單板硬件研究性測(cè)試規(guī)范

1、單板硬件研究性測(cè)試規(guī)范7.5.17.5.1 近場(chǎng)騷擾測(cè)試測(cè)試說(shuō)明：測(cè)試單板在正常工作時(shí)，對(duì)近場(chǎng)電磁場(chǎng)源的影響應(yīng)滿足 判定標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求。在標(biāo)準(zhǔn)的 EMSEMS 或抗干擾測(cè)試時(shí)，一個(gè)干擾電壓或干擾 電流將通過(guò)輸入系統(tǒng)、導(dǎo)線等把干擾施加到系統(tǒng)中，進(jìn)而去 判斷系統(tǒng)是否被干擾或受到影響。即讓整個(gè)系統(tǒng)置于磁場(chǎng)環(huán) 境中，也只能看看系統(tǒng)是否能在這樣的環(huán)境下工作。實(shí)際上 一個(gè)系統(tǒng)被干擾，通常是由很少一些部件、部位引起的，但 在標(biāo)準(zhǔn)的 EMSEMS 測(cè)試中沒(méi)有采用故障診斷的方式對(duì)敏感部件 進(jìn)行測(cè)試，也無(wú)法確定是對(duì)電場(chǎng)還是對(duì)磁場(chǎng)敏感。而場(chǎng)干擾 敏感部位往往只是系統(tǒng)中很小范圍內(nèi)的某個(gè)部件。 通過(guò)采用 特殊的探頭 （

2、場(chǎng)源組） 施加電場(chǎng)或磁場(chǎng)，使得對(duì)薄弱點(diǎn)定位成 為可能。運(yùn)用 H H 系列場(chǎng)源組件可以高精確定位電路中的敏感點(diǎn)，而且可以了解到它們的敏感特性（是電場(chǎng)敏感還是磁場(chǎng)敏感），從而在開(kāi)發(fā)的早期階段能暴露出設(shè)計(jì)上的問(wèn)題單板上不同的布局布線、ICIC 器件以及電路的敏感度差異 導(dǎo)致了不同的干擾抗擾度。敏感區(qū)域的構(gòu)成主要由布局和布 線、幾何尺寸以及 ICIC 的類(lèi)型、廠家、工藝所決定的。一個(gè) 敏感區(qū)域往往是只對(duì)磁場(chǎng)干擾敏感或只對(duì)電場(chǎng)干擾敏感。電 場(chǎng)和磁場(chǎng)干擾是由脈沖干擾電流在設(shè)備周?chē)妮椛渌?的。干擾脈沖電流進(jìn)入電子設(shè)備的途徑主要是通過(guò)電感和電 容耦合。實(shí)際中，磁場(chǎng)和電場(chǎng)往往是同時(shí)存在并相互交迭關(guān) 聯(lián)的。

3、但針對(duì)模塊中的干擾敏感點(diǎn)通常很少并且只限制在較 小的面積范圍內(nèi)，而且只對(duì)磁場(chǎng)或者電場(chǎng)敏感，所以利用磁 場(chǎng)源探頭和電場(chǎng)源探頭進(jìn)行精確定位是可行的。探頭說(shuō)明如下:磁場(chǎng)源探頭BS02BS02:這個(gè)磁場(chǎng)源將產(chǎn)生截面直徑大 于 5 5 厘米的 B B 場(chǎng)束. .匕主要用于器件和 電路模塊的測(cè)試. .由于這個(gè)場(chǎng)源的覆蓋 面較大，所以，產(chǎn)生的脈沖磁場(chǎng)會(huì)作用 于電路內(nèi)部模塊，集成系統(tǒng)，芯片等區(qū) 域, ,對(duì)于磁場(chǎng)敏感的不安全部位將被很 快定位. .BS04BS04 DBDB:這個(gè)磁場(chǎng)源將發(fā)出截面直 徑大于3 3 毫米的 B B 場(chǎng)束. .探頭頂部形成 的小面積磁場(chǎng)束有利于對(duì) PCBPCB 板進(jìn)行 掃描這便于排查

4、布線引起的磁場(chǎng)敏感 部位同時(shí)對(duì)關(guān)鍵布線區(qū)，關(guān)鍵器件，以 及器件的連接部位等也可以定位（如果他們對(duì)磁場(chǎng)敏感）TBS05BS05 DBDB :這個(gè)磁場(chǎng)探頭將產(chǎn)生十分 精細(xì)的直徑只有 1 1 毫米的磁場(chǎng)束. .因此 便于定位“點(diǎn)”狀磁場(chǎng)敏感點(diǎn)當(dāng)用它對(duì)元件和 PCBPCB 表面進(jìn)行掃描時(shí)，由于 它的相對(duì)集中的磁場(chǎng)，很容易進(jìn)行精確 定位到某一根線，或某一個(gè)焊點(diǎn). .實(shí)際 應(yīng)用時(shí)，往往是先用 BS02,BS02,或 BS04BS04 進(jìn) 行粗略定位，而后用它進(jìn)行精確定位. .ESES 0000:它是個(gè)大面積電場(chǎng)激勵(lì)源 （面 積達(dá) 150CM150CM2）, ,大面積的電場(chǎng)敏感部件 通常在這個(gè)面積范圍以內(nèi).

5、 .如液晶屏, , 系統(tǒng)總線等而這些電場(chǎng)敏感部件對(duì)于 小范圍的電場(chǎng)通常是不敏感的. .所以在這種情況下，ES00ES00 就顯得十分必要了 .ESOO.ESOO 也經(jīng)常用于對(duì)系統(tǒng)的機(jī)箱，外 殼等的測(cè)試. .看他們是否對(duì)電場(chǎng)敏感. .電場(chǎng)源探頭ES02ES02:利用這個(gè)電場(chǎng)源探頭的尖頂部 位, ,可用于定位和尋找那些對(duì)電場(chǎng)十分 敏感的小型單元. . （如導(dǎo)電體，晶振上拉 電阻,IC,IC 芯片等）而它的表面部位，由于 截面較大, ,便于探測(cè)那些對(duì)電場(chǎng)敏感的 大面積部位和模塊如: :總線，液晶顯示器，大型 IC,IC,集成系統(tǒng)，機(jī)箱表面等 等。ESES 0505 D D :這是一個(gè)長(zhǎng)方形的電場(chǎng)探

6、頭, ,主要用來(lái)探測(cè)那些對(duì)電場(chǎng)敏感的導(dǎo) 體，連接線，PCBPCB 布線、引腳，和器件. . 尤其對(duì)于 SMDSMD 表面貼裝器件十分方 便. .如表面貼電阻，電容等. .測(cè)量時(shí)可以 直接將探頭置于元件的表面上同時(shí), ,對(duì)于那些獨(dú)立的接插件，導(dǎo)體, ,扁平電纜等都十分方便有效 . .測(cè)試方法:將探頭通過(guò)專用電纜連接到EFTEFT 發(fā)生器 UCS500UCS500 M4M4 的輸出端子，UCS500UCS500 M4M4 的菜單選擇 Burst/QuickBurst/Quick StartStart。EFTEFT 發(fā)生器的耦合項(xiàng)選擇“ ”，其他參數(shù)選擇同“ EFTEFT 快速瞬變 脈沖群抗擾性測(cè)試

7、”。被測(cè)單板放在 80cm80cm 高的木桌上，周?chē)?1m1m 范圍內(nèi)沒(méi)有其他金屬物品。輸入直接連到電源，不要經(jīng) 過(guò) UCS500UCS500 M4M4。如有輸入地線，請(qǐng)將地線同時(shí)連到 UCS500M4UCS500M4 的保護(hù)地上。如單板可以連接負(fù)載，請(qǐng)讓單板工 作在額定負(fù)載情況下。1)1) EFTEFT 發(fā)生器的輸出電壓通常設(shè)置從100V100V500V500V 開(kāi)始，然后逐級(jí)升高試驗(yàn)電壓，直到選定的試驗(yàn)等級(jí)的強(qiáng)度。對(duì)每個(gè)電壓等級(jí)重復(fù)以下步驟 2 2)1010)2)2)使用磁場(chǎng)源探頭 BS02BS02 施加干擾，探頭被測(cè)面保持平行，探頭距離單板距離從 10cm10cm 逐漸到緊貼器件表面，磁場(chǎng)有效面積直徑 5cm5cm。見(jiàn)下圖3 3）使用磁場(chǎng)源探頭 BS04DBBS04DB 施加干擾，探頭與被測(cè) PCBPCB 線路保持 60609090 度夾角，探頭緊貼芯片，可以沿 PCBPCB 表面移動(dòng)，磁場(chǎng)有效面積直徑 3mm3mm。見(jiàn)下圖：4 4）使用磁場(chǎng)源探頭 BS05DBBS05DB 施加干擾，探頭與被測(cè)器件保持80809090 度夾角，探頭緊貼芯片，可以定位在某一個(gè)ICIC 或管腿，磁場(chǎng)有效面積直徑 1mm1mm。見(jiàn)下圖：5 5） 使用電場(chǎng)源探頭 ESOOE