形位公差及其檢測(cè)方法

1、形位公差及其檢測(cè)方法一、 概念：1.1定義：形狀公差：?jiǎn)我粚?shí)際要素形狀所允許的變動(dòng)全量。位置公差：關(guān)聯(lián)實(shí)際要素的位置對(duì)基準(zhǔn)所允許的變動(dòng)全量。形位公差：形狀公差與位置公差的總稱。它控制著零件的實(shí)際要素在形狀、位置及方向上的變化。形位公差帶：用以限制實(shí)際要素形狀或位置變動(dòng)的區(qū)域。由形狀、大小、方向和位置四個(gè)要素所確定。公差原則：形位公差與尺寸公差之間的相互關(guān)系。包括獨(dú)立原則與相關(guān)要求。獨(dú)立原則：圖樣上給出的尺寸公差與形位公差各自獨(dú)立，彼此無關(guān)，分別滿足要求的公差原則。相關(guān)要求：圖樣上給定的尺寸公差和形位公差相互有關(guān)的公差要求。具體可分為包容要求（E）、最大實(shí)體要求（M）、最小實(shí)體要求（L）和可逆要

2、求（R）。1.2形位公差的項(xiàng)目及符號(hào)：1.3形位公差帶的形式：二、 形狀誤差與形狀公差：三、 位置誤差與位置公差：四、 檢測(cè)方法：1、檢測(cè)原則：2、測(cè)量方法：2.1直線度的測(cè)量：一般用首尾連線評(píng)定直線度的誤差，常用的有打表測(cè)量法與影像測(cè)量法。在校準(zhǔn)設(shè)備的直線度時(shí)常用光隙法或自準(zhǔn)直儀法。2.2平面度的測(cè)量：常用打表法或三坐標(biāo)測(cè)量法，還可用平面平晶、水平儀或自準(zhǔn)直儀測(cè)量。2.3圓度的測(cè)量：常用的兩點(diǎn)測(cè)量、影像測(cè)量與三坐標(biāo)測(cè)量法。還可用圓度儀或三點(diǎn)測(cè)量法。2.4圓柱度的測(cè)量：常用的是三坐標(biāo)測(cè)量。還可用圓度儀測(cè)量。在同軸度誤差較小時(shí)，也可用徑向全跳動(dòng)來代替檢驗(yàn)。2.5線、面輪廓度的測(cè)量：利用仿形測(cè)量裝置，將輪廓樣版與被測(cè)量輪廓比較，測(cè)其光隙大小。用三坐標(biāo)測(cè)量，通過數(shù)據(jù)處理得出。2.6定向誤差的測(cè)量：常用影像或三坐標(biāo)測(cè)量。也可使用打表測(cè)量，在測(cè)量垂直度與傾斜度時(shí)可以借助輔具轉(zhuǎn)換基準(zhǔn)面。2.7定位誤差的測(cè)量：可用影像和三坐標(biāo)測(cè)量直接測(cè)量，對(duì)稱度也可以用打表測(cè)量。位置度投影完后得出的相對(duì)于理論正確尺寸的偏差fx與fy，需再通過計(jì)算才能得出位置度誤差值。也可用綜合量規(guī)檢驗(yàn)孔組位置度。公式：圖解法：2.8跳動(dòng)量的測(cè)量：建立基準(zhǔn)，并使被測(cè)件繞基準(zhǔn)軸線作無軸向移動(dòng)的旋轉(zhuǎn)。指示表面固定位置上的變動(dòng)量反映該截面的圓跳動(dòng)值；指示表沿被測(cè)要素的理想方向移動(dòng)（連續(xù)