UT專業(yè)知識(shí)習(xí)題要點(diǎn)

1、超聲波檢測習(xí)題一：是非題1.1由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。（）1.2傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。（）1.3 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。（）1.4由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K 1.5的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。（）1.5超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。（）1.6頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長（）1.7波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播（）1.8聲壓差2倍，則兩信號(hào)的分貝差為6dB （分貝）（）1.9材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大（）1.10

2、平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和（）1.11超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)（）1.12界面上入射聲束的折射角等于反射角（）1.13當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波型轉(zhuǎn)換（）1.14在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣（）1.15超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低（）1.16當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加（）1.17超聲波傾斜入射到介質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角（）1.18第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角（）1.19如果有機(jī)玻璃

3、/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨 界角也一定大于后者（）1.20以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃 /水界面為凹曲面（）1.21超聲波檢測中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用（）2.1超聲波頻率越高，近場區(qū)的長度也就越大（）2.2對(duì)同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場長度比在水中的近場長度大（）2.3近場區(qū)由于波的干涉檢測定位和定量都不準(zhǔn)（）2.4探頭頻率越咼，聲束擴(kuò)散角越?。ǎ?.5超聲波檢測的實(shí)際聲場中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)（）2.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)（）2.7因?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓為零的點(diǎn)，所以檢測時(shí)近場區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢（

4、）2.8如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲場的近場長度越短（）2.9實(shí)際聲場與理想聲場在遠(yuǎn)場區(qū)軸線上聲壓分布基本一致（）2.10與圓盤源不同，矩形波源的縱波聲場有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角（）2.11 200mm處4長橫孔的回波聲壓比100mn處2長橫孔的回波聲壓低（）2.12軸類工件外圓徑向檢測時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同（）3.1超聲波檢測中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)（）3.2與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高（）3.3雙晶探頭只能用于縱波檢測（）3.4通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭（）3.5檢測儀中的發(fā)射

5、電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)（）3.6探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因子9 m減少機(jī)械能損耗（）3.7工件表面比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜（）3.8斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失（）3.9雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)。覆蓋區(qū)愈大（）3.10斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的 K值將變大（ ）3.11利用IIW試塊上50mn孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍（）3.12中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)（）3.13溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高時(shí)，折射角

6、將變大（）3.14通用數(shù)字超聲波探傷儀與模擬探傷儀器一樣也屬于A型脈沖反射式探傷儀（）3.15數(shù)字超聲波探傷儀在檢測焊縫缺陷時(shí)自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)，無需人為測量（）3.16數(shù)字超聲波探傷儀可以手動(dòng)或者自動(dòng)校準(zhǔn)探頭零偏值（）4.1多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法（）4.2 “靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波檢測靈敏度越高越好（）4.3當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸（）4.4半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸（）4.5曲面工件檢測時(shí)，檢測面曲率半徑愈大，耦合效果愈好4.6采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸（）4.7只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)

7、，才能采用測長法確定缺陷長度（ ）4.8當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化（）5.1鋼板檢測時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷（）5.2厚鋼板檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大。（）5.3較薄鋼板采用底波多次法檢測時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大（）5.4復(fù)合鋼板檢測時(shí)，可從母材一側(cè)檢測，也可從復(fù)合材料一側(cè)檢測（）5.5直探頭置于非重皮側(cè)的鋼板表面檢測，容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷（）5.6小徑管水浸聚焦法檢測時(shí)，應(yīng)使探頭的焦點(diǎn)落在與聲束軸線垂直的管心線上（）5.7鋼管作手工接觸法周向檢測時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各檢測一次（）6.1

8、對(duì)軸類鍛件檢測，一般來說以縱波直探頭從徑向探測效果最佳（）6.2使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測時(shí)，探頭應(yīng)用正反兩個(gè)方向掃查（）6.3對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測是最佳的檢測方法（）6.4鍛件檢測中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷（）6.5鍛件檢測時(shí)，如缺陷被檢測人員判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)（）6.6直探頭在圓柱形軸類鍛件外園檢測時(shí)發(fā)現(xiàn)的游動(dòng)回波都是裂紋回波（） 6.7用鍛件大平底調(diào)靈敏度時(shí)，如底面有污物將會(huì)使底波下降，這樣調(diào)節(jié)的靈敏度將偏低，缺陷定量將會(huì)偏小6.8鑄鋼件超聲波檢測，一般以縱波直探頭為主（）7.1焊縫橫波檢測中，裂紋等危害性缺陷

9、的反射波幅一般很高（）7.2當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收（）7.3焊縫橫波檢測在滿足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡量選用大K值的探頭（）7.4斜探頭環(huán)繞掃查時(shí)，回波高度幾乎不變，則可判斷為點(diǎn)狀缺陷（）7.5由于管座角焊縫中危害最大的缺陷是未熔合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭 探測為主（ ）7.6裂縫檢測中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失（）二選擇題）能量逐層向前傳播D.遇到很小的缺陷會(huì)產(chǎn)生繞射。1.1超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)，下面哪句話是錯(cuò)誤的（A. 介質(zhì)由近及遠(yuǎn)，一層一層地振動(dòng)。B.C.遇到障礙物的尺寸只要大于聲束寬度就會(huì)全部反射。1

10、.2超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為（）A.高于 20000HzB.110MHz。 C.高于 200HzD.0.2515MHz 。1.3在金屬材料的超聲波檢測中，使用最多的頻率范圍是（A. 1025 MHz 。B.11000KHz。 C.15MHz。)D. 大于 20000MHz1.4機(jī)械波的波速取決于（A. 機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B.機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C.機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率1.5在同種固體材料中，縱波聲速A.Cr Cs CL。B.Cs CL Cr。1.6超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（D. 彈性介質(zhì)的特性。CL,橫波聲速Cs,表面波Cr之間的關(guān)系是（）C.CL C

11、s Cr。D.以上都不對(duì)）A.，反射。B.折射。C.1.7在流體中可傳播（)A.，縱波。B.橫波。C.1.8超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于波型轉(zhuǎn)換。D.以上都是。縱波、橫波及表面波。D.切變波）A. 頻率。B.傳聲介質(zhì)的幾何尺寸。C.傳聲材料的彈性模量和密度。D.以上都不全面，須視具體情況而定A.c=入 f。B.f=入c。C. 入=cf。D.c=入f2。1.10般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（A.半個(gè)波長。B. 一個(gè)波長。C. 兩個(gè)波長。D.三個(gè)波長。1.11脈沖反射法超聲波檢測主要利用超聲波傳播過程中的（A.散射特性。B.反射特性。C.透射特性。D.擴(kuò)散特性。1.12材料的聲速和密

12、度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波1.9超聲波聲速c、波長入與頻率f之間的關(guān)系為（）第21頁共17頁A.C.在傳播時(shí)的散射。D.擴(kuò)散角大小。在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減。B.從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射。1.13A.與界面兩邊材料的聲速有關(guān)。B.與界面兩邊材料的密度有關(guān)。C.與界面兩邊材料的聲阻抗有關(guān)。D.與入射聲波型有關(guān)。垂直入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓（1.14A.只繞射，無反射。B.既反射，又繞射。C.只反射，無繞射。D.以上都有可能。超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（1.15A.T=r 2。B.T=1 r 2。C.T=1+r。D.T=1在同

13、一界面上，聲強(qiáng)透射率 T與聲壓反射率r質(zhì)檢的關(guān)系是（1.16傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（）？A.反射波波型。B.入射角度。 C.界面兩側(cè)的聲抗阻。D.以上都是。1.17 一般的說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（）A.表面波。 B. 縱波。 C. 橫波。 D.三種波型的穿透力相同。1.18當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15射向鋼界面時(shí),可能存在（）A.反射縱波。B.反射橫波。C.折射縱波和折射橫波。D.以上都有。1.19要在工件中得到純橫波，探頭入射角 a必須（）A.大于第二臨界角。B.大于第一臨界角。C.在第一、第二臨界角之間。D. 小

14、于第二臨界角。1.20 一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能（ ）A.在工件中得到純橫波。B.得到良好的聲束指向性。C.實(shí)現(xiàn)聲速聚焦。D.減少近場區(qū)的影響。1.21超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是（）A.介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收。B.介質(zhì)對(duì)超聲波的散射。C.聲束擴(kuò)散。D.以上全部。1.22斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時(shí)，其橫波（）A.在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生。B.從晶片上直接產(chǎn)生。C.在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生。D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.23由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于()A.擴(kuò)散衰減。B.散射衰減。C.吸收衰減。D.以上都是

15、。1.24與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是（)A.擴(kuò)散衰減。B.散射衰減。C.吸收衰減。D.以上都是。1.25下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的（）A. 橫波衰減比縱波嚴(yán)重。B. 固體材料的衰減系數(shù)一般隨溫度上升而增大。C. 當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對(duì)檢測有顯著影響。D. 提高增益可完全克服衰減對(duì)檢測的影響。2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)，并且隨（）A.頻率增加，晶片直徑減小而減小。B.頻率或晶片直徑減小而增大。C.頻率或晶片直徑減小而減小。D.頻率增加，晶片直徑減小而增大。2.2直徑14mm,2.5MHzS探頭在鋼中近場區(qū)為（）A.27mm B.21mm 。C.38mm

16、 。 D.以上都不對(duì)。2.3利用球面波聲壓公式（P=P5 D2/4入s）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是 （）A.S2N近似正確。B.S3N基本正確。C.S6N正確。D.以上都對(duì)。2.4在超聲探頭遠(yuǎn)場區(qū)中（）A. 聲束邊緣聲壓較大。B.聲束中心聲壓最大。C.聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣。D.聲壓與聲束寬度成正比2.5活塞波聲場，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（）A.近場長度。B. 未擴(kuò)散區(qū)。C. 主聲束。D.超聲場。2.6遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為（）A.平面波。B.柱面波。C.球面波。D.以上都不對(duì)。2.7在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差（)A.

17、12dB。 B.9dB 。C.6dB 。 D.3dB 。2.8同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍，則回波減弱（）A.6dB。B.12dB。C.3dB。D.9dB。2.9在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱（）A.6dB。B.12dB。C.3dB。D.9dB。2.10對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（）A.增大6dBoB. 減少6dB。C.增大3dB。D. 減小3dB。2.11比3mn平底孔回波聲壓小7db的同聲程平底孔直徑是（）A. 1mm B. 2mm C. 4mm D. 0.5mm3.1 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（）A.缺陷的性質(zhì)和大小

18、。B.缺陷的形狀和取向。C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間。D.以上都是。3.2 A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指（）A.近場區(qū)。B.聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域。C.始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間。D.以上均是。3.3 A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示（）A.超聲回波的幅度大小。B.缺陷的位置。C.被探材料的厚度。D.超聲傳播時(shí)間。3.4 A型掃描顯示中，水平時(shí)基線代表（）A.超聲回波的幅度大小。B.探頭移動(dòng)距離。C.聲波傳播時(shí)間。D.缺陷尺寸大小。3.5探頭上標(biāo)的2.5MHz是指（）A.重復(fù)頻率。B.工作頻率。C.觸發(fā)脈沖頻率。D.以上都不對(duì)。3.6儀器的垂直線性好壞會(huì)影響（）A.缺陷的當(dāng)量比較。B

19、.AVG曲線面板的使用。C.缺陷的定位。D.以上都對(duì)。3.7表示檢測儀與探頭組合性能的指標(biāo)有（）A.水平線性、垂直線性、衰減器精度。B.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度。3.8線聚焦探頭聲透鏡的形狀為（）A.球面。 B. 平面。 C. 柱面。3.9超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度（）A.取決于探頭、高脈沖發(fā)生器和放大器。C.取決于換能器機(jī)械阻尼。D.3.10晶片共振波長是晶片厚度的（）A.2 倍。 B.1/ 2 倍。 C.1 倍。3.11雙晶直探頭的最主要用途是（）A.探測近表面缺陷。B.精確測定缺陷長度。3.12下面關(guān)于橫波斜探頭的說法哪一句是錯(cuò)誤的A.橫波斜探頭是由直探頭加

20、透聲斜楔組成。D.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率。D. 以上都可以。B. 取決于同步脈沖發(fā)生器。隨分辨力提高而提高。D.4 倍。C. 精確測定缺陷高度。D.用于表面缺陷檢測。（ ）B. 斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波。C. 超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工作中的橫波聲速。D. 橫波是在斜楔與工件的交界面上產(chǎn)生。3.13接觸式聚焦方式按聚焦方式不同可分為（）A.透鏡式聚焦。B.反射式聚焦。C.曲面晶片式聚焦。D.以上都對(duì)。3.14以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（）A.探測范圍大。B.盲區(qū)小。 C.工件中近場長度小。D.雜波少。3.15對(duì)超聲檢測試塊的基本要求是（）A.其聲速與被探工件聲速基本一

21、致。B.材料中沒有超過2mn平底孔當(dāng)量的缺陷C.材料衰減不太大且均勻。D. 以上都是。A.可以記錄探傷數(shù)據(jù)B.檢測速度快、效率高3.16以下不是數(shù)字超聲波探傷儀器的特點(diǎn)的是（）C.要隨時(shí)攜帶試塊用于校對(duì)儀器。D.能與電腦連接，便于探傷數(shù)據(jù)的管理。3.17數(shù)字超聲波探傷儀在 CSK-IA、CSK-IIIA試塊上做DAC曲線不需要（）A.測零點(diǎn)。B.調(diào)掃描比例。 C.測折射角度。D.制作距離波幅曲線。3.18以下表述錯(cuò)誤的是（）A. 數(shù)字式超聲波探傷儀的一個(gè)重要功能就是能夠?qū)⑻絺麉?shù)，探傷波形記錄下來，存儲(chǔ) 在文件中，或傳輸給計(jì)算機(jī)，建立有關(guān)數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)無損檢測工件的信息化管理B. 數(shù)字式超聲波探

22、傷儀具有計(jì)算能力，能夠根據(jù)被檢測工件的尺寸、形狀和探傷方法自動(dòng)生成探傷儀參數(shù)C. 數(shù)字式超聲波探傷儀只能顯示出超聲回波信號(hào)的電子掃描波形。D. 工作用數(shù)字式超聲波探傷儀時(shí)，能由計(jì)算機(jī)完成探傷記錄，長期存儲(chǔ)在機(jī)內(nèi)或打印出來，傳輸給外部計(jì)算機(jī)。4.1超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）A.曲面檢測時(shí)可減少耦合損失。B.可減少材質(zhì)衰減損失。C.輻射聲能大且能量集中。D.以上全部。4.2檢測時(shí)米用較咼的探測頻率，可有利于（）A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷。B.區(qū)分開相鄰的缺陷。C.改善聲束指向性。D.以上全部。4.3工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（）A.平面效果最好。B.凹曲

23、面效果居中。C.凸曲面效果最差。D.以上全部。4.4缺陷反射聲能的大小，取決于（）A.缺陷的尺寸。B.缺陷的類型。C.缺陷的形狀和取向。 D.以上全部。4.5聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是（）A.反射波高隨粗糙度的增大而增加。B.無影響。C.反射波高隨粗糙度的增大而下降。D.以上A和C都可能。4.6探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時(shí)，如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（）A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示。B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長。C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小。D.以上都正確。4.7采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷

24、定量時(shí)，下面哪種說法正確（）A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同。B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸。C.適用于對(duì)尺寸較小的缺陷定量。D.適于對(duì)密集性缺陷的定量。4.8在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是（）A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?。B.橫波檢測雜波少。C.橫波波長短。D.橫波指向性好。4.9采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力（）A.1.25MHZ。B.2.5 MHz。C.5 MHz。D.10 MHz 。4.10端點(diǎn)衍射波主要用于測定（）A.缺陷的長度。B.缺陷的性質(zhì)。C.缺陷的位置。D.缺陷的高度。4.11從A型顯示熒光屏上不能直接

25、獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲檢測對(duì)缺陷的定性是通過下列方法來進(jìn)行（）A.精確對(duì)缺陷定位。B.精確測定缺陷形狀。C.測定缺陷的動(dòng)態(tài)波形。D.以上方法需同時(shí)使用。4.12單斜探頭檢測時(shí)，在近場區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可 能是（）A.來自工件表面的雜波。B. 來自探頭的噪聲。C.工件上近表面缺陷的回波。D.耦合劑噪聲。4.13在筒身外壁作曲面周向檢測時(shí)（r R為簡體的內(nèi)、外半徑），斜探頭（B為折射角）的 臨界角應(yīng)滿足4.14為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭檢測應(yīng)選用（）A.小K值探頭。B.大K值探頭。C.軟保護(hù)膜探頭。D.高頻探頭。4.15用斜探頭檢測

26、厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是（）A.提高探頭聲束指向性。B.校準(zhǔn)儀器掃描線性。C.提高探頭前沿長度和K值測定精度。D.以上都對(duì)。4.16當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸（）A. 一定大。 B.不一定大。C. 一定不大。D.等于當(dāng)量尺寸。4.17當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越（）A.大。 B. 小。C.無影響。D.不一定。4.18直探頭縱波檢測時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生（）A.底面回波降低或消失。B.底面回波正常。C.底面回波變寬。D.底面回波變窄。4.19厚度均為400mm但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度分別進(jìn)行探測，現(xiàn)兩

27、個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，貝（）A.兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同。B.材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小。C.材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小。D.以上都不對(duì)。4.20在脈沖反射法檢測中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（）A.缺陷回波。B.底波或參考回波的減弱或消失。C.接收探頭接收到的能量的減弱。D.AB都對(duì)。4.21在直接接觸法直探頭檢測時(shí)，底波消失的原因是（）A.耦合不良。B.存在與聲束不垂直的平面缺陷。C.存在與是脈沖不能分開的近表面缺陷。D.以上都是。4.22被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起（）A.草狀回波增多。B.信噪比下降。C.底波次數(shù)減少。D.以上全部4.23下面哪種參考反射體與入射聲束

28、角度無關(guān)（）A.平底孔。B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽。C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔。D.平行于探測而且垂直于聲束的 V型缺口。4.24在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測定，這是因?yàn)椋ǎ〢. 只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值。B. 只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值。C. 只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值。D. 人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)。4.25考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵ǎ〢.被檢工件厚度太大。B.工件底面與探測面不平行。C.耦合劑有較大聲能損耗。D.工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度

29、有差異。4.26探測距離均為100mm勺底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時(shí)，下列哪種底面回波最咼（）A.與探測面平行的大平底面。B.R200的凹圓柱底面。C.R200的凹球底面。D.R200的凸圓柱底面。4.27缺陷反射聲壓的大小取決于（）A.缺陷反射面大小。B.缺陷性質(zhì)。C.缺陷取向。D.以上全部。5.1鋼板缺陷的主要分布方向是（）A.平行于或基本平行于鋼板表面。B.垂直于鋼板表面。C.分布方向無傾向性。D.以上都有可能。5.2鋼板厚30mm用水浸法檢測，當(dāng)水深厚度為15mm寸，則第三次底面回波顯示于（）A.二次界面回波之前。B.二次界面回波之后。C. 一次界面回波之前。D.不一定。5

30、.3下面有關(guān)“疊加效應(yīng)”的敘述中，哪點(diǎn)是正確的（）？A.疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的現(xiàn)象。B.疊加效應(yīng)是幻象波的一種。C.疊加效應(yīng)是鋼板底波多次反射時(shí)可看到的現(xiàn)象。D.疊加效應(yīng)是檢測頻率過高而引起的。 5.4帶極堆焊層工件中的缺陷有（）A.堆焊金屬中的缺陷。B.堆焊層與母材間的脫層。C.堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋。D.以上三種都有。5.5鋼管原材料超探試塊中的參考反射體是（）A.橫孔。B.平底孔。C.槽。 D. 豎孔。5.6管材自動(dòng)檢測設(shè)備中，探頭與管材相對(duì)運(yùn)動(dòng)的形式是（A.探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn)。B.探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)。C.管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng)。D.以上均可。6.1軸類鍛件最主要探測

31、方向是（）A.軸向直探頭檢測。B.徑向直探頭檢測。C.斜探頭外圓面軸向檢測。D.斜探頭外圓面周向檢測。6.2鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能是（）A.與主軸線平行。B.與鍛造方向一致。C.與鍛件金屬流線一致。D.與鍛件金屬流線垂直。6.3鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是（）A.沒有特定的方式。B.采用底波方式。C.采用試塊方式。D.采用底波方式和試塊方式。6.4以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以（）A.不考慮探測面的耦合差補(bǔ)償。B.不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償。C.不必使用校正試塊。D.以上都是。6.5大型鑄件應(yīng)用超聲波檢測檢查的主要困難是（）A.組織不均勻。B.晶粒非常粗。C.表面非常粗糙。D.以上都對(duì)。

32、6.6以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）A.白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物。B.白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位。C. 白點(diǎn)的回波清晰，尖銳、往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)。D. 旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格。6.7在鍛件檢測中當(dāng)使用底面兩次回波計(jì)算衰減系數(shù)時(shí)底面回波聲程應(yīng)（）A.大于非擴(kuò)散區(qū)。B.大于近場區(qū)。C.大于三倍近場區(qū)。D.以上全部。6.8鍛件檢測時(shí)，如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量，對(duì)于表面粗糙的缺陷，缺陷實(shí)際尺寸會(huì)（）A.大于當(dāng)量尺寸。B.等于當(dāng)量尺寸。C.小于當(dāng)量尺寸。D.以上都有可能。7.1通常要求焊縫檢測在焊后24小時(shí)進(jìn)行是因?yàn)椋ǎ〢.讓工件充分冷卻。B.焊縫材料組織穩(wěn)定。C.冷裂縫

33、有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)。D.以上都對(duì)。7.2探測出焊縫中與表面成不同角度的缺陷，應(yīng)采取的方法是（）A.提高探測頻率。B.用多種角度探頭探測。C.修磨檢測面。D.以上都可以。7.3對(duì)上下底面寬度分別為a和b的雙面焊焊縫，Io為探頭前沿長度，T為工件厚度，探頭K值選擇正確的是（）7.4對(duì)有余高的焊縫作斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時(shí)，應(yīng)（）A.保持靈敏度不變。B.適當(dāng)提高靈敏度。C.增加大K值探頭探測。D.以上B和C。7.5在厚焊縫單探頭檢測中，垂直焊縫表面的表面光滑的裂紋可能（A.用45斜探頭探出。B.用直探頭探出。C.用任何探頭探出。D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢。7.6用直探頭探測焊縫兩側(cè)母材的目的是（）

34、A.探測熱影響區(qū)裂縫。B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層。C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，以保證焊縫質(zhì)量。D.以上都對(duì)。三問答題1.1何謂繞射（衍射）？繞射現(xiàn)象的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？1.2什么叫波型轉(zhuǎn)換？波型轉(zhuǎn)換與哪些因素有關(guān)？2.1什么是缺陷的當(dāng)量尺寸？在超聲波檢測中為什么要引進(jìn)當(dāng)量的概念？3.1超聲波斜探頭的技術(shù)指標(biāo)有哪些？3.2聚焦探頭的焦點(diǎn)有什么特點(diǎn)？聚焦探頭哪些優(yōu)點(diǎn)和不足？3.3試塊應(yīng)滿足哪些基本要求？使用試塊時(shí)應(yīng)注意些什么？4.1什么叫檢測靈敏度？常用的調(diào)節(jié)檢測靈敏度的方法有幾種？4.2何謂缺陷定量？簡述缺陷定量方法有幾種？4.3什么是缺陷的指示長度？測定缺陷指示長度的方法有哪些？

35、5.1簡要說明鋼板檢測中，引起底波消失的幾種可能情況？5.2在鋼板超聲波檢測中，常采用什么方法來調(diào)節(jié)檢測靈敏度？5.3試說明小徑管縱向、橫向缺陷的一般檢測方法。6.1在鍛件超聲波檢測中，調(diào)節(jié)靈敏度的常用方法有哪幾種？各適用于什么情況?6.2鑄件超聲波檢測的困難是什么？7.1橫波檢測焊縫時(shí)，選擇探頭 K值應(yīng)依據(jù)哪些原則？7.2焊縫檢測中，常見的偽缺陷波有哪幾種？7.3焊縫檢測中，如何選擇探頭的頻率？是非題1.1O1.2O1.3X1.4O1.5O1.6X1.7X1.8X1.9X1.10X1.11X1.12X1.13O1.14O1.15 X1.16O1.17 X1.18X1.19X1.20O1.21

36、X2.1O2.2X2.3O2.4O 2.5 O 2.6O 2.7X 2.8X2.9O2.10O2.11O2.12O3.1 X3.2O3.3X 3.4O3.5O3.6X 3.7X3.83.9 X3.10X3.11O 3.12 O3.13O3.14O 3.15X3.164.1 O4.2X4.3X 4.4X4.5O4.6O 4.7X4.85.1 X5.2O5.3X 5.4O5.5X5.6O 5.7O6.1 O6.2O6.3X 6.4O6.5X6.6X 6.7X6.87.1 O7.2O7.3O 7.4O7.5O7.6X單選題1.1C1.2A1.3C1.4D1.5C1.6D1.7A1.8C1.9A1.1

37、0C1.11B1.12B1.13C1.14B1.15B1.16D“1.17B1.18D1.19C1.20A1.21D1.22D1.23B1.24A1.25D2.1B2.2B2.3D2.4B2.5A2.6C2.7C2.8B2.9A2.10B2.11B3.1C3.2C3.3A3.4C3.5B3.6A3.7B3.8C3.9A3.10A3.11A3.12C3.13D3.14A 3.15D3.16C3.17B3.18C4.1C4.2D4.3A4.4D4.5C4.6A4.7B4.8C4.9A4.10D4.11D4.12B4.13A 4.14B 4.15D4.16A 4.17B4.18A4.19B4.20D

38、4.21D4.22D4.23C 4.24D4.25D -4.26C4.27D5.1A5.2B5.3C5.4D5.5C5.6D6.1B6.2C6.3D6.4D6.5D6.6A6.7C6.8A7.1C7.2B7.3B7.4B7.5D7.6BXOOO1.1答：波在傳播過程中遇到與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，能繞過障礙物的邊緣改變方向繼續(xù)前 進(jìn)的現(xiàn)象，稱為波的繞射（衍射）。衍射的產(chǎn)生與障礙物的尺寸 D和波長入的相對(duì)大小有關(guān)：Dvv入時(shí)，幾乎只繞射，無反射。D入時(shí)，幾乎只反射，無繞射。D與入相當(dāng)時(shí)，既反射，又繞射。1.2答：超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，除產(chǎn)生與入射波同類型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn) 生與入射波不同

39、類型的反射或折射波，這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換。波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場合，與界面兩側(cè)介質(zhì)的特性（狀態(tài)、聲束等）以及波的 入射角有關(guān)。2.1答：A型反射法是根據(jù)缺陷反射回波聲壓的高低來評(píng)價(jià)缺陷的大小。然而工件中的缺陷形狀性質(zhì)各不相同，目前的檢測技術(shù)還難以確定缺陷的真實(shí)大小和形狀?；夭晧合嗤娜毕?的實(shí)際大小可能相差很大，為此引用當(dāng)量法。當(dāng)量法是指在同樣的探測條件下，當(dāng)自然缺陷的實(shí)際回波與某人工規(guī)則反射體回波等高 時(shí)，則該人工規(guī)則反射體的尺寸就是此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。自然缺陷的實(shí)際尺寸往往大于 當(dāng)量尺寸。3.1答：除了頻率、晶片材料、晶片尺寸等影響聲場性能的指標(biāo)外，超聲波斜探頭還有以下 技術(shù)指標(biāo)

40、：1、斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度：是指其主聲束軸線與探測面的交點(diǎn)，入射點(diǎn)至探頭前沿的距離稱探頭前沿長度，測定入射點(diǎn)和前沿長度是為了便于對(duì)缺陷定位和測定探頭的K值。2、斜探頭K值和折射角B s：斜探頭K值是指被探工件中橫波折射角B s的正切值，K=tg B So3、探頭主聲束偏離：是指探頭實(shí)際主聲束與其理論幾何中心軸線的偏離程度，常用偏離 角來表示。3.2答：聚焦探頭的焦點(diǎn)不是一個(gè)點(diǎn)，而是一個(gè)聚焦區(qū)，該聚焦區(qū)呈柱形，稱為焦柱，焦柱 直徑d及長度L與波長入、焦距F、波源半徑R有關(guān)。聚焦探頭在以下應(yīng)用中體現(xiàn)出其優(yōu)越性：1、聚焦探頭聲束細(xì)，產(chǎn)生散亂反射的幾率小，用于鑄鋼件及奧氏體鋼晶粒粗大、衰減嚴(yán) 重的

41、材料檢測，可降低草狀回波，提高信噪比的靈敏度，有利于缺陷的檢出。2、使用聚焦探頭有利于提高定量精度。聚焦探頭的不足：最大缺點(diǎn)是聲束細(xì)，每次掃查范圍小，探測效率低。另外，探頭通用性差，每只探頭僅 使用于探測某一深度范圍的缺陷。3.3答：試塊材質(zhì)要均勻，內(nèi)部雜質(zhì)少，無影響使用的缺陷。加工容易，不易變形和銹蝕， 具有良好的聲學(xué)性能。試塊的平行度、垂直度、光潔度和尺寸精度都要符合一定的要求。使用試塊時(shí)要注意：1、試塊要在適當(dāng)部位編號(hào)，以防混淆。2、試塊在使用和搬運(yùn)過程中應(yīng)注意保護(hù)，防止碰傷或擦傷。3、使用試塊時(shí)應(yīng)注意清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕。4、注意防止試塊銹蝕，使用后停放時(shí)間較長，要涂敷防銹劑。5、

42、注意防止試塊變形，平板試塊盡可能立放，防止重壓。4.1答：檢測靈敏度是指在確定的探測范圍的最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時(shí)也 稱為起始靈敏度或評(píng)定靈敏度。通常以標(biāo)準(zhǔn)反射體的當(dāng)量尺寸表示。實(shí)際檢測中，常常將靈 敏度適當(dāng)提高，后者則稱為搜索靈敏度或掃查靈敏度。調(diào)節(jié)檢測靈敏度常用的方法有試塊調(diào) 節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標(biāo)準(zhǔn)反射體調(diào)節(jié)和以試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào) 節(jié)法包括計(jì)算法、A.V.G曲線法、底面回波高度法等多種方式。4.2答：超聲波檢測中，確定工件中缺陷的大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長度。缺陷的定量方法很多，常用的有當(dāng)量法、底波高度法

43、和測長法。4.3答：按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)，根據(jù)探頭移動(dòng)距離測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。測 定缺陷指示長度的方法分為相對(duì)靈敏度法、絕對(duì)靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。相對(duì)靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對(duì)基準(zhǔn)，沿缺陷長度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅 降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測定缺陷長度的方法。絕對(duì)靈敏度法：是沿缺陷長度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測長靈敏度的探頭 位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。端點(diǎn)峰值法：是缺陷反射波峰起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，以缺陷兩端反射波極大值處的 探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。5.1答：1、表面氧化皮與鋼板結(jié)合不好。2 、近表面有大面積缺陷。3 、鋼板中有吸收性缺陷（如疏松或密集小夾層）。4 、鋼板中有傾斜的大缺陷。5.2答：在鋼板超聲波檢測中，檢測靈敏度調(diào)節(jié)有以下幾種：1、階梯試塊法，板厚不大于20mm寸，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整 到滿刻度的50%再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。2、平底孔試塊法，板厚大于 20mm寸，應(yīng)將CBU試塊 5平底孔第一次反射波高調(diào)整到 滿刻度的5