涂層測厚儀使用說明書

1、涂 層 測 厚 儀使 用 說 明 書目 錄目 錄11概述22儀器的使用103儀器的校準(zhǔn)294影響測量精度的因素415保養(yǎng)與維修47附 表48用 戶 須 知501 概述本儀器是磁性、渦流一體的便攜式涂層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是材料保護專業(yè)必備的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 49561985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法GB/T 49571985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法JB/T 83931996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

2、JJG 88995 磁阻法測厚儀JJG 81893 電渦流式測厚儀儀器特點：l 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；l 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；l 具有兩種工作方式：直接方式(DRT)和批組方式(GRP)；l 具有三種測量模式：高精度測量模式可對多次測量取平均，并對可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，可確保測量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定；快速測量模式可實現(xiàn)實時掃描功能；待機模式可有效降低儀器功耗，延長工作時間；l 具有溫度補償功能：國內(nèi)領(lǐng)先的實時溫度補償技術(shù)可自動對環(huán)境溫度及測頭溫度

3、改變引起的測量誤差進行補償，使測量更準(zhǔn)確；l 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；l 可采用零點校準(zhǔn)、單點校準(zhǔn)或兩點校準(zhǔn)法對儀器進行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；l 具有存儲功能：最多可存儲500個測量值；l 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；l 可設(shè)置限界：對限界外的測量值自動報警； l 具有電源電量指示功能；l 操作過程有蜂鳴聲提示；l 設(shè)有三種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式、超時自動關(guān)機方式以及低電量自動關(guān)機方式，并可設(shè)置超

4、時自動關(guān)機等待時間，自動關(guān)機時伴有背光閃爍及蜂鳴提示；1.1 測量原理本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。a) 磁性法(F型測頭)圖 1 磁性法基本工作原理當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。圖 2 渦流法基本工作原理b) 渦流法(N型測頭)利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸

5、時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。1.2 儀器簡介開關(guān)/背光藍(lán)牙/語音存儲鍵菜單鍵校準(zhǔn)鍵確認(rèn)鍵向上移動鍵向下移動鍵圖 3 儀器外觀示意圖文件 自動 直接 菜單 100 um F2 C P5123467810111291.文件指示2.測頭工作模式3.工作方式指示4.菜單指示5.測量值顯示6.耦合狀態(tài)指示7.電池信息指示8.報警指示9.測頭類型指示10.兩點校準(zhǔn)指示11.溫度補償指示12.測量模式指示圖 4 液晶顯示示意圖1.3 技術(shù)參數(shù)1.3.1 測量范圍及測量誤差（見Error! Reference source not foun

6、d.）1.3.2 使用環(huán)境l 溫度：040l 濕度：20%RH90%RHl 無強磁場環(huán)境1.3.3 電源l 三節(jié)7號堿性電池（1.5V）1.3.4 外型尺寸和重量l 外形尺寸：155mm×68mm×27mml 重量：約230g2 儀器的使用使用本儀器前，請務(wù)必仔細(xì)閱讀第3章(儀器的校準(zhǔn))和第4章(影響測量精度的因素)。2.1 測頭的安裝與拆卸2.1.1 測頭的安裝儀器使用前，應(yīng)將測頭正確插入儀器上方的測頭插槽內(nèi)。安裝測頭時，用左手拿起儀器，右手捏住測頭接口下部的橡膠保護套，將測頭接口輕輕接觸儀器上方的測頭插槽，當(dāng)測頭紅點與插槽紅點一致時，測頭接口陷入測頭插槽中后用力擠壓測頭

7、接口下部的橡膠保護套，當(dāng)出現(xiàn)“咔嗒”提示音后表示測頭接口完全卡入測頭插槽內(nèi)。注意：擠壓測頭接口下部的橡膠保護套時，如果測頭無法順利卡入測頭插槽內(nèi)，應(yīng)將先測頭拆下，檢查測頭接口中的6個插針的位置是否正確（成等邊六邊形排列），切勿用力蠻按！如果插針偏離正確位置（靠近插頭保護套，或靠近其他插針），可用鑷子等小工具將插針調(diào)整回正確位置后，重新安裝測頭即可。2.1.2 測頭的拆卸儀器使用完畢后，應(yīng)將測頭拆下妥善保存。拆卸測頭時，用左手拿起儀器，右手捏住測頭接口上的金屬套，用力向后拔出即可。2.2 基本測量步驟a) 準(zhǔn)備好待測試件（參見第4章）；b) 將測頭置于開放空間，按下鍵，開機；c) 檢查電池電量指

8、示，若電池電量過低，應(yīng)立即更換電池；d) 檢查測頭類型，若屏幕下方的測頭類型指示標(biāo)志與實際測頭類型不符，則應(yīng)參照Error! Reference source not found.檢查測頭是否正確連接，或返廠維修。e) 是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進行（參見第Error! Reference source not found.章）；f) 測量：待屏幕下方顯示溫度實時校準(zhǔn)標(biāo)志“C”后，迅速將測頭與測試面垂直地接觸并輕壓測頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測量值，提起測頭待屏幕下方再次顯示溫度實時校準(zhǔn)標(biāo)志“C”后，可進行下次測量；g) 關(guān)機：長按下鍵，立即關(guān)機；在無任何操作的情況下

9、，大約23分鐘后儀器自動關(guān)機，自動關(guān)機等待時間可進行設(shè)置，詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.。說明: 1) 正式測量前，應(yīng)先對儀器進行零點校準(zhǔn)，詳見Error! Reference source not found.。為了保證測量精度，應(yīng)盡量使用與待測試件相同材料的基體進行零點校準(zhǔn)。2) 在高精度測量模式關(guān)閉時，如果測頭沒有快速垂直地接觸被測物體，則可能得到一個不可靠的測量結(jié)果，因此在這種情況下建議使用連續(xù)測量方式，待測頭固定牢靠后再讀數(shù)；3) 如果在測量過程中測頭放置不穩(wěn)，則可能得到一個

10、不可靠的測量結(jié)果；4) 保存多個測量值后，可顯示五個統(tǒng)計量，即：平均值（MEAN）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）、測量次數(shù)（NO.）、最大測量值（MAX）、最小測量值（MIN）。2.3 各項功能及操作方法本小節(jié)詳細(xì)地介紹了本機的各種功能及其操作方法。2.3.1 測頭選擇（自動磁性非磁）可通過以下步驟進行測頭選擇：a) 在主界面下按鍵直至選中“自動”、“磁性”或“非磁”標(biāo)簽；b) 按鍵切換顯示標(biāo)簽，“自動”模式下儀器將對已連接的測頭進行自動識別，“磁性”模式對應(yīng)F型測頭，“非磁”模式對應(yīng)N型測頭。測頭類型將在屏幕下方的測頭類型指示區(qū)顯示，“F”對應(yīng)F型測頭，“N”對應(yīng)N型測頭，“自動”模式下如果沒有插

11、入測頭，該顯示區(qū)不顯示任何標(biāo)志。在某些測量環(huán)境下外界磁場干擾較大，“自動”模式可能無法正確識別測頭類型，可將測量容限適當(dāng)增大（參數(shù)設(shè)置方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.），或直接選擇“磁性”或“非磁”模式指定測頭類型（按可以直接切換探頭類型。2.3.2 測量模式設(shè)置為了提高測量精度、穩(wěn)定度且降低儀器功耗，該儀器提供了高精度測量模式、快速測量模式和待機模式三種工作模式。在主界面中下按鍵可進行高精度測量模式與快速測量模式的切換，當(dāng)屏幕右下方顯示高精度測量指示標(biāo)志“P”時表示已進入高精度測量

12、模式，當(dāng)該標(biāo)志消失后或出現(xiàn)“Q”表示已退出高精度測量模式。”P”表示Precious Mode即高精度，Q表示Quick Mode即快速模式。待機模式下儀器無法測量，按任意按鍵后返回高精度測量模式或快速測量模式。快速測量模式下，可配合“連續(xù)測量”實現(xiàn)實時掃描，同時還可配合“批組方式”對實時掃描的測量結(jié)果進行記錄，并在“查看測量數(shù)據(jù)”菜單中進行數(shù)據(jù)分析。高精度測量模式下，儀器內(nèi)部將對多次測量的結(jié)果進行篩選、平均，對偏差較大的可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，確保測量結(jié)果更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定。該模式下讀數(shù)時間變長約23秒。可通過以下參數(shù)對高精度測量模式進行設(shè)置：l 設(shè)置測量精度：設(shè)置高精度模式下多次測量取平均的次數(shù)

13、，設(shè)置數(shù)值越大統(tǒng)計次數(shù)越多，測量精度越高，但測量速度越慢；l 設(shè)置測量容限：設(shè)置高精度模式下數(shù)據(jù)篩選的誤差容限，超出容限范圍的數(shù)據(jù)將被視為可疑數(shù)據(jù)不進行統(tǒng)計，設(shè)置數(shù)值越小則允許的誤差容限越小，測量精度越高。在某些測量環(huán)境下，外界磁場對儀器干擾較大，測量數(shù)據(jù)波動比較劇烈，應(yīng)適當(dāng)調(diào)高測量容限，以確保高精度測量模式正常工作。參數(shù)設(shè)置方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.。2.3.3 溫度補償測量過程中，隨著環(huán)境溫度或測頭溫度的改變，測頭特性參數(shù)發(fā)生變化，對測量結(jié)果造成影響。本儀器采用國內(nèi)領(lǐng)先的實

14、時溫度補償技術(shù)對溫度變化進行實時校準(zhǔn)，以確保測量結(jié)果基本不受溫度變化的影響，使測量更加準(zhǔn)確。具體操作步驟如下：a) 在“系統(tǒng)設(shè)置”菜單中將“溫度校準(zhǔn)”選項設(shè)置為“開”，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；b) 返回主界面，當(dāng)屏幕右下方顯示溫度補償指示標(biāo)志“C”后表示溫度校準(zhǔn)功能已經(jīng)開啟，且實時溫度校準(zhǔn)完成；c) 將測頭接觸測試面進行測量；d) 測量完成后提起測頭，等待溫度補償指示標(biāo)志“C”重新出現(xiàn)后再進行下次測量。2.3.4 測量方式（單次測量連續(xù)測量）可使用下列兩種測量方式之一進

15、行測量：l 單次測量：測頭每接觸被測件1次，隨著一聲鳴響，顯示一個測量結(jié)果；l 連續(xù)測量：不提起測頭連續(xù)測量，在高精度模式開啟時每次鳴響后重新顯示一個測量結(jié)果，在高精度模式關(guān)閉時實時顯示測量結(jié)果且只有第一個測量結(jié)果伴隨鳴響；兩種方式的轉(zhuǎn)換方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.。2.3.5 工作方式（直接方式批組方式）可使用下列兩種工作方式之一進行測量：l 直接方式：此方式用于隨意性測量，用戶通過鍵保存數(shù)據(jù)后，被保存的數(shù)據(jù)將參與統(tǒng)計計算，當(dāng)存滿100個存儲單元時，新的測量值將替換掉舊的測量值

16、,就是說總是最新的100個測量值參與統(tǒng)計計算。l 批組方式：此方式便于用戶分批記錄所測試的數(shù)據(jù)，測量結(jié)果將被自動保存并參與統(tǒng)計計算，每組最多存100個數(shù)值，總共五組，可存500個數(shù)值。每組當(dāng)存滿100個數(shù)值時，屏幕將顯示“存儲器滿”，此時仍可進行測量，但是測量值只顯示不存儲，也不參與統(tǒng)計計算。需要時，可刪除該組數(shù)據(jù)，再進行新的測量。兩種方式的轉(zhuǎn)換方法：a) 在主界面下按鍵直至選中“直接”或“批組”標(biāo)簽；b) 按鍵切換顯示標(biāo)簽，“直接”對應(yīng)直接方式，“批組”對應(yīng)批組方式。2.3.6 設(shè)置當(dāng)前文件可通過如下方法設(shè)置當(dāng)前存儲數(shù)據(jù)的文件：a) 在主界面下按鍵直至選中“文件”標(biāo)簽；b) 按鍵循環(huán)選擇文件

17、。說明：設(shè)置了當(dāng)前文件后，數(shù)據(jù)的存儲、刪除等操作都是在當(dāng)前文件中進行。2.3.7 存儲l 直接方式下完成一次測量后按存儲該次測量值。l 批組方式下測量值自動存入存儲單元，每組最多存100個數(shù)值，共五組，可存500個數(shù)值。2.3.8 查看/刪除測量數(shù)據(jù)2.3.8.1 查看測量數(shù)據(jù)可通過如下步驟查看或刪除已保存的測試數(shù)據(jù)：a) 在主界面下按鍵直至選中“文件”標(biāo)簽，按鍵進入數(shù)據(jù)查看界面；b) 按或鍵翻看每個測量數(shù)據(jù)，并可通過鍵刪除某個測量數(shù)據(jù)；c) 按鍵返回2.3.8.2 查看統(tǒng)計結(jié)果可通過如下步驟查看已保存數(shù)據(jù)的統(tǒng)計結(jié)果：a) 在主界面中按鍵直至選中“菜單”標(biāo)簽，按鍵進入設(shè)置選擇界面；b) 按或鍵

18、選中“功能設(shè)置”菜單項，然后按鍵進入功能設(shè)置界面；c) 按或鍵選擇“查看統(tǒng)計數(shù)據(jù)”項，然后按鍵查看統(tǒng)計數(shù)據(jù)；d) 按或鍵翻看詳細(xì)信息，如測量次數(shù)、最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差；e) 按鍵返回。2.3.8.3 刪除測量數(shù)據(jù)如Error! Reference source not found.步驟ab所述進入功能設(shè)置界面，按或鍵選擇“刪除文件”或“刪除所有數(shù)據(jù)”，再按鍵進入刪除確認(rèn)界面，確定刪除按鍵，取消刪除按鍵?！皠h除文件”只是把當(dāng)前文件里的數(shù)據(jù)刪除，而“刪除所有數(shù)據(jù)”是把五組數(shù)據(jù)全部刪除。2.3.9 測量閾值設(shè)置設(shè)置了測量閾值后，當(dāng)前后兩次測量結(jié)果偏差小于測量閾值時，測量結(jié)果不會更新。參數(shù)設(shè)

19、置方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.。2.3.10 待機時間設(shè)置設(shè)置了待機時間后，當(dāng)儀器閑置時間達(dá)到待機時間后將會出現(xiàn)屏幕背光閃爍并伴隨蜂鳴提示，屏幕背光閃爍6次后儀器自動關(guān)機。屏幕背光閃爍過程中，按任意按鍵或進行測量，儀器將退出自動關(guān)機狀態(tài)。2.3.11 關(guān)于測量和誤差的說明l 如果已經(jīng)進行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)(見Error! Reference source not found.)；l 根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何顯示的測量值都是多次

20、“看不見”的測量的平均值。這些測量是在幾分之一秒的時間內(nèi)由測頭和儀器完成的；l 為使測量更加精確，可利用統(tǒng)計程序在一個點多次測量，對誤差較大的測量值可在測量后立即刪除。l 使用高精度測量模式時，儀器內(nèi)部將對多次測量的結(jié)果進行篩選、平均，對偏差較大的可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，確保測量數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定。最后覆層的厚度為： CH = M+S+其中: CH覆層厚度M多次測量的平均值S標(biāo)準(zhǔn)偏差儀器允許誤差2.4 系統(tǒng)設(shè)置與功能設(shè)置儀器的其它參數(shù)可以通過系統(tǒng)設(shè)置或功能設(shè)置修改。通過系統(tǒng)設(shè)置可以設(shè)置語言、單位、測量模式、報警模式、溫度校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)及蜂鳴器。通過功能設(shè)置可以實現(xiàn)恢復(fù)默認(rèn)設(shè)置、查看統(tǒng)計數(shù)據(jù)、刪除

21、文件和數(shù)據(jù)、設(shè)置測量精度、設(shè)置測量閾值、設(shè)置測量容限，設(shè)置對比度、設(shè)置待機時間以及查看版本信息等。2.4.1 系統(tǒng)設(shè)置步驟a) 在主界面中按鍵直至選中“菜單”標(biāo)簽，按鍵進入設(shè)置選擇界面；b) 按或鍵選中“系統(tǒng)設(shè)置”菜單項，然后按鍵進入系統(tǒng)設(shè)置界面；c) 按或鍵選擇項目，然后按鍵更改該項設(shè)置；d) 設(shè)置完成，按鍵返回。2.4.2 功能設(shè)置步驟a) 在主界面中按鍵直至選中“菜單”標(biāo)簽，按鍵進入設(shè)置選擇界面；b) 按或鍵選中“功能設(shè)置”菜單項，然后按鍵進入功能設(shè)置界面；c) 按或鍵選擇項目，然后按鍵進入該項設(shè)置；d) 按或鍵進行參數(shù)設(shè)置，然后按鍵進行確認(rèn)，并按鍵退出。2.5 特殊測量2.5.1 在高

22、溫或低溫試件上測量a) 在“系統(tǒng)設(shè)置”菜單中將“溫度校準(zhǔn)”選項設(shè)置為“開”，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；b) 在“系統(tǒng)設(shè)置”菜單中將“測量模式”選項設(shè)置為“連續(xù)”，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；c) 將測頭緊貼待測試件，進行連續(xù)測量，隨著測頭溫度與試件溫度逐漸接近，測量數(shù)值逐漸升高或降低并趨于穩(wěn)定；d) 當(dāng)測量數(shù)值穩(wěn)定后迅速提起測頭，并等待溫度校準(zhǔn)指示標(biāo)志

23、“C”；e) 當(dāng)溫度校準(zhǔn)指示標(biāo)志“C”重新出現(xiàn)后，再次進行測量，就能得到試件的實際厚度；重復(fù)上述cd步驟可獲得更為精確的測量結(jié)果。2.5.2 在噴砂表面上測量噴砂表面的特性導(dǎo)致了測量值大大失真，其覆層厚度大致可用下面兩種方法之一確定：l 一試片校準(zhǔn)后測量a) 使用Error! Reference source not found.中的一試片法兩點校準(zhǔn)或使用Error! Reference source not found.的零點校準(zhǔn)方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面上進行校準(zhǔn)；b) 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴砂處理的表面進行多次測量，得到平均值Mo；c) 在已涂覆的表面上進行多次測量，得到平均值Mm

24、；d) （MmMo）±S 即是覆蓋層厚度。其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm和SMo中較大的一個。l 兩試片校準(zhǔn)后測量a) 使用Error! Reference source not found.中的兩試片法進行兩點校準(zhǔn)；b) 在試樣上進行多次測量，得到平均值M即是覆層厚度。3 儀器的校準(zhǔn)為使測量準(zhǔn)確，應(yīng)在測量場所對儀器進行校準(zhǔn)。3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片，簡稱標(biāo)準(zhǔn)片。a) 校準(zhǔn)箔對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔?！安庇欣谇嫔系男?zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。b) 有覆蓋

25、層的標(biāo)準(zhǔn)片采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。3.2 基體a) 對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過Error! Reference source not found.中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準(zhǔn)：i. 在與待測試件的金屬基體厚度相同的

26、金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；ii. 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。c) 如果待測覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。3.3 校準(zhǔn)方法本儀器提供兩種測量中使用的校準(zhǔn)方法：零點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn)；以及兩種針對測頭的校準(zhǔn)方法：基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)。3.3.1 零點校準(zhǔn)在不同基體上進行測量時必須重新進行零點校準(zhǔn)，當(dāng)校準(zhǔn)使用的基體與待測試件基體性質(zhì)偏差較大時，測量值將會產(chǎn)生偏差?？墒褂靡韵聝煞N方法之一進行零點校準(zhǔn)：l 在基體上校準(zhǔn)a) 在基

27、體上進行一次測量，屏幕顯示××m；b) 在提起測頭之前按鍵，屏顯<0.0m>，校準(zhǔn)完成。重復(fù)上述a、b 步驟可獲得更為精確的校準(zhǔn)結(jié)果，提高測量精度。l 在標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)（單點校準(zhǔn)）a) 未用探頭測量之前在主界面中按鍵進入“零點校準(zhǔn)”模式；b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量，屏幕顯示×××m；c) 按或鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值；d) 按鍵確認(rèn)，校準(zhǔn)完成；或按鍵取消校準(zhǔn)；或按鍵清除保存的校準(zhǔn)結(jié)果。重復(fù)上述ad步驟可獲得更為精確的校準(zhǔn)結(jié)果，提高測量精度。使用標(biāo)準(zhǔn)片進行零點校準(zhǔn)后，測量與標(biāo)準(zhǔn)片厚度近似的厚度時將得到更高的測量精度。使用標(biāo)準(zhǔn)片進行零

28、點校準(zhǔn)時，標(biāo)準(zhǔn)片厚度最好小于200um，標(biāo)準(zhǔn)片厚度過大會導(dǎo)致測量厚度較小的試件時測量精度降低。當(dāng)無法找到與待測試件基體相同或近似的校準(zhǔn)基體時，可使用標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)法在已知厚度的試件上進行零點校準(zhǔn)。注意：為確保零點校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度，要求必須在高精度模式下才能進行零點校準(zhǔn)；3.3.2 兩點校準(zhǔn)可使用以下兩種方法之一進行兩點校準(zhǔn)：l 一試片法這一校準(zhǔn)法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。a) 在系統(tǒng)設(shè)置界面打開兩點校準(zhǔn)，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；b) 在基體上校準(zhǔn)零點，具體方法詳

29、見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；c) 在厚度大致等于預(yù)計的待測覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量，屏幕顯示×××m；d) 在提起測頭之前按或鍵進入“兩點校準(zhǔn)”模式；e) 用或鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值；f) 按鍵確認(rèn)，校準(zhǔn)完成；或按鍵取消校準(zhǔn)；或按鍵清除保存的校準(zhǔn)結(jié)果；重復(fù)上述cf步驟可獲得更為精確的校準(zhǔn)結(jié)果，提高測量精度。l 兩試片法兩個標(biāo)準(zhǔn)片厚度應(yīng)至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴砂表面和高精度測量。a) 在系統(tǒng)設(shè)

30、置界面打開兩點校準(zhǔn)，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；b) 使用較薄的標(biāo)準(zhǔn)片進行零點校準(zhǔn)，具體方法詳見Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.；c) 在較厚的標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量，屏幕顯示×××m；d) 在提起測頭前按或鍵進入“兩點校準(zhǔn)”模式；e) 用或鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值；f) 按鍵確認(rèn)，校準(zhǔn)完成；或按鍵取消校準(zhǔn)；或按鍵清除保存的校準(zhǔn)結(jié)果；重復(fù)上述

31、cf步驟可獲得更為精確的校準(zhǔn)結(jié)果，提高測量精度。在主界面中，當(dāng)屏幕右下方顯示兩點校準(zhǔn)指示標(biāo)志“2”時表明兩點校準(zhǔn)功能已經(jīng)開啟，且兩點校準(zhǔn)已經(jīng)完成。注意：每次進行零點校準(zhǔn)后，之前進行的兩點校準(zhǔn)結(jié)果將會被清除，需要重新進行兩點校準(zhǔn)。3.3.3 基本校準(zhǔn)當(dāng)出現(xiàn)以下問題導(dǎo)致測量曲線偏離時需要重新進行基本校準(zhǔn)：a) 更換測頭；b) 測頭頂端被磨損；c) 測頭修理后；d) 特殊用途。基本操作方法如下：a) 開機時一直按住鍵，直到進入基本校準(zhǔn)模式；b) 通過鍵選擇測頭類型，屏幕右上方顯示標(biāo)志“F”時表示將對F型磁性測頭進行基本校準(zhǔn)，屏幕右上方顯示標(biāo)志“N”時表示將對N型非磁性測頭進行基本校準(zhǔn)；c) 校準(zhǔn)無窮

32、遠(yuǎn)（INFINITY）：插入測頭，使測頭遠(yuǎn)離基體，待屏幕中央的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認(rèn)；d) 校準(zhǔn)零點（ZERO）：將測頭緊貼基體，待屏幕中央的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認(rèn)；e) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序依次校準(zhǔn)510個厚度校準(zhǔn)點：i. 通過或鍵調(diào)節(jié)屏幕上方顯示的厚度值，使其與校準(zhǔn)試片厚度相同；ii. 測量校準(zhǔn)試片，待屏幕中央顯示的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認(rèn)，或按鍵跳過該校準(zhǔn)點；f) 待測量完全部校準(zhǔn)點后，屏幕上會依次顯示各個校準(zhǔn)點的信息，并在屏幕下方顯示“PASS”或“FAIL”標(biāo)志表示校準(zhǔn)成功或失敗，待校準(zhǔn)信息全部顯示后，可按鍵進入主界面，或按鍵將本次校準(zhǔn)結(jié)果存為默認(rèn)設(shè)置，存為默認(rèn)設(shè)置后使用恢復(fù)默認(rèn)功能時將自

33、動讀取本次的校準(zhǔn)信息。注意：校準(zhǔn)過程中使用 鍵跳過的校準(zhǔn)點不能超過5個。 校準(zhǔn)厚度必須從小到大逐漸變化，當(dāng)校準(zhǔn)厚度或校準(zhǔn)值異常時校準(zhǔn)失敗，屏幕下方顯示“FAIL”標(biāo)志，儀器仍然保留之前的校準(zhǔn)結(jié)果3.3.4 溫度系數(shù)校準(zhǔn)l 重新校準(zhǔn)溫度系數(shù)當(dāng)出現(xiàn)以下問題導(dǎo)致測量結(jié)果偏離時需要對溫度系數(shù)進行重新校準(zhǔn)：a) 更換測頭；b) 測量數(shù)值隨溫度變化產(chǎn)生偏離，且偏離值較大；c) 特殊用途。重新校準(zhǔn)溫度系數(shù)的基本操作方法如下：a) 開機時一直按住鍵，直到進入溫度系數(shù)校準(zhǔn)模式；b) 通過鍵選擇測頭類型，屏幕右上方顯示標(biāo)志“F”時表示將校準(zhǔn)F型磁性測頭的溫度系數(shù)，屏幕右上方顯示標(biāo)志“N”時表示將校準(zhǔn)N型非磁性測頭

34、的溫度系數(shù)；c) 在第一溫度條件下校準(zhǔn)無窮遠(yuǎn)（- INFINITY）：在一恒溫環(huán)境下進行校準(zhǔn)，插入測頭，使測頭遠(yuǎn)離基體，待屏幕中央的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認(rèn)；d) 在第一溫度條件下校準(zhǔn)零點（- ZERO）：在同樣的環(huán)境下，將測頭緊貼基體，待屏幕中央的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認(rèn)；e) 在第二溫度條件下校準(zhǔn)無窮遠(yuǎn)（+ INFINITY）：改變測頭溫度，并使其保持在該溫度下不變，重新測量無窮遠(yuǎn)點數(shù)值；f) 在第二溫度條件下校準(zhǔn)零點（+ ZERO）：在同樣的測頭溫度下重新測量零點數(shù)值；g) 待測量完全部校準(zhǔn)點后，屏幕中央會顯示校準(zhǔn)后的溫度系數(shù)，并在屏幕左上方顯示“PASS”或“FAIL”標(biāo)志表示校準(zhǔn)成功或失敗，按鍵

35、進入主界面。注意：對于F型，兩次無窮遠(yuǎn)測量數(shù)值偏差須大于50；對于N型，其偏差須大于0.5。l 調(diào)整溫度系數(shù)當(dāng)出現(xiàn)以下問題導(dǎo)致測量結(jié)果偏離時需要對溫度系數(shù)進行調(diào)節(jié)：a) 測量數(shù)值隨溫度變化產(chǎn)生偏離，但偏離值較小;b) 特殊用途。調(diào)整溫度系數(shù)的基本操作方法如下：a) 開機時一直按住鍵，直到進入溫度系數(shù)校準(zhǔn)模式；b) 通過鍵選擇測頭類型，并按鍵確認(rèn)；c) 在校準(zhǔn)界面下按鍵，跳過校準(zhǔn)界面，進入溫度系數(shù)顯示界面；d) 通過或鍵調(diào)節(jié)溫度系數(shù)，并按鍵確認(rèn)，進入主界面。注意：如果溫度變高后測量數(shù)值變高，則應(yīng)將溫度系數(shù)調(diào)小，反之亦然。4 影響測量精度的因素表1 影響測量精度的因素（表示有影響）影響因素 測量方

36、法磁性方法渦流方法基體金屬磁性質(zhì)基體金屬電性質(zhì)基體金屬厚度邊緣效應(yīng)曲率試樣的變形表面粗糙度磁場附著物質(zhì)測頭壓力測頭取向4.1 影響因素的有關(guān)說明a) 基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。b) 基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。c) 基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受

37、基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見Error! Reference source not found.。d) 邊緣效應(yīng)本儀器對試件表面形狀的陡變敏感，在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。e) 曲率試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。f) 試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，在這些試件上無法測出可靠的數(shù)據(jù)。g) 表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體試件上取幾個位置對儀器進行零點校準(zhǔn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液除去覆蓋層后，再對儀器進行零點校準(zhǔn)。h) 磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。i) 測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此要保持壓力恒定。j) 測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響，在測量中應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持