用范圍：廣泛用于牛物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、

14、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶右鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有 機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。該儀器的最大特點(diǎn)是具備超高分辨掃 描圖像觀察能力，尤其是采用最新數(shù)字化圖像處理技術(shù)，提供高倍數(shù)、高分辨掃描圖像，并能即 時(shí)打卬或存盤輸出，是納米材料粒徑測試和形貌觀察最有效儀器。也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系 所不可缺少的重耍工具。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可2、應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無磁性、放射性 和腐蝕性3、含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自c進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥之前的固

15、定、清洗、脫 水及川醋酸（界）戊酯置換等處理，最后山本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理4、觀察圖像樣品應(yīng)預(yù)先噴金膜。-般情況下，樣品盡量小塊些（s10xl0x5m m較方便）5、粉末樣品每個(gè)需1克左右6、納米樣品一般需超聲波分散，并鍍釦金膜送樣須知:送樣檢測請(qǐng)先到測試中心業(yè)務(wù)辦公室登記。需口己上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)吋。 技術(shù)問題町直接與電鏡室聯(lián)系。打描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)?zhí)崆鞍胩斓诫婄R 室制樣。按中心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)谵k理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)刀以上未結(jié)帳的用戶，將會(huì) 影響該單位用機(jī)預(yù)約女排。聯(lián)系方式號(hào)：jxa-8800r電子探針(electron p

16、robe micro-analyzer)生產(chǎn)廠家：日本電子株式會(huì)社主要技術(shù)參數(shù)：1、元素范圍：5b92u2、波長范圍：0.087 nm 9.3 nm3、分辨率：6nm（二次電子像）4、樣品尺寸：vcp8 mm x 5 mm5、最大尺寸： 25 mm x 10 mm6、薄片樣品：50 x 25 x 1 mm應(yīng)用范圍：電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析；可以進(jìn)行點(diǎn)、 線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）；還能全h動(dòng)進(jìn)行批量（預(yù) 置9999測試點(diǎn)）定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡便（相對(duì)復(fù)雜的化學(xué)分析方法而言）、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋 直截了

17、當(dāng)、分析過程不損壞樣品、測量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，故在冶金、地質(zhì)、電子材料、牛物、 醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到口益廣泛地應(yīng)用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。樣品要求：1、定量分析的樣品必須磨平拋光、清洗干凈，如樣品不能進(jìn)行表面磨平拋光（將影響分析粋度） 處理應(yīng)凈先說明2、為測試方便和節(jié)約機(jī)時(shí)，樣品應(yīng)先切成小薄片，不能切割制樣，必須先與測試人員商量3、應(yīng)先標(biāo)記好分析血上的測試點(diǎn)，無標(biāo)記測試位過時(shí)，測試時(shí)只選有代表性、較平整位置測試4、液體樣必須先濃縮干燥5、分析的樣晶必須是在高能電子轟擊下物理和化學(xué)性能穩(wěn)定的i古1體、不分解、不爆炸、不揮發(fā)、 無放射性、無磁性6、送樣時(shí)最好注明樣品可能包

18、含什么元素7、樣品必須噴涂一層碳膜送樣須知:送樣檢測請(qǐng)先到測試中心業(yè)務(wù)辦公室登記。需自己上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)時(shí)。 技術(shù)問題可直接與電鏡室聯(lián)系。扌t描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)捉前半天到電鏡 室制樣。按屮心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)谵k理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)刀以上未結(jié)帳的用八，將會(huì) 彩響該單位用機(jī)預(yù)約安排。聯(lián)系電話-520掃描電鏡/能譜型號(hào):s-520 / isis-300掃描電子顯微鏡/ x-射線能譜儀(scanning electron microscope/energy dispersive x-ray spectrometer)生產(chǎn)廠家：hita

19、chi/oxford主要技術(shù)指標(biāo)：1、分辨率：6 nm2、放大倍數(shù):20 200,0003、樣品尺寸：v(p 8 mm x 5 mm4、最大尺寸：v(p 100 mm x 6 mm5、元素范圍：11 na 92 u6、含量一般要求大于0.5%應(yīng)用范圍：掃描電子顯微鏡/x射線能譜聯(lián)川儀，是一種多功能、多川途、超顯微、形貌與成份 分析相結(jié)合的現(xiàn)代顯微分析儀器。廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分了材料、化工原料、 地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定、公安刑偵物證分析等?？梢?觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、亞微米局部范圍內(nèi)的農(nóng)而特征和微米區(qū)域 成份的定性和半

20、定量分析。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀、顆?；蚍勰罹?、應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無磁性、放射性 和腐蝕性3、對(duì)含水份較多的生物軟組織樣品，耍求用戶預(yù)先進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥前的固定、清洗、脫水及用 酷酸(界)戊酯置換等處理。最后再由木室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理4、圖像觀察樣甜應(yīng)預(yù)先鍍金膜，成份分析樣品必需鍍碳膜5、一般情況下，樣品體積不宜太大(s 5 x 5 x 2 mm較適合)送樣須知:送樣檢測請(qǐng)先到測試屮心業(yè)務(wù)辦公室登記。需fclc上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)時(shí)。 技術(shù)問題可直接打電鏡室聯(lián)系。扌描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)?zhí)崆鞍胩斓诫婄R 室制樣。按中心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)谵k理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)月以上未結(jié)帳的川八，將會(huì) 影響該單