數(shù)字化醫(yī)用X射線攝影系統(tǒng)攝影影像質(zhì)量要求及試驗(yàn)方法

1、附件: 數(shù)字化醫(yī)用X射線攝影系統(tǒng)攝影影像質(zhì)量要求及試驗(yàn)方法一、數(shù)字化醫(yī)用X射線攝影系統(tǒng)攝影影像質(zhì)量要求1、空間分辨率產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定在標(biāo)稱有效成像區(qū)域下有衰減體模和無衰減體模情況下的空間分辨率及測量時的加載因素組合。在厚度為20mm的鋁（純度大于99.5%）衰減體模情況下空間分辨率應(yīng)不小于2.0lp/mm。2、低對比度分辨率產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定低對比度分辨率的最小值及測量時的空氣比釋動能和加載因素組合。 在規(guī)定的空氣比釋動能和加載因素組合下，低對比度分辨率的最小值，應(yīng)不大于規(guī)定的最小值。鑒于許多試驗(yàn)器件都可以有效地測量低對比度分辨率，如果使用的試驗(yàn)器件與本文規(guī)定不同，則應(yīng)將所使用試驗(yàn)器件的說明與低

2、對比度分辨率的測量結(jié)果一起記錄。3、影像均勻性產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定影像均勻性的最大值及所使用的SID和加載因素。除非制造商另有聲明，影像規(guī)定采樣點(diǎn)的灰度值標(biāo)準(zhǔn)差與規(guī)定采樣點(diǎn)的灰度值均值之比不應(yīng)大于2.2%。即： （1）式中：灰度值標(biāo)準(zhǔn)差；灰度值均值。4、有效成像區(qū)域產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定所采用的探測器的有效成像區(qū)域在x，y兩個方向上的最大尺寸，實(shí)際有效視野尺寸應(yīng)大于制造商聲稱有效視野尺寸的95%。5、殘影無可見殘影存在。6、偽影無可見偽影存在。二、數(shù)字化醫(yī)用X射線攝影系統(tǒng)攝影影像質(zhì)量試驗(yàn)方法1、空間分辨率置厚度為20mm的純鋁衰減體模于射束中心，使之覆蓋整個照射野；試驗(yàn)器件采用附錄B中的線對分辨率測試卡

3、或類似的測試卡，測試卡與防散射濾線柵呈45°，置于視野中心位置。測試卡盡可能靠近影像接收面。將DR系統(tǒng)設(shè)置到標(biāo)稱有效成像區(qū)域。在有衰減體模的情況下，用70kV,適當(dāng)?shù)膍As進(jìn)行曝光，適當(dāng)調(diào)節(jié)影像至最佳，目測觀察，確定分辨率。在未附加衰減體模狀態(tài)下，用適當(dāng)?shù)膋V和mAs進(jìn)行曝光，影像不應(yīng)飽和，適當(dāng)調(diào)節(jié)影像至最佳，目測觀察，確定分辨率。2、低對比度分辨率采用附錄A的布局，不使用衰減體膜，焦點(diǎn)至影像接收面的距離為制造商規(guī)定的正常使用值，試驗(yàn)器件采用附錄C中的低對比度分辨率測試卡，試驗(yàn)器件置于患者支撐面上，視野中心位置。置空氣比釋動能探測器于試驗(yàn)器件面向X射線源的一面。 用規(guī)定的加載因素組合

4、進(jìn)行曝光，適當(dāng)調(diào)節(jié)影像至最佳，目測觀察影像，確定等級。記錄觀察結(jié)果及空氣比釋動能。3、影像均勻性試驗(yàn)步驟如下：a) 移走濾線柵；b) 校準(zhǔn)平板；c) 設(shè)置SID和加載因素為制造商聲明的使用條件。在制造商未做聲明的情況下設(shè)置X射線管電壓為70kV， SID為設(shè)備允許的最大值,當(dāng)設(shè)備允許的最大SID值超過1.8m時設(shè)為1.8m；d) 置厚度為20mm的純鋁衰減體模于X射線束中心，使之覆蓋整個照射野；e) 按設(shè)置的SID和加載因素進(jìn)行AEC曝光，存儲圖像；f) 在影像中心及影像四周從中心至四個頂點(diǎn)約三分之二的位置上選取五個采樣點(diǎn)，在每個采樣點(diǎn)中分別讀取64×64個像素的灰度值，并計算出每個

5、采樣點(diǎn)內(nèi)像素灰度值的平均值。然后按下式計算： （2）式中：為5個采樣點(diǎn)的灰度值均值。 （3）式中：為5個采樣點(diǎn)的灰度值標(biāo)準(zhǔn)差。4、有效成像區(qū)域試驗(yàn)步驟如下：a) 移走濾線柵；b) 置測試卡于靠近影像接收面的位置，使測試卡上一個方向的刻度尺與測量方向平行。1) 曝光條件：AEC或制造商聲明的使用條件；2) 在曝光所成影像中直接讀取測試卡上兩個刻度尺上的數(shù)據(jù)X和Y；3) dx=X/X1；4) dy=Y/Y1；c) X1，Y1為制造商聲明的尺寸；d) dx和dy中的最小值應(yīng)符合要求。在無法接近影像接收面時可以采用折算的方法。5、殘影試驗(yàn)步驟如下：a) 移走濾線柵；b) 設(shè)置SID和加載因素為制造商聲

6、明的使用條件。在制造商未做聲明的情況下設(shè)置X射線管電壓為80kV，100mAs,SID為設(shè)備允許的最大值，當(dāng)設(shè)備允許的最大SID值超過1.8m時設(shè)為1.8m。置厚度為20mm的純鋁衰減體模于X射線束中心，使之覆蓋整個照射野；c) 置直徑10mm厚度2mm的鉛盤于照射野中心；d) 按設(shè)置的SID和加載因素實(shí)施第一次曝光，在制造商規(guī)定的最短曝光間隔時間內(nèi)去掉鉛盤后用70kV，AEC實(shí)施第二次曝光。未規(guī)定時按1分鐘進(jìn)行；e) 目視檢查所生成圖像中是否存在殘影。6、偽影試驗(yàn)步驟如下：a) 設(shè)置SID和加載因素為制造商聲明的使用條件。在制造商未做聲明的情況下設(shè)置X射線管電壓為70kV， SID為設(shè)備允許

7、的最大值，當(dāng)設(shè)備允許的最大SID值超過1.8m時設(shè)為1.8m。設(shè)置20mm的純鋁衰減體模于X射線束中心，使之覆蓋整個照射野；b) 按設(shè)置的SID和加載因素實(shí)施AEC曝光；c) 適當(dāng)調(diào)整窗寬窗位，通過目視檢查所生成圖像中是否存在偽影。附錄A 測試布局1X射線管2限束器3衰減體模4患者支撐5防散射濾線柵6影像接收器7試驗(yàn)器件圖 A.1測試布局附錄B線對測試卡測試卡用高低不同吸收率的材料制作,高吸收率的柵條應(yīng)是厚度為0.05mm鉛或與之等效的材料,鉛條的長寬比不低于10:1,鉛條寬度誤差不超過10%,低吸收率材料建議使用PMMA.采用空間分辨率在0.65lp/mm的試驗(yàn)組,步長不超過20%。柵條寬度

8、H按下式計算: H=1/2lp（1）式中： lp 每毫米線對數(shù)。線對數(shù)組的選擇推薦使用表B.1所列的分組方法。如果采用其他的分組方法，則應(yīng)注意判定數(shù)組的標(biāo)稱值與相臨更高一組的標(biāo)稱值差不宜超過判定數(shù)組標(biāo)稱值的15%。類似的判定數(shù)組的標(biāo)稱值與相臨更低一組的標(biāo)稱值差不宜超過更低一組標(biāo)稱值的15%。表 B.1線對測試卡推薦分組方法序號分辨率/（lp/mm）序號分辨率/（lp/mm）10.6112.220.7122.530.8132.840.9143.151.0153.461.2163.771.4174.081.6184.391.8194.6102.0205.0附錄C低對比度測試卡測試卡由20mm厚的鋁板制成。20mm厚鋁板上均布孔徑1cm的孔?？椎纳疃燃皩?yīng)的對比度見附表C.1。表 C.1低對比度測試卡序號對比度孔深序號對比度孔深10.163.2 mm110.0220.44 mm20.1452.9 mm120.0180.36 mm30.1252.5 mm130.0160.32 mm40.1072.14 mm140.0130.26 mm50.0881.76 mm150.0110.22 mm60.0741.48 mm160.00950.19 mm70.0681.36 mm170.00750.15 mm80.0531.06 mm180.00