TS16949：2019-SPC統(tǒng)計過程控制培訓教材-最新版ppt課件

1、;TS16949：2021-SPC統(tǒng)計過程控制培訓教材第二版）1;課程內(nèi)容SPC定義定義質(zhì)量管理的發(fā)展歷程質(zhì)量管理的發(fā)展歷程SPC統(tǒng)計理論基礎統(tǒng)計理論基礎常用分布簡介常用分布簡介正態(tài)分布正態(tài)分布中心極限定理中心極限定理過程變差過程變差SPC控制圖控制圖計量型控制圖計量型控制圖計數(shù)型控制圖計數(shù)型控制圖成功推行成功推行SPC過程能力分析過程能力分析過程能力計算及評價過程能力計算及評價過程能力改進過程能力改進2;SPC的定義的定義SPC既統(tǒng)計過程控制，是將一個過程定期收集的樣本數(shù)據(jù)按順序點繪制而成的一種圖示技術。注：SPC的核心是控制圖；的核心是控制圖；SPC可以展示過程變異并發(fā)現(xiàn)異常變異，并進而可

2、以展示過程變異并發(fā)現(xiàn)異常變異，并進而成為采取預防措施的重要手段。3;質(zhì)量管理發(fā)展歷程19世紀末世紀末20世紀世紀30年代年代質(zhì)量檢驗階段美國以泰勒為首的科學管理工作者首次將質(zhì)量檢驗作為一種管理職能從生產(chǎn)中分離出來，建立了專職檢驗制度。20世紀世紀4050年末年末統(tǒng)計質(zhì)量控制階段美國貝爾實驗室學術負責人休哈特博士通過對西方電氣公司所制造的產(chǎn)品變異或波動的關注的研究，提出統(tǒng)計過程控制理論SPC）,并在1924年首創(chuàng)過程控制的工具控制圖。4;SPC在現(xiàn)代企業(yè)質(zhì)量管理體系中的應用在現(xiàn)代企業(yè)質(zhì)量管理體系中的應用SPC是過程控制的重要手段；是過程控制的重要手段；SPC已經(jīng)成為汽車行業(yè)質(zhì)量管理體系的必須要求

3、；已經(jīng)成為汽車行業(yè)質(zhì)量管理體系的必須要求；SPC也是六西格瑪改善項目中的必備工具。也是六西格瑪改善項目中的必備工具。日本名古屋大學在1984年調(diào)查115家日本企業(yè)，發(fā)現(xiàn)每個企業(yè)平均使用137張控制圖。5;SPC的統(tǒng)計理論基礎的統(tǒng)計理論基礎常用概率分布簡介連續(xù)型分布：正態(tài)分布：當質(zhì)量特性隨機變量由為數(shù)眾多的因素影響，而又沒有一個因素起主導作用的情況下，該質(zhì)量特性的值的變異分布，普通都服從或近似服從正態(tài)分布。離散型分布：二項分布：一個事物只有兩種可能的結(jié)果，其值的分布一般服從二項分布；泊松分布：稀有事件的概率分布一般服從柏松分布。6;SPC的統(tǒng)計理論基礎的統(tǒng)計理論基礎常用統(tǒng)計量介紹總體研究對象的全

4、體稱為總體Population）；樣本從總體中抽取一部分個體進行觀察，被抽到的個體組成了總體的一個樣本Sample）。7;i()SPC的統(tǒng)計理論基礎樣本樣本來自總體，樣本中包含了豐富的總體信息，研究樣本的主要方法是構(gòu)造樣本函數(shù)，不含未知參數(shù)的樣本函數(shù)稱為統(tǒng)計量Statistic），統(tǒng)計量的分布稱為抽樣分布。(1)描述中心位置的統(tǒng)計量：設X,X,X是來自總體的一個樣本，那么樣本均值sample mean）:X=1nni=1X樣本中位數(shù)sample mean）:X=Xn+12X=1 X2(n2)+X(n2+1 )8;n2iSPC的統(tǒng)計理論基礎樣本(1)描述波動的統(tǒng)計量:樣本極差sample ran

5、ge）:R=X(n)X( 1 )樣本方差sample variance）:S=1n1(Xi=1X2)樣本標準偏差standard deviation）:S=S29;2SPC的統(tǒng)計理論基礎正態(tài)分布的特性和應用質(zhì)量管理中最常遇到的連續(xù)分布是正態(tài)分布，能描述很多質(zhì)量特性X隨機取值的統(tǒng)計規(guī)律性，正態(tài)分布的圖形及概率密度函數(shù)為：p(x)=12e(x)2/ 2,x(,+)10;SPC的統(tǒng)計理論基礎正態(tài)分布的特性和應用過程關鍵質(zhì)量特性X常常呈正態(tài)分布N(,2),其中為均值，為標準偏差，在與已知時，正態(tài)分布的概率特征如下：正態(tài)分布的概率特征界限+-k+-0.67+-1+-1.96+-2+-2.58+-3+-4

6、界限內(nèi)的概率（%）50.0068.2695.0095.4599.0099.7399.99界限外的概率（%）50.0031.745.004.551.000.270.006311;eSPC的統(tǒng)計理論基礎標準正態(tài)分布為了便于使用，我們把=0，=1的分布稱為標準正態(tài)分布（Standard normal distribution），記為N(0,1),所以，標準正態(tài)分布的密度函數(shù)為：?(x)=12x2/ 2,x(,+);iiSPC的統(tǒng)計理論基礎中心極限定理設X1,X2,.,Xn是n個獨立分布的隨機量，分布的均值為，方差為2，則在n較大時，有(1 )X1+X2+.+Xn=ni=1X近似服從均值為n，方差為n

7、2的正態(tài)分布。( 2 )X=X1+X2+.+Xnn=1nni=1X近似服從均值為，方差為2/n的正態(tài)分布。13;SPC的統(tǒng)計理論基礎的統(tǒng)計理論基礎問題1：標準正態(tài)分布有什么好處？問題2：假設總體的方差為，我們從中抽取五個產(chǎn)品為一組的樣本25個，請問樣本均值的方差是什么？14;SPC的統(tǒng)計理論基礎過程 ：通過使用資源和管理，將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的活動ISO9001:2000定義）包括么?(物,機器)(三)包括誰?(能/技藝/培訓)(四)輸入()需優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品過程(一)運作過程輸出(七)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品怎樣?(方法/步驟/技巧)(二)包括么關鍵準則?(/評價)(五)15;SPC的統(tǒng)計理論基礎人們對于過程變差有以下

8、認識：一個過程內(nèi)有許多波動源存在；每個波動源發(fā)生是隨機的，時隱時現(xiàn)，時大時小，以不可預測之勢影響著過程輸出；消滅波動是不可能的，但減少是可能的；管理和操作任一過程就是要把波動限制在允許范圍內(nèi)，超出范圍就要設法減少和及時報告；為了進一步認識波動源和減少變差，人們把引起過程波動的原因分為兩類：第一種為隨機變異，由“偶然原因引起 ，又稱“一般原因”；第二 種為過程中的實際改變，由“特殊原因引起，又稱為“異常原因”。16;SPC的統(tǒng)計理論基礎的統(tǒng)計理論基礎問題1：請舉例說明在實際工作中出現(xiàn)的隨機原因和特殊原因？17;SPC控制圖控制圖SPC控制圖 由 休哈特于1924年提出，他認為，在一切制造過程中所

9、呈現(xiàn)的波動有兩個分量：第一個分量是過程內(nèi)部引起的穩(wěn)定分量即偶然波動）；第二個分量是可查明原因的間斷波動異常動搖）；休哈特建議用界限作為控制限來管理過程，基于限的控制圖可以把偶然波動和異常波動區(qū)分開來。18;SPC控制圖為了便于紀錄質(zhì)量隨時閑波動狀況，休哈特建議將正態(tài)分布圖逆時針旋轉(zhuǎn)90度，于是就形成了控制圖?？刂粕舷轆B中心線控制下限ABCC19;SPC控制圖控制圖SPC控制圖的要素控制圖的要素數(shù)據(jù)點按時閑順序排列）：是連續(xù)或離散型數(shù)據(jù)，每個數(shù)據(jù)點可以代表樣本的單個測量值，也可以是樣本的某個統(tǒng)計量；中心線：樣本的平均值；控制界限：上控制限Upper Control Limit和下控制限Lowe

10、rControl Limit標示出了分布的正負標示出了分布的正負3個個的范圍；的范圍；規(guī)格界限：質(zhì)量特性的上限規(guī)范限，有上規(guī)格界限UpperSpecification Limit和下規(guī)格限和下規(guī)格限Lower Specification Limit）。）?？刂平缦藓鸵?guī)格界線有什么區(qū)別？20;SPC控制圖SPC控制圖對發(fā)現(xiàn)異常的兩種風險控制圖是利用從總體中抽取的樣本數(shù)值進行判斷的，既然是抽樣，就會產(chǎn)生風險；錯判是虛發(fā)警報的錯誤：也稱為第I類錯誤，即在過程正常的情況下，仍然存在由于偶然原因造成數(shù)據(jù)點超出控制限的情況，從而造成將一個正常的總體錯判為不正常,這種錯誤通常用表示；漏判是漏發(fā)警報的錯誤：也

11、稱為第II類錯誤，在過程存在異常變異時，如被監(jiān)控的總體的均值或標準偏差發(fā)生改變，仍會有一部分數(shù)據(jù)在上下控制限之內(nèi)，從而發(fā)生漏報的錯誤,這種錯誤用表示。21;SPC控制圖控制圖錯報SPC控制圖對兩種風險預防控制圖對兩種風險預防漏報處理方案錯報：3控制限漏報：判斷準則22;SPC控制圖控制圖SPC控制圖對兩種錯誤的預防控制圖對兩種錯誤的預防錯判是虛發(fā)警報的錯誤：由于偶然原因造成數(shù)據(jù)點超出控制限的情況，從而造成將一個正常的總體錯判為不正常，在控制限為正負3情況下，這樣的概率小于3；漏判是漏發(fā)警報的錯誤，也就是判斷當數(shù)據(jù)點在控制限內(nèi)的異常，所以，SPC增加了對界內(nèi)數(shù)據(jù)點趨勢的判斷準繩。23;SPC控制

12、圖控制圖過程異常判斷準則過程典型的判斷準則有以下幾種：連續(xù)3點至少有2點接近控制限；連續(xù)7點在中心線的一側(cè)；連續(xù)8點落在中心線兩側(cè)且無一在C區(qū)內(nèi)；至少有7點連續(xù)上升或下降；24;23SPC控制圖過程異常中各種模式出現(xiàn)的概率連續(xù)3點至少有2點接近控制限；P=C3(0 .0433)( 0 .954 )+C3(0 .0433) 0 .005連續(xù)7點在中心線的一側(cè)；P=2( 0 . 4985)7=0 . 0153連續(xù)8點落在中心線兩側(cè)且無一在C區(qū)內(nèi)；P=( 0 . 5872 )8=0 . 000103至少有7點連續(xù)上升或下降；P=27 !( 0 . 997 )7=0 . 0003925;控制圖的分析練

13、習題上控制界限(UCL)區(qū)域A區(qū)域B區(qū)域C區(qū)域C區(qū)域B區(qū)域A中位線(CL)下控制界限(LCL)26;控制圖的分析答案超出控制界限區(qū)域A區(qū)域B區(qū)域C區(qū)域C區(qū)域B區(qū)域A五個續(xù)點中有四個在此區(qū)域內(nèi)八個續(xù)點此區(qū)域內(nèi)上控制界限(UCL)七個點續(xù)向上中位線(CL)下控制界限(LCL)三個續(xù)點中有二個在此區(qū)域內(nèi)27;SPC控制圖生產(chǎn)現(xiàn)場中常用到的兩種不同的數(shù)據(jù)類型計量型數(shù)據(jù):長度，分量，時間，強度，成份計數(shù)型數(shù)據(jù)計件型數(shù)據(jù):計點型數(shù)據(jù):不合格品數(shù),不合格品率疵點數(shù),灰塵微粒數(shù)28;SPC控制圖的種和選擇控制圖的種和選擇據(jù)據(jù)缺陷計值品計值c-控制圖u-控制圖p-控制圖np-控制圖X-R控制圖X-s控制圖X-R

14、控制圖固定的樣本可變的樣本可變的樣本固定的樣本樣本2 n 7個別值29;pcu控制圖的用途控制圖x-R及x-sx-Rnp用途用作樣本平均值轉(zhuǎn)變的制圖全距和標準偏差控制圖是控制據(jù)的散布程用作個別樣據(jù)轉(zhuǎn)變的制圖全距控制圖是控制據(jù)的散布程用作每一樣本組品比的制圖樣本可以改變用作每一樣本組品目的制圖樣本是固定的用作缺點目的制圖，而每次查驗的面積是相同的樣本是固定的用作單位缺點目的制圖，而每次查驗的面積都可以改變的代表樣本的平均值單個數(shù)據(jù)品的比或百分比品目疵點目每單位疵點目樣本是可變的30;SPC控制圖案例控制圖案例假設某生產(chǎn)線的產(chǎn)品為PCB，請用控制圖對產(chǎn)品的各個質(zhì)量特性分別進行控制：PCBPrint

15、 Circle Board印刷線，按照線路層多少來分又可分為單層板、二層板、四層板、六層板等不同的板。對不同層數(shù)的PCB板，其生產(chǎn)流程都要經(jīng)過以下工序:31;蝕刻電鍍SPC控制圖案例控制圖案例PCB工序流程圖工序流程圖開料切板）開料切板）（內(nèi)層干菲林（內(nèi)層干菲林排版、壓板排版、壓板鉆孔鉆孔綠油黃油）綠油黃油）工序作用及監(jiān)控參數(shù)對進初步加工，按需求成同規(guī)格的板，并打上批號。干菲主要是把線圖像印在板上，在此需要控制H2SO4濃、酸洗壓、磨痕寬、烘干溫、膜寬、曝光能等。此工序完成后采用自動光學檢查AOI或人工目檢100%），看是否有短、開、線缺口、蝕刻清、崩孔等缺陷。此工序是將多個已經(jīng)印上線的雙層板

16、進排序以及熱壓。鉆孔主要是為導通多層板的線主要是對上工序鉆的孔鍍銅。在此對于孔內(nèi)、板面的鍍層厚、化學反應缸的PH值、化學藥品濃等都要進控制。對最終的板面進涂覆，起到保護線板、提高以后的焊接性能的作用。本工序需要控制的有酸洗時H2SO4濃、熱風溫、顯影機藥水壓和溫、烘干溫等。白字32;SPC控制圖案例控制圖案例PCB生生 產(chǎn)產(chǎn) 線線 質(zhì)質(zhì) 量量 特特 性性 統(tǒng)統(tǒng) 計計質(zhì)量特性數(shù)據(jù)類型控制圖類型開硫酸磨烘曝料酸洗痕干光尺濃壓寬溫能寸度力度度量計量計量計量計量計量計量均值極差單值移動差單值移動差均值極差均值極差均值極差短開路路計計點，計點，計件件C圖或P圖C圖或P圖線蝕崩缺刻孔口不清計計計點，計點，

17、計點，計件件件C圖或P圖C圖或P圖C圖或P圖孔版化化酸熱顯顯內(nèi)面學學洗風影影鍍鍍反藥的爐機機層層應品硫溫藥藥厚厚岡濃酸度水水度度PH值度濃度壓力溫度計量計量計量計量計量計量計量計量單值移動差單值移動差單值移動差單值移動差單值移動差均值極差單值移動差單值移動差33;控制圖做成步驟選擇質(zhì)特性選擇可的，具有代表制程控制的特性，可以考以下的指引：優(yōu)先選取經(jīng)常出現(xiàn)次品的質(zhì)特性；可以用柏圖分析法去決定優(yōu)先次序別工序的變因素和對成質(zhì)量的影響，繼而決定應用控制圖的生產(chǎn)工序。34;質(zhì)量特性選擇我們選擇PCB如下質(zhì)量特性或工序為例作控制圖開料尺寸硫酸濃度短路成品檢查35;xi均値Ri計量控制圖控制限計算公式均值極

18、差控制圖均值控制圖控制限上控制限(UCLx)=x+A2R下控制限(LSLx)=xA2R極差控制圖控制限上控制限(UCLR)=D4R下控制限(LSLR)=D3R注:x=kx所有抽樣組平均値的平xi第i個抽樣組的平均値k樣本個數(shù)(組數(shù))注：R=kRi第i個控制分組的全距R所有樣本的平均全距k樣本個數(shù)(組數(shù))36;計量控制圖控制限計算公式附表休哈特系數(shù)表樣本目2345678910A21.8801.0230.7290.5770.4830.4190.3730.3370.308樣本目2345678910D3000000.0760.0.1840.223D43.2672.5742.2822.1142.0041

19、.9241.8641.8161.77737;x=xsii計量控制圖控制限計算公式均值標準偏差控制圖均值控制圖控制限上控制限(UCLx)=x+A3S下控制限(LSLx)=xA3S標準偏差控制圖控制限上控制限(UCLs)=B4S注:&s=k kxi第i個抽樣組的平均値si第i個抽樣組的標準偏差s所有樣本的平均標準偏差k樣本個數(shù)(組數(shù))下控制限(LSLs)=B3S38;計量控制圖控制限計算公式附表休哈特系數(shù)表樣本目2345678910A32.6591.9541.6281.4271.2871.1821.0991.0320.975B300000.0300.1180.1850.2390.284B4

20、3.2672.5682.2822.0891.9701.8821.8151.7611.71639;計量型控制圖做成步驟選取樣本組收集據(jù)設定全距之控制界限全距在統(tǒng)計控制之內(nèi)設定平均值之控制界限平均值在統(tǒng)計控制之內(nèi)設定控制界限持續(xù)監(jiān)控確定抽樣方法、數(shù)目、次數(shù)合理子組原則）以子組為單元收集數(shù)據(jù)，選擇子組容量，個數(shù)，間隔；計算副控制圖控制限如果沒有在控制范圍內(nèi)，重新收集數(shù)據(jù)確定主控制圖控制限如果沒有在控制范圍內(nèi)，重新收集數(shù)據(jù)用既定控制限控制質(zhì)量特性40;計量型控制圖做成步驟合理子組原則合理子組原則是休哈特提出的控制圖理論之一，它的內(nèi)容是：在抽取樣本時要使組內(nèi)波動由正常原因引起；組間波動由異常原因引起。為

21、了實現(xiàn)此原則，要在短的時間內(nèi)將一個子組全部抽取，這樣就可以避免異常因素進入子組。收集數(shù)據(jù)以子組為單位收集數(shù)據(jù)：選擇子組容量、子組個數(shù)、子組間隔。子組容量：一般以4到5個為宜；子組個數(shù)：一般以20到25個為宜；子組間隔時間：沒有統(tǒng)一規(guī)定，要視產(chǎn)量而定，具體如下表：41;計量型控制圖做成步驟子組間隔的一般原則每小時產(chǎn)量1-1010-1920-4950以上收集數(shù)據(jù)子組間隔時間8小時4小時2小時1小時42;123456789開料尺寸計量型控制圖示例數(shù)據(jù)收集：按照數(shù)據(jù)收集的一般法則，共抽取了子組容量為5個，共25組樣本。質(zhì)量特性數(shù)據(jù)樣本序號Xi1Xi2觀測值Xi3Xi4Xi5樣本極差 樣本均值10.32

22、10.2310.1410.5610.9810.2310.6010.8010.2410.3410.2510.1610.6310.6710.2510.6710.4510.3310.5010.249.9810.6010.8010.2410.5010.2310.2310.5710.4510.3310.6711.0110.2310.3310.2510.6010.6010.5010.4010.5010.6010.2210.1610.2410.970.280.270.420.170.410.030.510.570.7410.46610.33410.20210.59210.81210.23410.45210.

23、39410.47410111213141516171819202122232410.5010.2310.2310.1410.0511.0110.4510.4510.4510.4510.2310.1410.8010.2410.5010.6711.0110.2510.8010.2310.6010.2310.2310.2310.2311.0110.8010.6010.6010.5010.1410.6010.2411.4611.0110.6710.2510.2510.2510.2510.6011.4610.6710.6710.6710.8010.6710.6010.2510.6010.8010.251

24、0.2510.9710.2510.5010.5010.8010.8010.1611.4610.5010.9710.2410.9711.4610.2410.2410.9710.2410.6710.6710.3310.409.981.320.780.741.320.960.860.220.220.740.220.781.320.470.560.6910.71410.60210.45810.57810.57210.90810.28410.28410.57410.28410.60210.71410.6410.54210.3622510.2310.169.9810.3310.400.4210.2243;

25、計量型控制圖做成步驟計算副控制圖控制限練習）上控制限(UCLR)=D4R下控制限(LSLR)=D3R44;45計量型控制圖做成步驟測試控制限是否所有的全距據(jù)都包括在管制界限內(nèi)是是把這一個至個的平均值和全距據(jù)棄置再計算X，R和否是否祇有一至個全距據(jù)超出否三個或以上的全距據(jù)超出界限全距在控制范圍全距管制界限要計算平均值界限是否包括在界限內(nèi)解決變原因全距受控制是計算平均值的界限控制否收集新?lián)嬎阈氯嘟缦?計量型控制圖做成步驟計算主控制圖控制限練習）上控制限(UCLx)=x+A2R下控制限(LSLx)=xA2R46;SampleMeanSampleRange_均值極差控制圖示例PCB開料尺寸均值極差

26、圖1UCL=10.873310.810.6_X=10.491910.410.2LCL=10.110510.0135791113151719212325樣本1.6UCL=1.3981.20.8_R=0.6610.40.0LCL=0135791113151719212325樣本TEST 1. One point more than 3.00 standard deviations from center line.Test Failed at points: 1547;硫酸濃度計量型控制圖示例數(shù)據(jù)收集：按照數(shù)據(jù)收集的一般法則，共抽取了子組容量為1個，共25組樣本。硫酸濃度質(zhì)量特性數(shù)據(jù)樣本序號觀測

27、值X i 1樣本極差樣本均值11 3 . 3 21 3 .3 223456789111111113 . 3 43 . 5 03 . 5 73 . 6 03 . 4 03 . 2 53 . 2 43 . 4 500000000.01002102267305111111111133333333.35564224407005451111111111222222012345678901234511111111111111113 . 5 03 . 3 03 . 3 03 . 4 03 . 3 33 . 4 03 . 5 63 . 6 33 . 6 03 . 6 73 . 5 03 . 6 03 . 6

28、73 . 7 03 . 5 03 . 6 00000000000000000.0201001000110021500077673770730011111111111111113333333333333333.5334345666566756000030630700700048;x=xi單值移動差的控制限的計算單值控制圖控制限上控制限(UCLx)=x+2.660R s下控制限(LSLx)=x2.660R s移動極差控制圖控制限上控制限(UCLx)=3.267R s下控制限(LSLx)=0注:&Rs=xi+1xikxi第i個抽樣値x所有樣本的平均值k樣本個數(shù)Rs移動極差Rs移動極差平均值4

29、9;單值移動差的控制限的計算單值控制圖控制限上控制限(UCLx)=x+2.660R s下控制限(LSLx)=x2.660R s移動極差控制圖控制限上控制限(UCLx)=3.267R s下控制限(LSLx)=0同樣要經(jīng)過測試控制限50;IndividualValueMovingRange單值移動差的控制圖示例硫酸濃度控制圖13.80UCL=13.736513.6513.5013.3513.20_X=13.4772LCL=13.2179135791113151719212325Observation0.30.20.10.0UCL=0.3186_MR=0.0975LCL=01357911131517

30、19212325Observation51;計數(shù)型控制圖計點型控制圖控制一定對象如長度或面積上面的缺陷數(shù)；如：鑄件表面的氣孔數(shù)；產(chǎn)品表面上的劃痕數(shù)；產(chǎn)品疵點分布服從泊松分布，可近似正態(tài)分布處理。計件型控制圖對產(chǎn)品的不良率進行監(jiān)控時使用的控制圖;適用于全檢零件時的統(tǒng)計控制。質(zhì)量特性的良與不良通常服從二項分布，也可以近似于正態(tài)分布處理;52;選定使用何種計型控制圖決定樣本(n)否樣本(n)是否一個常是否是品而是否是品而是是缺點是缺點使用u-管制圖使用p-管制圖 使用c-管制圖使用np-管制圖53;U-控制圖作成步驟控制圖作成步驟選擇質(zhì)特性選取樣本組收集據(jù)設定之控制界限在統(tǒng)計控制之內(nèi)以控制界限持續(xù)監(jiān)

31、控54;ncuu55u-控制圖作成步驟u-控制圖控制界限中心線CL=u=上控制界限下控制界限UCLLCL=u+3=u3uniuni注:u=cinici第i個控制分組的缺點數(shù)數(shù) 目ni第i個控制分組的樣本數(shù)目u所有樣本的平均單位缺 點數(shù);ccic-控制圖作成步驟c-控制圖作成步驟中心線:CL=C上控制界限下控制界限注:UCL:LCL=C+3C=C3CC=kCi=1kCi第i個樣本的缺點數(shù)數(shù)目k樣本個數(shù)C所有樣本的平均缺點數(shù)56;u-控制圖的應用為了控制波峰焊對電路板的焊接質(zhì)量,用U-圖對電路板的不良焊點數(shù)目進行控制,每次抽取的樣本隨批量的不同而不同,具體數(shù)據(jù)如下,請做出U控制圖.S a m p

32、l eN o .S a m p l eQ t yD e f e c tQ t y1234567891 01 11 21 31 41 51 61 71 81 92 02 12 22 32 42 51 21 11 21 31 41 2781 21 31 42 53 21 27571 21 11 01 21 11 31 41 357637828891 262 01 23466791 01 21 21 21 057;u-控制圖作成步驟控制圖作成步驟125510以第一組為例計算出樣本的中心線和上下控制限中心線CL=u=cn=204=0 .654312上控制界限UCLu=u+3u=ni0 .654+30

33、.656=121 .354下控制界限LCLu=u3u=ni0 .65430 .656= 120 .046=058;PCB板板面短路統(tǒng)計表板板面短路統(tǒng)計表SampleNo.SampleQtyDefectQtyCLUCLLCLDatepoint12345678121112131412785763782800000000.6666666655555555444444441.354121.385261.354121.326651.302171.354121.570721.5115-0.046-0.078-0.046-0.0190.0055-0.046-0.263-0.2040.4160.63600.2

34、3000.6660.285666363.5769.5666714166763623166728691011121314151617181920121314253212757121110891262012346679000000000000.6666666666665555555555554444444444441.354121.326651.302171.139011.082681.354121.570721.738711.570721.354121.385261.42096-0.046-0.0190.00550.16870.225-0.046-0.263-0.431-0.263-0.046-

35、0.078-0.1130.60.60.80.40.80.66666692307571420.240.6251285710.8571420.5363630.966769285742985763621222324251211131413101212121000000.6666655555444441.354121.385261.326651.302171.32665-0.046-0.078-0.0190.0055-0.01901000.80987333339090923076571426923030987392563137959;SampleCountPerUnit樣本PCB板短路質(zhì)量特性單位缺陷

36、控制圖板短路質(zhì)量特性單位缺陷控制圖U Chart of C21.81.61.41.21.00.80.60.40.20.0UCL=1.327_U=0.654LCL=0135791113151719212325SampleTests performed with unequal sample sizes60;p-控制圖作成步驟控制圖作成步驟選擇質(zhì)特性選取樣本組收集據(jù)設定之控制界限在統(tǒng)計控制之內(nèi)以控制界限持續(xù)監(jiān)控61;PP62p-控制圖作成步驟p-控制圖的控制限中心線CL=p上控制界限下控制界限(UCL(LSL)=p+3)=p3p(1p)nip(1p)ni注:p=dinidi第i個控制分組的不良品數(shù)

37、目ni第i個控制分組的樣本數(shù)目p所有樣本的平均不良率;inp-控制圖作成步驟np-控制圖控制限中心線CL=n p上控制界限(UCLnp)=n p+3n p(1p)下控制界限(LSLnp)=n p3n p(1p)注:n p=dkdi第i個控制分組的不良品數(shù)目n樣本數(shù)目k樣本個數(shù)n p所有樣本的平均不良數(shù)p樣本的平均不良率63;PCB成品合格率控制圖示例成品合格率控制圖示例數(shù)據(jù)收集：按照數(shù)據(jù)收集的法則，共抽取了共數(shù)據(jù)收集：按照數(shù)據(jù)收集的法則，共抽取了共25組樣本。組樣本。PCB成 品 檢 查 不 合 格 率 數(shù) 據(jù)樣 本 序 號檢 查 數(shù) 量Xi1不 良 數(shù) 量不 良 率1234567891011

38、121314151617181920212223243202802603703003103153002902902903003003103153002902903003103153002902903.005.004.007.003.006.007.006.003.006.002.005.0010.0010.0013.0015.0015.0015.006.0010.009.0015.0010.0015.00011111221201334555232535.985909200177321022029042%2530010.003 . 3 %64;ProportionP-控制圖示例P C B成品檢查

39、控制圖0.06UCL=0.056380.050.040.030.020.010.00_P=0.02787LCL=0135791113 151719212325樣本Tests performed with unequal sample sizes65;管制界限的新初期用作計算的工序質(zhì)特性，可能會隨著環(huán)境而轉(zhuǎn)變。故想做法為對控制界限作定期檢討。定期檢討和是否重新計算的需要會視符工序和操作情況的轉(zhuǎn)變而定。在下的情況重新計算控制界限使用新的工序使用新的機器使用新的物現(xiàn)時的工序情況有改變機器操作的情況有改變66;否統(tǒng)計制程控制的推步驟訂定制程評估制程能改善能決定主要制程評核有關測試能能可接受能可接受是制

40、訂控制圖制訂OCAP否改善能是正式推OCAP - OUT OF CONTROL ACTION PLAN(受控應對計劃)67;成功推行SPC應注意的問題缺乏中層管人員的支持過于著重計算機的幫助對質(zhì)量控制圖的訊息，沒有適當?shù)姆磻爸瞥棠芘c“制程控制混淆在一起-“據(jù)都在規(guī)格內(nèi)，為何控制圖竟明受控用受控制程所得的據(jù)，設定控制界限沒有訂定OUT-OF-CONTROL-ACTION-PLAN受控應對計劃，對受控制程的出現(xiàn)沒有系統(tǒng)性的應付方法沒有實時記及處所得據(jù)68;過程能力分析過程能力應用過程能力和過程績效分析是評價過程滿足預期要求能力及其表現(xiàn)的方法；過程能力的測定也是六西格瑪改善項目中測量階段的重要工作

41、之一；過程能力也是客戶評價組織過程的重要參數(shù)。世界五百強幾乎所有的制造企業(yè)中對其供貨商都有過程能力方面的要求。69;過程能力分析確定過程能力的要素要素1：過程的輸出特性：確定要研究的質(zhì)量特性。過程能力就是過程特性滿足規(guī)定要求的能力；要素2：過程規(guī)范：顧客 （內(nèi)部或外部對過程輸出特性的要求；即要明確目標值和規(guī)范限。對制造企業(yè)來說，這點比較容易做到；但對于非制造業(yè)企業(yè)，項目團隊要設法明確過程規(guī)范和要求；要素3：抽樣方案：確定抽樣方案可以反映過程的特定狀態(tài)；要素4：過程是否屬于穩(wěn)定的正態(tài)分布：屬于正態(tài)分布的過程一般是穩(wěn)定并統(tǒng)計受控；對非正態(tài)分布，要進行坐標變換。過程能力分析就是在識別上述要素的基礎上

42、，運用統(tǒng)計工具展開的。70;過程能力調(diào)查及改進的步驟明確目的分析數(shù)據(jù)確定成員否過程是否是穩(wěn)定選擇特性查找異常確定過程能力制定計劃工序標準化改進措施過程能力不足確認主要原因過程能力過剩降低成本過程能力充足維持標準實施標準化作業(yè)確認效果起草調(diào)查報告71;過程能力分析過程能力概念過程固有波動inherent process variation）:是由普通原因引起的過程波動。這部分波動可以通過控制圖R/d2來估計；過程總波動total process variation）:是由普通和特殊原因引起的總波動，由過程的標準偏差來估計；過程能力PC:是過程固有波動的6范圍，此時,= R/d2;過程績效PP:是

43、過程總波動的6范圍，此時=s;過程能力指數(shù)Cp和Cpk:過程能力指數(shù)過程績效指數(shù)Pp和Ppk:過程績效指數(shù)Cp和和Cpk在評價過程能力時最為常用在評價過程能力時最為常用72;R過程能力計算計量型質(zhì)量特性過程能力指數(shù)Cp的計算Cp=容差過程能力=USLLSL6R=USLLSL6d273;制程能與Cp的關系工序表現(xiàn)Cp 2.00制程況能足夠勉強可生產(chǎn)足夠能超卓的能壞品ppm2700或以上2700至63.363.3至0.0020.002或以下74;=過程能力計算計量型質(zhì)量特性過程能力指數(shù)Cpk的計算Cpk=(1k)Cp或Cpkmin(USL, LSL)375;K=過程能力分析Cpk的兩個公式其實是一樣意義，不同表達形式2 MT因為Cpk=CpM3其中T6TUSLLSLM（USLLSL）/2USL+LSL26USLLSLUSL+LSL26當USL+LSL 2時當USL+LSL 2時Cpk=Cpk=LSL3USL376;=nsi過程能力